Дисторсия

Рис. 14.6. Схематическое изображение аберраций а — идеальное изображение б — сферическая аберрация в—кома г, д — астигматизм меридиональных и сагиттальных пучков е — дисторсия

Геометрические аберрации возникают из-за использования широких или наклонно падаюш,их пучков света (сферическая аберрация, кома, астигматизм, дисторсия) и приводят к искажению формы изображения объекта и изменению расстояний и углов между элементами изображения. Сферическая аберрация состоит в получении вместо точки изображения в виде кружка рассеяния, кома — в виде вытянутого и неравномерно освещенного пятна, напоминающего комету. Астигматизм приводит к получению эллиптического изображения вместо кружка, а дисторсия — к искривлению прямых линий, в результате чего квадрат имеет подушкообразную или бочкообразную форму. [c.230]

Конечно, плоскость объекта, сопряженная с плоскостью фотопленки, не находится в бесконечности, хотя и расположена очень далеко за плоскостью щели (телескопический пучок лучей от вогнутого зеркала). Поэтому точки щели , проектируемые через однородную среду рабочей части, фокусируются нечетко и увеличиваются вследствие дифракционного смещения (дифракция Фраунгофера—Френеля). В области, где пограничный слой действует как шлирная линза с переменным положительным фокусным расстоянием, зависящим от градиента показателя преломления, возникает дисторсия сопряженной плоскости объекта. Эта плоскость расположена ближе к плоскости щели . [c.63]

И Y, приводящая к различному увеличению вдоль них. Более сложные искажения возникают из принципа проекции и дефектов в системе сканирования (бочкообразная и подушкообразная дисторсия). [c.118]

Дисторсия изображения — зарядка [c.260]

ЭЛТ применяют в основном в системах бегущего луча в устройствах анализа фотоснимков и в телевизионных микроскопах. Для них характерны высокое быстродействие, большая информационная емкость (до 10 элементов на растр). Недостаток ЭЛТ - невысокая яркость (10 ... 10 кд/м ), сложность системы электронной развертки, большая дисторсия. [c.489]

Объективы измерительных проекторов должны иметь высокую разрешающую способность (100. .. 200 мм" ) по всему полю зрения и малую дисторсию изображения (< 1 %). [c.491]

В приборе для измерения диаметра тонких цилиндрических изделий (проволок, волокон и т.д.) (рис. 4, г) пучок излучения когерентного источника претерпевает дифракцию на изделии, и в плоскости сканера образуется дифракционное изображение изделия, соответствующее дифракции Фраунгофера. Дифракционное распределение интенсивности преобразуется в электрический сигнал, описывающий это распределение. Блок обработки электрического сигнала формирует прямоугольный импульс, длительность которого однозначно связана с расстоянием между выбранными минимальными точками дифракционного распределения. В приборе используется объектив, обеспечивающий величину дисторсии в пределах 0,2 % при смещениях объекта измерения в пределах 5 мм вдоль пучка излучения и 2,5 мм поперек пучка. Пофешность измерителя не превышает 0,5 % при смещениях объекта в указанных пределах. [c.494]

Среди случаев сопряжения фаз с различной кристаллической решеткой особое место занимает один случай, на котором мы остановимся более подробно. Пусть изменение формы включения по сравнению с формой соответствуюш его объема матрицы можно в отсутствие внутренних напряжений описать тензором однородной дисторсии [c.198]

Смещение ц(г) в точке г, вызванное дисторсией (21.1), можно записать в форме [c.198]

Совпадение кристаллических решеток включения и недеформированной матрицы в плоскости их сопряжения имеет место, если полная однородная дисторсия (упругая и неупругая), отсчитанная от состояния недеформированной матрицы, равна [c.211]

Для определения симметрии чисто электронного перехода в молекуле толуола в ближней ультрафиолетовой области спектра воспользуемся результатами генетического анализа при переходе от молекулы бензола симметрии О к молекуле толуола симметрии Чисто электронный переход В2а (%о = 38089 см- ) в молекуле бензола запрещен вследствие ее высокой симметрии, но при дисторсии кольца несимметричным колебанием 0 25- разрешается электронно-колебательный переход -V (в2 2г) (38610 см- ) [5, б. Замена атома водорода в бензоле на ме-тильный радикал приводит к нарушению равномерного распределения электронной плотности в углеродном кольце и, как будет видно из дальнейшего, к разрешению соответствующего чисто электронного перехода. Характеры представлений точечной группы и характеры преобразований координат х, у, г приведены в табл. 3. 1. Сопоставление неприводимых представлений группы, 0,.,д (симметрии молекулы бензола) с неприводимыми представлениями группы Сг (молекула толуола) приведено ниже [c.85]

Силы, приводящие к дисторсии (23.14), приложены к торцевым поверхностям пластинчатого включения и отсутствуют в плоскости габитуса, нормальной к вектору По. Условие отсутствия сил, приложенных к плоскости габитуса, можно записать в виде [c.212]

Возвращаясь к дисторсии (23.14), заметим, что она определяет геометрию перестройки кристаллической решетки когерентного пластинчатого включения. Дисторсия позволяет найти две основные структурные характеристики — параметры кристаллической решетки и ориентационные соотношения. [c.214]

В 23 показано, что кристаллическая решетка пластинчатых когерентных выделений оказывается однородно деформированной таким образом, что в плоскости сопряжения фаз она совпадает с кристаллической решеткой матрицы. Тензор дисторсии, который 236 [c.236]

Из (27.12) следует, что дисторсия включения в плоскости его габитуса (001) равна пулю и равна [c.237]

Дисторсия и хроматизм увеличения не играют роли. [c.28]

К основным типам аберраций относятся сферическая аберрация, кома, астигматизм, кривизна поля и дисторсия линзовая оптика обладает хроматической аберрацией. Деление аберраций на отдельные типы помогает выявить причины появления ошибок изображения и устранить их. [c.115]

Дисторсия свойственна изображениям объектов, находящихся в стороне от оптической оси прибора. Она вызывает нарушение подобия между объектом и его изображением, несмотря на то, что каждая точка объекта изображается в виде идеальной точки. Причиной такого искажения изображения является неодинаковость линейного увеличения прибора в пределах всего поля зрения. Для большинства спектральных приборов дисторсия не имеет практического значения, поскольку она может привести лишь к некоторому изменению дисперсии по полю зрения, которая и без того неравномерна. [c.120]

ООО и 30 ООО для использованных растров. Для компенсации углового увеличения применялись две цилиндрические линзы. Сферическая аберрация и кома были малы. Астигматизм составлял 0,04 мм при астигматической разности около 1 м.ш и исправлялся цилиндрическими линзами. Дисторсия составляла 12 мк при диаметре диафрагмы 20. чм.. [c.380]

Проанализируем определение дислокации, основанное на соотношении (15.29). Это определение существенно базируется на следующем важном свойстве деформаций сплошной среды. Если на некоторой поверхности 5 функция и (г) испытывает скачок (15.29), где Ь — фиксированный вектор, одинаковый во всех точках поверхности 5, то тензор дисторсий щн остается непрерывной и дифференцируемой функцией координат везде, за исключением замкнутой линии, на которую опирается поверхность 5. [c.254]

Однако требование непрерывности тензора дисторсий в некотором смысле избыточно, так как физическое состояние упругого тела зависит лишь от напряжений и пропорциональных им упругих деформаций. Поэтому изучая упругие поля, обусловленные скачками би на поверхностях, не выделенных своими физическими свойствами в объеме тела, можно ограничиться требованием однозначности и непрерывности тензора деформаций Тогда оказывается, что формула (15.29) не задает общего вида скачка вектора и на поверхности 5, при котором тензор деформаций гш сохраняет свою непрерывность и дифференцируемость как функция координат. Общий вид этого скачка на некоторой поверхности 5 таков [c.254]

В теории дислокаций тензор упругой дисторсии удобно считать самостоятельной величиной, описывающей деформацию кристалла. Как и тензоры ег и 01к, он является однозначной функцией координат даже при наличии дислокации. [c.259]

В скалярном упругом поле роль тензора дисторсии играет вектор [c.260]

Однако компоненты вектора смещений (16.18) не убывают с увеличением значения г (г = + г/ ) и потому интегралы (16.27) являются расходящимися. Но если использовать вектор смещений лишь для нахождения его производных (тензора дисторсии), то при вычислении (16.27) допустим следующий прием. Вначале выполняется интегрирование не до бесконечного, а до некоторого конечного предела R. Затем делается предельный переход R оо, и все слагаемые, зависящие в пределе только от R, считаются постоянными величинами и опускаются. В результате может остаться только слабая логарифмическая зависимость интегралов (16.27) от R. Если, наконец, считать R характерным размером кристалла (или дисклинации), то подобная зависимость ((х> In R) уже допустима. [c.265]

Уравнение (16.6) не зависит от того, покоятся или движутся дислокации. Однако в динамическом случае должно происходить изменение тензора дисторсии со временем, определяющееся характером движения дислокаций. [c.270]

Мы воспользовались обозначениями типа (16.10) и (16,11) для дисторсии h и плотности дислокаций а, а также ввели скалярную скорость смещения среды v и вектор плотности потока дислокаций j. Векторы а и j связаны законами сохранения [c.273]

МОЙ области, информация из трехмерного пространства эффективно проектируется на двумерную плоскость. В обычной сканирующей системе, показанной на рис. 4.1, плоскость, в которой происходит сканирование, расположена под прямым углом к оптической оси прибора. Так как сканирующие пучки расходятся от точки, расположенной в конечной диафрагме, то построение изображения представляет собой гномоническую проекцию. Гно-монической проекции присущи искажения в плоскости, расположенной перпендикулярно оптической оси. Так как расстояние связано с тангенсом угла отклонения при сканировании ф, то угловое движение пучка в растре создает меньшее изменение расстояния вблизи центра поля зрения, чем на краях. Следовательно, увеличение меняется поперек поля зрения. При номинальном увеличении 10Х и рабочем расстоянии 10 мм это приводит к 20%-ной дисторсии вблизи края поля зрения относительно центра. При высоком увеличении (более ЮОХ) проекционные искажения становятся несущественными, так как угол отклонения при сканировании мал и tg(p 9. [c.112]

В работе [174] было показано, что зоны Гинье — Престона в А1 - Си состоят из трех плоскостей (001), обогащенных атомами Си. При этом две крайние плоскости смещены по направлению к средней на расстояние 0,2 А. Величина смещения плоскостей (001) в зоне Гинье — Престона может быть независимо вычислена с помощью выражения (26.12) для тензора упругой дисторсии. Для этого необходимо учесть, что расстояние между двумя соседними [c.237]

Так как тетрагональная деформация мала, то центры стержней незначительно смещены относительно положений рефлексов матрицы в сторону больших углов (с йаО- Это смещение приводит к асимметрии в их расположении относительно узлов обратной решетки матрицы. Такое распределение интенсивностей совпадает с тем, которое наблюдалось при рентгеновских исследованиях зон Гинье — Престона (см., например, [175]). Следует, однако, иметь в виду, что анализ распределения интенсивностей, проведенный выше, носит качественный характер. Строго говоря, он справедлив лишь в том случае, если смещения, связанные с однородной дисторсией существенно больше, чем межплоскостное расстояние отвечающее исследуемому рефлексу, т. е. если [c.238]

Иногда для измерений длин волн нет необходимости в специальном измерительном приборе. Если с помощью спектропроектора получить на экране изображение спектра, увеличенное в 15—20 раз, то для измерения расстояния между линиями достаточно хорошей миллиметровой шкалы. При этом можно измерять только близко расположенные линии. Максимальное расстояние определяется полем зрения спектропроектора и составляет 10—20 мм. Следует проверять, не вносит ли дисторсия объектива сильных масштабных искажений. На рис. 11.7 показан внешний вид спектропроектора SP-2 (Zeiss). [c.288]

Наряду с тензором деформаций (4.38) часто вводят тензор дис-торсий Ulk— iUk, симметричная часть которого определяет тензор 8ift. Антисимметричная часть тензора дисторсии дает вектор локального поворота кристаллической решетки <о в результате деформации [c.97]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология