Электронная микроскопия определение кривых МБР

Несмотря на то что область температурного перехода для ДНК относительно узкая, она все же шире, чем можно было бы ожидать для длинной идеально уложенной спиральной структуры. Внутри этой области с помощью метода электронной микроскопии удалось обнаружить только полностью денатурированные или совершенно нативные структуры [239]. И вновь внутри этой области понижение вязкости быстро достигает предельного значения, а дальнейшее понижение вязкости происходит только при повышении температуры, что указывает на существование известного распределения специфических температур денатурации. Вполне обоснованное объяснение этого заключается в том, что вклад двух типов пар оснований в стабильность спирали различен. В таком случае тепловая денатурация должна была бы зависеть от относительного состава либо всей двуспиральной структуры, либо ее отдельных больщих участков. Показано, что температуры плавления (т. е. точки перегиба на кривых зависимости оптической плотности от температуры), определенные в стандартных условиях (0,15 М хлористого натрия в 0,015 М цитрата натрия) для большого числа дезоксирибонуклеиновых кислот, различающихся по составу оснований, прямо пропорциональны содержанию гуанина и цитозина в нуклеиновой кислоте (рис. 8-20) [240]. Линейная зависимость температур плавления от содержания гуаиин-цитозиновых иар исключительно точна, и поэтому измерение этих температур может быть использовано для определения нуклеотидного состава данной ДНК [241, [c.574]

В связи с возможностью исследования дисперсных материалов с помощью электронного микроскопа иногда высказывается мнение, что рентгеновские методы измерения дисперсности утратили свое значение. Но такое заключение недостаточно обосновано и неправильно. Эти два метода следует рассматривать как дополняющие, но отнюдь не исключающие друг друга. С помощью электрон -ного микроскопа можно получить более полную характеристику дисперсности путем определения кривой распределения кристаллов по размерам, что, правда, представляет собой трудоемкую задачу. Величина же средней дисперсности определяется рентгенографически, причем для этого можно использовать рентгенограмму, полученную при фазовом анализе. Исследование активной окиси магния, проведенное рентгеновской лабораторией и лабораторией технического катализа Института имени Л. Я. Карпова , показало, что величина средней дисперсности, определенная рентгенографически, хорошо согласуется с величиной удельной поверхности, определенной адсорбционным методом—значительно более трудоемким, чем рентгеновский. Результаты методической работы в этом направлении изложены в докладе Н. Г. Севастьянова (см. стр. 85). [c.18]

Томасу и Гаррису 32 удалось расширить диапазон исследуемых размеров частиц, используя полидисперсный аэрозоль, образованный путем испарения капелек распыленного разбавленного раствора полистирола в четыреххлористом углероде. Для определения счетной концентрации и размера частиц авторы использовали электронный микроскоп и нашли для асбесто-шерстяного фильтра отчетливый пик на кривой проскока при радиусе 0,06 мк. Такой же [c.211]

Заметим, что точное определение физической и химической природы таких мелких частиц, как ядра конденсации, является трудной задачей. С помощью оптического микроскопа можно измерить лишь крупные ядра. Электронный микроскоп позволяет измерить более мелкие ядра но из-за высокого вакуума и нагревания электронным пучком происходит значительное испарение воды и других составляющих ядер, и на фотографиях получаются лишь сухие остатки ядер. Многие ядра представляют собой более или менее гигроскопические частицы их конденсационная активность видна на рис. 12.2. Верхняя кривая, показывающая, при какой относительной влажности будет происходить конденсация на капельках чистой воды разного размера, относится равным образом [c.380]

При исследовании деформационно-прочностных свойств студней желатины было установлено [150], что при определенной величине напряжений наблюдается упрочнение системы. Это выражается в появлении излома в этой области напряжений на деформационно-прочностных кривых, свидетельствующее об увеличении модуля упругости системы, а также в исчезновении пластических деформаций на кривых кинетики деформаций. Методом электронной микроскопии установлено, что причина этого явления связана с образованием пор в этой области напряжений. Из сравнения структуры желатины до создания в ней напряженного состояния и структуры той же желатины, возникшей под действием напряженного состояния, следует, что при определенной величине напряжений формируется пористая структура (рис. 3.36). Около пор образуется слой с правильно ориентированной фибриллярной структурой. С увеличением радиуса пор плотность упаковки структурных элементов в ориентированном слое возрастает. [c.179]

У ниобия при 375° С скорость окисления равномерно уменьшается со временем, и при 400° она падает, пока не достигнута определенная толщина (соответствующая 60—80 мг см-), а затем увеличивается кривая становится линейной. Окисел, который под электронным микроскопом во время понижения скорости окисления выглядит гладким и плотным, начинает изменяться, когда приближается линейный период. Большая часть поверхности еще покрыта сплошной пленкой, вероятно защитной, с цветами побежалости, но местами имеются трещины в линейной области вся поверхность покрыта грубым белым окислом. Очевидно, что потеря защитных свойств вызвана механическим разрушением пленки внутренними напряжениями. Такое разрушение по причинам, аналогичным тем, которые описаны в сноске на стр. 29, может произойти только после того, как достигнута определенная толщина пленки. При более высоких температурах разрушение происходит при несколько меньших толщинах. При 375 и 425° С начальная часть кривой после некоторого отклонения соответствует параболе [16]. [c.37]

Следовательно, удельная поверхность 5 вычисляется из значений ко только при условии, что можно оценить интеграл /. Для такой оценки явно необходимо выразить и в виде функции от г, т. е. требуется точное представление о форме потенциальной кривой (см. рис. 7). Однако кривые подобного вида до сих пор были рассчитаны только для относительно простых систем, например для атомов аргона, адсорбированных на графите, и только для открытых поверхностей или для твердых тел с весьма широкими порами. Более того, результаты расчетов удельной поверхности твердых тел заметным образом зависят от выбранной формы закона взаимодействия и от природы адсорбата, как это следует из работы Баркера и Эверета [20]. Эти авторы предложили улучшенную модель, в которой адсорбированная фаза рассматривается как двумерный газ (ом. гл. 5), а силы взаимодействия между адсорбированными молекулами, в расчет не принимаются. Этим путем они смогли получить значения удельной поверхности, которые близки (а одно, столбец б табл, 51, очень близко) к значениям, рассчитанным из размеров частиц, определенных по методу электронной микроскопии. Однако вычислительная техника весьма трудоемка, а некоторые исходные параметры, необходимые для вычисления интеграла,. новозможно полностью оценить независимым способом. [c.250]

Поверхность некоторых порошков может быть определена путем наблюдения частиц под микроскопом, ультрамикроскопом или электронным микроскопом и измерением размеров частиц либо непосредственно под микроскопом, либо с помощью микрофотографий. Если частицы имеют различные размеры и форму, то определение поверхности, как это описано Гейвудом[1], состоит из трех стадий 1) для данного порошка необходимо экспериментально определить кривую распределения частиц по размерам, применяя сита для более крупных частиц и седиментационные методы или декантацию для мелких частиц. 2) Затем определяется фактор формы путем наблюдения наиболее характерных частиц самой большой фракции. Сначала путем подсчета и взвешивания получают средний размер частиц. Тогда из измерений поверхности и периметров проекций частиц в поле зрения микроскопа можно рассчитать фактор формы по методу, предложенному Гейвудом. 3) Наконец, предполагая, что фактор формы [c.368]

Обработанные таким образом молекулы ДНК исследовали под электронным микроскопом. Один из полученных электронно-микроскопических снимков показан на рис. 13, Получив множество снимков молекул, раскрытых при разных температурах, построили результирующую картину (рис. 14). По горизонтальной оси здесь отложена координата пары оснований вдоль цепи ДНК. По вертикальной оси — вероятность того, что данная пара раскрыта, а по третьей оси — температура. Сравнение с кривой зависимости теплопоглощеиия от температуры (слева вверху на рис. 14) показывает, что каждому пику действительно соответствует выплавление определенного участка ДНК. Рисунок позволяет определить, какой вид имеет молекула ДНК при любой температуре в интервале плавления, На- [c.43]

Интересна структура кизельгуровых катализаторов, представляющих собой кремнеземистые остатки микроскопических морских организмов. Изотерма адсорбции - десорбции показывает неожиданный гистерезисный эффект [169, 171]. Эта изотерма асимптотически приближается к значению давления насыщенного пара, она типична как для непористых, так и для крупнопористых структур. Однако тщательный анализ петли гистерезиса показывает, что десорбционная ветвь вполне определенно соединяется с адсорбционной кривой в области относительного давления 0,5, что указывает на присутствие структуры с малыми порами. Можно было ожидать, что электронно-микро-сконическое исследование пополнит эти сведения. Однако таким путем была обнаружена однородная пористая структура с величиной нор около 1000 А. Снимок, полученный с помощью электронного микроскопа при большом увеличении, свидетельствует, однако, о структуре с большими центральными норами, содержащей регулярно расположенные структуры пор меньшего размера, в которых в свою очередь имеются еще меньшие поры [169]. Наличие мелких пор может служить объяснением наблюдаемого эффекта гистерезиса. [c.376]

Скорость процесса в случае напряженной резины больше, чем для ненапряженной. Это подтверждается следующими примерами. Взаимодействие атмосферного озона с напряженными резинами вызывает один из наиболее опасных видов разрушения — озонное растрескивание, в то время как образование трещин в ненапряженной резине практически не происходит,. Обнаружить воздействие озона на ненапряженную резину удается только с помощью электронной микроскопии. Разные скорости процесса наблюдались также при взаимодействии соляной кислоты с напряженной и ненапряженной резинами на основе кар-боксилатного каучука СКС-30-1. Это видно из рис. 1, где представлены кинетические кривые перехода в раствор кислоты ионов Mg2+, образующихся при разрушении поперечных солевых связей [1]. Несмотря на то, что в опытах поверхность нерастянутых образцов была в 5 раз больше, чем растянутых, концентрация Mg2+, определяемая фотоколориметрическим методом, т. е. количество разорвавшихся связей при всех температурах у ненапряженной резины меньше, чем у напряженной. Взаимодействие азотной кислоты с напряженной резиной из СКФ-32 не сопровождалось образованием видимых трещин, однако и в этом случае скорость процесса, определенная по проникновению кислоты в резины (рис. 2), для напряженных образцов оказалась больше, чем для ненапряженных. [c.227]

Электронно-микроскоаический метод рекомендуется для измерения частиц от 10—5 до 0,001 мкм (6, 15, 181 он сложен в апцаратур-ном оформлении и трудоемок. Для характеристики поверхности и выявления дефектов структуры частиц и определения их толщины польззтотся методом реплик, т. е. на образец напыляют в высоком вакууме пленку тяжелого металла под углом [23]. Если применять специальные экраны и счетные устройства, этот метод не только пригоден для контроля других методов дисперсионного анализа, но и позволяет получить кривые распределения частиц по размерам. Источником ошибок, как и в оптической микроскопии, является агрегация частиц, которая усугубляется тем, что при электронной микроскопии имеют дело со значительно более дисперсными системами. Метод использовался во многих исследованиях красителей [24- 27]. [c.32]

В литературе приводятся многочисленные результаты сравнения кондуктометрического метода дисперсионного анализа с седименто-метрическим (обычным и центрифужным), микроскопическим (с помощью светового и электронного микроскопов, путем прямых измерений и микрофотографии) и некоторыми другими методами [138, 141, 216-219, 264, 305, 313, 324, 326, 330, 332, 487, 514, 519, 799, 822, 861—864]. Часть данных говорит о вполне удовлетворительном совпадении результатов, другая часть — о наличии существенных расхождений. В этом нет ничего удивительного. Все результаты по кондуктометрическому методу дисперсионного анализа получены на серийных приборах, которые в настоящее время еще далеки от совершенства и вносят в регистрируемые кривые значительные искажения. Получить на этих приборах удовлетворительные результаты можно лишь в определенных пределах изменения размеров и формы частиц (это относится и ко всем остальным методам дисперсионного анализа). Вместе с тем, как было показано выше (раздел 1.6.10), при выполнении условий, обеспечивающих минимум искажений, необходимость в сравнении кондуктометрического метода дисперсионного анализа с другими методами отпадает, так как именно кондуктометрический метод может в этом случае служить эталоном. [c.113]

В данной работе методами съемки поляризационных по- тенциостатических кривых (потенциостат П—5848), определения рассеивающей и кроющей способности электролита (ячейка Хулла), изучения микроструктуры хромовых покрытий (электронный микроскоп УЭМВ-100) была проведена оценка различных электролитов хромирования в присутствии ПАВ. Кроме того, была определена адсорбционная способность этих веществ на границе раствор — ртуть (метод электрокапиллярных кривых) и раствор — воздух (метод продавливания пузырька через капилляр). [c.68]

С помощью низкоскоростной ультрацентрифуги, описанной в предыдущем разделе, можно наиболее надежно определить кривые распределения частиц коллоидных веществ. Изменяя скорость вращения и вязкость среды, можно сделать этот метод применимым как для веществ с радиусом частиц в несколько миллимикронов, так и для суспензий с радиусом частиц в несколько микронов. Кроме кривой раепределения, этим способом могут быть получены данные о площади поверхности частиц и о зависимости поглощения света от величины частиц для сложных красителей, эмульсий, мицел-лярных растворов поверхностноактивных веществ, сажевых наполнителей и тому подобных веществ. Метод ультрацентрифугирования не дает данных о форме частиц (такие данные могут быть получены с помощью электронного микроскопа), но зато он имеет то преимущество, что из полученных кривых распределения может быть определена истинная статистически средняя величина частиц, в то время как электронный микроскоп и световой микроскоп часто дают сомнительные результаты из-за нехарактерности исследуемых участков, случайно попавших в поле зрения. С помощью ультрацентрифуги получается средневесовая, а не среднечисленная величина частиц, что позволяет установить связь величины частиц с определенными физическими свойствами, как, например, со светопоглощением. [c.511]

Для определения концентрации частиц дисперсной фазы вместо обычного ультрамикроскопа часг(5 используют разработанный Б. В. Дерягишлм и Г. Я. Власенко поточный ультрамикроскоп, в котором фиксируется число частиц, проходящих за единицу времени в поле зрения микроскопа при течении дисперсной системы, что позволяет быстро определять среднюю концентрацию частиц в золе. Применение оптико-электронных систем регистрации интенсивностей светового пот(зка от отдельных частиц позволяет получать и кривые распределения частнц по размерам. [c.207]