Спектр разных порядков

Рис. 62. Спектры разных порядков

Спектры разных порядков частично накладываются друг на друга. Действительно, ультрафиолетовое излучение с длиной волны 2500 А в спектре второго порядка распространяется по тому же самому направлению, что и видимый свет сХ = 5000 А в спектре первого порядка. Перекрытие спектров разных порядков показано на рис. 62, б. [c.90]

В отличие от призмы дифракционная решетка дает сразу несколько спектров. Действительно, свет одной и той же длины волны имеет максимум в любом из направлений, для которого выполняется условие, записанное в формуле (17). В зависимости от значения т образуются спектры разных порядков (рис. 62, а). При т = О свет любой длины волны не имеет разности фаз, и в направлении, перпендикулярном поверхности решетки ( р = 0), получается белое пятно неразложен-ного света — спектр нулевого порядка. При т = 1 разность хода для волн, идущих от соседних щелей, равна одной длине волны. По обе стороны от нулевого порядка получаются спектры первого порядка. Меньше отклоняются лучи более коротких длин волн, потому что для них разность хода, равная длине волны, получается ири меньших углах дифракции. При т = 2 образуются два спектра второго порядка и т. д. [c.90]

Рис. 30.4. Перекрывание спектров разных порядков

В видимой и ультрафиолетовой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные аппараты. В инфракрасной области преимущественно используют призменные приборы. При использовании в этой области дифракционных решеток нельзя допускать перекрытия спектров разных порядков. Для этого можно поставить предварительную призму или светофильтр, которые выделяют только нужный участок спектра, а окончательное разложение излучения в спектр делает решетка. В области вакуумного ультрафиолета применяют главным образом приборы с вогнутыми дифракционными решетками, хотя в области до 1100 — КОО А небольшое применение находят также призменные приборы с оптикой из флюорита или фтористого лития. [c.99]

Весь свет, прошедший через объектив, за исключением потерянного на отражение и поглощение в оптических деталях, участвует в построении изображения. В дифракционных приборах свет распределяется между спектрами разных порядков. Их светосила обычно меньше, чем у призменных. Применение решеток, концентрирующих значительную часть светового пучка в одном порядке, улучшает положение и почти уравнивает светосилу дифракционных приборов с призменными. [c.108]

Таким образом, монохроматический свет одной длины волны будет виден в разных местах экрана в направлениях, для которых выполняется условие пХ. При освещении дифференциальной решетки немонохроматическим светом в этих местах будут появляться перекрывающиеся спектры разных порядков п 1,2,3,. ..) (рис. 30.4). Для разделения спектров разных порядков применяют скрещенную оптику, комбинацию дифракционной решетки с призмой, либо светофильтры. [c.654]

Количество налагающихся друг на друга спектров разных порядков на один свободный интервал зависит от общей длины подлежащего регистрации спектра и параметров эшелле. [c.32]

Первая картина дает довольно плавное распределение интенсивности по спектрам разных порядков. Дифракционный макси- [c.108]

Рис. 2-13. Наложение спектров разных порядков при разлонсении света в решетке на пропускание.

Спектры разных порядков. Решетка дает большое число спектров, соответствующих разным значениям к. При /с = О имеем спектр нулевого порядка для которого sin ф = sin 1 з независимо от длины волны. Верхнее значение к ограничивается условием sin ф — sin ij) 2. Из (2.1) получаем кХ s 2i,, и, следовательно, максимальное значение к будет [c.47]

Сравнение светосилы дифракционных и призменных приборов. Ранее считалось, что светосила призменных приборов больше, чем приборов с дифракционными решетками, поскольку призма разлагает весь падающий на нее свет в один спектр, решетка же дает совокупность спектров разных порядков и на каждый из них приходится небольшая доля энергии. [c.87]

Применение дифракционной решетки дает возможность использовать наложение спектров разных порядков для измерения длин волн. Этот прием особенно удобно применять в вакуумной ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, где получение спектра сравнения часто связано со значительными трудностями. [c.284]

Вогнутая решетка позволяет за одну экспозицию сфотографировать широкую область спектра, но наложение спектров разных порядков, как и у плоской решетки, ограничивает одновременно регистрируемый интервал длин волн. [c.220]

Таким образом, вблизи области спектра 4000 А в первом порядке располагается область 2000 А во втором порядке и 1300 А в третьем. Это дает возможность измерять длины волн линий в далеком ультрафиолете по их расстояниям от хорошо измеренных нормалей в спектре железа. Однако есть указания на возможные небольшие отклонения от формулы (11.7), связанные с несовершенством решеток [3]. С этим следует считаться при точных измерениях. Следует также напомнить о необходимости учета рефракции воздуха (см. стр. 282), если налагающиеся спектры разных порядков получены в условиях, отличных от стандартных. [c.285]

Линейную дисперсию спектрографов можно изменять в широких пределах, если прибор снабжен несколькими камерами с разными фокусными расстояниями объективов. У дифракционных спектрографов изменяют линейную дисперсию, используя спектры разных порядков, но часто решетки рассчитаны на работу в определенном порядке и переход к спектрам других порядков значительно уменьшает светосилу прибора. [c.138]

Дифракционные спектрографы с большой дисперсией очень громоздки и тяжелы. Использование более высоких порядков позволяет уменьшить фокусные расстояния объективов, обеспечивая ту же линейную дисперсию прибора. Однако при этом возникают трудности, связанные с перекрытием спектров разных порядков. Интересно решена эта задача в конструкции спектрографа СТЭ-1. [c.152]

Спектрографы с вогнутыми решетками чаще всего строят по схемам с фокусировкой на круге Роуланда фотослой совмещают с поверхностью кругового цилиндра радиуса г/2. Вогнутая решетка позволяет за одну экспозицию сфотографировать широкую область спектра, но наложение спектров разных порядков, как и у плоской решетки, ограничивает одновременно регистрируемый интервал длин волн. [c.102]

Расшифровка рентгеновских спектров также в принципе не отличается от соответствующей методики эмиссионной спектроскопии. Существенно облегчается эта работа благодаря наличию подробных таблиц линий рентгеновского спектра. Хотя рентгеновские спектры намного проще эмиссионных, что заметно упрощает задачу идентификации линий, все же определение их принадлежности тому или иному элементу остается далеко не простым. Осложнения вызывают главным образом спектры разных порядков, что приводит к наложению линий. Для надежности определения находят длину волны и оценивают интенсивность не одной, а нескольких спектральных линий. Вполне понятно, что среди них должна находиться наиболее интенсивная линия анализируемого элемента (обычно это Ка- или а-линия). Чувствительность рентгеноспектрального анализа (предел обнаружения) составляет в среднем 0,05...0,1 %, для некоторых элементов (N1, Си и др.) он снижается до 5-10" %, для других (например, редкоземельных элементов) повышается до 0,1...0,2%. [c.129]

Спектры разных порядков. По условию максимума усиление света при интерференции происходит всякий раз, когда разность хода равна целому числу длин волн. Поэтому одна и та же длина волны усиливается не в одном направлении, а во всех тех, для которых разность хода кратна длине волны. Благодаря этому в отличие от призмы решетка дает не один спектр, а сразу множество. Число к в формуле решетки (III.4) определяет порядок [c.116]

Таким образом, часть излучения, падающего на решетку, отражается от нее, как от обычного зеркала, не разлагаясь в спектр, а другая часть распределяется между спектрами разных порядков. Если бы штрихи решетки были плоскими, то наибольшая доля энергии падающего на решетку света пришлась бы в спектр нуле- [c.117]

Спектры разных порядков могут частично перекрываться. Например, в одном и том же направлении лучей (одинаковый угол <р) разность хода равна одной длине волны —700 нм (1-й порядок), двум длинам волн по 350 нм (2-й порядок), четырем длинам волн по 175 нм (4-й порядок) и т. д. [c.118]

При работе с решетками следует устранять наложение дифракционных спектров разных порядков. Для этого, как и в спектрографе, могут быть использованы светофильтры. Но в отличие от спектрографа, где одновременно регистрируется более или менее широкая область спектра, через монохроматор излучение разных длин волн проходит поочередно, и соответствующие фильтры могут включаться по мере необходимости. Чем более высокие порядки спектра используются, тем больше нужно сменных фильтров и тем труднее осуществить выделение рабочей области длин волн. [c.142]

Рис. 66. Схема разде-ления спектров разных порядков отражения

В соответствии с приведенным уравнением угол отклонения а пропорционален длине волны, поэтому наиболее сильно отклоняются лучи красного света. Таким образом, последовательность линий в спектре, даваемом дифракционной решеткой, противоположна последовательности линий в спектре призмы. Кроме того, одной и той же разности длин волн всегда соответствует одинаковое расстояние между соответствующими линиями в спектре. В отличие от спектра призмы спектр, даваемый дифракционной решеткой, вследствие взаимного наложения спектров разных порядков [т-Х = 2т %12)... не является однозначным. Однако, подбирая подходящий профиль штрихов дифракционной решетки ступенчатый профиль), удается выделить из спектра основную часть излучения желаемого порядка. Правда, это всегда можно осуществить только для определенной области спектра. Решетка такого типа с определенным углом отклонения была предложена Эшелеттом. [c.191]

Разделение порядков спектра. Дисперсия и разрешающая сила дифракционных решеток возрастают прямо пропорционально порядку спектра. Однако широкому использованию решеток для работы в высоких порядках до недавнего времени препятствовали два обстоятельства наложение спектров разных порядков и усиление интенсивности духов Рлуланда в высоких порядках спектра. Последнее препятствие в настоящее время устранено усовершенствованием технологии изготовления дифракционных решеток. [c.93]

Рио. 4.33. Перело/кспис дифракционных спектров разных порядков (в ангстремах). [c.120]

Рядом с плоской дифракционной решеткой устанавливают кварцевую или стеклянную призму, так чтобы преломляющее ребро было перпен 1,икулярно щели спектрографа. В этом случае призма не участвует в разложении излучения в спектр, а только сдвигает в вертикальной плоскости спектры разных порядков относительно друг друга. Это позволяет фотографировать одновременно три спектра (5,4 и 3 порядков), которые соответственно перекрывают области 2200—2700 Л 2520—3375 А и 3360— [c.152]

Таким образом, в спектрах разных порядков решетка дает различную угловую дисперсию, тем большую, чем выше порядок спектра к. Дисперсия пропорциональна числу N штрихов на 1 мм и возрастает с увеличением угла дифракции ф. При малых ф D kN = onst, и расстояние между монохроматическими линиями в спектре данного порядка практически пропорционально разности длин волн этих линий, что удобно для измерения длин волн отдельных линий по их положению в спектре. [c.51]

В качестве основного диспергирующего элемента обычно применяют ступенчатую отражательную решетку—эшелетт с большим числом штрихов для получения спектра с высокой дисперсией. Дополнительный диспергирующий элемент имеет меньшую дисперсию, которая должна быть достаточна для того, чтобы отдельные строки дифракционных спектров разных порядков не налагались друг на друга. [c.184]

Дифракционная решетка. Дифракционные решетки бывают прозрачные и отражающие. Первые делаются путем нанесения тонких штрихов острым алмазным резцом на тщательно стполирснанные, плсскопараллельные, стеклянные пластинки. Отражающие решетки делаются подобным нанесением штрихов, но на плоских или сферических металлических, чаще алюминиевых (для ультрафиолетовых лучей) зеркалах. Дисперсия решетки пропорциональна количеству штрихов на единицу длины (на 1 мм). Решетка дает несколько спектров, обладающих разной дисперсией и называющихся спектрами разных порядков, из которых рабочими являются один или два. На решетки наносят обычно от 200 до 1200 штрихов на миллиметр если учесть, что полная ширина решетки составляет 10—18 см, то, следовательно, нужно нанести до 240 ООО совершенно идентичных штрихов. Из-за сложности изготовления решеток дифракционные спектрографы были менее распространены, чем призменные. Однако за последнее время техника изготовления решеток значительно развилась и дифракционные спектрографы начинают заменять призменные. особенно для ультрафиолетовых лучей. Дисперсия решетки постоянна во всем интервале длин волн, т. е. расстояние между двумя спектральными линиями, различающимися на одну величину Дл, во всех участках спектра одинаково. Спектр, образуемый решеткой, называется норл.албнбш. [c.156]

При работе с обычными рещетками интенсивность линий в спектрах разных порядков убывает пропорционально квадрату порядка. Если же штрихи имеют пилообразную форму, когда отражающая грань а не лежит в плоскости (см. рис. 19), а наклонена к ней, то распределение интенсивностей меняется. Наклон этой грани во многом определяет угол блеска решетки в направлении зеркального отражения от этих граней решетка дает максимум интенсивности. Становится возможным сосредоточить значительную часть энергии светового пучка в выбранном для работы порядке [c.55]

Неравномерности нанесения эмульсии также могут ограничивать различие в длинах волн для сравниваемых линий. Но если можно сравнивать весьма далекие длины волн, а они на фотопластинке получились рядом (при наложении спектров разных порядков в дифракционных приборах сравнивают лннин почти кратных длин волн), неоднородность слоя эмульсии уже не играет роли. [c.172]

Эффекты наложения спектров разных порядков были исследованы Оетеном и сотр. (1952). Эти авторы рассмотрели идеальный эшелетт (7 штр/мм, угол блеска 2Г), который при использовании в качестве источника абсолютно черного тела с температурой 1300 К концентрировал излучение 100 см в первый порядок. Поскольку дисперсия непосредственно зависит от порядка спектра, спектральный интервал, пропускаемый выходной щелью, будет пропорционален 1/п. Таким образом, интенсивность излучения, попадающего на детектор в заданном порядке, будет пропорциональна отношению интенсивности излучения источника на заданной частоте к порядку спектра. Авторы выбрали интенсивность линии первого порядка за единицу и затем рассчитали относительные интенсивности для различных порядков. Полученные результаты приведены в табл. 2.1. Как видно, отношение полезного излучения к паразитному имеет порядок 5-10 . Чтобы снизить паразитное излучение до величины менее 1 %, фильтрующий фактор должен иметь величину 10 . [c.36]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология