Послойный анализ

Рис. У1.7. Схема одновременного ионного травления и получения оже-спектров при послойном анализе состава поверхности образца

Послойный анализ медно-свинцового сплава, результаты микроисследований и коррозия по Пинкевичу [23] [c.610]

Уникальность методов рентгено- и фотоэлектронной спектроскопии — в возможности детального изучения тонких поверхностных слоев. При совместном использовании нескольких методов, включая применение оже-микрозонда, открывается возможность исключительно тонкого локального, а с ионным травлением — и профилированного послойного анализа твердых образцов с разрешением по поверхности 50—200 нм, а по глубине от 1 до нескольких нанометров. Уникальны также количественные энергетические характеристики, получаемые из фотоэлектронных спектров, и представляющие опорные данные для развития квантовой теории строения молекул и веществ. [c.165]

Присадка Формула Вымывание свинца в слое 0,02 мм (послойный анализ), % Глубина вымыва- нии свинца (под микро- скопом), мм Коррозия по Пинкевичу (на медносвинцовой пластинке), г м [c.610]

БЕССТРУЖКОВЫЙ МЕТОД АНАЛИЗА — метод качественного и количественного химического анализа сплавов и стекол без повреждения самого образца. Необходимый для анализа раствор образуется на поверхности образца соответствующим растворителем. Б. м. а. используют для анализа готовых изделий, миниатюрных деталей, покрытий, послойного анализа образцов. Б. м. а. отличается быстротой выполнения, простотой аппаратуры и малым расходом реактивов. Б. м. а. разработал советский ученый Н. А. Тананаев. [c.43]

Послойный анализ испытуемых пластинок свинцовистой меди и изучение состояния поверхности металла под микроскопом пока-зали,что практически все испытанные сернистые соединения в большей или меньшей степени способны предохранять свинец от вымывания. Однако активность их различна (табл. 124). [c.333]

Однако при внутреннем осмотре одного из реакторов УЗК был снят образец кокса, отложившийся на поверхности верхнего шарового днища в течение длительного времени произведен послойный анализ содержания зольных элементов в коксе, который показал значительное превышение такового для рядового кокса, сырья и дистиллята (рис. 2.23). Однако не удалось установить в какой форме находились зольные элементы [49]. [c.111]

Послойный метод анализа. Классическим хроматографическим анализом (М. С. Цвет) определяют качественный состав смеси по окраске зон адсорбента. При этом отпадает необходимость вымывания из колонки компонентов разделяемой смеси. Этот прием послойного анализа применяется в основном для анализа окрашенных веществ. Если зоны компонентов не окрашены, хроматограмму можно проявить пропусканием раствора соединений, образующих с адсорбированными веществами окрашенные соединения. [c.52]

Хроматографическое разделение смесей радиоактивных веществ или соединений с мечеными радиоактивными атомами также позволяет проводить послойный анализ компонентов смеси непосредственно в колонке. В этом случае при продвижении счетчика жесткого Р- или 7-излучения вдоль колонки можно определить место нахождения зон, содержащих радиоактивный изотоп, и по интенсивности излучения судить о количестве адсорбированного вещества. [c.52]

Послойный анализ позволяет проводить хроматографическое разделение радиоактивных веществ непосредственно в колонках. Можно также, используя меченые атомы, наблюдать распределение нерадиоактивных компонентов в смеси — метод радиоактивных изотопов. По интенсивности воспринимаемого регистрирующим прибором измерения можно судить о количестве вещества в зоне [12]. [c.26]

Так, например, изучение процессов диффузии в твердых телах было затруднено необходимостью послойных анализов, что, по существу, приводило к разрушению системы. Введение радиоактивного изотопа позволяет непрерывно вести наблюдение за процессом, определяя изменение концентрации во времени измерением радиоактивного излучения. [c.67]

Использование радиоактивных изотопов позволило очень эффективно решить ряд физических проблем и открыть новые явления. Так, например, изучение процессов диффузии в твердых телах было затруднено необходимостью послойных анализов, что, по существу, приводило к разрушению системы. Введение радиоактивного изотопа позволяет непрерывно вести наблюдение за процессом, определяя изменение концентрации во времени измерением радиоактивного излучения. [c.68]

Используя травление поверхности пучком ускоренных ионов, можно вести послойный анализ в глубину. Метод требует вакуума [c.151]

Примечательно, что при послойном анализе отложений некоторые авторы обнаружили во внутренних слоях повышенное содержание легкоплавких. минеральных соединений, которые, но-видимому, образуются путем конденсации. По мере нарастания слоя отложений температура соприкасающейся с газами поверхности возрастает и физическая картина их образования меняется. [c.224]

Послойный анализ конденсата дал результаты, приведенные в табл. 24. [c.136]

Деготь, полученный на стенде, при обезвоживании четко делился на два слоя, из которых верхний составлял около 70%, а нижний—около 30% по весу. Послойный анализ этого дегтя представлен в табл. 31. Там же для сравнения 176 [c.176]

Послойный анализ обезвоженного дегтя, полученного при сжигании торфа на стенде топки-генератора [c.177]

И. м. проводят в статич. и динамич. режиме. В первом случае при малой плотности тока анализируют практически без разрушения реальную пов-сть твердого тела (распыление одного слоя происходит за неск. ч). Во втором случае проводят послойный анализ с относительно высокой скоростью катодного распыления (единицы-десятки нм/с). При этом осуществляют сканирование первичного пучка по большой площади и напуск реакционноспособного газа для получения плоского кратера. [c.260]

Послесвечение в потоке, метод 3/141 Послойная выкладка заготовок пластмасс 4/12-14 Послойный анализ 4/893 Постоянная(ые) [c.689]

Если образец обладает поглощением в ИК-области (аттенюатор), модуль НПВО монтируют в камере образца ИК-спектрометра и регистрируют спектры, подобные ИК-спектрам пропускания. Глубина проникновения зависит от длины волны излучения, показателей преломления материала образца и призмы и от угла падения. Эмпирически установлено, что эта величина составляет порядка нескольких десятых длины волны излучения, т. е. единицы и доли мкм. Изменяя угол падения, можно в определенной степени проводить послойный анализ. В промышленно выпускаемых модулях НПВО для улучшения чувствительности используются многоходовые кюветы на основе трапецеидальных или стержневидных отражающих элементов. [c.183]

Кроме того, различные артефакты, например, электронно-стимулированное разложение материалов при высоких плотностях потока или изменение состава поверхности вследствие селективного ионного распыления при послойном анализе, может также снизить точность (правильность) анализа. [c.342]

Помимо локального анализа (анализа в точке) и получения пространственного распределения элементов с высоким разрешением можно проводить послойный анализ, комбинируя ионное распыление поверхности (см. разд. 10.3.2) с анализом оже-электронов, выходящих с облучаемой поверхности. Эта задача особенно важна для анализа тонких пленок и анализа поверхности. Принцип [c.343]

Рис. 10.2-15. ОЭС Послойный анализ (распределительный анализ по глубине) исходной поверхности посредством сочетания ионного распыления и анализа оже-электронов.

Еще ряд проблем возникает при послойном анализе пространственно неоднородных материалов (включений в матрице, приводящих к различным химическим составам в пределах зоны облучения). Если коэффициент распыления элемента включения отличен от коэффициента распыления элементов матрицы, при распылении образуется поверхностный профиль (разность высот) меж- [c.344]

Послойный анализ как средство анализа тонких слоев позволяет работать с поверхностными зонами от одного атомного слоя до слоев в несколько микрометров толщиной. [c.345]

Послойный анализ методом POP успешно применяют для изучения тяжелых легирующих атомов в полупроводниках (например, Sb в кремнии). Разрешение по глубине находится в пределах 20-50 нм и в целом не является настолько хорошим, как разрешение, получаемое в методах, основанных на распылении, например МСВИ. [c.352]

В работе [31] исследовано влияние твердой поверхности на надмолекулярные структуры в сшитых полимерах и найдено, что характер надмолекулярных структур определяется типом подложки и зависит от густоты пространственной сетки полимера. В этой работе впервые проведен послойный анализ на разных расстояниях от поверхности и показано, что по мере удаления от поверхности характер морфологии изменяется и наблюдается переход от мелкоглобулярной плотноупакованной структуры к крупноглобулярной структуре с агрегацией глобул. Влияние поверхности на надмолекулярные структуры распространяется на большое расстояние от поверхности. Лишь при удалении более чем на 160 мкм структура пленок, сформированных на твердой поверхности, становится аналогичной структуре в объеме. [c.70]

Сопоставление данных послойного анализа сплава Си—РЬ с результатами ыикроисследовавий в коррозией по Пинкевичу [c.333]

Вымывание свикца в слое 0,02 мм (послойный анализ), [c.333]

Л. а. субмикронных и поверхностных слоев проводят методами рентгеноспектрального анализа (см. Электронно-зондовые методы), катодолюминесцентного микроанализа, спектроскопии рассеяния быстрых ионов (резерфордовского рассеяния), масс-спектрометрии вторичных ионов в динамич. режиме, оже-спектроскопии и др. При послойном анализе субмикронных слоев без разрушения образец бомбардируют заряженными частицами (электронами, ионами). В зависимости от их энергии меняется глубина, на к-рой происходят процессы, приводящие к появлению аналит. сигнала - рентгеновского излучения, резонансных ядериых р-ций, резерфордовского рассеяния и др. Послойный анализ можно также проводить, варьируя угол отбора, т.е. угол, под к-рым к исследуемой пов-сти располагается приемник аналит. сигнала. [c.610]

При необходимости исследовать изменение состава образца в зависимости от глубины проводится послойный анализ, который выполняется при совместном использовании ЕСХА и ОЭС или ОЭС с ионным травлением. Послойные спектры ЕСХА получают при последовательном чередовании травления и регистрации спектра. Большое значение имеет при этом равномерность травления по [c.150]

Откликаясь на растущие требования новых областей науки и техники и насущные нужды промышленного производства эпохи НТР, современная аналитическая химия ставит и успешно решает задачи анализа малых и ультрамалых (до миллионных долей процента) содержаний веществ, анализа состава локальных микронеоднородностей, послойного анализа, анализа кинетически иестабильных систем, дистанционного анализа. С этой целью в аналитической химии широко используются различные методы, основанные на физических и ядерно-физических эффектах — взаимодействие вещества с электронными и ионными пучками, рентгеновскими и 7-квантами и т. д. [c.5]

Реальную пов-сть анализируют методами оже-спект-роскопии, рентгеноэлектронной спектроскопии, спектроскопии рассеяния медленных ионов (см. Ионного рассеяния спектроскопия), масс-спегфометрии вторичных ионов в статич. режиме (см. Ионный микроанализ). Обычно анализ проводят в высоком вакууме (10 -10 Па) с помощью установок, позволяющих одновременно использовать неск. аналит. методов. В тех же установках проводят разрушающий послойный анализ субмикронных и поверхностных слоев, удаляя слои ионным травлением, лазером, искровым разрядом, хим. или электрохим. растворением. Затем определяют элементы в газовой фазе, р-ре или на протравленной пов-сти. [c.610]

Для количеств, послойного анализа экспериментально измеряют зависимости аналит. сигнала от угла его отбора, энергии бомбардирующих частиц, массы удаленного слоя и времени травления, на основании к-рых получают зависимость концентрации определяемого элемента от глубины слоя. При этом пользуются расчетными или более точными эмпирич. методами. В первом случае необходима теоретич. модель взаимодействия возбуждающих частиц с исследуемым образцом, во втором случае нужны образцы сравнения, в к-рых определяемый элемент м. б. распределен равномерно или иметь заданное неоднородное распределение (ионнолегированные образцы, гетероструктуры). При анализе многослойных гетероструктур необходимо учитывать влияние гетерог. фона и фазовой интенсивности. [c.610]

М.-с. позволяет определять все элементы периодич. системы с чувствительностью 10 г при использовании лазерных источников ионизации м.б. достигнута чувствительность 10 г. При анализе твердых проб м.б. определены примеси, содержание к-рых в 10 ниже содержания осн. элементов. М.-с. широко применяется в анализе особо чистых металлов (Ga, Al, In, Fe, u и др.), полупроводниковых материалов (Si, GaAs, dFe), сплавов на основе Ре, Ni и Zr при произ-ве тонких пленок и порошкообразных в-в, напр, оксидов и и редкоземельных элементов. М.-с. позволяет определять содержание С, N, О, S, Р в сталях, анализировать керамику, стекла, разл. изоляц. материалы, проводить локальный и послойный анализ пробы (локальность по пов-сти до 1 мкм, по глубине до 1 мм), получать сведения о структуре и фазовом составе твердых тел. Для определения элементов используют масс-спектрометры с ионизацией образцов в электрич. дуге, искровом и тлеющем разряде или в индуктивно-связанной аргонной плазме при атм. давлении. [c.663]

Толщина анализируемого слоя пов-сти твердого тела определяется глубиной выхода оже-электронов, к-рая зависит от их энергии и, напр., для разных металлов составляет 0,5-2,0 нм. В связи с малой глубиной выхода оже-электронов, загрязнение исследуемой пов-сти адсорбир. атомами вносит существ, погрешность в результаты анализа. Поэтому в спектрометрах создают глубокий вакуум (10 -10" Па). Кроме того, оже-спектрометры снабжают ионными пушками (источниками ионов инертных газов), К рые используют для очистки исследуемой пов-сти и проведения послойного анализа. Оже-спектрометры для анализа газов имеют вакуумную систему, к-рая обеспечивает одновременно относительно высокое давление (1-10 Па) исследуемого газа в камере образцов и низкое давление ( 10 Па) в измерит, камере. [c.332]

О.-а. с.-неразрушающий метод, позволяющий изучать те же в-ва, что и абсорбц. спектроскопия, в любом агрегатном состоянии при т-рах от 4 до 1000 К. Для исследования достаточно неск. см газа, неск. мкл жидкости или неск. мг твердого в-ва. Коэф. поглощения образца (см. Абсорбционная спектроскопия) могут варьировать в широких пределах-от 10 (в случае газов от 10 ) до 10 см Форма и структура твердых образцов м б. любой эффекты, связанные с рассеянием света, оказывают незначит. влияние на результаты измерений. Т.к. изменение частоты модуляции приводит к изменению глубины, на к-рой возникают акустич. сигналы, метод позволяет проводить послойный анализ [c.388]

Достоинства физ. методов простота пробоподготовки (в большинстве слу в) и качественного анализа проб, ббльшая универсальность по сравнению с хим. и физ.-хим. методами (в т. ч. возможность анализа многокомпонентных смесей), широкий динамич. диапазон (т. е. возможность определения основных, примесных и следовых составляющих), часто низ кие пределы обнаружения как по концентрации (до 1(Н% без использования концентрирования), так и по массе (l( -10 г), что позволяет расходовать предельно малые кол-ва пробы, а иногда проводить неразрущающий анализ. Многие Ф. м. а. позволяют выполнять как валовый, так и локальный и послойный анализ с пространств, разрешением вплоть до моноатомного уровня. Ф. м. а. удобны для автоматизации. [c.94]

Хотя относит, пределы обнаружения высоки (10 -10 %), абсолютные пределы обнаружения достигают очень низких значений- 10 -10 г благодаря высокой локальности (L Lii 1 мкм). В спец. методах РСМА удается проводить количеств, анализ субмикронных слоев и послойный анализ с разрешением по глубине ц<0,1 мкм. При количеств, анализе гетерогенных материалов необходимо учитывать эффекты гетерогенного фона (см. Локальный анализ) вблизи межфазных границ (причем зона действия таких эффектов может существенно превышать и достигать десятков и даже сотен мкм). [c.444]

На рис. 10.2-13 изображена конфигурация оже-спектрометра. Определение кинетической энергии проводят при помощи анализатора типа цилиндрическое зеркало (при данном потенциале между внутренним и внешним цилиндром детектора достигают только электроны с определенной энергией), характеризующегося постоянным спектральным разрешением во всем диапазоне. Оже-спектрометры комплектуются небольшой ионной пушкой (Аг+), используемой для удаления загрязнений с поверхности образца и для ионного распыления при послойном анализе (получения профиля концентраций по глубине). Часто таким способом возможна пробоподготовка in situ (в спектрометре), при которой получают чистые поверхности, не загрязненные атмосферными примесями. Различные приставки позвол5иот манипулировать образцом — проводить раскалывание, отжиг, нанесение тонких пленок. [c.340]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология