Приборы с дифракционными решетками

Р1К-спектрометры могут сильно различаться как по величине рассеянного излучения, так и по разрешающей способности, что объясняет большой разброс в значениях емакс для одного и того же вещества, снятого на разных приборах. Так, значение Емакс для полосы карбонильной группы метилбензоата, измеренное на приборе с дифракционной решеткой, на 40% больше значения, полученного на спектрометре с призмой. В то же время результаты, полученные на одном приборе, могут очень хорошо воспроизводиться. При этом точность измерения оптической плотности может быть не хуже 1 % при измерениях О в пределах от 0,2 до 0,7. [c.214]

Основным преимуществом приборов с дифракционными решетками по сравнению с призменными приборами является то, что дисперсия их не зависит от длины волны и они обладают одинаковой разрешающей способностью во всех участках спектра. [c.239]

Она зависит от порядка спектра, от общего числа штрихов решетки и (в противоположность разрешающей способности призмы) не зависит от длины волны. Приборы с дифракционными решетками в длинноволновой области спектра обладают более высокой разрешающей способностью, чем призменные приборы. Однако призменные приборы часто отличаются большей светосилой. [c.191]

Для разложения в спектр рентгеновского излучения, испускаемого анализируемым образцом, применяются спектральные приборы с дифракционной решеткой для сравнительно больших длин волн или с изогнутым кристаллом, который благодаря упорядоченному расположению в нем отдельных атомов работает так же, как дифракционная решетка с очень маленькой постоянной — около одного ангстрема. Приборы с дифракционной решеткой делают вакуумными, так как воздух не прозрачен для этой области спектра. Приборы с кристаллом рассчитаны на работу в более коротковолновой области и в них ненужно поддерживать вакуум, так как для этих волн воздух снова становится прозрачным. Принципиально действие рентгеновского спектрального аппарата не отличается от оптического с вогнутой дифракционной решеткой. [c.347]

В сечении, перпендикулярном преломляющему ребру, призму проходят только лучи из центра щели, распространяющиеся параллельно оптической оси. Лучи от крайних точек идут под углом к оси, проходят в призме больший путь и отклоняются ею сильнее. Поэтому в призменных спектральных аппаратах спектральные линии оказываются искривленными (рис. 67). В приборах с дифракционной решеткой искривления линий, конечно, нет. [c.95]

Для области спектра длин волн больше 45 нм призменные приборы непригодны и используются только приборы с дифракционными решетками. [c.237]

Приборам с дифракционными решетками также свойственно искривление изображения входной щели.—Прил. ред. [c.27]

ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА С ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКОЙ [c.99]

Каждый спектральный прибор предназначен для регистрации спектра в определенной области длин волн. В ультрафиолетовой и видимой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные приборы. Спектрографы с кварцевой оптикой позволяют получать спектр в области 200—600 нм, в которой расположены чувствительные линии большинства из известных элементов. Спектрографы со стеклянной оптикой используют для работы в видимой области от 360 до 1000 нм. Приборы с дифракционной решеткой позволяют получать спектр в интервале длин волн от 200 до 1000 нм. Эти приборы, обладающие большой дисперсией, дают возможность разделять спектральные линии с близкими длинами волн, что особенно важно для анализа веществ, спектр которых богат линиями. [c.323]

Для разложения в спектр применяют призменные спектральные приборы, приборы с дифракционными решетками, а при фотоэлектрической регистрации иногда и монохроматические светофильтры. [c.173]

Угловая дисперсия прибора с дифракционной решеткой зависит от ее Рис. 118. Сопоставление [c.195]

Разрешающая способность приборов с дифракционными решетками зависит от общего числа штрихов, т. е. в конечном счете от размеров решетки и от номера (порядка) спектра. [c.197]

В настоящее время, когда отечественная промышленность полностью овладела сложной техникой производства плоских и вогнутых дифракционных решеток и их копий, стало возможным изготовлять серийные приборы с такими решетками. Создаются новые оптические схемы приборов с дифракционными решетками, исследуются их свойства. Ряд приборов с фотографической регистрацией спектра (ДФС-8, ДФС-13) и сложных приборов с фотоэлектрической регистрацией спектра (ДФС-10, ВМ-1, ФЭС-1) выпускается серийно. [c.5]

Линейная дисперсия для прибора с дифракционной решеткой соответственно определится по формуле [c.31]

Таким образом, приборы, построенные на базе интерферометра, как и приборы с дифракционными решетками, являются спектрометрами, дающими последовательную запись спектра. Однако они обладают большей светосилой, чем дифракционные спектрометры, при равных разрешимых спектральных интервалах. Эти приборы пока используются главным образом в инфракрасной и видимой областях спектра. [c.53]

Примечание. Контроль разрешающей способности фотографическим способом не является полноценным. Не для всякого спектрального прибора можно подобрать группы линий, которые лежали бы как раз на границе ожидаемой разрешающей способности и имели бы равную интенсивность. Поэтому целесообразным оказывается использовать двойное лучепреломление, даваемое поляризационной призмой (например, призмой Волластона). Тогда с помощью поворота этой призмы или перемещения ее вдоль оси можно задать любое расстояние между двумя компонентами одной и той же спектральной линии. Этот метод подробно описан в 17 для прибора с дифракционной решеткой он может быть применен и для призменного спектрального прибора. [c.77]

При постановке этой работы учтено то обстоятельство, что серийные приборы с дифракционными решетками дороги, не всегда имеются в спектральных лабораториях и не пригодны для учебной юстировки. [c.90]

В концентрате, полученном при анализе ванадия, определение Си, Ад, Мп, РЬ, Zn, С<1, 1п, В1 вели на приборе средней дисперсии, а А1, Со, № и Ге на приборе с дифракционной решеткой. Определение этих элементов на приборе средней дисперсии невозможно из-за влияния ванадия, содержащегося в концентрате, как это отмечалось, в количестве до 50 мкг. [c.82]

Аппаратная функция призмы. В последние годы приборы с дифракционными решетками все более вытесняют призменные приборы, которые широко применяются пока еще только там, где не требуется высокой дисперсии. Однако недавно вопрос о призмах начал ставиться по-новому. Применение призм с решетками в приборах со скрещенной дисперсией дает возможность полнее использовать решетки и получить недостижимую до сих пор разрешающую силу при одновременной экспозиции широкого спектрального диапазона. Далее, установка призм в сисамах во много раз увеличивает светосилу этих приборов. Поэтому изучение свойств призм и призменных систем и в настоящее время еще не потеряло актуальности. [c.51]

Изготовление дифракционных решеток с профилированным штрихом позволило концентрировать максиму.м отраженного света в определенном порядке, что значительно улучшило качество приборов. Приборы с дифракционными решетками в настоящее время получают все более и более широкое распространение, особенно при проведении спектроскопических исследований в области [c.89]

Приборы с дифракционными решетками вблизи нормали и в пределах одного порядка имеют почти постоян- [c.91]

Разрешающая способность приборов с дифракционными решетками зависит от разрешающей способности решеток. Рэлеевская разрешающая способность для решетки дается соотношением [c.93]

Сравнение светосилы приборов с призмами и с дифракционными решетками показывает, что светосила по освещенности у тех и других приборов примерно одинакова. С точки зрения светосилы по потоку некоторые преимущества остаются за приборами с дифракционными решетками. Большая угловая дисперсия приборов с решетками позволяет применять более широкие щели и меньшие фокусные расстояния-, т. е. при той же разрешающей силе поток, падающий на приемник, будет больше. [c.97]

Обычно спектрометры калибруют по частоте путем сравнения со спектрами газов, измеренными с высокой степенью точности на приборах с дифракционной решеткой при этом необходимо принимать во внимание разницу в разрешающей способности спектрометров с решеткой и с призмой. Такого рода спектры подробно рассмотрены в работах Кроуфорда с сотр. [51], Джонса [73] и Плайлера с сотр. [99а]. [c.160]

Изучение спектров поглощения систем, обладающих тонкой структурой спектров, требует использования приборов с высокомонохрома-тизированным потоком излучения (призменные приборы или приборы с дифракционными решетками). В то же время для проведения количественного спектрофотометрического анализа в большинстве случаев достаточно иметь прибор, в котором монохроматорами являются светофильтры. Каждый светофильтр характеризуется Л,макс и полушириной пропускания (для визуальных приборов вместо Ямакс пропускания дается Лаф, которую вычисляют с учетом чувствительности глаза). [c.71]

Для прибора с дифракционной решеткой с учетом уравнения (2.3) можно получить для фиксированного угла падения [c.75]

Для автоколлимационного прибора с дифракционной решеткой в соответствии с (2.5) [c.85]

Сравнение светосилы дифракционных и призменных приборов. Ранее считалось, что светосила призменных приборов больше, чем приборов с дифракционными решетками, поскольку призма разлагает весь падающий на нее свет в один спектр, решетка же дает совокупность спектров разных порядков и на каждый из них приходится небольшая доля энергии. [c.87]

Френсис [137, 138], независимо от Хастингса, предложил аналогичную методику, которая была затем применена для исследования строения твердых нефтяных парафинов, различных моторных масел и медицинского масла. Преимущество метода Френсиса заключается, во-нервых, в использовании для получения спектров прибора с дифракционной решеткой, что очень снизило влияние ширины щели на форму получаемого спектра во-вторых, для калибровки брали углероды как парафиновые, так и парафино-циклопарафиновые достаточно высокого молекулярного веса ( jo— je)- [c.242]

В качестве диспергирующих средств используют призмы или дифракционные решетки (58]. Тенденция использования приборов с дифракционными решетками особенно заметна в инфракрасной спектроскопии, что объясняется достигаемыми при этом высокой разрешающей способностью и малой спектральной шириной щели в длинноволновой области. Призменные инфракрасные спектрометры конструируют чаще всего по схеме Литтрова [551 (гл. 5.2.1.3). Ввиду значительной зависимости угловой дисперсии от длины волны область наиболее выгодного использования призм расположена вблизи начинающегося поглощения излучения материалом призмы (табл. 5.19). В современных призменных спектрометрах это достигается автоматической заменой призм. [c.236]

В зависимости от характера сиектров поглощения изучаемых систем (широкополосных, узколинейчатых или имеющих тонкую структуру спектральных полос) прп работе на приборах, имеющих различную монохроматичность потоков излучений, могут быть получены или совершенно идентичные, или резко отличающиеся спектральные характеристики. Изучение спектров поглощения систем, обладающих тонкой структурой спектров, требует использования приборов с высоко монохроматпзированным потоком излучения (призменные приборы или приборы с дифракционными решетками). Для проведения количественного анализа в больи]инстве случаев достаточно иметь прибор, в котором монохроматпзация осуществляется при помощи светофильтров. [c.246]

Спектрофотометрия основана на измерении поглощения монохроматических излучений. Современные спектрофотометры (призменные приборы или приборы с дифракционными решетками) дают высоко-монохроматизированный поток излучения. Они применяются для концентрационного анализа и при изучении спектров поглощения веществ. [c.6]

Метод 3. Растирают твердое вещество с сухим мелкоиз-мельченным галогенидом калия (бромид калия ИК, хлорид калия ИК) соотношение вещества и галоида должно быть приблизительно 1 200, например 1,5 мг в 300 мг галоида для призменных приборов, и около 1 300, например 0,1 мг в 300 мг галоида для приборов с дифракционной решеткой. Взятое количество вещества должно быть таким, чтобы масса вещества, приходящаяся на единицу площади диска, составляла примерно 5—15 мкг на 1 мм , изменяясь в зависимости от молекулярной массы и в известной мере оТ типа используемого прибора. Часть смеси помещают в специальную матрицу и в условиях вакуума прессуют. В продаже имеются матрицы, при использовании которых необходимо выполнять указания изготовителя. Укрепляют полученный диск в подходящем держателе. Неудовлетворительные диски огут получаться из-за неправильного или слишком интен-ивного растирания, наличия влаги или других примесей в [c.47]

В конце концов получается, что данные по коэффициенту экстинкции 8макс невоспроизводимы И С трудом переносятся с одного прибора на другой. Поэтому коэффициенты экстинкции рассматриваются как кажуш,иеся 8 , хотя на одном и том же приборе они часто воспроизводятся в пределах нескольких процентов. Следует руководствоваться тем, что полоса становится шире (Avf/g увеличивается) и меньше по интенсивности (8а уменьшается) при использовании прибора с более низкой разрешаюш,ей способностью. Так, полоса поглощения карбонильной группы [v( O) = 1735 см Ц метилового эфира бензойной кислоты в гексане имеет Avf/2 = = 6,5 см и 8а = 1040 единиц при измерении на приборе с дифракционной решеткой и Avf = 9 см , 8а = 745 единиц при измерении на приборе с призмой. Площадь А) полосы меняется намного меньше в зависимости от разрешающей способности, и она рассматривается как более надежный критерий интенсивности, но подобные измерения очень утомительны и выполняются не часто. [c.125]

Заслуживают внимания два спектрофотометра Колмана со стеклянной оптикой модели Юниор и Универсаль . Обе модели оборудованы почти одинаковыми монохроматорами, использующими для дисперсии света дифракцонные решетки пропускания (рис. 3.27). Выбор длины волны осуществляется посредством механизма, который перемещает лампу накаливания таким образом, что излучение последовательных длин волн фокусируется на щели. Сама решетка остается неподвижной. Ширина щели, как и во всех приборах с дифракционной решеткой, постоянная. В модели Юниор фотоэлемент с запирающим слоем присоединен непосредственно к гальванометру, имеющему переключатель чувствительности на два положения грубо и точно . В модели Универсаль аналогичный фотоэлемент включен таким образом, что гальванометр можно использовать или в качестве нуль-индикатора в потенциометрической схеме, или в качестве измерителя отдачи фотоэлемента, как в модели Юниор . Потенциометрическое измерение занимает больше времени, но дает точность, вдвое превышающую точность, получаемую при измерении по величине отклонения стрелки. Модель Универсаль также может быть использована в качестве нефелометра и флуорометра, однако этот вопрос будет рассмотрен ниже. [c.48]

Спектрофотометр Бауша и Ломба модели 20 — прибор с дифракционной решеткой, имеющий эффективную ширину полосы 20 ммк и диапазоном длин волн 375—950 ммк. В нем применяется вакуумный фотоэлемент с однокаскадным усилителем. [c.49]

Стюарт и Нильсен [3865] на приборах с дифракционными решетками Вуда разрешили вращательную структуру полос v , Vg, v,, Vg и Vg молекулы H2F2 и определили положение центров этих полос. Вследствие частичного перекрывания полос v и Vg другими полосами положение их центров Стюарт и Нильсен определили менее точно. Частоты Vg = 1262 и V2 = 1508 см" в работе [3865] приняты на основании данных [3383] о спектре комбинационного рассеяния, так как в инфракрасном спектре соответствующие полосы не наблюдались. Полоса при 1508 см , отнесенная на основании поляризационных измерений Ранка, Шалла и Пейса [3383] к полносимметричному колебанию, должна быть активной в инфракрасном спектре. Плайлер и Бенедикт [3277] отмечают, что эта полоса, вероятно, в инфракрасном спектре малоинтенсивна и маскируется в этой области поглощением водяного пара. Линия 1262 см в спектре комбинационного рассеяния [3383] сильно деполяризована и отнесена к частоте Vg, неактивной в инфракрасном спектре. Плайлер и Бенедикт [3277] наблюдали слабую полосу при 1262 см и объяснили это нарушением правила отбора либо из-за кориолисова взаимодействия Vg и V7, либо из-за сильного межмолекулярного взаимодействия. Отнесение частот, принятое в работах [3277, 3383], подтверждается расчетом частот H2F2 по силовым постоянным [2848]. [c.509]

Крейн и Томпсон [1220] исследовали на приборе с дифракционной решеткой инфракрасный спектр поглощения 2N2 в области от 2000 до 3300 (от 5 до 3 мк). В исследуемой области в спектре 2N2 было найдено три полосы при A 3,76, 3,90 и 4,63 мк, отнесенные соответственно к колебаниям Vg+ v , v + Vg и Vg. Детально была изучена только полоса vs при к = 4,63 мк. Анализ вращательной структуры этой полосы, имеющей Р- и i -ветви, позволил авторам [1220] найти начало полосы vs— 2157,22 и значения вращательных постоянных Лооо= 0,1588 + 0,0001 и аз= 5,32-10 см . Значение Dooo в работе [1220] не было найдено, так как результаты анализа полосы vs позволяли сделать только вывод [c.648]

Инфракрасный спектр Sip4 был исследован в области от 2 до 38 мк (5000—260 см ). Применение прибора с дифракционной решеткой позволило разрешить структуру восьми полос, состоящих из P-,Q- и i -ветвей, и более точно фиксировать положение Q-ветвей. Значение частоты V4 практически одинаково в жидкости и газе, в то время как значение V3, найденное в инфракрасном спектре газа, оказалось на 21 см больше, чем в жидкости. [c.673]

Здесь коэффициент при является средней линейной дисперсией на участке спектральных линий Х и Х . Такой способ вычисления длины волны вполне пригоден для приборов с дифракционными решетками. Для призменных приборов этот способ модеио применять, если не превосходит 50 А, [c.62]