Длины волн спектральных линий меди

Таблица 12.4П1 Длины волн спектральных линий меди в видимой области спектра

ТАБЛ. IV. ДЛИНЫ ВОЛН СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ МЕДИ [c.299]

На рис. 126 изображен спектр меди. Измеряя расстояния между линиями, постройте график линейной дисперсии, приняв за начало шкалы линию Л =3861 А. По графику найдите длину волны нескольких линий, для которых они не указаны на рисунке. Проверьте полученные результаты по таблицам спектральных линий. [c.211]

По таблицам спектральных линий устанавливают, что в области нахождения аналитических линий цинка 4810 4722 и 4680 Л расположены линии меди 4704 4697 4674 и 4651 А. Поставив медные электроды в штатив дуги, включают ток и рассматривают в окуляр стилоскопа спектр меди в этой области. На миллиметровой бумаге зарисовывают этот участок спектра меди, обозначая длины волн спектральных линий и приписывая каждой из них порядковый номер и индекс Си. Затем, заменив один из электродов латунным с наименьшим содержанием цинка (0,1%), снова рассматривают спектр и наносят на рисунок линии цинка. [c.159]

Сущность работы. Дисперсионная кривая прибора характеризует положение и длину волны любой линии на спектрограмме. С помощью этой кривой можно находить длины волн в спектре и определять неизвестные элементы. Такая кривая пригодна только для данного прибора при данных условиях фокусировки (положение призм и объективов). Для ее построения используют несколько элементов с простыми спектрами, отождествление которых по длинам волн можно провести по таблицам спектральных линий. Например, очень удобно для этого брать спектры алюминия, меди, цинка кремния,- расположенные от 5200 до 2300 А, или же, что значительно сложнее, спектр железа, линии которого отождествляют по атласу. [c.178]

Например, в спектре пробы имеется интенсивная линия, расположенная на расстоянии 54 мм от линии меди 5218 А. Опустив перпендикуляр из соответствующей точки дисперсионной кривой на горизонтальную линию, отложенную на высоте 54 мм от нуля графика, определяют, что длина волны неизвестной линии приблизительно равна 3300 5 А. По таблицам спектральных линий устанавливают, что в этом интервале имеют интенсивные линии элементы натрий, цинк и палладий. Чтобы уточнить, какому из этих трех элементов принадлежит искомая линия, проверяют наличие других аналитических линий этих элементов в спектре пробы. [c.182]

Для анализа алюминиевого сплава образцу придают форму электрода. Таким же образо.м готовят образцы трех эталонов, близких по составу к анализируемому образцу, например, сплав дюралюминий содержит магний, медь, железо, марганец. Готовят также образец железа, так как он служит стандартом, поскольку известны длины волн всех его спектральных линий. Кассету с фотопластинкой вставляют в спектрограф и открывают крышку кассеты. Образцы поочередно укрепляют в держателе электродов искрового генератора ИГ-3 и в стандартных условиях возбуждения (при 220 В и 2 А) снимают спектры в следующем порядке образец железа, три эталонных образца, анализируемый образец и снова образец железа. После каждого снятия спектра кассету с фотопластинкой перемещают таким образом, чтобы после проявления на ней одно над другим были зафиксированы изображения шести спектров. После проявления и высушивания пластинку помещают в спектропро-ектор и находят на экране линии, соответствующие примесям в сплаве алюминия. С помощью микрофотометра МФ-2 (или другого) оценивают их почернение в сравнении с эталоном и определяют количественное содержание каждого элемента в анализируемом образце. [c.245]

Метод относительных интенсивностей линий был применен нами для измерения температуры в плазменных струях аргона и водорода. При этом мы использовали линии меди в областях длин волн —5100 и —5700 А. Необходимые для вычисления температуры спектральные характеристики этих линий приведены в [14]. [c.207]

Спектральный анализ. В кассету спектрографа помещают фотопластинки двух типов, В длинноволновую часть спектра для определения меди и серебра помещают фотопластинку типа I, чувствительностью 1—2 ед. ГОСТ, в коротковолновую часть спектра помещают фотопластинку типа Микро , чувствительностью 16—22 ед. ГОСТ. Линия стыка пластинок должна находиться примерно на участке длин волн 3150—3170 А. [c.369]

