Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Фотоэлектрический стилометр

    Фотоэлектрический стилометр ФЭС-1. Для эмиссионного анализа в видимой области спектра промышленность выпускает фотоэлектрический прибор, рассчитанный на последовательное определение различных элементов в одном образце. Таким образом, этот прибор вполне аналогичен визуальному стилометру, но в нем применена фотоэлектрическая регистрация. [c.147]

    Монохроматор фотоэлектрического стилометра собран на базе трех-призменного стеклянного спектрографа ИСП-51. Вместо камеры при- [c.147]


    Накопление фототока использовано в фотоэлектрическом стилометре ФЭС-1 и квантометрах ДФС-10 и ДФС-31. [c.198]

    Недостатком является высокая стоимость больших многоканальных квантометров, которые позволяют одновременно анализировать все нужные элементы. Приборы для последовательного анализа типа фотоэлектрического стилометра ФЭС-1 эффективны только при небольшом числе элементов, определяемых в каждом образце. Быстрая перестройка прибора при переходе от одной аналитической линии к другой сказывается на точности анализа. [c.273]

    Спектральный аппарат — фотоэлектрический стилометр ФЭС-1 [c.279]

    Составьте примерную методику для определения небольших содержаний меди и магния в алюминиевых сплавах с помощью фотоэлектрического стилометра ФЭС-1. Методика должна обеспечивать возможно большую точность анализа при достаточной чувствительности. [c.279]

    Об определении магния в чугуне см. также в [179, 220, 593, 837, 956, 977]. Для экспрессного определения магния в чугуне можно использовать стилоскоп СЛ-3 относительная ошибка 10—30% [160]. Об определении магния в чугуне с помощью фотоэлектрического стилометра см. в [215]. [c.169]

    Иногда принято характеризовать возможности фотоэлектрических методов спектрального анализа возможностями серийно выпускаемых спектральных установок типа квантометр и фотоэлектрический стилометр. На самом деле возможности фотоэлектрических методов спектрального анализа значительно шире и многообразней. Частично они вскрыты в ряде опубликованных за последние годы работ, выполненных в Советском Союзе и, в частности, в Институте геохимии и аналитической химии им. В. И. Вернадского АН СССР. [c.20]

    Наряду с термостатированием установки перспективно применение следящих систем, автоматически удерживающих аналитическую линию в заданном положении на выходной щели. Интересная следящая система к фотоэлектрическому стилометру предложена С. Л. Мандельштамом и реализована И. С. Абрамсоном и сотр. [31]. В основе ее лежит введенная в поле зрения прибора реперная шкала, положение и цена деления которой меняются с ростом температуры соответственно так же, как и положение и дисперсия спектра. Это дает возможность программировать положение заранее избранных аналитических линий и совмещать их с выходной щелью, управляя вращением столика с призмами сигналами световых импульсов реперной шкалы. Как показал наш опыт эксплуатации квантометра, целесообразно заменить такую шкалу спектром реперного источника со стабилизированной во времени интенсивностью узких спектральных линий, например спектром разряда в полом катоде. Ошибка совмещения вручную выходной щели и аналитической линии, излучаемой таким реперным источником спектра, составляет в благоприятных случаях 5 мк (ширина выходных щелей квантометра лежит в пределах 40—200 мк). [c.28]


    Квантометры. Для определения только одного элемента или небольшого числа элементов можно воспользоваться прибором типа фотоэлектрического стилометра ФЭС-1, при помощи которого поочередно измеряют интенсивность линий разных элементов, выводя эти линии в определенной последовательности на единственную выходную щель прибора. Экспозиция в этом приборе задается интенсивностью неразложенного света. [c.241]

    Цель работы ознакомиться с устройством и работой фотоэлектрического стилометра ФЭС-1. Провести количественный анализ сплава. [c.269]

    Такое измерительное устройство имеется, например, в фотоэлектрическом стилометре ФЭС-1. Для перехода к другому участку спектра (к другой спектральной линии) прибор должен быть перестроен. Измерение, таким образом, ведется по точкам. [c.123]

    С помощью фотоэлектрического стилометра можно определять в ковком чугуне нре.мний, марганец и хром. [c.19]

    Ванадиевый чугун анализируют с помощью фотоэлектрического стилометра в следующих условиях [340] используется генератор ГЭУ-1 ток 4,5 а фаза поджига 90°. Продолжительность обжига 5 сек, фильтр № 3, подставной электрод — медный стержень, заточенный на полусферу. Аналитическая линия [c.19]

    Анализ литейного чугуна с помощью фотоэлектрического стилометра производится по методике, описанной в п. 2 настоящей главы. [c.21]

    Опыт анализа конструкционных сталей при помощи фотоэлектрического стилометра показывает, что при использовании этого прибора можно ускорить определения и повысить их точность. [c.81]

    Один из вариантов использования фотоэлектрического стилометра [59, 283 и др.] для определения марганца, хрома и крем- [c.81]

    Описанный метод позволяет значительно повысить производительность работы по сравнению с методом вакуум-плавления (до 30—40 проб за смену). Дальнейшее повышение скорости и точности определений. может быть достигнуто применением фотоэлектрической регистрации спектра. Описан, в частности, опыт применения фотоэлектрического стилометра ([134] и др.). Применение подобного прибора требует замены фотоэлемента фотоумножителем, обладающим необходимой чувствительностью в красной области спектра и высокой стабильностью режима работы в качестве измерителя. [c.90]

    По данным [59], можно определять хром при содержаниях 10—30% с помощью фотоэлектрического стилометра по двум [c.100]

    Определение вольфрама с помощью фотоэлектрического стилометра проводят в условиях, описанных выше для определения алюминия, кремния и титана в сплавах на никелевой основе [c.106]

    Для анализа алюминиевых сплавов с помощью фотоэлектрического стилометра и генератора ГЭУ-1 рекомендуются следующие условия [68, 285, 286] ширина входной щели прибора 0,03 мм, выходной 0,08 мм, ток — а, емкость и индуктивность выключают, межэлектродный промежуток — 2,0 мм. [c.168]

    Попытка определения меди в оловянистых и свинцовистых латунях была предпринята с помощью фотоэлектрического стилометра. II]. [c.175]

    Монохроматор фотоэлектрического стилометра собран на базе трехпризменного стеклянного спектрографа ИСП-51. Вместо камеры применяется второй коллиматор с выходной щелью. Фокусное расстояние обоих коллиматоров одинаково — 300 мм. [c.163]

    Недостатком является высокая стоимость больших многоканальных квантометров, которые позволяют одновременно анализировать все нужные. элементы. Приборы для Последовательного анализа типа фотоэлектрического стилометра ФЭС-1 эффек- [c.303]

    Составьте примерную методику для определения небольших содержаний меди и магния в алюминиевых сплавах с помощью фотоэлектрического стилометра фЭС-1. [c.309]

    Советские приборы УМ-2 и ФЭС-1 представляют собой монохроматоры с приставкой. Фотоэлектрический прибор УМ-2 с простым призменным монохроматором постоянного угла отклонения на 90° (призма Аббе) и фотоэлементом пригоден для измерения одной линии [1]. Фотоэлектрический стилометр ФЭС-1 имеет трехпризменный монохроматор очень высокой разрешающей силы и поэтому пригоден для разрешения линий в сложных спектрах [2, 3]. Визуальный способ с применением зеркала значительно облегчает точный вывод линий на выходную щель. Последовательное измерение относительных интенсивностей аналитических линий можно проводить способом накопления (разд. 5.12.2 и 6.4.1 в [За]) с помощью сурьмяно-цезиевых фотоэлементов, установленных после выходной щели в пучок света, отраженного от первой грани призмы [4]. Этот прибор пригоден для быстрого определения одного из компонентов в металлах или низколегированных сталях. [c.203]

    В спектральных лабораториях широко применяется фотоэлектрический стилометр ФЭС-1 с трехпризменным монохроматором, электронным генератором ГЭУ-1 и фотоэлементом в качестве приемника света. В ФЭС-1 усредненное значение аналитического сигнала измеряют путем предварительного накопления его на конденсаторе. Накопительный конденсатор установлен за фотоэлементом, и в течение всего времени экспозиции на нем идет накопление электрического заряда. Интенсивность линии оценивается по напряжению на обкладках накопительного конденсатора. [c.156]

    Об определении магния в д арганцево-алюыинпевых сталях см. в [122]. Об использовапии фотоэлектрического стилометра при анализе легированной конструкционной стали см. в [455]. [c.171]

    Определение магния в алюминиевых сплавах в дуге переменного тока описано в [127, 216, 245]. Об анализе алюминиевых сплавов с помощью фотоэлектрического стилометра и генератора ГЭУ-1 см. в [389], а с помощью фотоэлектрического спектрометра ДФС-10 — в [59]. Описан метод анатиза алюминиевых сплавов из растворов [770]. [c.173]


    Особое внимание привлекают работы, направленные на повышение чувствительности фотоэлектрических методов спектрального анализа. Чувствительность анализа, достигаемая при помощи квантометров и фотоэлектрических стилометров, обычно несколько ниже, чем при фотографической регистрации спектра, если разрешающие способности оптики спектрографа и оптики фотоэлектрической установки равны. Это обусловлено способом выделения неподвижных в процессе регистрации спектральных линий системой выходных щелей спектрального аппарата, а также рядом других причин. Тепловой дрейф спектра заставляет использовать выходные щели, в несколько раз превышающие по ширине изображения спектральных линий. Флуктуирующий сигнал, обусловленный фоном спектра, возрастает пропорционально ширине выходной щели. Флуктуирующий сигнал аналитической линии в рассматриваемом случае от ширины выходной щели практически не зависит. Поэтому для квантометрических установок характерно худшее по сравнению со спектрографом отношение мощностей сигналов линии и фона. [c.21]

    Одной из возможностей увеличения W является переход к сканированию спектра. В этом случае тепловой дрейф менее опасен и допустимо использование узких по сравнению с изображением линий выходных щелей. В. В. Налимов, В. В. Недлер и Н. А. Аракельян 12] дополнили сканирующим устройством фотоэлектрический стилометр ФЭС-1. Они заставили призменный столик стилометра периодически колебаться с частотой 0,13 гц, одновременно в течение длительного времени регистрировали интенсивность излучения падающего на приемник света через выходную щель стилометра, и таким образом получали группу регистрограмм аналитической линии и примыкающего к ней участка фона. Поскольку интенсивность как линии, так и фона непрерывно флуктуирует во времени, регистрограммы можно считать случайными функциями. Естественно, что уже простое наложение отдельных регистрограмм друг на друга способствует повышению чувствительности анализа, так как в этом случае профиль линии и фона обосновывается большим количеством информации. Гораздо выгоднее, однако, предварительно разложить каждую из регистрограмм в ряд Фурье и усреднить соответствующие коэффициенты ряда по всем регистрограммам. Селективное возрастание одного или нескольких коэффициентов — один из наиболее чувствительных индикаторов присутствия в спектре аналитической линии. Разложение в ряде Фурье—весьма трудоемкая операция. Приемлемые затраты времени достигаются только при выполнении всех математических операций на электронно-счетной машине. При использовании далеко несовершенной установки Налимову, Недлеру и Аракельян удалось повысить чувствительность определения марганца в окиси кремния на два порядка. [c.21]

    По рассмотренной выше схеме построены, например, приборы трехпризменный спектрограф ИСП-51, спектральный узел стило-метра СТ-7 с тремя призмами и с окуляром-фотометром, спектральный узел фотоэлектрического стилометра ФЭС-1 с тремя призмами и одной выходной щелью, однопризменный монохроматор УМ-2. [c.192]

    Чтобы уменьшить ошибку анализа, контролируют продолжительность эксипозиции с помощью стандарта интенсивности. Экспозицию продолжают до тех пор, пока число сосчитанных импульсов для стандарта (Л ст.) не достигнет заданного значения. Только после этого включается прибор, измеряющий число импульсов Кх от линии определяемого элемента аналогичный прием установления экспозиции применен в фотоэлектрическом стилометре ФЭС-1. При таких измерениях уменьшается ошибка из-за нестабильности работы рентгеновской трубки и другой аппаратуры. [c.282]

    Алюм иний определяют при по.мощи фотоэлектрического стилометра в следующих условиях чувствительность при накоплении и измерении 5 1, щирина входной щели 0,040 мм, выходной 0,080 мм, фильтр № 1. Генератор ГЭУ-1, ток 3 а, фаза поджига 90°, медный подставной электрод, обжиг 20 сек. Аналитическая [c.82]

    Для определения вольф рама в хромовольфраг.ювой, хромокремнистой инструментальной стали хорошие результаты получаются ири применении фотоэлектрического стилометра [274]. [c.84]

    Для определения титана в сплаве Х20Н80ТЗ (ЭИ437) с помощью фотоэлектрического стилометра рекомендуется несколько режимов ([221, 286] и др.), различающихся в деталях. Используется генератор ГЭУ-1, фаза поджига 90°, фильтр N2 1, величина тока 3—4 а, ширина входной щели 0,020—0,040 мм, выходной 0,08—0,20 мм. Увеличенная ширина выходной щели позволяет регистрировать измерение группы линий титана [c.104]

    При фотографическом способе ток дуги равен 6 а (ге 1ера-тор ДГ-1 или ДГ-2) пробу смешивают с угольным порошко. 1 в соотношении 2 1 по весу пластинки спектрографические повышенной чувствительности. При фотоэлектрическом—используется фотоэлектрический стилометр (входная щель — 0,015 мм.. выходная 0,06 льи) и генератор ГЭУ-1 в дуговом режиме (ток [c.108]

    Определение водорода с помощью фотоэлектрического стилометра возможно при замене фотоэлемента висмутоцезиевым фотоумножителем [352]. [c.156]

    При использовании фотоэлектрического стилометра [191, 283] ток в генераторе ГЭУ-1 устанавливают равным 3 а, емкость и индуктивность выключают, фаза поджига 90°, межэлектродный промежуток 1,5 мж (используется медный подставной электрод, заточенный на полуоферу), предварительный обжиг 7 сек. Внутренний стандарт— неразложенный свет. Аналитические линии Сг 5204,52 и 5206,04 А (0,8—7,0%), а также Сг 4351,77 А (0,9—4,5%) Мп 4754,04 А (0,6—3,0%) 8) 3905,57 А (0,1—4,0%)  [c.173]

    Приборы, применяемые в спектральном анализе, различаются по типJ диспергирования (призменные и дифракционные), по области спектра, по способу регистрации спектра и по назначению. По области спектра используют приборы для ИК- видимой, УФ-и вакуумной областей. По способу регистрации спектра различают приборы визуальные (спектроскопы и стилоскопы), фотографические (спектрографы), фотоэлектрические (квантометры, фотоэлектрические стилометры и др.). По назначению бывают монохроматоры и полихроматоры, выделяющие одну или несколько узких спектральных областей или линий спектроскопы и спектрографы, позволяющие наблюдать или получать широкие участки спектров спектрометры, сканирующие спектры при помощи фотоэлектрического приемника и регистрирующего устройства. [c.53]

    Фотоэлектрические стилометры — двухканальные приборы, предназначенные для эмиссионного анализа с дуговым или искровым возбуждением спектра. Они рассчитаны на последовательное измерение интенсивности линий разных элементов в одном образце. Интенснвность линии определяемого элемента измеряется относительно неразложенного света, идущего на фотоэлектрический приемник из канала сравнения. [c.156]

    В настоящее время промышленностью выпускается дифракционный фотоэлектрический стилометр ФСПА-У. Монохроматор собран по схеме Эберта, в приборе две сменные решетки— 1200 и 1800 штр/мм. Смена решеток производится без вскрытия прибора ручкой, выведенной на корпус. Прибор укомплектован генератором ИВС-28 Аркус . [c.156]


Смотреть страницы где упоминается термин Фотоэлектрический стилометр: [c.148]    [c.10]    [c.293]    [c.164]    [c.69]   
Смотреть главы в:

Основы спектрального анализа -> Фотоэлектрический стилометр


Эмиссионный спектральный анализ Том 2 (1982) -- [ c.2 , c.203 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Стилометры

Фотоэлектрический эф ект



© 2025 chem21.info Реклама на сайте