Структура пленки

При использовании водно-ацетонового растворителя для ацетатцеллюлозных мембран подсушку нередко проводят в атмосфере ацетона при комнатной температуре для того, чтобы не допустить слишком быстрого испарения растворителя, так как это может повлечь за собой разрушение структуры пленки. Подобный прием используется при получении мембран из полиакрилонитрила, полистирола и др. (табл. П,1). [c.50]

В настоящем сообщении описываются разработанная нами технология получения ориентированных УНТ на медной подложке, а также данные о структуре пленок, состоящих из ориентированных нанотрубок. [c.211]

Конденсацией из пара в вакууме получают пленки из чистого металла или сплава. Сплавы готовят одновременным испарением отдельных компонентов со сплава из разных испарителей с последующей термической обработкой для диффузионного выравнивания состава. Структура пленки металла или сплава существенно зависит от ее толщины, скорости испарения, материала и температуры подложки. При конденсации образца на подогретую моно-кристаллическую подложку можно получить практически моно-кристаллическую пленку, пригодную для многих исследований. Толщину пленки рассчитывают по формулам [c.105]

Проводят сравнительный анализ спектральных и оптических результатов исследования состава и структуры пленок, образующ ихся на поверхности германия при его обработке различными травителями. [c.146]

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ ПЛЕНКИ [c.203]

Изучение пористости пленок ЗЮ на кремнии. Пленки ЗЮ , используемые в технологии полупроводниковых приборов, не должны содержать сквозных пор. Неудовлетворительная сплошность пленок часто является причиной технологического брака. Макродефекты структуры пленки обычно представляют собой поры, образую-ш,иеся при несовершенном росте окисла, границы кристаллов (если стеклообразная пленка склонна к рекристаллизации) микротрещины, формирующиеся из-за несоответствия коэффициентов термического расширения подложки и пленки. Последние два вида макродефектов встречаются на относительно толстых пленках и могут быть устранены изменением технологического режима. Причиной порообразования могут быть определенные виды загрязнений и структурных дефектов на исходной поверхности кремния. Часто поры могут образовываться за счет окклюзии (захвата) газов, а также при слиянии точечных дефектов (вакансий) в кластеры. Наличие пор в значительной мере осложняет использование оксидной пленки в качестве маскирующего покрытия (поскольку поры являются каналами диффузии) и для изоляции (вследствие возможных замыканий алюминиевой разводки на тело прибора). Как пассивирующее покрытие пленка также непригодна, потому что при этом не обеспечивается герметичность структуры. [c.122]

Электрические методы используют для изучения структуры пленок, а также для исследования химических реакций в них. Классический метод, разработанный Фрумкиным в 1924 г., заключается в измерении электрического потенци 1ла пленки . В этом методе полярные молекулы рассматривают как диполи, а пленку —как электрический плоский конденсатор. Электрический вектор диполя направлен вдоль геометрической оси длинноцепочечной молекулы. Если в общем случае угол между этим направлением и нормалью равен 0, то электрический момент конденсатора (на 1 см площади пленки), равный произведению заряда q (Кл/см ) на толщину конденсатора й, должен быть равен сумме молекулярных моментов [c.99]

На диффузионные свойства полимерных покрытий оказывает влияние структура пленки, которая зависит от природы полимера и способа его нанесения. [c.128]

Полимер имеет аморфную структуру, пленка его прозрачна, бесцветна [c.816]

Такой метод определения толщины черных пленок носит чисто качественный характер. Кроме того, в процессе подготовительных операций структура пленки может претерпевать существенные изменения, на что указывалось в работе [83]. Основное достоинство электронно-микроскопического метода заключается скорее не в возможности определения толщин черных пленок, а в сравнении картин срезов пленки и нативных клеточных мембран, которые, как показывает эксперимент, оказываются подобными. [c.76]

Для определения состава черных углеводородных пленок, полученных из меченых препаратов, Хенн и Томпсон [951 предложили использовать их поперечные срезы, приготовляемые для исследования под электронным микроскопом, но, как указывалось ранее, при получении этих срезов структура пленок может претерпевать существенные изменения. [c.77]

Показатели преломления п , иц и тем самым величину дву-лучепреломления Я = п ц — п . можно определить независимо из измерений угла Брюстера при изменении показателя преломления внешней среды опять же при допущении, что толщина и структура пленки остаются неизменными. Для этого по экспериментальным данным строится функция 1 [c.114]

Когда структура пленки и ее плотность не ясны, толщину пленки выражают обычно в единицах количества электричества, т. е. в кулонах на квадратный сантиметр = О/у А). Пример. измерений приведен на рис. 65. [c.191]

Степень смачивания расплавом металла металлизированных поверхностей неметаллов определяется в основном количеством напыленного металла (толщина пленки) структурой пленки (сплошная, островковая) адгезионным притяжением пленка — подложка, что определяет форму островков и легкость коагуляции смачиваемость продуктов реакции пленка — подложка растворением пленки в расплаве. [c.23]

Исследована смачиваемость в системах Си — Мо — 5102 (1150° С), Си — Мо — А)2 Оз (1150 С), Си — Мо графит (1150 С), Ай — Мо — А1А (1000 С). 5п — Мо — ЗЮз (900—1150 С), 5п — Мо графит (900 С), Зп — V — 310. (900 С), Зп — V графит (900 С), РЬ — Ре—3102 (700° С), РЬ—Ре графит (700° С). Изучено влияние структуры и физико-химических свойств тонких металлических пленок, нанесенных на неметаллические материалы, на смачиваемость расплавами металлов. Для каждой из изученных систем установлены критические толщины смачивания металлической пленки (наименьшая толщина пленки, при которой наступает смачивание такое же, как и компактного материала пленки). Полученные величины критических толщин смачивания объяснены в зависимости от структуры пленки, ее взаимодействия с подложкой, температуры опыта и ряда др. факторов. Табл. 2, рис. 7, библ. 1. [c.222]

Исследование условий получения структуры и свойств тонких пленок (и. о. проф. М. В. Белоус). За последние годы было проведено изучение электрофизических, адгезионных и технологических свойств, а также кристаллической структуры пленок, полученных вакуумным испарением сплавов на основе меди, хрома, нихрома, кобальта, тантала и других. Изучены закономерности формирования структуры указанных сплавов и установлено, что наиболее перспективными с точки зрения использования в качестве проводящих пленочных элементов являются сплавы на основе меди нихрома и тантала. Часть полученных и исследованных пленок использовалась кафедрой теоретических основ радиотехники КПИ в соответствующих схемах. [c.69]

При наличии сферолитной структуры пленки становятся мутными, если диаметр сферолитов превышает половину длины волны света и если сферолит неоднороден по плотности и по показателю преломления. [c.86]

Простейшими примерами могут служить задачи о корреляциях нескольких молекулярных групп, находящихся в среде на больших расстояниях друг от друга (с решением этих задач методом асимптотического суммирования можно познакомиться по обзорной статье [47, стр. 72]), о молекулярной структуре пленок [6, 14, 18, 19] и т.п. [c.211]

Впервые была получена новая твердотелая углеродная структура -пленка из коаксиальных углеродных нанометровых трубок. [c.53]

Рис. 10.5-И. Поверхностная шероховатость и структура зерен слоев 8г8, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (толщина пленки 500 нм). Размер аналитической области 1 мкм х 1 мкм, глубина шкалы 300 нм от черного до белого, а —нанесение слоя при 300°С, среднеквадратичная шероховатость 15 нм, размер зерна от 50 до 100 нм б —нанесение слоя при 400°С приводит к более грубой структуре пленки, среднеквадратичная шероховатость 33 нм, размер зерна от 150 до 200 нм [10.5-14].

В работе [31] исследовано влияние твердой поверхности на надмолекулярные структуры в сшитых полимерах и найдено, что характер надмолекулярных структур определяется типом подложки и зависит от густоты пространственной сетки полимера. В этой работе впервые проведен послойный анализ на разных расстояниях от поверхности и показано, что по мере удаления от поверхности характер морфологии изменяется и наблюдается переход от мелкоглобулярной плотноупакованной структуры к крупноглобулярной структуре с агрегацией глобул. Влияние поверхности на надмолекулярные структуры распространяется на большое расстояние от поверхности. Лишь при удалении более чем на 160 мкм структура пленок, сформированных на твердой поверхности, становится аналогичной структуре в объеме. [c.70]

Взаимодействием указанных выше факторов, а также, вероятно, и рядом других можно объяснить тот факт, что некоторые соединения (например, о-толилтиомочевина [41 ] в 5 % растворе Н2504) лучше ингибируют коррозию ири повышенной температуре, чем при комнатной. Скорее всего, это связано с усилением адсорбции или совершенствованием структуры пленки ири повышенных температурах. Некоторые другие соединения (например, производные хинолина) эффективнее в области более низких температур [41 ]. [c.270]

Значительное улучшение защитных свойств анодной пленки может быть достигнуто ее легиропанием, которое может быть достигнуто при формировании пленки из электролита, содержащего ионы других металлов, или при добавке со тей различных металлов — ацетата магния, никеля, кобальта, цинка, сульфата марганца и др. В этом случае ионы электролита входят в структуру пленки, прочно с ней сцеплены и цовышают ее коррозионную стойкость. Особенно положительным оказывается влияние легирования на коррозионную стойкость пленки при образовании в ее структуре оклслов шпинельного типа. [c.65]

Как видно из таблицы 2, пленки, полученные из Диализованного латекса, обладают значительно более высокой прочностью. Это можно объяснить удалением из латекса ири диализе части эмульгатора л существенным уменьшением адсорбционной насыщенности 1поверхности глобул. Послед-(Нее ведет к увеличению числа прочных контактов между глобулами в пленке. Как и в случае недиализованного латекса, упрочнение структуры пленки требует нескольких суток. Внешне пленки из диализованного латекса (получаются весьма однородными, прозрачными, без видимых дефектов. [c.125]

В связи с этими результатами интересны данные о влия- н,и.и ПВС на кинетику и степень намокания иленок в воде. Кривые, иредставленные на рисунке, показывают, что в присутствии ПВС намокаемость пленок резко снижается. Поскольку содержание эмульгатора во всех образцах одинаково, это может быть объяснено уплотнением структуры пленки и блокированием части гидрофильных полярных групп каучука и ПВС вследствие возникновения взаимодействия между ними. [c.127]

Различные пленкообоазовятели обрааяют—ппашт,-различными физическими свойствами. Некоторые пленки очень эластичны, другие тверды и прочны, некоторые тверды, но хрупки и т. д. Свойства пленки зависят от химического состава образующего ее полимера, структуры пленки, от вида и относительного содержания пластификаторов и других ингредиентов. Так, углеводородные пленки при отсутствии в полимере кратных связей обладают более высокими электроизолирующими свойствами и стойки к химическим воздействиям окружающей среды. Полимеры, содержащие полярные группы ОН, СООН и др., а также содержащие двойные связи, вследствие их более высокой реакционной способности обладают меньшей хими-[ ческой. стойкостью.у .......... ................................................................- [c.211]

Структура пленки мелона и характер ее связи с кремнеземом-носителем еще не изучены. Этот полимер нерастворим в воде и кислотах, а также в органических растворителях. Тонкая пленка мелона на силохроме термостойка до 450°С. [c.86]

Восстановительная активность переходных металлов ниже, чем непереходных. Электродные пс-тенциалы, характеризующие восстановительную активность, в основном являются функцией атомного радиуса, способности ионоз (практически низкозарядных) х гидратации, а также функцией устойчивости пленок, покрывающих -металлы. Последние зависят от многих причин структуры металла и структуры пленка (способности пленки схватываться с поверхностью металла], свойств продукта, образующего пленку, в частности от способности его растворяться в водных растворах. [c.496]

Кристаллическое совершенство. Исследования кристаллической структуры пленок проводятся обычными методами при помощи оптических и электронных микроскопов, снятием рентгенограмм и пр. Оптические методы позволяют определить степень монокристалличности, плотность дислокаций, дефектов роста в пленке, оценивать качество поверхности. Более детальное исследование возможно при помощи электронного микроскопа. Рентгеновские методы также позволяют определить степень кристаллического совершенства пленки. При снятии дифракционных рентгенограмм хорошие монокристаллические пленки не дают колец Дебая даже при очень длительной экспозиции. Наличие последних указывает на некоторую разориецтацию эпитаксиального слоя или на его поликристалличность. [c.143]

Присутствие окислов на поверхности металлов, пассивных по отношению к агрессивным водным растворам, показано многочисленными исследованиями. По составу и структуре пленки, возникающие на поверхности металлов под действием анодной поляризации или окисления в водных растворах, как правило, очень близки к пленкам, образующимся при химическом окислении в газе. Так, на железе, запассивированном различными окислителями в кислых и нейтральных растворах, неоднократно обнаруживалось соединение с решеткой, характерной для окислов типа Рез04 или уР гОз, входящих в состав железной окалины. Это сильный аргумент в пользу того, что окисел подобного типа действительно представляет вещество, из которого построена пассивная пленка. [c.434]

После стадии, на которой происходит слияние островков, структура пленки напоминает сетку. Электропроводность таких пленок, связанная с островками, мостиками и зазорами между ними, очень чувствительная к физическим и электрическим изменениям прежде всего нитевидных мостиков из-за старения, отжига и адсорбции. Температурный коэффициент сопротивления такой пленки есть сумма положительного металлического (островки) и отрицательного активационного (зазора) вкладов. Электропроводность пористых пленок в значительной степени определяется рассеянием на межгранулъных границах, диффузным рассеянием от поверхностей зерен и межгранульным туннелированием. Этими же механизмами определяется электропроводность сплошных сильно гранулированных пленок различных материалов, таких как тугоплавкие металлы. Сложный механизм электропроводности пористых пленок труден для анализа [3]. По мере заполнения сетчатой структуры пористость убывает, пленка в конце концов становится сплошной. [c.490]

Объектами исследования служили пoJшвиниJЮвый спирт (ПВС) марки 16/1 (ГОСТ 10779-78) со средней молекулярной массой 60 ООО и содержанием ацетатных групп 1,5 % и протеолитический фермент - пепсин говяжий с молекулярной массой 35 ООО Пленки получали поливом из 12%-ного водного раствора ПВС и композиции ПВС с ферментом в количестве 5% (на полимер) на поверхность стекла с помощью фильеры с последующей криообработкой при 225 К Химические и структурные изменения в полимере исследовали методом ИК-Фурье спектроскопии как в режиме пропускания, так и методом многократного нарушенного полного внутреннего отражения (МНПВО). Структуру пленок изучали также с помощью [c.214]

При уплотнении изменяется структура пленки и поры закрываются. Повышаются защитные свойства пленкн, ее светостойкость, так кэк адсорбированный при окрашпзарни пленки краситель предохраняется от атмосферного воздействия кислорода воздуха и влаги Унтотнсния производят в кипящей воде, пропиткой маслами, воском, парафином и т д, обработкой в разных растворах, гидрофобнзацией нли лакированием [17, 19]. [c.252]

Для оценки изменения структуры пленки, испытывавшейся по ускоренной методике [7], использовали TJj и температуру хрупкости 7 . Температуру стеклования пленок определяли по изменению оптической разности хода, пропорциональной Ап, в интервале температур от 213 до 333 К при напряжении 1,5 Н/мм и скорости изменения температуры 274—275 К/мин из термооптических кривых по точке пересечения продолжений двух ветвей кривой — горизонтальной и крутовосходящей. Горизонтальная ветвь соответствует стеклообразном состоянию пленки, а крутовосходящая - высокоэластическому. С повьццением температуры испытания температура стеклования пленок возрастает. [c.38]

Структура битумов III типа в упруго-пластическом состоянии ппретеляется сопряженными структурами из агрегатов илп иных вторичных образований асфальтенов и структуры пленок смол, адсорбированных на внешней лиофильной поверхности асфальтенов. [c.98]

Поскольку Ас Пх—Ио, то D практически является линейной функцией относительно — п . Изменяя показатель преломления внешней среды Hq в предположении, что толщина и структура пленки остаются при этом неизменными, и измеряя оптическую отражаемость, можно определить показатель преломления и толщину Я, не прибегая к измерениям утла Брюстера. Изменение Ид может быть достигнуто добавлением в водную среду электролитов Na l, a lg или сахарозы. [c.111]

Этот экспериментальный факт, по-видимому, можно объяснить тем, что адгезия пленок молибдена к графиту больше, чем на окисных подложках и, следовательно, сплошность пленки должна наступить при меньшей общей толщине пленки. По-видимому, также нужно учитывать, что при взаимодействии молибдена с графитом образуется карбид молибдена, смачивающийся металлом гораздо лучше, чем окисные соединения молибдена. В системе С — Мо — 8п (Гоп = 900° С) критическая толщина равна, как и в системе С — Мо — Си (Гоп = П50° С), 200 А. Это можно объяснить тем, что уже при температуре 900° С взаимодействие пленки с подложкой настолько велико, что дальнейшее повышение температуры до П50° С не очень сказывается на структуре пленки. Если взаимодействие пленки с подложкой сильное, то продукты реакции смачиваются хуже, чем металл пленки, критическая толщина сдвигается в сторону больших толщин.Так, в системе С — Ре — РЬ критическая толщина при температуре опыта 700° С составляет 1000 А, а в системе С — V — 5п (Гоп = 900 " С) сч> 700 А. Эти данные соответствуют времени отжига пленок не больше 5 мин. При отжиге больше 5 мин получаются нестабильные результаты и критическая толщина сдвигается еще больше в сторону увеличения толщины пленки. Действительно, убыль свободной энергии АР при образовании карбидов молибдена Жо С и карбида железа РедС приблизительно одинакова и равна 0,75 ккал моль (700° С) а для карбидов ванадия она значительно больше — 26,1 ккал1моль (900° С), что находится в хорошем соответствии с полученными данными по смачиванию. [c.25]

В литературе [4] описаны различные методы исследования структуры пленок, ориентированных в двух взаимно иерпенд1 ку-лярных направлениях (рентгеновская дифракция, двойное лучепреломление, инфракрасный дихроизм, рассеяние света, ядерный магнитный резонанс, магнитная анизотропия, а в известной степени таклсе изучение механических и электрических характеристик). [c.280]

Рассмотрим результаты измерения пористой структуры пленок ПТМСП в результате их старения. [c.66]

Рентгеноструктурным анализом установлено, что по своему составу окисная пленка и при комплексонной обработке представляет собой магнетит. Однако электронно-микроскопическое исследование показало, что в данном случае структура пленки существенно отличается, кристаллы магнетита теряют правильные очертания (рис. 9-2), грани октаэдров сглаживаются, увеличивается число граней, вершины исчезают, кристаллы становятся округлыми и меньше различаются по величине, размеры их уменьшаются до 0,1 — 1 мкм. Свободные проходы между кристаллами вследствие их более плотной упаковки, определяемой видом и размером кристаллов, становятся очень малыми, В результате несмотря на то, что суммарный периметр кристаллов магнетита увеличивается, площадь прохода к металлу для кислорода резко умеиь- [c.90]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология