Анализ поверхности

В разделе 5.4 указывалось на важность сочетания разных методов исследования поверхностных соединений. Количественное определение углерода и других элементов в модифицирующих поверхность соединениях производится элементным анализом, а ИК спектры помогают установить, какие именно группы и в каком количестве содержатся в поверхностном соединении. Содержание элементов в поверхностных соединениях можно определить с помощью зондирующего воздействия различных пучков на поверхность твердого тела, служащего рассеивающей мишенью для такого воздействия. Для зондирования используются направленные пучки фотонов, электронов, ионов илц атомов, вызывающие эмиссию вторичных частиц (также фотонов, электронов, ионов или атомов), лзучение которой и позволяет судить о свойствах мишени. Помимо элементного анализа, с помощью зондирующего воздействия на поверхность в благоприятных случаях можно получить сведения о структуре поверхности и адсорбции на ней. В табл. 5.4 представлены некоторые из этих методов. Перечисленные в таблице методы. анализа поверхности, за исключением рентгеновской эмиссионной спектроскопии, позволяют исследовать поверхностные слои на глубину менее 10 нм. В этих методах зондирование поверхности и ана--лиз рассеиваемых или эмиттируемых частиц проводится в очень высоком вакууме. Для дополнительной очистки поверхность часто подвергается предварительной бомбардировке частицами высокой энергии, обычно аргонной бомбардировке. С этим связаны ограничения в применении некоторых из этих методов для исследования поверхности недостаточно стойких адсорбентов. Преимуществом этих методов является возможность локального исследования не- [c.109]

По способу регистрации спектра все спектральные методы разделяются на визуальные, фотографические и фотоэлектрические, а спектральные приборы — на спектроскопы (стилоскопы), спектрографы и спектрометры (квантометры). Наиболее важными частями спектральных приборов являются диспергирующее устройство и щель прибора, так как спектральная линия— это ее монохроматическое изображение. Основной деталью щели являются ее щечки. Промежуток между щечками должен быть правильной формы,. края имечек строго параллельны и скошены в виде ножа, чтобы отраженный от них свет не попадал в прибор. Щечки раздвигаются с помощью микрометрического винта, позволяющего устанавливать ее ширину с точностью до 0,001 мм. Рабочая ширина щели составляет 0,005—0,020 мм, поэтому малейшее ее загрязнение приводит к искажению спектра и ошибкам U анализе. Поверхности ножей щели очищают заостренной палочкой из мягких пород дерева (спичка). Не рекомендуется проводить очистку металлическими [c.650]

Большая выносливость в области III, по существу, представляет предельное значение выносливости материала. Зависимость Мр от а очень слабая. Начало роста трещины характеризуется очень длительным инкубационным периодом. Кроме того, анализ поверхностей разрушения при усталостном ослаблении в данной области показывает, что медленный рост трещины происходит в две фазы. В первой фазе, по-видимому, не образуются трещины серебра, а вторая подобна ослаблению в области II. [c.294]

Особое место занимают такие методы анализа поверхностей, как комбинированная фотоэлектронная спектроскопия илн электронная оже-спектроскопия. Эти методы позволяют установить распределение элементов в слоях твердых тел, а также проводить градиентный анализ по глубине. Это физические методы исследования структуры, но с их помощью можно с, очень большой чувствительностью определить следовые количества элементов. Однако из-за высокой стоимости оборудования и необходимости высококвалифицированного обслуживающего персонала методы все еще применяют только в специализированных лабораториях. [c.417]

Ртутные электроды с обновляемой поверхностью. В полярографическом анализе поверхность поляризуемого электрода должна сохраняться чистой и неизменной в течение всего процесса электролиза. Поэтому широкое применение получил капельный электрод, у которого время от начала образования до отрыва капли можно варьировать в широких пределах, изменяя давление ртути и размер капилляра. Практически время жизни капли (период капания) лежит в пределах 1—6 сек. Радиус капли перед отрывом равен обычно 0,4— [c.195]

Как показывает практика анализа поверхности, полезно представлять Е(х) [или Е(К)] в аналитической форме. Важно, чтобы [c.106]

В тех случаях, когда реакционная система слишком сложна и измерение ключевых компонентов ее во время протекания реакции представляет большие трудности, когда работы должны быть проведены в сжатые сроки или отсутствуют достаточные экономические стимулы для изучения кинетики реакции, вместо кинетических исследований можно использовать метод, основанный на анализе поверхностей поведения системы. Этот метод позволяет эффективно и экономично оценить поведение системы при изменении до шести параметров в широких пределах. Однако он не дает возможности экспериментатору вычислить показатели системы при значениях температуры, давления и расхода, которые не могут быть экспериментально проверены при помощи наличного оборудования или аппаратуры. [c.26]

Микрозонд Поверхность облучают пучком электронов высокой энергии. Возбуждаемое рентгеновское излучение используют для химического анализа поверхности [c.151]

Следует отметить, что в упомянутом исследовании сплавов, содержащих Sn и Sb [239], образцы подвергались термообработке при достаточно высокой температуре, когда сера не оказывает влияния на поведение материала [246]. В последующих же исследованиях, в которых, однако, не проводился анализ поверхности разрушения методом оже-электронной спектроскопии [251], использовались термообработки в области температур, приводящих к сульфидному охрупчиванию [246]. Сера может вызывать охрупчивание даже при концентрациях порядка 10 % [248] и поэтому при интерпретации результатов следует проявлять осторожность и не смешивать влияние водорода и серы [246, 252]. [c.110]

Сведения, которые были приведены, основываются на следующей технике визуальные наблюдения, измерения тока в процессе растрескивания, измерения акустической эмиссии и анализ поверхности разрушения. [c.384]

Анализ поверхности разрушения. На основании изучения поверхности разрушений сделано заключение [196], что процесс коррозионного растрескивания является прерывистым. [c.388]

Рентгеноструктурный анализ поверхностей трения цапфы траверсы и подшипника основной ноги шасси показал, что в резуль- [c.10]

Рентгеноструктурный анализ поверхностей трения двойной шестерни показал, что в результате износа в условиях схватывания [c.20]

Металлографический анализ поверхностей трения образцов первой и второй серии испытаний подтвердил основные положения разработанной классификации. [c.71]

Металлографический анализ поверхностей трения полностью подтверждает эти положения для металлов четвертой группы (фиг. 55). [c.73]

Для неорганического анализа можно использовать и масс-спектрометрию вторичных ионов (МСВИ). Однако этот метод применяется в основном для анализа поверхности и локального микроанализа. Поэтому данный метод рассматривается в разд. 10.2. [c.133]

ИК-спектроскопия и КР- (комбинационного рассеяния, или рамановская) спектроскопия принадлежат к группе молекулярных колебательных методов, которые вместе с ЯМР-спектроскопией (спектроскопией ядерного магнитного резонанса), масс-спектрометрией, и хроматографией составляют основу современного органического анализа, включающего структурный анализ, микроанализ и анализ поверхности. [c.164]

Анализ поверхности методом ИК-спектроскопии. [c.183]

Ознакомиться с важнейшими методами анализа поверхности и локального анализа — методами, основанными на использовании неподвижных и сканирующих сфокусированных пучков электромагнитного излучения, электронов, ионов соответственно—фотонно-зондовыми, электронно-зондовыми и ионно-зондовыми методами, полевыми зондовыми и сканирующими (растровыми) зондовыми методами. [c.311]

В докладе Комитета по развитию химических наук Национальной академии наук США [10-1] говорилось, что наука о поверхности является одной из наиболее быстро развивающихся областей физических наук . Поэтому задача анализа поверхности и межфазных границ ( внутренних поверхностей ) приобрела особую значимость в современной аналитической химии. [c.311]

Столь значительная роль анализа поверхности и межфазных границ вытекает из возможности получения информации о важных фундаментальных химических процессах, происходящих на поверхности, — коррозии, адсорбции, хемосорбции, окислении, пассивации, диффузии, сегрегации, а также о реакционной способности веществ. Получаемая информация в большой степени способствует развитию процессов, материалов и приборов для высоких технологий. [c.311]

Анализ поверхностей и межфазных границ наиболее важен для задач материаловедения, особенно для разработки и производства катализаторов, полупроводников, устройств микроэлектроники, металлов, керамик, стекол, тонкопленочных структур, полимеров и композиционных материалов. [c.311]

Глава 10. Локальный анализ и анализ поверхности [c.312]

Межфазные границы представляют собой внутренние поверхности, определяющие многие свойства материалов, такие, как коррозионный потенциал и механическую прочность. Анализ межфазных границ тесно связан с анализом поверхности. В некоторой степени для анализа межфазных границ используют те же методы, что и для анализа поверхности. Однако в первом случае требуется дополнительно высокое пространственное разрешение (локальность) методов (на уровне микро- и нанометров), основанных на тех же или подобных процессах генерации сигналов, которые используются и при анализе поверхности. Вследствие этого в данной главе мы совместно разберем методы анализа поверхности и межфазных границ. [c.312]

При выборе метода для анализа поверхности или межфазных границ мы должны учитывать не только тип требуемой информации, но и специфические свойства малой пространственной области, которую нужно исследовать. Обычно эти характеристики поверхностей и межфазных границ определяют свойства материала и их, следовательно, необходимо определить [c.313]

Только обладающие уникальными аналитическими характеристиками физические методы могут соответствовать высоким требованиям анализа поверхности и межфазных границ. [c.313]

В этой главе мы попытаемся кратко изложить основы, инструментальные аспекты и области применения основных методов анализа поверхности и межфазных границ. Методы будут разделены в соответствии с используемым типом воздействующих частиц или полей фотонно-зондовые, электронно-зондовые, ионно-зондовые и полевые зондовые методы. [c.314]

Кроме того, в различных журналах по аналитической химии часто публикуют работы, посвященные анализу поверхности и межфазных границ, представляющие интерес для аналитиков-практиков. [c.314]

Эти методы анализа поверхности классифицируют в соответствии с видом зондирующего воздействия и типом эмиттируемых частиц. Анализ последних позволяет получать информацию о природе частиц, их пространственном и эиергетическсьм распределен.ии [c.246]

Самой простой обменной реакцией является реакция атома с двухатомной молекулой А -г ВС АВ М- С. Теоретический анализ поверхности потенциальной энергии показывает, что наиболее выгодной энергетически является линейная структура переходного состояния, которая обеспечивает минимальное отталкивание атомбв А и С. Согласно теории активированного комплекса константа скорости такой реакции равна (см с ) [c.100]

Сведения о химическом составе иногда можно получить с помощью рентгеновского или электронно-лучевого анализа поверхности покрытия или металлографическим исследованием щлнфа готового изделия (под микроскопом или при использовании электронного микроанализатора). [c.135]

Опыт анализа поверхностей поведения системы вскоре убедил иследо-вателей в том, что поверхности выхода, степени превращения, чистоты и стоимости, найденные в лабораторном и полузаводском масштабе, обычно смещаются и деформируются при переходе к промышленному масштабу. Эти изменения вызываются различиями условий теплообмена, диффузии, перемешивания и т. д. Таким образом, независимо от первоначально использо-в анных способов определения стандартного режима процесса всегда возникают трудности в части прогноза эксплуатационных показателей технологических установок при переходе к промышленному масштабу. [c.19]

Только квалифицированный аналитик способен понять общую концепцию каждой конкретной методики, ибо только он овдает себе отчет в ее характеристиках по точности и прочих и может принять необходимые меры, чтобы избежать неверной постановки задачи. Уже на этой стадии возможно разработать предварительный план анализа в виде комбинации отдельных блоков, включая условия отбора, хранения и подготовки пробл (см. разд. 2.2). В дальнейшем должно стать ясно, какого рода методы анализа следует использовать. Это М017Т быть, в частности, некоторые стандартизованные процедуры, призванные определить некоторое обобщающее свойство, методы анализа поверхности, определения следовых ссщержаний (см. гл. 10), методы анализа объектов окружающей среды, пищевых, промышленных продуктов и т. д. [c.47]

Не все образцы, представляющие практический ину жс, например полимеры, можно тонко измельчить и сформировать гомогенные таблетку на сно-ве КВг. Для анализа поверхностей полимеров, волокон, паст порошков и даже водных растворов очень хорошо зарекомендовал себя специальный метод, называемый спектроскопией нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) (рис. 9.2-15). Мы опишем лишь суть этого метода. Детальное изложение можно найти, например в монографии Н. Харрика (см. список литературы на с. 199). [c.183]

Масс-спектрометрия применяется очень широко можно выделить четыре основные области ее использования. В данной главе рассматривается аналитическая масс-спектрометрия органических соединений. Применение масс-спектрометрии для неорганического анализа уже обсуждалось вьш1е (см. разд. 8.5). Неотъемлемой частью масс-спектрометрических процессов являются газофазные ионные реакции, которые, очевидно, можно использовать в аналитических целях, но также и для исследований, касающихся, например, выяснения механизмов реакций в органической химии (это отдельная область органической масс-спектрометрии). И наконец, масс-спектрометрию можно использовать для анализа поверхности (например, масс-спектрометрия вторичных ионов) [c.255]

В настоящее время для анализа поверхности и межфазных границ реально используют более 30 методов. Около 15 из них считаются основными. Наиболее значимыми методами, широко используемыми в промьш1ленности, являются рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), электронная [c.313]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология