Юстировка

Визуальный метод изучения спектров поглощения на ступенчатом фотометре несложен и достаточно быстро дает надежные результаты. Прибор прост в устройстве и работе. Он состоит из четырех основных частей оптической скамьи, осветительного устройства с трансформатором, держателя кювет и фотометра. Оптическая скамья представляет собой трехгранную рейку с пазами, укрепленную на трех ножках. Она служит для жесткого крепления всех частей фотометра и обеспечивает их перемещение параллельно оптической оси при юстировке прибора. Все части фотометра крепятся на рейтерах. Рейтеры могут перемещаться по оптической скамье и закрепляться на ней винтами. [c.29]

Входную щель спектрального прибора следует рассматривать как источник света для всего спектрального прибора. Используемые высокотемпературные источники возбуждения спектров не помещают непосредственно перед щелью, поскольку они могут, во-первых, нагревать весь прибор, что может привести к нарушению юстировки, во-вторых, повредить детали входной щели. Поэтому высокотемпературный источник возбуждения располагают на некотором расстоянии от щели, а для более полного использования испускаемого источником светового потока используют различные оптические системы. Назначение этих оптических систем бывает также и сугубо специфическим, например сформировать по высоте щели равномерное изображение источника или какого-либо оптического элемента для того, чтобы иметь равномерную освещенность щели по высоте. Каждый спектральный прибор имеет свою апертуру, т. е. свой телесный угол, под которым щель видит объектив коллиматора. Для полного использования светосилы прибора необходимо, чтобы этот телесный угол был полностью заполнен излучением источника. [c.28]

Спектрограф КС-55. Прибор КС-55 снабжен сменными кварцевыми и стеклянными призмами и объективами. Это позволяет фотографировать спектры излучения и поглощения, начиная от 200 до 1000 нм. Замена оптических деталей производится быстро и не требует последующей юстировки прибора. Дисперсия прибора приведена в табл. 3. [c.38]

Если при определении пластинки (среднее из 4—6 определений) экспериментально найденное число совпадает с показателем, указанным на пластинке, с точностью 1 10 , то считают, что юстировка прибора не нарушилась. Если же несовпадение выходит за пределы указанной величины, то по шкале находят значение отсчета, соответствующего показателю преломления пластинки, и, поворачивая ключом 20 винт с четырехгранной головкой, расположенной на нижней стороне фланца 21, совмещают границу раздела с перекрестием сетки. [c.86]

Установив в штативе железные электроды, проверяют электрическую схему, зажигая на короткое время дугу. Одновременно проверяют равномерность освещения щели спектрографа по световому пятну, которое должно совпадать с центром перекрестия на крышке щели спектрографа. При необходимости производят юстировку источника света и осветительной системы. [c.109]

Проверяют установку источника света на оптической оси, чистоту щели по всей высоте (промежуточная диафрагма — круглая). При необходимости выполняют юстировку осветительной системы. [c.121]

При необходимости следует произвести юстировку микрофотометра, руководствуясь инструкцией по эксплуатации. Затем ограничивают измерительную щель по высоте, устанавливают ее ширину не более от ширины измеряемой спектральной линии, а ширину осветительной щели чуть больше измерительной щели. Далее при закрытом приемнике света совмещают указатель на матовом экране с началом отсЧетной шкалы (с индексом оо), подводят под объектив прозрачное место фотопластинки и, открыв приемник излучения, совмещают нулевое деление логарифмической шкалы с указателем на экране, вращая серый клин. [c.124]

Производят юстировку лампы с полым катодом и горелки. Устанавливают нужную ширину входной и выходной щелей монохроматора (0,7 нм при определении меди, 1—2 нм при определении свинца, 0,7—2,0 нм при определении цинка). Выводят на выходную щель резонансную линию меди 324,75 нм. [c.163]

Центрировка и юстировка монокристалла в рентгеновских камерах производится с помощью специального приспособления, называемого гониометрической головкой. Она обеспечивает поступательное перемещение монокристалла в двух взаимно перпенди- [c.128]

Для получения дифференциальных спектров МНПВО и компенсации поглощения элемента выбирают два элемента из одного и того же материала с одинаковыми углами падения и равным числом отражений и проводят поочередно юстировку приставок, в которых установлены выбранные элементы, как описано в п. 3. После окончания настройки и закрепления зеркал, а также элемента МНПВО устанавливают приставки в оба канала прибора, причем в канал сравнения помещают приставку с элементом, характеризующимся большим процентом пропускания, и записывают спектр. При хорошей компенсации спектр должен иметь вид почти прямой линии, при этом перо самописца должно находиться на уровне 75—85%. Далее в канале сравнения производят смену элемента устанавливают элемент с тем же углом падения, но с меньшим числом отрал<ений, вновь юстируют приставки и записывают спектр МНПВО. [c.141]

Для юстировки фотометров по шкале частот используют специальные лампы (ртутная, с полым катодом), а по шкале оптических плотностей — набор стандартных светофильтров. Периодическая поверка всех средств измерений — непременное условие успешной работы. [c.811]

Спектрофотометр состоит из четырех частей (рис, 86) монохроматора с фотометрической частью, заключенного в основном корпусе прибора 15, кюветного отделения 17, камеры с детекторами и усилителем 20 и осветителя с источниками освещения 31. Кроме того, каждый спектрофотометр снабжен стабилизатором (рис. 87), через который осуществляется питание источников освещения, а также усилителя (СФ-4А, СФ-16). Осветители жестко крепятся к корпусу прибора и имеют держатели источников освещения с соответствующими механизмами юстировки, которые несколько отличны у различных моделей. [c.258]

Лампы помещают в одном и том же осветителе 31, имеющем два цоколя. Водородная, дейтериевая и ртутная лампы устанавливаются поочередно в один и тот же цоколь. Для лампы накаливания имеется отдельный цоколь. Излучение определенного интервала длин волн от той или иной лампы направляется на входную щель монохроматора зеркалом-конденсором, помещенным между лампами, и поворот которого осуществляется рукояткой 34. Держатель каждой лампы имеет свой механизм юстировки. Держатели лампы и стойка с конденсором крепятся на отдельном кронштейне, жестко связанном с основанием прибора. Сверху лампы закрываются кожухом, в котором есть отверстие с подвесной крышкой для доступа к рукоятке 34 переключения конденсора на ту или другую лампу. [c.264]

Далее включают прибор и проверяют правильность его работы. Для этого необходимо а) включить прибор в электросеть с напряжением 127 В б) включить выключатель сеть на щитке 26 и дать прибору прогреться в течение 5 мин в) включить выключатель лампа на щитке 26. Произвести юстировку лампы при помощи рукояток 29. Юстировка лампы контролируется по резкому изображению нити лампы в центре поверхности коллиматорной линзы (для наблюдения следует отодвинуть шторку левого окна 25 в кожухе прибора). Если необ- [c.276]

Необходимо проверить центрировку и юстировку прибора (см. инструкцию к ПМТ-3). Центрировка прибора заключается в установлении точного совмещения при повороте предметного столика на 180° оптической оси микроскопа прибора с осью механизма нагружения. [c.51]

Раствор в кювету наливают до метки на стенке. Ее закрывают специальной крышкой. Выбирают две кюветы одной длины для юстировки прибора, написав карандашом по верхней матовой части лев и прав . В третью и четвертую кювету помещают исследуемый раствор, также отметив их. [c.475]

Кроме строгого контроля за калибровкой монохроматора спектрополяриметров и дихрографа оптическая юстировка данных приборов включает в себя точную установку взаимного положения поляризатора и анализатора в спектрополяриметре и поляризатора и кристалла модулятора в дихрографе. Разъюстировка этих узлов или нарущение работы электронных блоков могут привести к появлению ложных кривых ДОВ ля КД. Одним яз обязательных коптролей данных приборов является запись спектров (ДОВ или КД соответственно) для заведомо оптически яеактивных образцов с оптической плотностью до 2,0ч-2,5. Если появляются ложные вращение ил и эффект Коттона в области потлощепня образца, то прибор необходимо дополнительно настраивать. [c.45]

Теоретической разрешающей силой обладает спектрометр, чувствительность приемника которого позволяет фиксировать разность энергий между двумя дифракционными изображениями с угловым расстоянием а", при условии, что изображение не искажено аберрациями оптической системы, дефектами изготовления и неточностями юстировки. [c.40]

Ящик с принадлежностями термометр, юстировочная пластина с известным показателем преломления, ключ для проверки юстировки прибора и головка па фланце. [c.212]

Юстировка прибора, так же как и прибора ФЭК-М, проводится с помощью специального сетчатого фильтра. [c.227]

В условиях плавильных и других технологических установок электронные пушки должны генерировать мощность в десятки, сотни и даже тысячи киловатт в непрерывном режиме и при значительных колебаниях вакуума в рабочей камере печи. Поэтому в электронных пушках плавильных установок необходимо добиваться очень малой утечки электронов пучка на анод и лучевод пушки, так как эта утечка сильно влияет на ее тепловой режим и поддержание юстировки. [c.240]

Если измеренный показатель преломления расходится с обозначенной на пластинке цифрой, необходимо провести юстировку. Для этого дополнительным поворотом маховичка 2, глядя на шкалу показателей преломления, ставят горизонтальный штрих сетки в положение, соответствующее обозначенной на пластинке цифре, и, вставив в гнездо 12 торцевой ключ (также находящийся в ящичке 11) и поворачивая его, совмещают границу света и тени с перекрестием. Затем для проверки правильности юстировки делают несколько замеров и в случае совпадения показаний шкалы рефрактометра с цифрой, указанной на пластинке, юстировку заканчивают. [c.16]

Методика проведения измерений света, рассеянного дисперсными системами, и обработки экспериментальных индикатрис заключается в следующем. После юстировки оптики кювету устанавливают на предметном столике между коллиматорной линзой Лг и приемной линзой Л . При этом положение приемной диафрагмы регулируют так, чтобы скомпенсировать призматическую ошибку, вносимую кюветой. Светорассеяние на углах от О до 3° измеряют применяя набор нейтральных светофильтров. Показания на ленте осциллографа, соответствующие этим участкам, считывают с учетом коэффициента ослабления светофильтров. Пример, записи индикатрисы рассеянного света под малыми углами приведен на рис. 107. Порядок обработки индикатрис [c.316]

После юстировки установки и съемки тарировочной индикатрисы снимают экспериментальные индикатрисы со скоростью 0,1—0,2 7с в области от 5 до 165°. Для получения истинной индикатрисы из экспериментальной вычитают индикатрису, снятую без образца. В полученную разностную кривую вносят поправку на значение рассеивающего объема. Значение поправки зависит от угла рассеяния, радиуса кюветы и ширины светового пучка. Исправленная разностная кривая А/ (Р) = [/ (р) — /о (Р)1 Ф (Р) обрабатывается по методу статистической регуляризации. [c.323]

Периодически (а после транспортировок всегда) нужно проверять юстировку прибора. Для этого в комплекте имеется специальная юстировоч-ная пластинка 19 (рис. V. 8, а), на нерабочей поверхности которой указан ее показатель преломления [c.85]

В описываемой схеме опорный луч (О) и луч (С), формирующий рассеянное (сигнальное) излучение, пересекаются в исследуемой среде под некоторым углом в (этот угол служит углом рассеяния). При таком расположетии лучей опорный луч, по которому производится юстировка системы, выбирает нз рассеянного излучения нужные пространственные компоненты, обеспечивая, таким образом, условия оптимальности фотосмешения. [c.26]

Электронно-оптическая система предназначена для создания монохроматического сходящегося пучка быстрых электронов. Она состоит из электронной пушки с бронированным выводом, фокусирующих электромагнитных (конденсорных) линз с полюсными наконечниками, блоков механической и электромагнитной юстировки электронного луча и электрической схемы питания. Источником электронов служит вольфрамовая V-образная нить, помещаемая внутрь управляющего (венельтова) цилиндра и нагреваемая электрическим током высокой частоты. Для ускорения электронов, эмиттированных катодом, на этот узел подается отрицательное относительно заземленного анода высокое (40—100 кВ) стабилизированное напряжение. [c.138]

В конструкции низкотемпературной камеры-приставки УРНТ-180 применена безвакуумная схема охлаждения образца потоком сухого газа. В качестве хладагента используется жидкий азот. Измерение температуры и ее контроль производится термопарой медь — константан с соответствующей электронной схемой регулирования. В камере-приставке 1 обеспечена возможность вращения образца в собственной плоскости со скоростью 80 об/мин. Запас жидкого азота позволяет проводить непрерывные измерения в течение 2,5 часов. Стабилизация температуры, осуществляемая с помощью блока регулировки температуры, во всем температурном интервале не хуже 0,3°. Посадочное устройство, обеспечивающее надежное крепление камеры-приставки к гониометру, имеет достаточное число регулировок, позволяющих производить ее юстировку известными методами [5]. [c.137]

Необходимо систематически проверять правильность юстировки (например, съемкой стандарта) или подмешивать в образцы внутренний стандарт, так как при нарушении юстировки происходит смещение начала отсчета и во все значени я углов вносится одинаковая систематическ ая ошибка. [c.35]

Для усиления фотопотока, поступающего с фотоэлектронного умножителя, применяли фотоэлектрический усилитель Ф-120/2 с коэффициентом усиления Кус = 7000. Усилитель питается постоянным током. Индикатрисы записывали осциллографом Н-107. Для питания фотоэлектронного умножителя разработан малогабаритный высоковольтный стабилизированный выпрямитель, который представляет собой двухдиапазонный стабилизированный источник напряжения от 600 до 2000 В. Питание контрольноизмерительной аппаратуры установки осуществляется от универсального блока питания со следующими пределами напряжения и мощности 127 В — Ю Вт 27 В —"30 Вт 2x50 В—3 Вт 1 -7-8 В — 3 Вт 2 В — 0,6 Вт. Для удобства юстировки экспериментальной установки лазер, элементы оптической системы, фото- электронный умножитель и кювета крепятся на оптической скамье и закрываются светозащитным кожухом. [c.316]

Применение автоматического дейтериевого корректора имеет следующие ограничения 1) необходима точная юстировка дейте-риевой лампы и основного источника для того, чтобы в обоих случаях возбуждалась одна и та же аналитическая зона 2) применение дейтериевого корректора позволяет надежно учитывать фоновое поглощение до 0,4—0,5 отн. единиц поглощения н 3) нри включении корректора возрастает шум и ухудшаются пределы обнаружения элементов. [c.179]

Чувствительность жидких кристаллов к изменению температуры делает возможным применение их для диагностики воспалительных процессов в медицине, при дефектоскогши материалов, обнаружении локальных разрывов непрерывности теплового потока, связанных с механическими дефектами материала или некачественными соединениями в конструкции. Жидкие кристаллы применяют для создания лазерных модуляторов, избирательных фильтров, датчиков для настройки оптических приборов, юстировки инфракрасной оптики, решения сложных технических проблем простейшими общедоступными способами. [c.249]

Юстировку проводят на монокристаллических образцах Na l, алюминия или олова. Механизм нагружения устанавливают на такую высоту, чтобы в рабочем состоянии острие алмазной пирамидки слегка касалось поверхности испытуемого шлифа. Если при нагрузке 0,5 г можно получить отпечаток в виде точки (под микроскопом), а без нагрузки отпечатка не получается, то юстировку прибора считают правильной. [c.51]

Изменения структуры коксов непосредственно в процессе нагрева исследованы нами на двух сырых коксах — рядовом и игольчатом с Красноводского НПЗ. Коксы - нагревали с помощью высокотемпературной приставки ГПВТ-1500. В камере поддерживался вакуум Ю" мм. рт. ст. Скорость нагрева образцов 20° С в минуту. Рентгенограммы получены на дифрактометре Дрон-0,5 с Си Kol —излучением, отфильтрованным никелевым фильтром. Для увеличения количества образца, попадающего под рентгеновский луч, в имеющейся кювете были высверлены дополнительные отверстия. Для упрощения юстировки в образец подмешивалось 20% к массе пробы фтористого лития. Скорость записи рентгенограмм составляла ГС в минуту. Рентгенограммы [c.114]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология