Аппаратура для контроля методами отражения

Аппаратура для контроля методами отражения [c.143]

В зависимости от взаимного расположения источника теплоты контролируемого объекта и термочувствительной аппаратуры различают односторонний (подобный методу контроля по отраженному излучению), двусторонний (подобный контролю по прошедшему излучению) и комбинированный методы. Тепловой контроль может производиться в стационарном режиме при постоянном (установившемся) тепловом режиме и в нестационарном режиме, когда тепловой режим изменяется. Нестационарный режим теплового кон- [c.163]

Контроль по рассеянному (отраженному) излучению заключается в регистрации излучения в той же области, где расположен источник. Этот метод радиационного контроля применяется для целей толщинометрии и определения свойств материала полуфабриката или изделия. Он используется для испытаний слоев небольшой толщины (до нескольких миллиметров). Источник излучения и первичный измерительный преобразователь, регистрирующий вторичное (отраженное) излучение, в этом случае находятся близко друг от друга, и для снижения прямого прохождения излучения используют защитные экраны. Метод контроля по отраженному излучению наиболее удобен для применения и позволяет производить испытания разнообразных изделий любых размеров и форм. Аппаратура при реализации этого метода получается довольно компактной. Обстоятельством, усложняющим контроль по отраженному излучению, является значительное влияние расстояния между объектом, преобразователем и источником излучения. [c.273]

Ультразвуковой метод дефектоскопии использует ЗВ высокой частоты (20 кгц — 25 Мгц). Известны два основных метода ультразвукового контроля — теневой (метод сквозного прозвучивания) п эхо-метод (метод отражения) имеются варианты иммерсионного и контактного ультразвукового методов, отличающиеся способом ввода ЗВ в исследуемый материал. При этом методе используется аппаратура, блок-схема к-рой аналогична схеме импульсного прибора для ультразвуковых испытаний полимерных материалов (см. рис. 1). [c.31]

Влияние на интенсивность и спектр вторичного излучения физико-химических свойств материала контролируемого объекта (см. 7.5) дает возможность проводить их контроль, причем чаще всего ионизирующие излучения используют для измерения физических свойств, связанных с плотностью и составом материала. Аппаратура радиационного контроля качества применяется для измерения плотности, концентрации определенного вещества (элемента) в смеси или химическом соединении, расхода вещества, и для обнаружения наличия того или иного вещества в каком-то объеме. Контроль физических свойств проводят по прошедшему или отраженному излучению, а также по наведенной или собственной радиоактивности материала. Одним из перспективных методов радиационного контроля материалов является применение нейтронных потоков и наиболее чувствительных — радиационных методов избирательного контроля содержания определенных химических элементов. [c.353]

Аппаратура и параметры контроля. Для контроля изделий теневым и зеркально-теневым методами обычно используют импульсные эхо-дефектоскопы, при этом искатели включают по раздельной схеме, т.е. с разделением функций излучающего и приемного преобразователей. Появление дефекта фиксируют по исчезновению или уменьшению сигнала, прошедшего через изделие от излучателя к приемнику (теневой метод) или донного сигнала, отраженного от противоположной поверхности изделия (зеркально-теневой метод). [c.147]

Приведенные выше расчеты позволяют сделать вывод, что при условии обеспечения двухстороннего доступа к контролируемому изделию наиболее целесообразным оказывается амплитудный теневой метод контроля. При одностороннем контроле происходит значительное изменение амплитуды отраженного сигнала, связанное с переменной толщиной стенки изделия. Контроль изделий с переменной толщиной стенки требует специальных мер, в частности использования эталонного изделия, компенсирующего изменение сигнала от изменения толщины, или выбора соответствующих схем волноводных трактов дефектоскопов и электронной аппаратуры. [c.69]

Наряду с очевидными достоинствами метод обладает двумя серьезными недостатками это очень дорогая аппаратура и низкая точность результатов. Выяснению и устранению причин, приводящих к неадекватности получаемых данных составу исследуемых веществ, посвящена значительная часть работ, опубликованных за последние годы как в отечественной, так и в зарубежной литературе, что и нашло отражение в данной книге. Эта проблема окончательно еще не решена, хотя и установлено, что основные погрешности вносят трудно поддающиеся контролю процессы, происходящие в вакуумном разряде. В искровом разряде имеет место неравновероятная ионизация атомов элементов, содержащихся в анализируемом образце кроме того, для этих элементов плохо воспроизводятся коэффициенты относительной чувствительности ионизации. Поэтому даже использование стандартов не может гарантировать от серьезных ошибок при проведении анализа. К сожалению, до настоящего времени стандартные образцы для искровой масс-спектрометрии не выпускаются, а имеющиеся в большинстве случаев не удовлетворяют повышенным требованиям высокочувствительного метода. [c.6]

Оптические датчики. Для контроля роста пленок при вакуумном испарении можно использовать ряд оптических явлений, таких как поглощение, пропускание и отражение света и интерференционные явления. Необходимая для этого аппаратура относительно проста и состоит главным образом из источника света и фотоэлемента. Оба они размещаются в отдельной системе (вне вакуума), которая содержит необходимые для наблюдения оптические окна. Выбор вида измеряемой величины определяется типом подложки и материалом измеряемой пленки. Для пленок металла, например, можно проводить измерение оптического пропускания при условии, что пленки осаждаются на прозрачные подложки. Однако количество прошедшего света Тг быстро уменьшается с увеличением толщины пленки, так что точные измерения ограничены относительно тонкими пленками. Кроме того, закон поглощения света в веществе с коэффициентом поглощения а см 1 Г, = То ехр [ — ас1] на стадиях роста пленки, когда происходит образование зародышей и когда пленка является островковой, не выполняется [139]. Аналогичные замечания относятся и к методу измерения отражения света. По этим причинам оптические датчики используются главным образом для диэлектрических пленок. [c.151]

В связи с важным значением, которое приобретает снятие спектров комбинационного рассеяния при исследовании струк туры расплавленного электролита, возникает потребность в разработке лучшего метода, нежели метод отражения, использованный Буесом [23]. Изучение расплавленных электролитов можно проводить с помощью обычного устройства для возбуждения спектров комбинационного рассеяния, после его соответствующей модификации. Можно поместить стандартную кювету из прозрачного кварца для снятия раман-спек ров в центре, а вокруг нее по окружности расположить коаксиально шесть или восемь горячих ртутных ламп, мощностью около 400 ег каждая. Если при этом коаксиально расположенный рефлектор из нержавеющей стали (с внутренней поверхностью, покрытой MgO) отражает и тепло, и свет, то количество генерируемого тепла должно быть, по-видимому, достаточным для того, чтобы расплавить электролит и поддерживать его в расплавленном состоянии. Преимущества, которые дает сочетание в одном месте источников света и тепла, очевидны. Контроль за температурой электролита осуществляется путем пропускания через аппаратуру холодного воздуха. Рамановскую кювету можно окружить фильтром, заполненным расплавленным нитритом натрия в качестве фильтрующего материала. С другой стороны, удобно пользоваться цилиндром из подходящего оптического фильтрующего стекла. Исследование можно проводить с помощью любого спектрографа, обладающего достаточно высокой разрешающей способностью и дисперсией, однако выгоднее пользоваться раман-спектрографом с большой щелью, для которого время экспозиции меньше. [c.236]

Поглощение сверхвысоких частот используется для определения содержания воды в терпингидрате и в некоторых других фармацевтических препаратах. Бензар и Юдицкий [11] показали возможность применения этого метода для контроля качества продукции в промышленности. Интересная спектроскопическая методика, предложенная Фельнер-Фельдегом [30а], основана на измерении отражения прямоугольных импульсов длительностью от 30 ПС до 200 НС, что соответствует частотам от 1 МГц до 5 ГГц. С помощью этой методики в течение долей секунды можно измерить в тонких слоях изучаемого материала значения диэлектрической проницаемости, соответствующие низким и высоким частотам, времена релаксации и диэлектрические потери. Леб и сотр. [57а] развили этот метод, обеспечив возможность измерения диэлектрических проницаемостей в области высоких частот (10 МГц — 13 ГГц). С помощью разработанной аппаратуры можно измерять диэлектрические характеристики твердых и жидких веществ относительно воздуха. В работе [57а] приведены данные для полярных жидкостей, в том числе для спиртов и водных растворов сахаров. Те же авторы предложили применять при описанных измерениях электронно-вычислительную машину, обеспечивающую сбор и обработку экспериментальных данных и Фурье-преобразование получаемых спектров. Новый импульсный метод нашел применение для определения влаги в молочных порошках. Кей и сотр. [44а ] приводят методику измерений, включающую следующие операции 1) из порошка готовят шарик массой 63 мг 2) взвешивают образец и помещают его в коаксиальную воздушную линию 3) измеряют высоту импульса с помощью осциллоскопа с градуированной шкалой, аналогового или цифрового вольтметра, двухкоординатного самописца или автоматической системы обработки данных 4) устанавливают соотношение между высотой импульса и массой воды в образце. [c.510]

Для создания скачка давления в исследуемых системах Йост [30] применил метод ударной волны. Таким способом ему удалось преодолеть обычный предел аппаратуры для скачка давления. Автор использовал две стальные трубы (внутренний диаметр 30 мм), установленные вертикально друг над другом и заполненные водой. Верхняя труба служила для создания давления. Трубы разделялись алюминиевым диском, который, как правило, разрывался при давлении 1040 атм. На дне нижней трубы была расположена система оптического контроля, отделенная от заполнявшей трубу жидкости тонкой мембраной из резины или тефлона. Фронт ударной волны, имевший протяженность 10 см и скорость 1,5- 10 см-с" , теоретически должен давать скачок давления за время около 10 с. Экспериментальное времл скачка давления, найденное с помощью оптической системы контроля с шириной пучка света 2 мм, составляло 2 мкс. Распространяющийся вперед фронт волны с давлением 500 атм вызывает изменение температуры на 1,6° С после отражения, когда устанавливается окончательное давление в 1000 атм, температура изменяется на 5,5°С. Установка удерживает высокое давление около 2 мкс. Для того чтобы уменьшить временную задержку между фронтом 500 атм и фронтом 1000 атм, пучок света, контролирующий систему, должен проходить вблизи плоскости отражения ударной волны. Экспериментальная временная задержка приближалась к 5 мкс. Более детальное описание можно найти в оригинальной статье Йоста [30]. В качестве контрольной системы Йост использовал реакцию тропеолина-0 с аммиаком (т = 5 мкс) и с 0Н (т = 33 мкс). [c.392]