Первые сообщения об определении селена появились только в 1963 г., поскольку аналитические линии селена находятся в области коротких длин волн, а первые атомно-абсорбционные приборы не были пригодны для работы в этой спектральной области. Аллан [130] получил для линии селена 2040 А чувствительность определения 5 мкг/мл. Б более поздней работе [51] указывается, что линия 1960 А обладает большей чувствительностью, а линия 2063 А — меньшей. Предел обнаружения для водных растворов селена, достигнутый с помощью двухлучевого спектрофотометра модели 303 и линии 1960 А, составил 0,5 мкг/мл. Помехи при этом отсутствовали. Медь и ее соединения не вносили помех, хотя для [c.129]

Порядок работы (при анализе сплавов). Подготовленный к анализу образец сплава должен иметь поверхность, хорошо зачищенную от окислов, следов краски и других загрязнений. Другой электрод—железный, угольный, дисковый или какой-либо иной— также должен быть хорошо зачищен и заточен. Этот электрод зажимают в держатель, а анализируемый образец помещают на столик (если исследуют сплав). Дуговой промежуток между ними устанавливают равным 3 мм по выдвижному шаблону. Зажигают дугу, включая генератор, барабаном со шкалой выводят в поле зрения окуляра нужную часть спектра, фокусируют линии вращением кольца на окуляре и оценивают интенсивности линий при помощи фотометрического клина. Так как барабан 4 имеет равномерную шкалу, не градуированную в длинах волн, то при работе следует использовать дисперсионную кривую для данного прибора или нанести на свободную часть шкалы отметки наиболее важных линий анализируемых элементов. Дисперсионная кривая либо прилагается к паспорту прибора, либо ее нужно построить по интенсивным линиям ряда элементов, например меди, цинка, кадмия, бария и др., или по линиям железа с использованием атласа спектральных линий железа. [c.140]

Вначале следует ознакомиться со спектрами меди, цинка, лития и натрия по таблицам спектральных линий. Для этого внимательно просматривают их спектры излучения в дуговом режиме по таблицам спектральных линий и выписывают в тетрадь длины волн наиболее интенсивных линий, расположенных в участке 4000—7000 А, по форме, показанной в табл. И. [c.152]

Спектральные помехи. Помехи, связанные с перекрыванием спектральных линий, более вероятны для метода ИСП, чем для методов ААС, так как эмиссионные спектры более богаты линиями. В работе Мак-Ларена и др. [10] этому вопросу уделяется пристальное внимание при определении следов элементов в морских осадках, содержащих много железа и алюминия, наблюдались сильные помехи со стороны этих компонентов. Авторы разработали методику с компьютерным контролем, в которой для оценки поправки на фон рекомендуется проводить измерения при несколько большей и несколько меньшей длинах волн, чем в максимуме определяемого элемента. Например, при определении меди была выбрана линия при 324,754 нм показания снимали при 324,719 324,754 и 324,789 нм, причем первый и третий результаты использовали для вычисления поправки к показанию, полученному для линии самой меди. На интенсивность линии меди сильно влияет линия железа при 324,739 нм если это влияние очень велико, поправочный коэффициент следует вычислять, используя данные по определению железа при другой длине волны (например, при 259,940 нм). [c.205]

Для определения примесей в алюминиевом сплаве анализируемому образцу придают форму электрода. Таким же образом подготавливают образцы трех эталонов, содержащих определенные количества примесей, обычно присутствующих в сплаве. Так, например, при анализе дюралюминия эталоны содержат магний, медь, железо, марганец. Кроме того, подготавливают образец железа, который служит стандартом, поскольку известны длины волн всех его спектральных линий. Кассету с фотопластинкой вставляют в спектрограф и открывают крышку кассеты. Образцы поочередно укрепляют в держателе электродов искрового генератора ИГ-3 и в стандартных условиях возбуждения (напряжение 220 В, сила тока [c.230]

На миллиметровой бумаге строят кривую, приняв по оси абсцисс масштаб миллиметров, а по оси ординат откладывают длины волн в масштабе 200 жл на 1000 А. Соединяя точки плавной кривой по лекалу, П олучают градуировочную кривую шкалы спектрографа. Пользуясь этой кривой, можно приближенно определять длины волн неизвестных линий в качестве подобной задачи предлагается определить длину волны 5—6 спектральных линий меди, произвольно выбираемых практикантом. Для этого нужно с помощью лупы или спектропроектора определить с точностью до [c.57]

По сообщению Гидли и Джонса держащих кислот создавало помехи при определении цинка. Эти авторы, а также Аллан показали, что помехи появлялись потому, что они использовали латунную лампу, которая излучала спектр меди наряду со спектром цинка, и латунную горелку. Медь имеет три абсорбционные линии с длинами волн 2165, 2178 и 2183 А, расположенные вблизи резонансной линии цинка 2138 А. Галогенсодержащая кислота разрушала поверхность латунной горелки и загрязняла пламя частичками меди, которые поглощали излучение спектральных линий меди. Поэтому при определении цинка в соединениях, содержащих медь, нужно использовать лампы с полыми катодами без малейшей примеси меди. [c.146]

Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

Произвести измерения радиусов кривизны трех спектральных линий каждого снимка, выбранных в разных областях спектра в середине и по краям. Целесообразно при этом для измерений выбирать тонкие и резкие линии. Для отождествления длин волн можно воспользоваться графиком линейной дисперсии камер как функцией Я, а в качестве исходных линий можно выбрать зеленый триплет меди 5105, 5153 и 5220 А, характерно выделяющийся на пластинке, и фиолетовый бублет меди 4022—4062 А (рис. 44). Точного определения длин волн здесь не требуется, достаточно ограничиться точностью в 15—20 А. [c.82]

При соответствующих условиях спектр излучения гелия в газоразрядной трубке постоянного тока состоит из серии линий, ограниченной с коротковолновой стороны ионизационным пределоь (24, 47 эв). Наиболее интенсивная из них имеет длину волны 584 А (21,21 эв), и на долю этой резонансной линии приходится не менее 99% мощности излучения во всем спектре. В области более длинных волн имеется серия - 5, коротковолновый край которой находится при 3000 А ( 4 5в), с последующими несколькими линиями в видимой области, из которых наиболее характерная линия с >. = 5875 А (желтая). Таким образом, ясно, что у подавляющего большинства веществ, у которых потенциал ионизации (ПИ) больше или равен 5 эв, ионизацию можно вызвать только с помощью резонансной линии Не 584 А. Следы водорода, от которых очень трудно избавиться, обусловливают излучение а-линии серии Лаймана с длиной волны 1215 А (10,20 эв), а кислород и азот, десорбирующиеся с поверхности лампы после обезгаживания системы, дают линейчатый спектр излучения в области ниже 1000 А. Все эти виды излучения могут также вызывать ионизацию большинства исследуемых веществ, что осложняет анализ электронных энергетических спектров. Поэтому очень важно, чтобы газ в разрядной трубке был исключительно чистым к счастью, это можно обеспечить, пропуская гелий через нагретую окись меди и ловушки, наполненные активированным углем и охлаждаемые жидким азотом. Контроль за качеством излучения разрядной трубки легко осуществить по линиям Н (серии Бальмера), О и N в видимой области. При нормальной работе свет источника имеет желтовато-персиковую окраску и не сопровождается голубым свечением вблизи электродов. Наличие полос ионизации в электронном энергетическом спектре, вызванной излучением примесей в лампе, нетрудно распознать по увеличению их интенсивности при изменении спектрального состава излучения за счет дополнительного введения в газ этих примесей. Например, слабая, но четко различимая узкая линия в фотоэлектронном спектре СЗа (см. ниже), которую ранее [И ] относили к шестому потенциалу ионизации, в действительности, как показали последующие исследования, объясняется фотоионизацией электрона на высшем занятом уровне (ПИ = 10,11 эв ) за счет [c.86]

Допустим, образец представляет собой какой-то сплав меди. Расшифровывается спектрограмма, полученная в дуге постоянного тока. С помощью атласа на этой спектрограмме мы нашли линию мышьяка 303,285 нм. Считаем ее предварительно отождествленной. Теперь уточним идентификацию. Сначала определим разрешение Ак, достигаемое в условиях регистрации на этой длине волны. Для этого в спектре железа на нашей спектрограмме находим две равноинтенсивные линии длины волны, близкой к 303,28 нм, и едва разделяемые. Примем, что в данном случае Ак равно 0,04 нм. Тогда, согласно таблице спектральных линий, в наш список мешающих элементов следует включить все элементы, имеющие линии от 303,285 + 0,04 до 303,285—0,04 нм. [c.181]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология