Микроскопия интерференционная

Интерференционный микроскоп применяют для исследования поверхностей скола, трещин, линий скольжения, измерения толщины тонких пленок и т. п. [c.123]

Многолучевые интерференционные микроскопы основаны на том же принципе, но разделение одного пучка на несколько пучков усложняет их конструкцию и повышает разрешающую способность. [c.123]

Явление нагружения и разрыва молекулярных нитей изучалось различными методами. В большинстве цитированных работ приведены оптические и электронные микрофотографии трещин серебра. Отдельные примеры воспроизведены на рис. 9.8—9.10. Результаты исследований формы трещин серебра методом интерференционной микроскопии обсуждаются в работах [15, 155, 177]. Приведем некоторые результаты, полученные путем измерений тепловых характеристик [31, 50, 184—186], путем анализа влияния молекулярной массы на образование трещин серебра [И, 15, 65, 79, 146, 178], методом акустической эмиссии [174, 188] и методом ЭПР [189—190]. [c.381]

В основе описываемого метода лежат три предположения 1) в исследуемом образце кристаллики н имеют преимущественных ориентировок, т. о. отсутствует текстура 2) все кристаллики равновелики 31 размер кристалликов таков, что на рентгенограмме получаются при выбранном времени экспозиции хорошо видимые через измерительный микроскоп интерференционные пятнышки. Нетрудно показать, что общее число интерференционных пятен на том или ином дебаевском кольце h , Л2, A3) прямо пропорционально числу кристалликов в единице объема поликристалла. Жданов устанавливает следующее соотношение [c.38]

Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

Как и фазово-контрастная микроскопия, интерференционная микроскопия основана на возможности преобразования различия фаз в различия интенсивностей, однако она обладает тем преимуществом, что здесь нет ореола кроме того, метод позволяет проводить некоторые количественные измерения. Наиболее эффективная система (система Дайсона) состоит из сложного комплекса посеребренных поверхностей и рефлекторов, который делит свет, выходящий от объекта, на части, одна из которых проходит через окружающую среду и сдвигающую фазовую пластинку. При последующей рекомбинации с остальной частью света, [c.45]

Интерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

Сферолиты довольно просто наблюдать экспериментально из-за их сравнительно больших размеров (50—1000 мкм). При оптической микроскопии в поляризованном свете они выглядят в виде кружков, на которых четко выделяются интерференционные картины в виде мальтийских крестов появление последних всегда свидетельствует о наличии сферической симметрии в расположении элементов, способных к проявлению эффекта двулучепреломления. Молекулам полимеров по их природе присуща склонность к двулучепреломлению в большинстве случаев их поляризуемость вдоль молекулярной оси существенно выше, чем в перпендикулярном направлении. [c.52]

К металлографическим микроскопам выпускается интерференционное устройство МИО-1. [c.123]

Прежде чем приступить к работе с микроскопом, необходимо ознакомиться с его устройством по описанию прибора. Проверить, правильно ли в микроскопе установлены николи для получения поляризованного света. Обратить внимание на то, какую окраску в поляризованном свете имеет пробная пластинка (стандартный кристалл) и в таблице интерференционных цветов найти ее разность хода. [c.196]

Исследования с помощью микроскопа начинают на образце высокоориентированного ПП, в котором-оси макромолекулы расположены в направлении растяжения пленки. Вращением предметного столика микроскопа добиваются положения, при котором ось ориентации образца становится параллельной пробной пластинке. Наблюдают изменение интерференционной окраски (разности хода) при последовательном прохождении поляризованного света через пробную пластинку и пленку ПП, на основании чего делают вывод о прямой или обратной параллельности индикатрис макромолекулы и стандартного кристалла (см. рис. VI. 15). [c.196]

Специальный микроскоп, используемый для этой цели, позволяет различать на поверхности металла систему из светлых и темных полос. По форме интерференционных полос можно сделать точное заключение о состоянии поверхности. [c.224]

Рис. 2. Микрофотографии деформированных кристаллов а — X 50 б — X 500(интерференционная микроскопия), в — X 2000 (кристалл после травления).

Исследуемый образец 2 (изображен в разрезе) (рис. 9.2) покоится на кварцевой опоре /, верхняя поверхность которой оптически плоская. На образце сверху располагается клиновидная кварцевая пластина 3. Нижняя поверхность клиновидной пластинки и верхняя поверхность опоры I расположены строго параллельно и образуют интерференционный зазор 6. Источником света является монохроматор 7, 8 или лазерный луч. Интерферометрическая картина, возникшая в зазоре б, а затем отраженная призмой 5 и полупрозрачным зеркалом 6, наблюдается в микроскопе 9. При изменении длины образца 2 (изменение зазора б) в поле зрения микроскопа наблюдается смещение интерферометрических полос. Смещение картины на одну полосу соответствует изменению длины образца на V2, где %—длина волны монохроматического излучения. [c.434]

В большинстве случаев исследования дифракции полимеров проводят с использованием просвечивающих электронных микроскопов (разд. 27.2). Современные конструкции электронных микроскопов позволяют переходить от изображения к дифракции путем простой коммутации линз. Интерференционная картина, получающаяся в фокусной плоскости объектива, увеличивается и проектируется на экране (рис. 29.1). [c.135]

Двойное лучепреломление характеризуют с помощью следующих четырех основных методов трансмиссионного и компенсаторного методов, метода, основанного на использовании интерференционного микроскопа, и рефрактометрического метода. [c.206]

Микроскоп служит для рассматривания мелких объектов, поэтому его можно заменить лупой естественно, при этом уменьшится увеличение, но суть дела не изменится. Самая важная часть прибора—поляризационное устройство, которое можно изготовить из двух поляризационных светофильтров ПФ-26. Мы рекомендуем очень простую конструкцию поляризационной лупы Аршинова (рис. 33). Столик вращается. Для приблизительной оценки угла поворота на его плоскости можно приклеить два транспортира. С целью изучения минералов без анализатора в поляризованном свете верхний поляроид-анализатор можно убирать. Интерференционную окраску можно видеть невооруженным глазом или с помощью короткофокусной лупы. [c.101]

Появление цветной картины вызвано оптической интерференцией. Различие в цвете может возникать вследствие разницы в толщине поверхностных пленок. Следовательно, регулярное изменение цвета соответствует правильному изменению высоты поверхностей, так что они пространственно дополняют друг друга. Это свидетельствует о распространении трещины только на двух определенных уровнях. Последнее становится очевидным, если учесть, что поле напряжений симметрично относительно средней плоскости разрушения. Топографию поверхности разрушения изучали с помощью интерференционной микроскопии. [c.91]

Моль[ ] подтвердил результаты Фольмера и Адикари в работах с фталевым ангидридом, кумарином и дифенилметаном. Парафин и цетиловый спирт дали отрицательные результаты, так как они не способны распространяться по поверхности ртути. Моль придумал еще другой опыт для доказательства подвижности в поверхностном слое кристалла. Он наблюдал между скрещенными николями в поляризационном микроскопе интерференционную окраску тонких кристаллов бензофенона и нашел, что окраска менялась не только там, где ртуть касалась кристалла, но и на некотором расстоянии от этих участков. Окраска 39 с. Бр/науер [c.609]

Л е й т ц - МЛ 6 — стационарный микроскоп отраженного спета с бол1.шим полем зрения для исследования ровных и полированных аншлифов в светлом поле, в темном поле, при фазовом и интерференционном контрасте и в поляризованном свете. Имеет микротвердомер. Снабжен системой автоматического микрофотографирования. Имеет проекционное устройство с линзой Френеля и матовым стеклом, диаметр изображения 34 см. [c.111]

Оптическая микроскопия с фазовым контрастом, основанная на различиях в коэффициентах рефракции полимеров, широко используется для исследования бинарных полимерных смесей. Оптическая система микроскопа позволяет осуществить сдвиг по фазе между дифрагированным и пропускаемым светом, что приводит к получению интерференционной картины даже при очень небольших различиях в коэффициентах рефракции. Использование оптической микроскопии для исследования микрогетерогенности смеси каучуков первоначально было предложено для ненаполненных систем. При анализе срезов толщиной 1-4 мкм никакого тонирования фаз не требуется, так как контраст достигается вследствие различия в показателях преломления эластомеров. Метод успешно использован для широкого круга смесей каучуков. Оптическая микроскопия с фазовым контрастом требует исследования очень тонких образцов ( 1-4 мкм), которые могут быть получены с помощью криогенного среза по технологии, описанной в стандарте ASTM D 2663. Автоматизированный анализ реплик был впервые использован для определения совместимости в различных смесях полимеров. [c.575]

В препаратах, приготовленных без покровного стекла, смектические капли на предметном стекле при скрещенных николях имеют темный осевой крест (рис. 12). При введении кварцевой пластинки КР-1 между окрещенными нпколями микроскопа интерференционная окраска кристаллов будет такой же, как у сферо-кристаллов с положительным знаком удлинения [c.21]

Лейтц-ортолюкс (ФРГ)— универсальный микроскоп для исследования в проходящем и (или) отраженном свете. В проходящем свете определения ведут в светлом и темном поле, при фазовом и интерференционном контрасте, при флуоресценции осуществляют микрофотографирование. В отраженном свете с помощью иллюминатора изучают поверхности непрозрачных объектов. Имеется опакиллюмннатор для просмотра ровных и полированных аншлифов (металла, руд, керамики и др.). [c.112]

Отношения с Рози оставались такими же напряженными. Когда Морис вернулся из Бразилии, ему было нетрудно прийти к заключению, что она даже больше, чем прежде, ничего не хочет слышать о сотрудничестве. Поэтому в поисках утешения Морис занялся интерференционной микроскопией, пытаясь найти способ измерения хромосом. Руководителю лаборатории Рэндоллу было заявлено, что Рози следовало бы [c.86]

Микроскопичеокие исследования на металлографическом микроскопе МИМ-8 и интерференционном микроскопе МИИ-1 позволили выявить детали микрорельефа поверхности кристаллов. [c.90]

Схема, предложенная Бэрчем [46] для интерференционной голографии прозрачных объектов, позволяет получить интерференционную голограмму фазового объекта при однократной экспозиции, но качество таких интерферограмм ниже, чем прп использовании двухступенчатого метода. Интерферометр Бэрча работает как интерферометр с диффузным стеклом его характеристики подобны характеристикам дифракционного интерферометра, описанного Краусхаром. Параллельный световой пучок малого диаметра, испускаемый лазером, расширяется вогнутой линзой (или объективом микроскопа). Мнимая фокальная плоскость этого расходящегося пучка проецируется в плоскость исследуемого участка t—1 линзой L и объективом ь Пучок частично рассеивается диффузным стеклом 5Р, расположенным в фокальной плоскости объектива 1 и выполняющим функцию делителя светового пучка. Основной пучок (сплошные линии) минует фазовый объект и используется в качестве сравнительного иучка. Рассеянный свет (штриховые линии) проходит через фазовый объект, в котором происходит сдвиг фаз. Фотопластинка НР, на которую фотографируется голограмма, расположена в фокальной плоскости объектива Ьо. Плоскость диффузного стекла проецируется на плоскость фотопластинки объективами Ь и Ьо. Комбинация лучей основного пучка и дифрагировавшего света со сдвигом фаз дает интерференционную голограмму. Чтобы получить интерференционную картину, проявленную голограмму устанавливают на прежнее место в оптической системе (без фазового объекта). Линза съемочной камеры, например Ьз, воспроизводит интерферо1рамму в илоскости изобра- [c.80]

Микроскоп Лейтц-металлюкс — многопозиционный микроскоп для исследований в отраженном свете ровных полированных аншлифов можно производить исследования в светлом поле, темном поле, при фазовом и интерференционном контракте, осуществлять микрофотографирование и интерференционные измерения. Снабжен микротвердомером. Возможно переоборудование микроскопа для наблюдений в проходящем свете. [c.111]

Микроинтерферометр Линника типа МИИ-4, предназначенный для непрозрачных объектов, имеет следующий ход лучей (рис. 55). Параллельный пучок лучей от коллиматора ра зделяется пластинкой 3 на два пучка одинаковой интенсивности. Пучок сравнения попадает на зеркало 7 и отражается вновь на пластинку 3. Другой пучок попадает на объект н также отражается отраженный пучок света несет информацию о состоянии отражающей поверхности. На пластинке 3 оба пучка соединяются снова в один пучок и интерферируют в фокальной плоскости линзы 4. Получаемую интерференционную картину наблюдают через окуляр. По профилю полос на интерференционной картине можно измерять глубину трещин, ступенек и т. д. Микроскоп МИИ-4 позволяет определять толщины от 0,03 до I мкм и фотографировать изображение. [c.123]

Если просмотреть под электронным микроскопом ультратон-кие срезы образцов холоцеллюлозы древесины бука после гидролиза ксиланазой, то по сравнению с исходным образцом слой 1 более электронно-проницаем, что позволяет различать целлюлозные микрофибриллы. Более прозрачны также внешние и внутренние края слоя 2, что говорит об удалении ГМЦ из этих районов. С помощью интерференционной микроскопии показано, что ксиланаза, удаляя 20—30% ксилана холоцеллюлозы ели, действует главным образом на слой 82 клеточной стенки [72]. [c.233]

Но, во-первых, положение первого рефлекса часто соответствовало с1>344,0 пм , н этот факт не мог быть объяснен в рамках пачечно-бахромчатой модели. Кроме того, интенсивности максимумов (002) и (004) были часто аномальными в смысле их несоответствия структуре фафита. Во-вторых, конечность размеров областей когерентного рассеяния сама по себе не указывает ни на двухфазность системы, ни на ее микрогетерогенность, как это было осознано в отношении цепных (линейных) полимеров . Действительно, с помощью элекфонной и интерференционной микроскопии, фазоконтрастных методов" не было обнаружено никаких дискретных частиц - кристаллитов. Более того, оказалось, что протяженность изогнутой, скрученной, сплетенной пачки (микрофибриллы) из нескольких лентоподобных слоев (молекул) значительно превышает обычные значения для фафита, достигая [c.21]

Аналогичные изломы в околокритических по М цепях будут происходить при изменении числа складок в зародыше. Так как при малых М общее число складок в одноцепочечном зародыше невелико, происходит своего рода квантование складок, впервые описанное Ковачем с сотр. [59]. Ковач, работая с полиокси-этиленом — удобным для подобного рода опытов очень гибкоцепным и относительно низкомолекулярным полимером, наблюдал множественные переходы по числу складок, причем, зная М, он определял с помощью интерференционного микроскопа толщину ламелей и — тем самым — число складок. [c.106]

При количественном методе оценки высоту микронеровностей определяют непосредственно в Нск ч I p с помощью приборов. Наибольшее распространение для количественной оценки получили щуповые и оптические приборы — профилометр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. [c.557]

Молекулярная биология клетки Том5 (1987) -- [ c.168 , c.169 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.215 , c.216 ]

Физические методы органической химии Том 2 (1952) -- [ c.215 , c.216 ]

Методы культуры клеток для биохимиков (1983) -- [ c.108 ]

Физическая Биохимия (1980) -- [ c.45 , c.46 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология