Аргон распределение электронной плотности

У последнего элемента 3-го периода — аргона Аг (как и у Ые) завершается заполнение 5- и р-орбита-лей, т. е. внешний слой представляет собой совокупность четырех двухэлектронных облаков (одного в форме шара, трех других — в форме гантели). По максимумам распределения электронной плотности (рис. 10) можно различить К-, - и М-слон. [c.25]

У последнего элемента 3-го периода — аргона Аг (как и у Ые) завершается заполнение х- и р-орбиталей. Его внешний слой (слой М) представляет собой совокупность четырех двухэлектронных облаков (одного в форме шара, трех других — в форме гантели). У атомов элементов 3-го периода в двух первых квантовых слоях (К и ) повторяется электронная конфигурация атома неона (I я 2я 2р"). На рисунке II по максимумам распределения электронной плотности в атоме аргона можно различить К-, L- и Л1-слои. [c.28]

Рис. 10. Распределение электронной плотности в атоме аргона

Следовательно, для веществ, адсорбция которых происходит в результате дисперсионного взаимодействия (азот, аргон, криптон), молекулярная площадка адсорбата в монослое изменяется сравнительно мало. Для молекул с неоднородным распределением электронной плотности значение со сильно возрастает по мере увеличения степени химического модифицирования поверхности. [c.29]

Влияние поля на электронные орбиты центрального иона легко рассмотреть на примере иона с одним З -электроном сверх заполненной оболочки аргона, например на Находим такие линейные комбинации -орбит, которые преобразуются в соответствии со свойствами симметрии группы октаэдра, что проще всего сделать, пользуясь теорией групп. Оказывается, что в поле О/г-симметрии пятикратно вырожденный уровень распадается на два двукратно вырожденный уровень eg и трехкратно вырожденный t g (рис. 1). Соответствующие им действительные волновые функции обозначаются для % и для йху, йхг И йуг, распределение электронной плотности показано на рис. 2. Из рисунка видно, что области максимальной электронной плотности для бй-электронов направлены к вершинам октаэдра, а для 4ё Электронов—между ними. Поскольку кристаллическое поле создается либо отрицательными ионами, либо молекулами, отрицательные [c.109]

Поэтому М. М. Дубинин, анализируя данный случай адсорбции, приписал понятию молекулярная площадка два различных смысла. Один из них относится к случаю слабо локализованной адсорбции таких молекул, как азот и аргон, когда соо определяется размерами, занимаемыми молекулами в сплошном мономолекулярном слое. Во втором случае величина молекулярной площадки характерна для молекул с неравномерным распределением электронной плотности (бензол, вода) и адсорбированных на редко расположенных активных центрах поверхности, т. е. на оставшихся незамещенными гидроксильных группах. При таком варианте вычисляемые из экспериментальных величин йт молекулярные площадки по существу выражают среднюю поверхность адсорбента, приходящуюся на один адсорбционный центр. Это, по-видимому, и служит основной причиной сильного увеличения вычисленных по формуле [c.152]

Вакуумно-статическим и газохроматографическим методами изучены адсорбционные свойства и структурные характеристики карбонизованного углеродного волокна из гидратцеллюлозы. Показано, что карбонизованное углеродное волокно имеет развитую микропористую структуру с неравномерным распределением пор по размерам. Термическая обработка этого волокна при 3000°С в токе аргона приводит к резкому сокращению адсорбционной емкости и удельной поверхности и к гидрофобизации поверхности, а активирование в токе СО2 при 900°С, напротив, приводит к резкому увеличению суммарного объема пор и к более равномерному распределению по размерам мезопор, доля которых от общего объема пор не превышает 20%. Установлено, что последовательность величин удельных удерживаемых объемов и начальных теплот адсорбции различных адсорбатов на карбонизованном волокне, так же как и на графитированной термической саже, определяется в основном поляризуемостью их молекул и не зависит от величины дипольного момента и распределения электронной плотности. [c.104]

У последнего элемента 3-го периода — аргона Аг (как и у Ке) завершается заполнение,5-и р-орбиталей, т.е. внешний слой представляет собой совокупность четырех двухэлектронных облаков (одного в форме шара, трех других — в форме гантели). Распределение радиальной электронной плотности в атоме аргона показано на рис. 11. На этом рисунке по максимумам распределения электронной плоскости можно различить К-, I- и Л/-слои атома аргона. [c.33]

Если воспользоваться рассчитанными АО и построить графики функций электронной плотности, то легко увидеть, почему вышеупомянутые группы электронов названы оболочками. На рис. 2.8 в качестве примера изображено распределение электронного заряда в атоме аргона Аг [142], полученное суммированием вкладов от групп электронов (15) , (25) (2р) и 38) (3р) . [c.49]

Подобный способ выражения вероятности нахождения электрона с помощью как бы размазывания его и оценки плотности получаемого таким образом электронного облака особенно удобен при волновомеханическом рассмотрении многоэлектронных атомов. Сплошная линия на рис. П1-30 дает теоретически рассчитанное распределение электронной плотности для атома аргона. Как видно из рисунка, определенным электронным слоям (К, М) теории Бора — Зоммерфельда отвечают максимумы кривой. Однако значительная плотность электронного облака (т. е. вероятность нахождения электрона) сушествует и между слоями. Последние, таким образом, сколько-нибудь четко друг от друга не отграничиваются. Пунктиром показаны результаты проверки теоретического распределения путем расчета электронной плотности на основе экспериментальных данных по рассеиванию аргоном электронов. Как видно из рисунка, обе кривые практически совпадают. [c.86]

Хотя дисперсионная составляющая для катионов должна быть значительно меньше соответствующего вклада атомов кислорода решетки, даже для молекул с симметричным распределением электронной плотности наблюдается некоторое снижение адсорбции и теплот адсорбции с уменьшением плотности, как показано для адсорбции аргона на декатионированных морденитах [4]. Декатионирование представляет собой другой путь получения изоструктурных цеолитов с различной катионной плотностью. При декатиониравании путем кислотной обработки следует принимать во внимание возможность деалюминирования образцов [5, 6]. Снижение адсорбции СО2 с уменьшением содержания катионов в элементарной ячейке наблюдается и для синтетических эрионитов, отличающихся степенью декатионирования и деалюминирования (рис. 2, а). [c.192]

Рассмотрим еще раз свойства связей в твердых телах при помощи диаграмм электронной плотности. На рис. 61а и 616 приведены диаграммы электронной плотности для хлористого натрия и алмаза, а на рис. 62 схематически представлено изменение электронной плотности в зависимости от расстояния между соседними атомами для хлористого натрия, алмаза, магния и аргона. Эти четыре примера наглядно и убедительно иллюстрируют различия в распределении электронной плотности при четырех типах связей ионной, атомной, металлической связи и вандерваальсовой. В то время как при ионной связи существует область, в которой электронная плотность снижается до нуля, в случае алмаза мы не находим ее нулевого значения в области между атомами, так как именно здесь локализована электронная пара. Это относится также и к металлической связи, хотя в этом случае электроны не локализованы в определенном [c.176]

Что касается адсорбатов, то мы выберем в основном lИi кoлькo пар молекул, СХ0ДИ1.1Х но занимаемо иа поверхности площади или iro числу атомов углерода и но величинам общей поляризуемости, но резко различающихся по распределению электронной плотности в отдельных звеньях. Сюда входят молекулы азота (две л -связи и вызванный ими большой квадру-польпый момент) и аргона (сферически симметричная оболочка), этилена (я- и а-связи) и этапа (только а-связи), бензола (я- и а-связи) и к-гексана (только о-связи), диэтилового эфира (две свободные электронные пары у атома кислорода, большой периферический дипольный момент) и w-пен-тапа (только о-связи). Кроме того, мы сопоставим адсорбцию молекул, обладающих атомом кислорода с двумя свободными электронными нарами воды и метанола. [c.15]

Как и следовало ожидать, скорости нанесения пленок различных материалов, распыляемых при одинаковых условиях (плотность тока, геометрия системы и т. п.), близко связаны с коэффициентами распыления этих материалов. Однако вычисление скоростей нанесения прямо иэ коэффициентов распыления крайне сложно из-за отсутствия надежных данных по коэффициентам вторичной эмиссии, коэффициентам повторного распылення, распределению плотности катодного тока и т. д. Поэтому результаты, пр1шеденные в табл. 2, следует рассматривать при оценке скорости нанесения только как ориентировочные. Многие опубликованные результаты не скорректированы на вторичную электронную э.миссию и, кроме того, значения, приведенные в таблице, брались, как правило, из кривых для коэф-ф1щиентов распыления. Таким образом, ошибки, содержащиеся в указываемых величинах, могут достигать 20%. Приведены результаты только для бомбардировки мишеней ионами аргона, поскольку этот газ наиболее широко используется при нанесении пленок ионным распылением. Коэффициенты распыления для других нонов приведены в работе [3]. Если в таблице не указана ориентация мии еней, следует считать их поликристаллическими или аморфными. [c.454]