Отражения методы

Толщина слоя, мм метод отражения метод пропускания Толщина слоя, мм метод отражения метод пропускания [c.151]

Вам может показаться, что данный раздел относится только к специалистам, поскольку квадратурное детектирование-это некоторая инструментальная методика, предназначенная для повышения чувствительности. Если вас интересуют только одномерные спектры, то такую точку зрения вполне можно допустить. Однако проблемы, которые мы намерены сейчас рассмотреть, снова появятся в слегка измененном виде в двумерной спектроскопии ЯМР, и иам будет намного легче ориентироваться в инх, если мы сначала разберемся с одномерным случаем. Кроме того, прн регистрации одномерных спектров с очень большим динамическим диапазоном неидеальность систем квадратурного детек-тирования может вызывать появление квадратурных отражений. Метод подавления этих отражений служит введением в теорию фазовых циклов, которая чрезвычайно важна в многоимпульсных экспериментах. Если вы впервые знакомитесь со спектроскопией ЯМР, то вам лучше пока пропустить этот раздел. Вернитесь к нему позже, когда почувствуете необходимость разобраться в этом материале. [c.117]

Метод измерения прямого отражения (метод Лауэ) (рис. 28.8). Плоскую пленку помещают на расстоянии нескольких [c.118]

Как показано на рис. 8.9 (II и IV), при сканировании по отражению излучения ртутного источника с длиной волны 254 нм и по ослаблению флуоресценции при той же длине волны получаются пики одинаковой высоты. Однако по сравнению с методом отражения метод ослабления флуоресценции характеризуется более высоким уровнем фона, связанного с неоднородным распределением индикатора в слое сорбента. Именно поэтому, несмотря на одинаковые высоты пиков, отношение высоты пиков к уровню фона в методе отражения выше, чем в методе ослабления флуоресценции. Даже при измерении отражения на ВЭТСХ-пластинках с флуоресцентным индикатором фон значительно больше электрических помех фотометра. [c.188]

Активные ультразвуковые методы разнообразнее по схемам применения и получили гораздо более широкое распространение. Для контроля используют стоячие волны (вынужденные или свободные колебания объекта контроля или его части), бегущие волны по схемам прохождения и отражения. Методы колебаний используют для измерения толщин при одностороннем доступе и контроля свойств материалов (модуля упругости, коэффициента затухания). Информативным параметром служат частоты свободных или вынужденных колебаний и их амплитуды. Используют также метод, основанный на измерении режима колебаний преобразователя, соприкасающегося с объектом импедансный метод). По амплитудам и резонансным частотам такого преобразователя (часто имеющего вид стержня) судят о твердости материала изделия, податливости (упругому импедансу) его поверхности. Податливость, в [c.17]

Контроль расплавления припоя. Ультразвуковой контроль процесса расплавления припоя вьшолняют методами прохождения или отражения. Метод прохождения применяли [194] при контроле пайки серебряным припоем материалов типа меди с коваром, стали с коваром и ковара с коваром. Использовали припой в виде фольги толщиной 30. .. 50 мкм. При экспериментах соединяемые детали имели вид стержней диаметром 20 мм длиной от 30 до 190 мм. При производственном контроле детали имели вид малогабаритных трубочек, пластин или шайб. В этом случае применяли стальные волноводы. [c.669]

При взаимодействии радиоактивного излучения с веществом обязательным процессом является взаимодействие излучения с электронами атомных оболочек. При этом возможно частичное поглощение излучения, его рассеяние и отражение. Методы анализа, основанные на измерении абсорбции или изменении направления ядерного излучения в результате взаимодействия с веществом, хотя и не универсальны, но в ряде случаев могут быи. полезны, особенно при определении одного из компонентов бинарной смеси. В зависимости от типа излучения различают у -абсорбционный, Р -абсорбционный и нейтронно-абсорбционный методы. Кроме того, следует упомянуть методы, основанные на отражении уЗ-частиц и на замедлении нейтронов. Существуют и другие методы [c.381]

Установить тин взаимодействия адгезива с субстратом, выявить характер связей, возникших в зоне контакта, представляется важной задачей при изучении механизма адгезии полимеров. Наиболее широкое применение при изучении характера взаимодействия полимеров с различными субстратами находит ИК-спектроскопия. Методы ИК-спектроскопического анализа подробно описаны в специальных руководствах [201—205]. В числе этих методов можно отметить следующие исследование тонких пленок (10—40 мкм), исследование брикетированных образцов (анализируемый объект прессуют в таблетку с веществом, прозрачным в рабочей области спектра, нанример КВг), применение полного внутреннего отражения. Методом тонких пленок изучали, [c.28]

Разделы, посвященные спектральным и оптическим исследованиям, включают в себя описание методов анализа по ИК-, УФ-и масс-спектрам, поляриметрию нефтей, а также определение микроэлементов и металлопорфириновых комплексов. Нашли отражение методы с использованием резонансных спектро.в (ЯМР я ЭПР). [c.4]

Оценка адгезии фунгицидных жидкостей к листьям может быть проведена методом светового отражения . Метод позволяет обнаружить различные цветовые осадки на, листьях, которые опрыскивали фунгицидами, содержащими цинк и медь. [c.376]

В ПОМ применяют полярископы на проходящий (метод моделей) и отраженный (метод фотоупругого покрытия) свет. Полярископы с большим полем зрения позволяют получить картину распределения интерференционных полос сразу по всей площади изделия. [c.385]

Структура определена на основании 9 отражений методом проб (рентгенограмма порошка). Прим. ред.) [c.395]

ЭЛЕКТРОННОЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ, физические методы исследования и локального анализа тв. тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). После взаимод. электронного зонда с в-вом можно регистрировать 1) электронные сигналы, т. е. электроны, прошедшие через образец (в методах просвечивающей электронной микроскопии, микродифракции электронов, спектроскопии, характеристич. потерь энергий электронов и др.), отраженные электроны (в электронографии на отражение, методе дифракции медленных электронов, зеркальной электронной микроскопии и др.), вторичные электроны, в т. ч. Оже-электроны (в методах электронной Оже-спектроскопии, растровой электронной микроскопии) 2) электрич. сигналы — ток в образце (поглощенные электроны), наведенный ток и наведенную эдс в полупроводниках 3) электромагн. излучение — рентгеновское (в методах рентгеноспектрального микроанализа, спектроскопии пороговых потенциалов), катодолюминесценцпю (в катодолюминесцентном микроанализе). Наиб, распространены рентгеноспектральный [c.700]

Примечание. 1. Ввиду дисперсии частот по направлениям волнового вектора для частот колебаний каждого из типов симметрии указана ориентация волнового вектора, при которой наблюдались эти частоты. Значения частот типов Л, и В, даны по результатам обработки спектров отражения методом ДА, а типа В, — по данным приближенной оценки поперечных частот из спектров отражения. 2. Полоса при 518 см обнаружена в спектре поликристаллического образца, полученного методом седиментации. [c.124]

Экспериментальные исследования пропитки пористых материалов основаны на измерении скорости продвижения фронта жидкости или максимальной высоты всасывания. Перемещение границы смачивающей жидкости можно фиксировать с помощью оптических приборов (например, катетометров), а также путем киносъемки. Кроме того, описаны различные косвенные методы по времени погружения пористого тела в жидкость, по увеличению массы и др. [39]. Для изучения кинетики пропитки пористых материалов была применена установка, действие которой основано на принципе нарушенного полного внутреннего отражения — методе Мехау [43, 44]. Для исследования кинетики пропитки стеклотканей был применен оптический метод, основанный на оценке прозрачности, и установлена тесная связь между этой характеристикой и прочностными свойствами стеклопластиков [45, 46]. [c.84]

Фотометрические методы пропускания и отражения Методы детектирования флуоресценции и гашения [c.181]

Направление, перпендикулярное грани hkl), например (100), обозначается [100]. Совокупность направлений, перпендикулярных граням hkl , например 100 , обозначается hkl , в нашем примере < 100 . В [13] отражен метод обозначений по В. А. Франк-Каменецкому. [c.60]

Обширный справочный материал, содержащийся в книге, позволяет читателю сделать выбор в пользу применения микродозаторов, наиболее пригодных для решения актуальных научно-технических проблем. В изложении также нашли отражение методь получения чистых и нулевых газов, увлажненных и сухих газовых сред, исходных газов и ГС в баллонах под давлением. [c.4]

Государственные технические нормы на качество продукции фиксируются в стандартах. В них находят отражение методы испытания и приемки, правила транспортирования и хранения, гарантии поставщиков и др. Стандарты пересматриваются каждые пять лет. Они до 1жны воздействовать на интенсивность разработки и внедрения новой фодукции, находящейся на уровне лучших мировых образцов. [c.57]

В последние годы широкое распространение получили различные оптические методы изучения in situ поверхности электродов и электродных процессов. На рис. 1.7 воспроизведена ячейка для измерения отражения методом инфракрасной спектроскопии. Поскольку инфракрасное излучение поглощается раствором, для измерений используется ячейка, в которой слой раствора, проходимый излучением, оказывается очень тонким. Аналогичную задачу можно решить, используя специальные световоды, которые подводят ИК-излучение к поверхности электрода и отраженный сигнал направляют для регистрации и последующего анализа, / [c.12]

Метод измерения прямого и обратного отражения (метод Дебая — Шерера) (рис. 28.9). По этому методу узким пучком мс5-нохроматических рентгеновских лучей облучают маленький цилиндрический образец, причем короткие участки дифракционных конусов (дуги) ограничены полоской пленки (рис. 28.10), которую [c.120]

Количественные полюсные фигуры строят двумя методами съемкой "на просвет" (метод Деккера I 5 ] ) и "на отражение" (метод Щульца 6,7Л. [c.105]

Определение гафния по р -отражению. Двуокись гафния определяют в смеси двуокисей циркония и гафния по р-отражению. Метод разработали Полуэктов и Лауэр [233]. Он основан на измерении интенсивности р-лучей, отраженных от поверхности двуокисей циркония и гафния, спрессованных в брикет, и сопоставлении ее с интенсивностью отраженных р -лучей от образцов чистой двуокиси циркония и чистой двуокиси гафния. Для выполнения измерений сконструирован прибор, представляющий небольшой металлический шкаф, внутри которого укреплены источник р-частиц (радиоактивный изотоп таллия с активностью 0,3 мкюрй), подставка из оргстекла для помещения анализируемых образцов и торцовый счетчик Т-20, при помощи которого и пересчетного прибора типа Флокс измеряют интенсивность отраженных 3-частиц. Анализируемый образец (60 мг) спрессовывают при помощи гидравлического пресса при давлении 50 кг/см в брикет диаметром А мм. Брикет помещают в прибор для счета отраженных р-лучей и проводят 2—3 измерения в течение 2—5 мин. Содержание двуокиси гафния в анализируемом образце вычисляют по формуле [c.165]

ИЗ НИХ при добавлении центра симметрии. Однако 70 пространственных групп (включая 10 энантиоморфных пар) могут быть определены однозначно к счастью, сюда относится и Р2 /а-груп-па, наиболее распространенная среди нескольких тысяч исследованных до сих пор кристаллов (к ней принадлежит почти 26% всех органических кристаллов). Даже если погасания допускают неоднозначность (что обычно случается), можно осуществить разумный выбор с помощью исследования таких физических свойств, как наличие пиро- или пьезо-электричества, а также с помощью морфологического исследования кристаллов классическим гониометрическим методом или исследования статистики распределения интенсивностей отражений [метод первостепенной важности, разработанный Вильсоном (Wilson, 1949) и Роджерсом (Rogers, 1950)]. [c.56]

В конструкции ее удачно использованы оба метода фокусировки— на прохождение (метод Гинье) и на отражение (метод Зеемана). В результате после пересечения первого образца (I) сфокусированный в точке (П) пучок направляется на образец то-то же вещества (П1) и в двух кассетах в одно и то же время регистрируются отражения в интервалах 0 О—30° и 60—90°. [c.37]

В неполярных кристаллах, таких, как алмаз, матрица интенсивности представляет сумму 61,0 и Вто, что согласуется с выражениями, рассмотренными ранее. При ориентации (ПО) 0-мода должна наблюдаться в направлениях поляризации ХУ и У2, а не УУ или Х1. Аналогично ГО-мода не должна наблюдаться в направлении поляризации ХУ. В некоторых случаях трудно отделить эти однофононные линии от линий двухфононного спектра. В такой ситуации определенную помощь может оказать сравнение с данными по диэлектрической проницаемости (е и е"), полученными при анализе ИК-спектров отражения методом Крамерса — Кронига соответствует частоте, при которой б = О, и то находят по максимальному значению е". [c.453]

В качестве исходного сырья для синтеза аммиака на современных предприятиях все более широко применяют природный и коксовый газы, а процессы газификации твердых топлив для получения технологических газов постепенно теряют свое былое значение. В соответствии с этим глава I, в которой рассматриваются методы конверсии природного газа в синтез-газ, и глава III, посвященная вопросам использования коксового газа в азотной промышленности, имеют значительно больший объем по сравнению с главой II, в которой лишь кратко описаны принципы газификации топлив. В книге нашли также отражение методы, которые еще не получили широкого распространглля з промышленности, но являются перспективными на буду цег. [c.7]

Интересный фотометрический метод определения золота в природных и промышленных сплавах и слитках без растворения образца предложил Альбов [769]. Метод основан на фотометрическом измерении коэффициентов отражения в красном и синем свете. Состав сплавов определяют по величине отношения коэффициентов отражения. Метод применялся для анализа двойных и четверных сплавов. В статье [769] приведено описание аппаратуры. [c.280]

Рентгеновский дифрактометр ДРК-2. Дифрактометр является модификацией дифрактометра ДРК и предназначен для контроля углов среза пластин из кварца и других кристаллических материалов в производственных условиях. Измерение угла между плоскостью среза и базовой атомной плоскостью производится путем установки кристалла в отражающее положение при неподвижном счетчике, установленном под углом отражения. Метод регистрации рентгеновского излучения—сцинтилляционный. Дифрактометр является прецизионным прибором, позволяющим определять ориентацию кварцевых пластин с точностью 20". В нем применено гониометрическое устройство ГУР-7 с оптической шкалой отсчета углов. Гониометр ГУР-7 снабжен набором приставок, позволяющих ориентировать образцы разной формы и размеров, в том числе крупные блоки произвольной конфигурации с двумя установочными плоскостями размером до 50 X 150 X 150 мм, прямоугольные пластины размером от 0,4 X 4 X 4 мм до 5 х 30 X 30 мм, круглые образцы диаметром от 4 до 30 мм и толщиной от 0,4 до 5 мм, узкие грани пластин размером от 4 X 4 мм до 30 X 30 мм, толщиной от 0,3 до 5 мм двоякокосые срезы, пластины в форме линз (по специальному заказу). [c.11]

Микрокамера для исследования поликристаллических микрообъектов МКР. Микрокамера нредназна,яена для рентгепографирования поликристаллических объектов малых размеров в виде столбиков, проволочек и нитей диад)етром от 0,02 до 0,1 мм и шлифов 8x8 мм на просвет и отражение методом Дебая. Она работает с острофокусными рентгеновскими трубками БСВ-7 и БСВ-11. В комплект камеры входят съемная фотокассета, позволяюш,ая проводить многократную съемку без нарушения центрировки образца и юстировки микрокамеры съемный держатель образцов, позволяюш,ий центрировать образец вне камеры специальное юстировочное устройство, позволяющее быстро совмещать пучок рентгеновского излучения с исследуемым образцом. [c.34]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология