спектр фосфор

Расхождение расчетных и опытных данных на 16% исследователь объясняет тем, что навязанное структурой 2п8 расположение атомов кислорода приводит к растяжению их связи с атомами цинка, к увеличению их длины по сравнению с длиной этих связей в кристалле 2пО и, следовательно, к их ослаблению. Отсюда— сужение энергетической щели между соответствующими уровнями в энергетическом спектре цинк-сульфидного фосфора, обусловленное понижением энергии электронов связи 2п — О в структуре сложного сульфидного соединения цинка. Подобное явление наблюдается и в случае цинк-сульфидных фосфоров, активированных гомологами кислорода — селеном и теллуром. Последние, так же как кислород, образуют химические связи с цинком, которым отвечают определенные локализованные уровни в энергетическом спектре фосфора. Ширина запрещенной зоны в энергетических спектрах кристаллов селенида и теллурида цинка составляет 2,60 и 2,27 эВ соответственно. Отложив эти величины по вертикальной оси от дна зоны проводимости сульфида цинка, исследователь определил, что этим уровням отвечает излучение с длиной волны 480 нм для селена и 548 нм для теллура. Но это на 40 им [c.125]

Условия возбуждения атомного и молекулярного спектров фосфора в пламени были изучены в работе [И10]. Наилучшие результаты определения фосфора получают при использовании пламени смеси водород—воздух и раствора, содержащего 90% этанола. В этих условиях чувствительность определения фосфора по полосе РО с максимумом при 246,4 нм равна 5 мкг мл. Чувствительность определения по атомной линии 253,6 нм (пламя смеси ацетилен—кислород) составляет 400 мкг мл. Определение фос- [c.78]

Р4. Молекула Р4 имеет структуру правильного тетраэдра, в вершинах которого расположены четыре атома фосфора (точечная группа симметрии Та). Структура молекулы Р4 установлена в результате анализа спектров фосфора (белого фосфора [1903], раствора белого фосфора в S2 [1903, 764], жидкого фосфора [4078] и его паров [1903]) и электронографических исследований [2817]. [c.410]

Измерения проводили на обычной аппаратуре. В спектре иода имеется только одна линия 2061,63 А, относящаяся к уровню Риг В спектре фосфора была исследована группа линий, указанных в табл. 5. Наиболее чувствительной оказалась линия 2136,18 А (практически измерения абсорбции производились для линий 2136,18 А и 2135,47 А, не разделяемых монохроматором). [c.273]

Коротковолновые полосы, возникающие в спектре фосфора КС —А после рентгенизации 260 235 222 38461 42553 I 45045 4092 2492 So [c.164]

Аналогичная полоса атомарного поглощения с максимумом около 300 тц обнаруживается также в спектре фосфора КВг — Т1. [c.206]

В. И. Волиным [318] в спектрах фосфоров КС1 — Т1 и КВг — Т1, т. е. в фосфорах с одновалентными активаторами, имеющими обычно меньший потенциал ионизации по сравнению с двухвалентными. Еще ранее И. П. Щукин [314] наблюдал при у-возбуждении фосфора КС1 — Т1 падение поглощения в активаторной полосе, но полагал, что оно обусловлено ионизацией активаторных центров. [c.242]

Примером, поясняющим возникновение линий в спектре фосфоров, может служить соединение элементов П1 и V групп GaP. Как показано на рис. 63, в спектре люминесценции GaP появляется множество линий, соответствующих выделению определенной энергии при излу-чательной рекомбинации электронов и дырок, т. е. когда электрон переходит из вышележащего заполненного донор ного уровня на лежащий ниже незаполненный акцепторный уровень. Чтобы это могло произойти, электрон и дырка должны находиться рядом, так как электрон переходит непосредственно от одной примеси к другой. [c.137]

Интересно поведение Zn , который, имея два акцепторных уровня, может связываться с двумя ионами (образуя триплет) 8]. Образование пар ионов имеет место и в других полупроводниках. Интересное явление наблюдается в РЬЗ, где медь, находящаяся в двух различных положениях — в междоузлии и узле (замещение) может образовывать пару сама с собой [Ю]. Да и вообще, образование пар не ограничивается ионами, находящимися в междоузлиях. Достаточно стабильные пары могут образовываться и в растворах замещения. Существование таких пар было предположено для объяснения особенностей спектра фосфоров типа 2п5 [11, 12]. [c.270]

ЭМИССИОННЫЕ РЕНТГЕНОВСКИЕ Д-СПЕКТРЫ ФОСФОРА [c.103]

Адсорбция радикала приведет к дополнительному искажению поля кристалла вблизи центра свечения, т. е. к смещению локального уровня активатора в энергетическом спектре фосфора. Новый уровень может быть расположен ближе к валентной зоне или зоне проводимости по сравнению с уровнем активатора (рис. 34). Положение новых уровней, вообще говоря, может не совпадать с положением уровней, возникающих при хемосорбции на атомах кристаллической решетки или других ее дефектах. [c.109]

Влияние сенсибилизации на эмиссионные спектры фосфора aS — Sm. [c.205]

Рис. 2. Спектры фосфоров с различными добавками га-

Рот-рапид агфа или чувствительную панхроматическую кинопленку. Экспозиция при съ4 мке 0(1 на спектрографе светосилой I 2 составляе I мин. при съемке 5т и Ей на спектрографе ИСП-51 экспозиция составляем 2 мин Для перехода от почернений к относи1ельным ин1енсивногтям на фотопластинки одновременно со спектрами фосфоров снимают марки почернения, использ>я ступенчатый ослабитель. [c.225]

При возбуждении спектра фосфора разрядом конденсированной искры емкость генератора увеличивают до 24 пф и индуктивность до 1,5 мкгн. Применяют спектрограф средней дисперсии с трехстзщенчатым ослабителем обыскривание 90 сек., продолжительность экспонирования 30 сек. Противоэлектрод медный. Аналитическая пара линий Р 255,32 — Fe 225,37 нм. [c.145]

В спектрах фосфоров Na l—Ag с большой концентрацией активатора (кривая б, рис. 70) обнаруживается еще одна широкая поло- [c.178]

Инфракрасные спектры фосфора и его соединений измерил Кобридж [601]. С целью получения активного фосфора Рамтун и Странский [602] подвергли красный фосфор нейтронному облучению при нагревании до 600° в токе азота, после чего наблюдали испарение его в вакууме. Рассчитан приближенно ход кривой скорости испарения с понижением температуры поверхности испарения. Изучены условия окисления красного фосфора бромид-броматной смесью и перйодатом калия и для этой реакции определен второй порядок [603, 604]. Разработаны методы анализа фосфора [478, 482]. [c.416]

Антантрен (XXVII). Обладает симметрией D h- Mi лекулу антантрена можно рассматривать как результг конденсаций нафталиновых или антраценовых яде] Спектр поглощения содержит три интенсивные систем полос (р, и по Клару), начинается при 4330 (23 100 см ). Спектр флуоресценции антантрена, сняты при комнатной температуре, имеет два максимума пр 23 520 и 21 900 см (Av = 1350) . В спектре фосфор( сценции выделено 5 полос. Начальная — при 11 850 см" другие отстоят от нее на 360, 740, 1430 и 1650 см соотве-ственно. Величина SI,Г-интервала равна 11 400 см т. е. того же порядка, что и в аценах. [c.92]

В настоящей работе были исследованы Д-эмяссиоиныс спектры фосфора в полупроводниковых соединениях ВР, ОаР, 1пР и красном фосфоре первичным методол возбуждения. Поликристаллические образцы готовились по известной методике [ ]. [c.103]

Эмиссионные Да-спектры фосфора снимались на вакуумном спектрографе с фокусировкой по Иоганну. Спектральным анализатором служил кристалл кварца, зогнутый по радиусу 500 мм с отражающей плоскостью (1010). В спектрографе ДРС была переделана кинематика, изготовлен новый кри-сталлодержатель. Изгиб кристалла осуществлялся двумя пластинами, вырезанными и прошлифованными точно по радиусу, что упрощало фокусировку прибора и исключало его дефокусировку во время работы. Значение обратной дисперсии в области исследуемых длин волн составило 6,0 Хе/мм, или 2,03 эв. При измерении абсолютных значений длин волн рентгеновских линий фосфора в элементарном фосфоре и соединениях в качестве реперных линий использовался Да лет железа. [c.103]

Эмиссионные рентгеновские /С-спектры фосфора в полупроводниковых соединениях Шарай В. Т., Пашковский О. И. Химическая связь в кристаллах полупроводников U полуметаллов , 1973 г., 103—105. [c.276]

Поглощение кристаллических веществ складывается из поглощения основного вещества и поглощения активатора. Полоса поглощения основного вещества называется основной или фундаментальной. Основное поглощение обычно лежит в ультрафиолетовой области спектра и представляет собою широкую полосу. В видимой области спектра основное вещество в большинстве случаев прозрачно. Форма полос поглощения кристаллофосфоров за редкими исключениями известна лишь качественно. Это вызвано трудностью измерений. Большинство кристаллофосфоров представляет собою мелкий порошок, сильно рассеивающий падающий на них свет обычные приёмы исследования спектров поглощения для них неприменимы, так как при прохождении света через рассеивающие слои ослабление света, идущего в прежней направлении, происходит не столько вследствие поглощения, сколько в результате рассеяния, которое действует в десятки и сотни раз сильнее, чем поглощение. Точное измерение поглощения возможно у веществ, дающих крупные кристаллы, например у щёлочногалоидных фосфоров типа МХ (М—щелочной металл, X—галоид). Примеры подобных спектров приводятся пиже (см., например, рис. 282). У мелких кристаллов с линейными размерами 10 —20 х, например у фосфоров группы сернистого цинка, исследование спектров поглощения можно производить с помощью люминесцентного микроскопа, обладающего кварцевым осветителем и кварцевым объективом и спектрографом особой конструкции в виде насадки на микроскоп. Подобное устройство осуществлено в последнее время Е. М. Брумбергом [60] и С. А. Гершгорипым. Полученные этим способом спектры фосфоров группы сернистого цинка приводятся ниже, на рис. 207а. Однако число веществ, изученных этим путём, ещё незначительно. В большинстве случаев величина поглощения определяется качественно или по спектрам отражения, или косвенно, по яркости возникающего излучения [158, 370]. [c.295]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология