Параметры рентгеновских волн рассеяние рентгеновских лучей

Параметры рентгеновских волн рассеяние рентгеновских лучей [c.48]

Связь структурного фактора с электронными свойствами металлов. Одним из физических свойств металлов, непосредственно связанных с ближним порядком и энергией взаимодействия частиц, является электропроводность. Развитие квантовой теории твердого тела привело к выводу, что электропроводность жидких металлов можно вычислить теоретически по экспериментальным данным для структурного фактора а(5), задавая Фурье-образ потенциальной энергии взаимодействия электронов с атомами расплава. Основная идея, на которой базируются расчеты электропроводности, состоит в том, что рассеяние электронов проводимости жидкого металла описывается структурным фактором, аналогичным для рентгеновского излучения или нейтронов. Заметим, что структурный фактор рассеяния электронов проводимости ограничен значениями 5, которые для одновалентных металлов находятся слева от первого максимума а 8), а для двух (и более) валентных металлов —справа от него. В то же время, по данным рассеяния медленных нейтронов и рентгеновских лучей длиной волны X = 0,5—0,7 А, структурный фактор определяется до 5 = 15—20 А"1. Выясним, чем же обусловлено такое различие а(5). По современным представлениям, электроны проводимости металла нельзя рассматривать как свободные. Их движение в кристалле модулировано периодическим силовым полем решетки. Непрерывный энергетический спектр свободных электронов в -пространстве распадается на зоны разрешенных энергий — зоны Бриллюэна, разделенные интервалами энергий, запрещенными для электронов. На шкале энергий Е к) зоны Бриллюэна изображают графически в виде полос разрешенных значений энергии и разрывов между ними (рис. 2,13). В трехмерном/г-пространстве они имеют вид многогранников, форма которых определяется симметрией кристаллических решеток, а размеры — параметрами решетки. Для гранецентрированной кубической решетки первая зона Бриллюэна представляет собой октаэдр, а для объемно-центрированной решетки — кубический додекаэдр. [c.52]

Для экспериментов по рассеянию света, рентгеновских лучей или нейтронов основным параметром является волновой вектор рассеяния q, равный 4 ттЛ " sin(0/2), где X - длина волны, 0 - угол рассеяния. Измеряемые величины связаны с корреляционной функцией между концентрациями в двух точках [c.118]

В процессе фотоэлектрического поглощения часть энергии поглощенного рентгеновского кванта идет на возбуждение атома, другая часть сообщает кинетическую энергию выбитому фотоэлектрону. Часть возбужденных атомов переходит в нормальное состояние, излучая характеристический спектр. Другая часть возбужденных атомов переходит в нормальное состояние без излучения, что объясняется процессом Оже. Этот процесс заключается во внутреннем поглощении характеристического излучения, приводящем к появлению вторичных фотоэлектронов и сателлитов рентгеновских линий. Часть первичного рентгеновского луча поглощается при рассеянии, и коэффициент т относится к излучению с измененной и неизмененной длиной волны. Как следует из табл. 2. оба параметра (т и а) по-разному зависят [c.208]

Сделанные выводы о рассеянии упорядоченными твердыми растворами хорошо иллюстрируются, например, фотографией электронной микродифракции, полученной от ОЦК упорядоченного твердого раствора внедрения ТадК [6] (рис. 4). Дело заключается в том, что упругое борновское рассеяние электронов во всех отношениях подобно рассеянию рентгеновских лучей, и все выводы, касающиеся дифракции рентгеновских лучей на упорядоченных кристаллах, в равной мере справедливы и в отношении упругого рассеяния электронов. Единственное различие заключается в том, что де-бройлевская длина волны электронов, используемых в экспериментах, много меньше параметра кристаллической решетки. Это приводит к менее жестким условиям рассеяния, чем в случае рентгеновских лучей условия Лауэ (2.16) одновременно выполняются для целой сетки узлов обратной решетки, лежащих в сечении обратной решетки, проходящем через нулевой [c.20]

Случай рассеяния рентгеновских лучей упорядоченным сплавом типа uAu I представляет собой не только иллюстрацию того, как два, казалось бы, столь различных определения параметра дальнего порядка оказываются полностью эквивалентными. Рассмотренный пример свидетельствует также о том, что представление вероятности заполнения узлов решетки упорядоченной фазы в виде суперпозиции статических плоских волн во многих отношениях может быть более плодотворным, чем традиционное представление упорядоченного состояния через вероятности заполнения подрешеток. Как будет показано в следующих параграфах и в гл. Ill, это в первую очередь относится к феноменологической и статистической теориям фазовых переходов типа порядок — беспорядок. [c.31]

Так, например, в статистической теории упорядочения (гл. III) метод статических концентрационных волн открывает новые возможности для теории. Он позволяет учесть взаимодействие атомов в произвольном числе координационных сфер и связать потенциалы межатомного взаимодействия со строением кристаллической решетки упорядоченных фаз. Представление вероятности распределения с помощью статических кондентрационных волн может быть полезным и в отношении интерпретации экспериментальных данных по рассеянию рентгеновских лучей упорядоченными сплавами и интерпретации картин электронной микродифракции. В самом деле, если обратиться к рассмотренному примеру сплава uAuI, то можно заметить, что мы не только определили параметр дальнего порядка, но и нашли стехиометрический состав и атомно-кристаллическое строение упорядоченной фазы. При этом мы воспользовались лишь тем, что картина дифракции рентгеновских лучей содержит только один сверхструктурный вектор ко = 2лаз в каждой примитивной ячейке Бравэ, образованной сверхструктурными векторами обратной решетки. [c.31]

Процесс компьютерного моделирования проводился с использованием следующей модели УМЗ поликристалла. Поликристалл состоял из 361 зерна, каждое из которых было заданным образом ориентировано в пространстве. Каждое зерно имело форму прямоугольного параллелепипеда с одинаковой длиной ребер, варьировавшейся от 4 до 50 параметров кристаллической решетки. Ребра параллелепипеда совпадали с направлениями [100], [010] и [001] в кристаллической решетке. Тип кристаллической решетки — ГЦК. Параметр кристаллической решетки соответствовал табличному значению для чистой Си и равнялся 3,615 А. Длина волны рентгеновского излучения равнялась 1,54178 А и соответствовала СиК а, излучению. Интенсивность рентгеновских лучей, рассеянных поликристаллом, находили как сумму интенсивностей, полученных в результате рассеяния рентгеновских лучей отдельными зернами. При этом учитьшали ослабление интенсивности, связанное с тепловыми колебаниями атомов и частичной поляризацией рентгеновских лучей. [c.115]

В 1927 г. Дэвиссон и Гермер [25] исследовали поверхность никелевого кристалла с помощью бомбардировки электронными пучками и обнаружили, что пучки рассеиваются подобно рассеянию на кристаллической решетке рентгеновских лучей. Зная параметр решетки, можно с помощью закона Брэгга (2.5) рассчитать длину волны Де Бройля. Найденные величины соответствовали уравнению (2.6). Дифракция электронов, как и рентгеновская, может применяться для определения строения кристаллов. Данные, полученные из опытов по рассеянию рентгеновских лучей и дифракции электронов будут приведены в главе 3. [c.43]

Методы рентгеновской съемки кристаллов. Существуют различные экснеримеитальные методы получения и регистрации дифракционной картины. В любом случае имеется источник рентгеновского излучения, система для выделения узкого пучка рентгеновских лучей, устройство для закрепления и ориентирования образца в пучке и приемник рассеянного образцом излучения. Приемником служит фотопленка, либо ионизационные или сцинтилляционные счетчики рентгеновских квантов. Метод регистрации с помощью счетчиков (дифрактометрический) обеспечивает значительно более высокую точность определения интенсивности регистрируемого излучения. Из условия Вульфа—Брэгга (см. Дифракция рентгеновских лучей) непосредственно следует, что при регистрации дифракционной картины один из двух входящих в него параметров — X (длина волны) или О (угол падения), должен быть переменным. Основными методами рентгеновской съемки кристаллов являются метод Лауэ, [c.328]