Спектрографы с дифракционными решетками

Более широкие возможности дает использование спектрографа с дифракционной решеткой, позволяющей увеличить дисперсию во всем интервале длин волн. Например, спектрограф ДФС-8 с плоской дифракционной решеткой предназначен для фотографирования спектра от 2000 до 10 000 А (рис. 23). Этот прибор, так же как и прибор ДФС-13, позволяет производить наиболее полное изучение состава веществ и определять примеси в них других элементов, которые на спектрографе средней дисперсии не удается обнаружить. [c.50]

Спектральная часть установки состоит из спектрографа с дифракционной решеткой 1200 штрих/мм, работающего в области 2400—7000 А с дисперсией 5,4 к мм при спектральном разрешении 0,2 к % = 4697 А). Развертка спектра производится с помощью зеркального трехгранника, установленного на воздушной турбинке, вращающейся в вакууме со скоростью до 2200 об сек. Полное время регистрации составляет 1,5-10 сек. Спектр фотографируется на 35 мм пленку участками по 135 А. [c.183]

Образец для анализа готовили смешиванием 25 мг прокаленной при 900° С двуокиси циркония с 20 мг буферной смеси фторида бария и графитового порошка (1 1). Смесь набивали в кратер графитового электрода диаметром 6,3 мм и делали иглой отверстие в центре пробы, чтобы предотвратить вызываемое быстрым испарением буфера выбрасывание материала при включении дуги. Верхним электродом служил графитовый стержень диаметром 3,2 мм. Спектры возбуждали в дуге постоянного тока (230 в, 35 а). Для регистрации спектров служил спектрограф с дифракционной решеткой, имеющей 600 штрихов на 1 мм (дисперсия 1,6 А/мм-в спектре третьего порядка). Экспозиция составляла 30 сек., предварительное холостое горение дуги продолжалось 20 сек. Использовали следующие аналитические пары линий при концентрации гафния 0,003—0,1% — Hf 2820,2 — Zr 2820,6 при концентрации 0,03—0,4% — Hf 2820,2 — Zr 2823,0. Средняя арифметическая ошибка при определении 0,006 и 0,38% Hf составляла соответственно 13 и 4%. [c.184]

Большой кварцевый спектрограф Хильгера (для аналитических линий <2600 А) и спектрограф с дифракционной решеткой (дисперсия 1 А/мм) [c.203]

Спектрограф с дифракционной решеткой (дисперсия [c.203]

Спектрограф с дифракционной решеткой Спектрограф ИСП-22 [c.208]

Для спектрографов с дифракционной решеткой теоретическая разрешающая способность выражается формулой [c.61]

СПЕКТРОГРАФЫ С ДИФРАКЦИОННЫМИ РЕШЕТКАМИ [c.74]

Для спектрографа с дифракционной решеткой, описанного в разделе VII, Д, использовалась плосковыпуклая линза длиной 150 мм, высотой 30 мм и толщиной 2 мм. Она была рассчитана, по Боуэну, так, чтобы получающееся изображение на фотографической пластинке имело высоту [c.217]

СПЕКТРОГРАФ С ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКОЙ ДФС-3 [c.39]

Дисперсия спектрографов ИСП-28 (средняя), ИСП-51, КСА-1 со сменной оптикой (большая) и спектрографа с дифракционной решеткой ДФС-3 приведены в табл. 6. Из таблицы видно, что дисперсия у призменных спектрографов быстро убывает по мере увеличения длин волн спектральных линий. [c.42]

Спектры элементов, у которых самые чувствительные линии находятся ниже 2600 А (С(1, Аз, В, Р), регистрировались призменным спектрографом Хильгера в области длин волн от 2200 до 2850 А, а спектры элементов с чувствительными линиями выше 2600 А — с помощью спектрографа с дифракционной решеткой в области 2775—4075 А (второй порядок). Образцы и эталоны могут быть приготовлены как в виде порошков окислов, так и в виде металлических опилок. Для определения малых количеств лития в гафнии рекомендуются следующие условия дуга переменного тока (4800 в, [c.431]

Хроматизм положения камерного объектива вызывает только наклон поверхности изображения. Исправление хроматизма камеры обязательно лишь в спектрографе с дифракционной решеткой, если фокальная поверхность должна быть плоской. [c.77]

Спектр получают при помощи призменного спектрографа или спектрографа с дифракционной решеткой, которая представляет собой пластинку с нанесенными тонкими параллельными линиями (до 250 000 штрихов на 25 см). [c.22]

Фотографирование спектра на спектрографе ИСП-22 для определения бора и бериллия. Аналитические линии этих элементов расположены в коротковолновой области спектра, где дисперсия прибора достаточно велика, а фон, создаваемый непрерывным излучением раскаленных частиц и слабыми неразрешенными линиями тория, значительно меньше, чем в длинноволновой области спектра. Одновременно на спектрографе с дифракционной решеткой, установленной в первом порядке, фотографировали видимую область спектра (5850— [c.271]

На спектрографе с дифракционной решеткой (во втором порядке) фотографировали спектры образцов ТЬОа и эталонных смесей в областях [c.271]

Спектральный анализ смеси водорода и дейтерия осуществляется в кварцевой разрядной трубке диаметром около 3 мм. Для создания слабого тока газа через трубку на входе и выходе впаяны капилляры длиной около 20 и диаметром около 0,05 мм. Генератор ВГ-2 обеспечивает высокочастотный разряд в трубке. Фотографирование производится на спектрографе с дифракционной решеткой, имеющей 600 штрих1мм, с фокусным расстоянием 2 м. При небольших давлениях смеси водорода и дейтерия добавляют гелий в количестве около 50% по отношению к давлению смеси (для поддержания устойчивого разряда). [c.23]

На рис. 5.5 1П0казан пример одного из возможных отклонений лучей. Угол отклонения равен Ь, разность хода лучей, выходящих из следующих друг за другом прозрачных площадей, составляет а, расстояние между центрами соседних штрихов (постоянная решетки) равно Таким образом, а = с1 s nЬ, Многие пучки лучей могут усиливать друг друга только тогда, когда разность их хода равна целому числу длин волн света. Эта зависимость приводит 1к выражению, которое является основным для спектрографа с дифракционной решеткой [c.87]

Система полос СЩ — Х 2 " была исследована Джеппесеном [2240], который получил спектр поглощения НО в области 800—1375 А на вакуумном спектрографе с дифракционной решеткой, разрешающая сила которой составляла 30 ООО. Спектр состоял из 12 полос, соответствующих V = О—3 и у" — 1—7, в которых Джеппесен измерил волновые числа примерно 2500 линий. Используя изотопные соотношения (1.43), Джеппесен вычислил колебательные и вращательные постоянные НО по молекулярным постоянным На, найденным им ранее [2239] полученные значения молекулярных постоянных хорошо описывают наблюдаемые положения линий в спектре НО. [c.185]

Указанные полосы были получены затем Бруэром и Портером [929] в спектре поглощения паров, находящихся в равновесии с твердой окисью магния, нагреваемой в печи Кинга до температуры 2500—2600° К. Несмотря на использование в качестве спектрального прибора спектрографа с дифракционной решеткой, имеющей во втором порядке дисперсию 0,67 к мм, вращательная структура полос не была разрешена полностью. В результате приближенного анализа колебательной структуры ультрафиолетовой системы, соответствующей, по мнению Бруэра и Портера, переходу между триплетными состояниями MgO, одно из которых рассматривалось как основное, были определены значения колебательных постоянных в этих состояниях. Однако авторы отмечали, что полученные ими данные не позволяют однозначно отнести наблюдавшуюся систему полос к спектру окиси магния. Действительно, в работах [124, 1670] высказывалось предположение о том, что наблюдаемые в ультрафиолетовой области спектра полосы могут быть связаны с излучением трехатомной молекулы MgOH [c.811]

Повышение угловой дисперсии спектрографа с дифракционной решеткой возможно нри переходе к спектрам высоких порядков. Однако в этих случаях происходит переналожение разных длин волн спектров более высоких порядков. Можно определить свободный спектральный интервал АЯ между налагающимися дли- [c.22]

Для регистрации фототока может служить или стрелочный микроамперметр чувствительностью 10 а на деление шкалы, или самопишущий потенциометр типа мер, ПСР или ЭПП-09, чувствительностью 10 мв на всю шкалу, вход которого зашунтирован сопротивлением около 200 ом. Фотоприставка вА1есте со спектрографом ИСП-51 или монохроматором УМ-2 используется для большинства задач спектрального анализа газов (определение неоно-гелиевой смеси в воздухе, гелия в неоне, неона в гелии, азота в аргоне, азота и водорода в гелии). В сочетании со спектрографом с дифракционной решеткой ДФС-3 фотометр применяется при анализе изотопного состава водорода. [c.111]

Объем раствора доводят водой до 100 мл. Несколько миллилитров получен ного раствора помещают в фарфоровую чашечку, в которую на небольшую глубину опущена нижняя часть вращающегося графитового диска. Разряд между диском и верхним графитовым электродом возбуждают от генератора высоковольтной конденсированной искры (13 ООО в, 0,005 мкф, 0,04 жгк). Межэлектродный промежуток составляет 3 мм. Спектр искрового разряда фотографируют при помощи спектрографа с дифракционной решеткой фирмы Джарел-Эш (дисперсия в первом порядке 5,2 AJmm). Продолжительность экспозиции составляет 40 сек. с предварительным обыскриванием в течение 10Сек. При определении0,01—0,12%Zr в сплаве используют аналитическую пару линии Zr 3393,12 — Ni 3391,05. [c.181]

Для определения гафния в цирконии применяют метод [439] -С использованием проводящих брикетов, изготовляемых на гидравлическом прессе из смеси анализируемой двуокиси циркония с графитовым порошком (в отношении 1 4). Источником возбуждения спектров служил демпфированный конденсированный разряд от универсального генератора Мультисос фирмы ARL. Спектры фотографировали на спектрографе с дифракционной решеткой при дисперсии 1,1 к мм. Стандартная ошибка метода составляет 2%. [c.183]

Монолитные образцы металлического циркония Дуговой разряд между о разцом и графитовым проти-воэлектродом от генератора с электронным управлением Спектрограф С дифракционной решеткой (дисперсия 2,5 А мм) и большой кварцевый спектрограф Хильгера 2.10-3-2-Ю-Ш.Сг, 51, V 5.10-5-5-10- В, са 1-10-8-1.10-2 Со, Мп,Т1 1.10-3—2.10-2 Си, N1 1-10-2—1,5.10-1 Ре 1-10-2—1.10-1 НГ 5.10-4—2,5.10-8 Мд 2.10-3—1,5.10-2 Мо 2-10-3—3-10-2 РЬ 5-10-8-3,5-10-2 Средняя квадратичная ошибка метода от 2 до 10% для отдельных элементов [437] [c.207]

В работах [841, 842] сравнивались относительные пределы обнаружения железа в металлическом магнии, достигаемые на приборах с существенно различными параметрами — кварцевом спектрографе средней дисперсии ИСП-22 и спектрографе с дифракционной решеткой (600 штр1мм) ДФС-8, Значения пределов обнаружения подсчитывали на основании трехсигмового критерия Кайзера по формуле, приведенной в работе [244]. Отношение пределов обнаружения, достигаемых на приборах ИСП-22 и ДФС-8, было установлено при нормальной ширине щели и при ширине щели, в три раза превышающей нормальную. Величина во всех исследованных случаях составила 0,02, почернения сплошного [c.75]

Г. Спектрограф с дифракционной решеткой (ДФС-8) с трехлннзовой конденсорной системой. [c.196]

Пробу помещают в кратер нижнего электрода (анода) глубиной 3 мн, диаметром 4 мм. Электроды предварительно обжигают в течение 15 сек. в дуге при силе тока 10 а. Спектры дуги фотографируют с экспозицией в 30 сек. при помощи спектрографа с дифракционной решеткой ДФС-8 (600 штрихов/лглг, область 3000А). Ширина щели прибора — 0,015 мм. На пути от источника к щели прибора устанавливается трехлинзовая конденсорная система. Применяют фотопластинки спектральные тип II, чувствительностью 16 ед. ГОСТ. Спектры проб и каждого эталона фотографируют по 3 раза на одной фотопластинке. На спектрограммах, полученных после проявления, фиксирования и сушки, измеряют почернение линий определяемых элементов при помощи нерегистрирующего микрофотометра МФ-2. м [c.197]

Адамар-спектрометры строятся на базе обычных спектрографов с дифракционной решеткой, и следует ожидать, что в ближайшее время их разрешающая сила достигнет наилучших значений, полученных с дифракционными спектрометрами. Благодаря совершенствованию конструкций, матобеспечения, прогрессу вычислительной техники растет число анализируемых элементов в спектре от девятнадцати в первом приборе до нескольких сотен в современных, в то время как проектировщики уже разрабатывают спектрометры на несколько тысяч анализируемых элементов и предложены проекты, где это число увеличивается до миллионов [32]. Все сказанное, а также простота метода позволяют считать адамар-спектроскопию весьма перспективным новым направлением в широкодиапазопной ИК-спектроскопии высокой разрешающей силы. [c.171]

В спектрографах КСА-1 и ИСП-51 светосила зависит от < )окусного расстояния объективов камер. Для спектрографа с дифракционной решеткой (ДФС-3) светосила будет равна 1 40. [c.43]

Спектры вынужденного комбинационного рассеяния регистрировались фотографически при помощи спектрографа с дифракционной решеткой с дисперсией около >к1мм. Для каждого вещества проводилось несколько серий опытов. [c.500]

В современных спектрографах с дифракционной решеткой наиболее часто используется автокол-лимациониая схема. Для решеток с профилированным штрихом эта схема является особо выгодной с точки зрения получения наибольшего потока. В автоколлимационной схеме углы (риф делаются по возможности близкими друг к другу. Если а — угол блеска , то, как видно из рис. 49 [c.144]

Отнош сние освещеппостей, создаваемое призменным спектрографом и спектрографом с дифракционной решеткой, при всех оговоренных выше условиях можно записать в виде [c.147]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология