Приборы на основе микроскопа

Растровая сканирующая электронная микроскопия. Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — прибор, в основу работы которого положен телевизионный принцип развертки тонкого пучка электронов (или ионов) на поверхности непрозрачного исследуемого образца. Пучок электронов, падающий на поверхность образца, взаимодействует с веществом, следствием чего является возникновение целого ряда физических явлений (рис. 59). Регистрируя соответствующими датчиками то или иное излучение (например, вторичные электроны) и подавая сигналы на кинескоп, получают рельефную картину изображения поверхности образца на экране. [c.149]

В последние годы на основе масс-спектрометрии и явления вторичной ионно-ионной эмиссии создан уникальный прибор — ионный микроскоп [9]. Этот прибор позволяет получать увеличенное изображение участка поверхности образца, подвергшегося бомбардировке первичным ионным пучком. Настраивая масс-анализатор на тот или иной вторичный ион, можно поочередно рассматривать ионные изображения одного и того же участка поверхности твердого тела при различных значениях массы иона. Ионный микроскоп, таким образом, позволяет исследовать топографию распределения отдельных элементов, изотопов и химических соединений на поверхности твердого образца. [c.50]

В ультрамикрометоде используют как обычные приборы (колориметры, фотометры, спектрофотометры), приспособленные для работы с малыми кюветами, так и приборы на основе микроскопа. Минимальное определяемое количество вещества в приборе обычного типа ограничивается, как правило, воспроизводимостью результатов измерения В случае капиллярных кювет воспроизводимость в значительной степени связана с оптическим центрированием их в приборе. [c.173]

Описанный прием заполнения пригоден лишь для капиллярных кювет сравнительно большой емкости, (десятки и сотни мкл), используемых при работе на обычных приборах. Кюветы же емкостью несколько мкл, применяемые в условиях фотомет-рирования на предметном столике микроскопа (приборы на основе микроскопа) могут быть заполнены раствором только с помощью поршневой микропипетки (см. ч. И, гл. 1, 2). [c.174]

Приборы на основе микроскопа [c.176]

Стекло широко и издавна используется в качестве прозрачного материала для зданий, различных автомашин и т. п., а также в качестве важнейшего материала при изготовлении оптических приборов микроскопов, телескопов, перископов, оптических прицелов и др. Применение таких приборов во многом обусловило прогресс в развитии ряда естественных наук (биологии, астрономии) и различных областей техники, в том числе военной. В настоящее время на основе применения тонких стеклянных волокон создаются новые, более эффективные средства связи. [c.233]

При осмотре деталей применяют лупы 2-7-кратного увеличения, налобные лупы, стереоскопические микроскопы, осветительные и оптические приборы на основе волоконной оптики. [c.362]

Поэтому уже давно для препарирования суспензий был предложен способ пульверизации. Капли размером в несколько микрон, получающиеся по этому способу, испаряются быстро, причем не наблюдается существенной агрегации частиц, и в поле зрения микроскопа находится вся площадь, занимавшаяся каплей. Схема одного из удачных и простых по конструкции приборов для этой цели показана на рис. 22 [38]. Прибор работает от сжатого воздуха при давлении 20—30 атм. Покрытые пленкой сетки следует располагать в горизонтальном положении на расстоянии 40—50 см от источника. Внешняя стеклянная оболочка 1 диаметром 7 мм имеет отросток для впуска воздуха 2. Трубка Л вставляется внутрь 1 она снабжена резиновым манжетом 4, который обеспечивает герметичность, будучи зажат между фланцем б и основой 7. Расширение 5 на трубке 3 препятствует ее выбросу из 1 в то время, когда впускается воздух. Суспензия заливается в узкую пипетку 8, которую вставляют в 3 таким образом, чтобы ее конец слегка касался капиллярной части трубки 3. Пипетки следует брать новые для каждого образца. Весьма важно выбрать подходящие размеры Рис, 21. Промывание отверстий в узкой части трубок. Внутренний объекта на пленке, диаметр трубки 5 должен составлять Q,i мм, внешний — 0,3 мм. Внутренний диАметр трубки 1 должен быть 0,75 мм. [c.76]

Спектрофотометр с микроскопом (рис. 10) используется [22] для получения спектров в видимой и ближней ИК-областях от выбранного участка образца размером всего 1 мк . Эта установка смонтирована на основе серийных приборов, имеющихся в продаже. Хотя первоначально прибор был предназначен для исследования веществ в алмазной кювете при высоком давлении, он в равной мере пригоден для изучения обычных микроскопических препаратов. [c.289]

Более характерной для степени диспергирования пигментов является граница сплошной массы выступающих частиц на приборе Клин , хорошо наблюдаемая по следующему способу. Поверхность краски в приборе Клин освещают боковым фокусированным светом с помощью осветителя типа применяемого в микроскопии, создавая максимальный контраст (тени) для выступающих на поверхности частиц. Поверхность краски рассматривают через стереоскопический микроскоп при небольшой степени увеличения или через увеличительное стекло большого размера с кратностью увеличения 4—6. Определение степени перетира по этому способу длится более 10 с, но это допустимо, так как краска на основе олифы или вазелинового масла не является быстросохнущей. [c.176]

Электронный микроскоп. Поток электронов, летящих с заданной скоростью, по представлениям волновой (квантовой) механики эквивалентен световой (электромагнитной) волне, длина которой соответствует коротковолновому (рентгенову) излучению. На этой основе развился новый отдел физики — электронная оптика. Электроннооптические приборы находят все возрастающее применение в самых различных областях науки и техники (телевидение, автоматика и др.). [c.353]

В ней изложены теоретические основы и практические приемы анализа неорганических и органических соединений методом микрокристаллоскопии. Подробно описаны приемы получения и исследования под микроскопом кристаллических осадков, техника работы, приборы и реактивы. [c.2]

Первый УФ-спектрограф, производившийся в промышленном масштабе и поступивший в продажу в 1913 г., был сконструирован Твайменом и во многом способствовал применению химиками спектроскопических методов вообще. В начале 30-х годов Тваймен внес в него дальнейшие усовершенствования. Однако работа с этими приборами требовала большой затраты времени и дорогих фотоматериалов. Эти недостатки были устранены в фотоэлектрических приборах, впервые созданных в середине 30-х годов. Выпуск стандартной аппаратуры такого типа стал возможным после того, как такой прибор был сконструирован Кери и Бекманом (1941), на основе которого промышленность стала выпускать кварцевые спектрофотометры Бекмана. Их массовое производство привело к тому, что наряду с такими физическими приборами, как микроскоп, рефрактометр и поляриметр, фотоэлектрические спектрофотометры стали обычной частью оборудования химических лабораторий [51, с. 42]. А во второй половине 40-х годов уже были сконструированы спектрофотометры с автоматической регистрацией. [c.233]

Автоматический структурный анализатор (Epiquant, ГДР). Прибор позволяет проводить количественную регистрацию составных частей структуры — размер, количество, форму и расположение кристаллов в образцах металлов, сплавов, порошковых и пылевидных препаратах, керамике, строительных материалах, полимерах, минеральных пробах на основе стереометрических закономерностей. Анализатор позволяет измерять стереометрические величины — фазовую долю, количество зерен и распределение частиц по размерам. Микроскоп оборудован сканирующим столиком. [c.130]

Н адежен в работе, прост и компактен микрофото колориметр на основе микроскопа с вмонтированной настраиваемой осветительной системой Такая система обеспечивает равномерное освещение поля зрения и тем самым отсутствие флуктуаций в показаниях регистрирующего прибора. Использованный в приборе микроскоп типа МИН-8, кроме того, имеет жестко укрепленный тубусодержатель, что важно для размещения на нем [c.177]

Рентгеноспектральный микроанализ основан на возбуждении электронным зондом характеристич. рентгеновского излучения исследуемого образца (см. Рентгеновская спектроскопия). Рентгеновские микроанализаторы создают на основе просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Они состоят из электронной пушки с системой линз для формирования электронного зонда, рентгеновского спектрометра, к-рый разлагает излучение в спектр и преобразует его в электрич. сигналы, и регистрирующей системы. В приборе поддерживается высокий вакуум. По спектру характеристич. рентгеновского излучения определяют атомные номера элементов, а по интенсивности спектральных линий — их концентрации. Метод примен. для качеств. и количеств, определения всех хим. элементов, начиная с В абсолютные и относит, пределы обнаружения соотв. 10" —10 г и 10 —10 %. Относит, стандартное отклонение при количеств, анализе 0,02—0,05. Объем образца, к-рый можно анализировать данным методом, зависит гл. оор. от энергии первичных электронов [1—50 кэВ, или (0,16—8)-10 Дж], плотности образца, степени поглощения излучения и составляет 0,1—10 мкм . Рентгеноспектральный анализ примеп. для определения состава микровключений, распределения элементов в тонких слоях и фазового анализа твердых в-в, [c.701]

Кроме описанных приборов на основе микроскопа, непосред- етвенно использованных для неорганического ультрамикроанализа, в этом масштабе эксперимента перспективно применение фотометрических насадок к микроскопу в сочетании со спектрофотометром Интересна также установка для измерения и записи оптической плотности весьма малых объемов растворов 2 °, оформленная в виде приставки к спектрофотометру СФ-4. [c.180]

До 1958 года, пока был жив Д. С. Великовский, мне больше приходилось работать с ним, поскольку я специализировался в области пластичных смазок и специальных жидкостей. В те далекие годы научные основы этой достаточно эмпиричной области знаний только начиналн создаваться. Тогда Николай Иванович к нашей тематике относился скорее снисходитс.,тьно, а не с интересом. Однако в дальнейшем он стал принимать активное участие и в наших работах. Именно поэтому под его руководством кафедра превратилась в научно-педагогический коллектив, одинаково успешно работающий в области создания жидких и пластичных смазочных материалов, в основного поставщика специалистов-смазчиков разного уровня для нашей страны и дружественных государств. Непосредственно с Николаем Ивановичем мне посчастливилось исследовать вопросы структурообразования твердых углеводородов в углеводородных средах методами электронной микроскопии, заниматься разработкой смазок для нефтяного оборудования, оптических приборов и военной техники. Он привлек меня к руководству дипломниками и аспирантами и способствовал формированию из меня специалиста и ученого. Совместно с ним мы опубликовали 10 научных работ и подготовили трех кандидатов наук. [c.21]

Ультрамикроскопия явилась одним из первых оптических методов исследования коллоидных систем. Наблюдение взвешенных в воздухе частиц с помощью микроскопа на темном фоне при фокусировании падающего на них сбоку света было описано еще М. В. Ломоносовым. Однако лишь в 1903 г. Зидентопф и Зигмонди на основе этого явления предложили прибор — ультрамикроскоп, который был использован для исследования лиозолей. Не будет ошибкой сказать, что это изобретение, давшее возможность подтвердить реальность существования коллоидных частиц, положило начало бурному развитию коллоидной химии. [c.44]

Более сильное влияние а пространственное разрешение оказывает формирование контраста, генерируемого в действительности типич ными образцами. В табл. 4.5 содержатся значения величин минимального размера зонда, предсказанные на основе порогового уравнения и уравнения яркости для значений контраста от 1,0 до 0,001. Многие образцы, представляющие практический интерес, дают контраст от 0,01 до 0,10. Для таких образцов пространственная неоднородность находится в области 230—23 нм (2300—230 А). Такой недостаток контраста с образца часто ограничивает устройство РЭМ. Таким образом, несмотря на то что мы способны различать тонкие пространственные детали на некоторых сильноконтрастных образцах или на краях образца, где имеется сильный контраст, пространственное разрешение может быть значительно хуже для типичных образцов. Оператор электронного микроскопа может предполагать, что мик роскоп не в порядке, если имеется плохое пространственное разрешение, но чаще сам образец ограничивает возможности прибора. [c.158]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Аппаратурную основу ТК в радиоэлектронике составляют микропирометры и тепловизоры-микроскопы. В пирометрические комплекты для ТК микросхем и других полупроводниковых приборов входят программируемые столы и автоматизированные системы обработки данных. Например, тепловизионная микроскопическая система СотрпТЬепп фирмы ЕОО обладает прострапственным разрешением [c.333]

Разработан целый ряд приборов на основе весового седи-ментометра Фигуровского [17, 143, с. 51, 174, с. 300], в котором седиментирующие частицы дисперсной фазы изменяют массу чашечки и вызывают увеличение деформации коромысла весов, отмечаемую при помощи отсчетного микроскопа. Представляется вполне реальным применить указанный принцип к дисперсионному анализу газовых эмульсий с той лишь разницей, что чашечку нужно выполнить с загнутыми книзу краями и расположить в верхней части слоя. Всплывающие пузырьки будут уменьшать массу чашечки. Седиментация эмульсий может быть изучена также диэлькометрическим и фотометрическим методами. [c.180]

Исследователи располагают удовлетворительными приборами, разработаны основы техники приготовления объектов. Результаты электронно-микроскопических исследований при- влекают внимание больше своим научным значением, чем новизной методики. Электронный микроскоп занял место в физических, химических и биологических лабораториях как надежный инструмент для исследования микроструктуры вещества и превратился в ценного помощника на ряде производств. [c.3]

Другой путь для возможности спектрофотометрирования весьма малых объемов заключается в использовании монохроматора в сочетании с микроскопом [98]. Этот прибор сконструирован на основе микроколориметра Хольтера — Мальмстрома (см. выше). Он проще обычного спектрофотометра, приспособленного для работы с малыми объемами, и дает не менее точные результаты. Принцип работы прибора состоит в том, что очень маленький луч монохроматического света (диаметр пучка составляет всего 0,4 мм) из монохроматора направляется через капил> [c.139]

Муаровый интерферометр с решетками описанного типа широко применяется в автоматических устройствах, связанных с точными измерениями линейных и угловых перемещений. На этой основе созданы делительные машины с интерференционным управлением для изготовления дифракционных решеток, универсальные измерительные микроскопы с цифровым отсчетом, компараторы, длиномеры, генераторы изображения и фотоповторители для изготовления фотошаблонов микроэлектронных схем, стереокомпараторы для измерения координат, приборы для гамма-резонансного анализа и ряд других точных измерительных устройств. Часть этих приборов выпускается серийно. [c.63]

Очень мелкие частицы, например атмосферные ядра конденсации, оседают чрезвычайно медленно, а их диффузионные потери на стенках сосуда очень велики, причем они обычно видимы лишь в электронном микроскопе. Для таких частиц Айткеном з. Ю4 был разработан конденсационный счетчик. В основу его были положены наблюдения Кулье показавшего, что находящиеся в сосуде взвешенные частицы можно сделать видимыми, быстро снижая давление в сосуде. Это приводит к конденсации влаги на частицах и их укрупнению. Вначале Айткен создал лабораторный прибор этого типа, а впоследствии переносный прибор для полевых работ. Последний состоял из низкого сосуда с плоским стеклянным дном и с таким же верхом, стоящего на двух соединенных с ним цилиндрах. Один цилиндр представлял собой воздушный насос, второй же был снабжен тремя кранами. Посредством этого устройства в сосуд засасывался определенный объем запыленного воздуха, разбавленного фильтрованным воздухом, и производилось его расширение образовавшиеся при этом капельки воды оседали на расчерченное на клетки дно и подсчитывались. Измерения шли медленно, отбирался сравкительно небольшой объем аэрозоля, и было трудно предотвратить подсос воздуха в прибор. Тем не менее счетчик Айткена и разработанные позднее на том же принципе более совершенные приборы применяются до настоящего времени при исследованиях ядер конденсации с радиусом-0,1—0,001 мк, называемых ядрами Айткена . [c.243]

Для фотометрического анализа в капиллярных кюветах малого объема предложен также микроскоп-спектрофотометр сконструированный на основе микроколориметра Хольтера— Мальмстрома. Принцип работы этого прибора состоит в том, чта очень узкий поток монохроматического света (диаметр 0,4 мм) проходит через капиллярную кювету, воспринимается фотоумножителем, после чего измеряется его интенсивность. Оптическая [c.179]

Изучение микротвердости эпоксидных материалов в зависимости от вида наполнителя и без него показало, что микротвердость основы всех образцов материалов (смола-Ьотвердитель) была примерно одинаковой — 23—24 кг/мм . Микротвердость композиции с наполнителями (которые видны в микроскопе прибора ПМТ-3 в виде зерна неправильной формы и различных размеров от весьма малых до 200—250 м) значительно выше и различна (от 530 до 1300 кг/мм ) в зависимости от вида наполнителя (рис. 21). Наибольшая микротвердость отмечена у композиций с кварцевым порошком (табл. 20). [c.64]

Однако иногда необходимо получить сведения о распределении частиц наполнителя как, например, показано на рис. 6.8. На этом рисунке приведены для сравнения два образца протекторной резины на основе бутилкаучука с активной низкоструктурной сажей (АЬ5-НАР). Эта сажа содержит больше поверхностных кислородсодержащих групп по сравнению со стандартными. Для достижения максимального усиления резин на основе бутилкаучука требуется тщательное диспергирование такой сажи, сочетающей низкую структурность с большой поверхностной активностью. Образцы, показанные на рис. 6.8, представляют собой срезы толщиной 500—1000 А, изготовленные на микротоме салазочного типа фирмы ЬеЛг . Несмотря на то, что этот прибор не предназначен для изготовления ультра-тонких срезов, его можно использовать для этой цели, применив специальный держатель образца и метод замораживания жидким азотом, которые были описаны выше (см. рис. 6.3). Образец замораживается таким же путем, как при изготовлении срезов для световой микроскопии, однако механическую подачу микротома не применяют перемещение объекта во время резания осуществляется за счет термического расширения держателя образца при нагревании. Срезы нужно изготовлять с максимальной скоростью плавными движениями. Размер образца резины должен быть немного меньше, чем при изготовлении срезов для световой микроскопии или микрора-диографии. Вполне подходящим является образец прямоугольной формы размером 2,5-4-2 мм. [c.177]

Из пресс-порошков на основе МФС изготовляют детали электроосветительного оборудования (колпаки и абажуры для ламп, зажимы, изоляторы, ролики, кнопки, штепсели, выключатели и т. п.), корпуса и трубки телефонов, корпуса транзисторных радиоприемников, детали телевизоров и бытовых электрических приборов, ручки микрометрических винтов для микроскопов, украшения на радиаторах автомобилей, изделия широкого потребления (коробки, вазы, пресс-папье, пуговицы, оправы для очков и т. п.). Пресс-порошки на основе МЛФС применяются для изготовления посуды, выдерживающей действие кипящей воды, и электротехнических деталей с высокой дугостойкостью (приборы зажигания, выключатели, детали магнето и телефонов). [c.166]

На смену электронному микроскопу приходят протонный и ионный. Просвечиванием кристаллов разогнанными протонами н ионами быстро анализируются кристаллические решетки. Это особенно важно для микромодульиой техники. Чтобы увеличить надежность и длительность службы приборов, подвижные электромеханические узлы и трущиеся контакты заменяют полупроводниковыми элементами. На основе сверхпроводящих материалов для приборов созданы сверхчувствительные гальванометры, усилители тока и напряжения, источники магнитного поля и др. [c.203]

Определение размеров частиц на основе измерений диффузии и подвижности ионов ограничивается частицами с радиусом меньше 0,1 мк. Наиболее трудна для измерения размеров частиц область между 0,1 и 0,5 мк. Например, относительно легко собрать эти частицы с помощью паутинных нитей [21], импакто-ров [82] или с помощью электрического и термального осаждения. Однако эти пробы нельзя измерить с помощью оптического микроскопа из-за ограниченности его разрешающей способности около 0,3 мк и электронного микроскопа, в котором частицы д огут подвергаться изменениям вследствие частичного испарения при нагревании в электронном пучке. Недавно Гётц и Прей-нинг [37] сконструировали центрифугу, с помощью которой ыожнр надежно измерять частицы с радиусом более 0,1 мк. Удовлетворительные результаты по измерению частиц с радиусом больше 0,3 мк получены с помощью приборов, основанных на рассеянии света [38]. [c.136]

А. Уоллером с помощью капиллярного электрометра, (Основу этого прибора составлял тонкий капилляр, в котором ртуть граничила с серной кислотой при пропускании тока через такой капилляр поверхностное натяжение на границе жидкостей менялось и мениск смещался по капилляру.) Этот прибор был неудобен в использовании и широкое применение электрокардиографии началось позже, после появления в 1903 г. более совершенного прибора — струнного гальванометра Эйнтховена. (Работа этого прибора основана на движении проводника с током в магнитном поле. Роль проводника играла посеребренная кварцевая нить диаметром в несколько микрометров, туго натянутая в магнитном поле. При пропускании по этой струне тока она слегка изгибалась. Эти отклонения наблюдались с помощью микроскопа. Прибор обладал малой инерцией и позволял регистрировать быстрые электрические процессы.) После появления этого прибора в ряде лабораторий начали детально изучать, чем отличается ЭКГ здорового сердца и сердца при разных заболеваниях. За эти работы В. Эйнтховен получил в 1924 г. Нобелевскую премию, а советский ученый А. Ф. Самойлов, много сделавший для развития электрокардиографии, получил в 1930 г. Ленинскую премию. В результате следующего шага в развитии техники (появления электронных усилителей и самописцев) электрокардиографы стали использоваться в каждой крупной больнице. [c.254]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология