Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Летучесть элементов

    На рис. 60 показан различный характер испарения элементов в зависимости от их летучести. Различие в летучести элементов приводит к явлению фракционирования, сущность которого заключается в неодновременном (избирательном) испарении элементов. [c.96]

    А. К. Русанов установил, что поступление вещества из канала графитового электрода определяется летучестью элементов и их соединений. [c.243]

    Поступление вещества в облако дугового разряда происходит путем испарения материала электродов. Характер испарения зависит от химического состава электродов и от степени летучести элементов, входящих в состав анализируемой пробы. [c.242]


    Летучесть соединений может меняться в процессе испарения пробы в связи с происходящими в дуге физико-химическими превращениями. Изменение летучести элементов в результате различных химических реакций используется сейчас довольно часто в практике спектрального анализа (см. гл. IV). Таким образом, процесс испарения вещества в дуге можно регулировать, изменяя режим горения дуги, форму и глубину электродов, используя химические реакции и некоторые специальные приемы (двойная дуга [18] и др.). [c.36]

    Сравнение величины абсорбционных сигналов цинка, меди и хрома, полученных при низкой и высокой скоростях нагрева атомизатора показало, что для элементов более низкой летучести отмечается большое приращение сигнала при увеличении скорости нагрева. Условия атомизации при этом были одинаковыми. Этот факт свидетельствует о том, что увеличение скорости нагрева нивелирует разницу в значениях абсорбционных сигналов, определяемую летучестью элементов. [c.210]

    Ряды летучестей элементов в дуге постоянного тока по Аренсу и Тейлору [18] [c.243]

    ЛИНИЙ, помещенные в таблицах, прилагаемых к атласам, или приведенные в более подробных спектральных таблицах [5, 6], можно использовать для идентификации, но с учетом характера возбуждения. Однако полезную информацию можно получить также из летучести элементов, о которой можно судить по спектрам, сфотографированным последовательно во времени (разд. 5.2.2). Всегда следует проверять, не присутствует ли на месте предполагаемой аналитической линии одна из слабых линий основного элемента пробы или уже обнаруженного элемента в большой концентрации. Если из таблиц спектральных линий не получена удовлетворительная информация, то происхождение интересующей пас линии следует устанавливать либо в результате точного определения ее длины волны (разд. 4.1 в [4а]), либо с помощью ниже обсуждаемого метода сравнения спектров (разд. 5.3.2). [c.26]

    Этот метод основан на различной степени летучести элементов или их соединений при повышенных температурах. [c.279]

    Исследования изменения поглощательной способности элементов с ростом конечной температуры нагрева стержневого атомизатора показали, что при малой скорости нагрева (без терморегулятора) поглощательная способность монотонно увеличивается независимо от летучести элементов. При высокой скорости нагрева (режим работы с терморегулятором) отмечается прекращение роста поглощательной способности элементов, начиная с некоторой конечной температуры. Причем, эта температура растет по мере перехода к низколетучим элементам 2050, 2480, 2700 К соответственно для цинка, меди и хрома при продольном просвечивании и 2000, 2170, 2580 К — при поперечном. Нагревание стержневого атомизатора в этих условиях до температур, превышающих значения этих оптимальных, в частности, до 2300, 2650 и 2850 К, соответственно для цинка, меди и хрома, выявило появление над поверхностью графитового стержня зон с постоянным значением поглощательной способности. Вертикальные размеры этих зон с учетом полуширины светового пучка (отсчет высоты велся от верхней поверхности стержня [c.209]


    Оценка атомизатора, оснащенного терморегулятором, показала, что при температурах меньше 2870 К полностью исключаются неселективные помехи. Кроме того, данная температура является оптимальной для атомизации легко-, средне- и труднолетучих элементов, поскольку условия атомизации для них практически одинаковы и не зависят от летучести элементов. [c.210]

    В таблицах спектральных линий приведены последовательности появления спектральных линий в угольной дуге. Эти последовательности называют рядами летучести , ибо они характеризуют последовательность испарения элементов при непосредственном внесении пробы в пламя дуги или из отверстия анода. Ряд летучести элементов из металлических сплавов выглядит следующим образом Нд, Аз, Сс1,2п, Те, 8Ь, (В+), В1, РЬ, Т1, (Мо+), Мп, Ад, Си, 5п, ( У+), Аи, 1п, Са, Се, Ре, N1, Со, V, Сг, 11, Р1, и, 2т, Н , НЬ, ТЬ, Мо+, Не, Та, W+ В+. [c.166]

    Положение элементов в рядах определяется в основном температурой кипения элементов и их соединений — окислов, карбидов, сульфидов, хлоридов, сульфатов н фосфатов, а также скоростью образования этих соединений. Поэтому ряды летучести элементов в таблицах даны для всех этих групп соединений раздельно. Спектральные линии элементов, отмеченных звездочкой, появляются в спектре как одновременно с линиями весьма летучих элементов (пока эти элементы находятся в виде легко испаряемых окислов или сульфидов), так и с линиями весьма труднолетучих соединений и элементов. [c.166]

    Русановым [18] на основании изучения большого экспериментального материала были установлены ряды летучести элементов и соединений по последовательности поступления их паров в дуговой разряд при испарении из кратера электрода. Установленные им ряды летучести оказывают существенную помощь при выборе условий эмиссионного спектрального анализа. [c.21]

    Летучесть элементов имеет и нежелательную сторону, так как является источником потерь при выполнении различных операций, требующихся по ходу анализа. Потери люгут иметь [c.248]

    Если первое требование вьшолнить легко, то два других - довольно трудно, если вообще возможно. Из-за летучести элементов или их соединений, образования нерастворимых осадков, адсорбции ионов на поверхности сосуда неизбежно будут возникать потери. Кроме того, из посуды и окружающей среды лаборатории, реактивов происходит загрязнение образцов [c.232]

    Потенциал ионизации атома хрома равен 6,8 эв хром относится к числу трудновозбу имых атомов. В ряду летучести элементов [c.72]

    Применение внутреннего стандарта. Данный прием, как и в эмиссионном спектральном анализе, заключается в использовании в качестве линии сравнения резонансной линии какою-либо близкого по летучести элемента, который в определенном количестве добавляют в анализируемые пробы и эталоны. В этом случае любые неконтролируемые изменения степени испарения определяемого элемента в пламени в одинаковой мере сказываются и на элементе сравнения. Поэтому отношение интенсивностей резонансных линий после прохождения пучка света через пламя оказывается чувствительным лишь к изменению концентрации определяемого элемента. Разумеется, для использования этого приема необходимы двухканальный спектрофотометр и мультиэлементный источник света. [c.265]

    Сравнивая между собой летучесть простых элементов, принадлежащих к одной и той же группе, то есть гаких, строение которых можно считать одинаковым, можно заметить некоторое ооогношеняе между летучестью и атом ным весом. Конечно, летучесть и те.мпература кипения, как с.тожное физическое явление, не может быть функцией одного веса атома это свойство тел находится в зависимости также от природы, числа и способа взаимной связи атомов элементов однако при сравнении элементов одной и той же группы оказывается некоторая законность, а именно, летучесть элементов уменьшается с возрастанием атомного веса. Для большинства случаев это яоно наблюдается на группах галоидов, амфидной, также на группе N, Р, As и Sb. Температура же кипения с уве- [c.171]

    Создавая определенные ус,довия для химических реакций (при температуре источника света —плазмы разряда), можно изменять летучесть элементов из пробы. Сульфиды и хлориды — летучие соединения, карбиды — труднолетучие. Выбор материала подставного электрода или наполнителей в состав пробы основан на этом принципе. Помимо этого, иные третьи компоненты, например добавки и неучитываемые примеси, присутствующие в самой пробе или же в окружающей среде, увеличивают (водород) или уменьшают (галлий, фтор и другие галоиды) скорость удаления атомов многих элементов из межэлектродного промежутка. [c.168]

    Зоединения лития легколетучи и при испарении из угольного электрода поступают в пламя дуги вместе с другими легколетучими фракциями образца. Положение лития в рядах летучести элементов зависит от рода соединений, в которых он находится [423]. Литий в виде окисла по летучести занимает место после наиболее летучих элементов, таких, как d, Zn, Pb, Sn, [c.105]

    Определение тантала и ниобия (как и других элементов, расположенных в конце ряда летучести элементов по А. К. Русанову [1], например, циркония, и др.) в рудах и продуктах обогащения ведут при испарении образцов из угольных электродов в дуге переменного тока. Метод основан на образовании низших окислов или труднолетучих карбидов определяемых элементов, благодаря чему в известной степени возлтожна раздельная отгонка основных и определяемых компонентов. В качестве внутреннего стандарта при определении тантала, ниобия, циркония применяют молибден, который так же, как и определяемые элементы, поступает в пламя, главным образом, в конечную стадию горения дуги. Для достижения наиболее воспроизводимых, стабильных условий исиарения и наиболее резкого фракционирования, что должно уменьшить влияние состава, используют тонкие угольные электроды с кратером небольшого диаметра. Изучение процессов испарения и возбуждения показало, что устранить полностью влияние состава образцов в данном случае все же не удается. Однако изменения состава, характерные для руд первой группы или алюмосиликатных руд второй группы, не оказывают заметного влияния на относительную интенсивность аналитических линий. [c.78]


    Знание законов летучести элементов и их соединений делает возможным изменение скорости поступления тех или иных элементов из исследуемой пробы в зопу плазмы путем добавления к пробе соединений, которые получили название носителей . Последние, как правило, существенно увеличивают среднее время пребывания анализируемых атомов в плазме, изменяя упругость паров, составляющих пробу. Так, если она содержит нелетучую окись алюминия, то добавка углерода восстанавливает ее до летучего металла, легко испаряющегося в зопу плазмы. [c.38]


Смотреть страницы где упоминается термин Летучесть элементов: [c.114]    [c.114]    [c.200]   
Эмиссионный спектральный анализ Том 2 (1982) -- [ c.243 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Влияние на интенсивность линий летучести основного элемента проб

Влияние на интенсивность линий летучести третьих элементов

Влияние на интенсивность линий летучести элементов и соединений

Влияние на интенсивность линий летучести элементов формы соединения

Летучесть

Летучесть ряды для элементов



© 2025 chem21.info Реклама на сайте