Фокусировка

Назначение камеры С заключается в фокусировке прошедших через призму лучей разных длин волн в одной плоскости, где располагается кассета с фотопластинкой. [c.552]

Более сложные виды разрывов могут быть получены фокусировкой в одной точке ряда ударных волн и изэнтропических волн сжатия. Эти виды разрывов здесь не будут рассматриваться подробно. Поэтому введем определение 3, не детализируя его. [c.57]

Определение 3. Функции на характеристике второго семейства имеют разрыв класса Р , если этот разрыв определяется фокусировкой в одной точке ударных волн и волн сжатия. [c.57]

Разрыв в точке Л должен соответствовать классу в случае фокусировки характеристик второго семейства. [c.136]

Масс-спектры дают возможность исследовать устойчивость и энергетику многозарядных ионов фуллеренов. С этой целью в [16] использовался масс-спектрометр с двойной фокусировкой и энергией электронов в ионном источнике 200 эВ. В [17] методом высокотемпературной масс-спектрометрии определены давления насыщенного пара фуллерена С60 в интервале 637-846 К и рассмотрено влияние нескольких побочных факторов на измеряемое давление. [c.10]

Время нацеливания и фокусировки глаз. . Время восприятия показания прибора. [c.33]

Время нацеливания глаз и фокусировка, мс..........167 [c.66]

Наряду с развитием приборостроения в области классической масс-спектрометрии , начиная с 1950 г., предложен ряд оригинальных методов разделения ионов и осуществлено создание большого числа типов приборов, относимых обычно к так называемым динамическим масс-спектрометрам. В динамическом масс-спектрометре с циклоидальной фокусировкой применяются скрещенные электрическое и магнитное поля. Развертка спектра осуществляется путем изменения величины одного из полей [7]. [c.7]

Использование масс-спектрометров с двойной фокусировкой во много раз увеличило надежность идентификации неизвестных соединений благодаря уменьшению перекрывания спектров компонентов смеси. Кроме того, получение масс-спектров индивидуальных соединений высокого разрешения позволило более детально проследить различные этапы распада молекулярного иона и обнаружить значительное количество ионов, имеющих совершенно непредвиденное строение. Накопление подобных данных приводит к более полной корреляции между строением молекул и их масс-спектрами, а значит и к более тонкой оценке характеристических ионов, используемых при идентификации. Так, например, с помощью масс-спектрометра высокого разрешения исследовались алифатические эфиры муравьиной, уксусной, пропионовой и масляной кислот [218] был идентифицирован состав всех ионов. Основное преимущество высокого разрешения при исследовании [c.125]

Изучение спектра железа. Полученную спектрограмму помещают эмульсией вверх на предметный столик спектропроектора так, чтобы длинноволновая часть спектра находилась справа. Фокусировкой объектива добиваются резкого изображения линий спектра на экране. Расшифровку спектра целесообразно на- [c.110]

Ручки смещение X—У , фокус , яркость предназначены для смещения изображения по осям X и У, фокусировки и регулировки яркости луча. [c.184]

Последовательность выполнения работы. 1. Поместить спектрограмму вверх эмульсией на столик компаратора под левый микроскоп так, чтобы линии в спектре излучения СМ сходились влево. Переместить спектрограмму винтом с левой стороны столика компаратора так, чтобы в поле зрения левого микроскопа была бы видна верхняя часть спектра. Ослабить винт под столиком компаратора в левой части и, перемещая столик вручную, проверить, не смещается ли по вертикали изображение спектра в левом микроскопе. Если наблюдается смещение спектра, то повернуть на небольшой угол планку, на которую опирается нижнпй край спектрограммы. Установить четкое изображение спектра в поле зрения левого микроскопа маховичком фокусировки. Установить четкое изображение индекса в поле зрения микроскопа вращением муфты окуляра. Вновь подкорректировать изображение спектра и индекса. [c.68]

При освещении слоя спереди и фокусировке фотоаппарата на передний план можно проследить за движением твердых частиц вблизи стенки. Для наглядности слой или отдельные частицы можно окрасить. Движение газового пузыря или твердых частиц можно фиксировать с помопц>ю фото- или киносъемки, а также экспозиционной фотосъемки. [c.127]

Особенность конструктивного решения с применением физических воздействий заключается в использовании наряду с традиционными элементами аппаратов (насадок, решеток, теплообменников и т. п.) физических устрсжств и элементов (излучателей, волноводов и т. п.). При разработке аппарата используются фонды М2, М4, М5 и к традиционным элементам предъявляются новые требования (пропускание, отражение и поглощение в заданном диапазоне частот, свойства фокусировки, согласования с генератором и др.). Поиск ТР, удовлетво-р щего ТЗ, может быть проведен в соответствии с рекомендациями работы [4]. Общая схема разработки новых процессов и аппаратов химической технологии с физическими воздействиями показана на рис. 1.3. [c.12]

Исследования скорости набухания проводились при температурах 20, 40 и 60° С для сополимеров стирола и парадивинилбен-зола (ДВБ) с содержанием последнего в количестве 2, 5 и 8 весовых процентов. Растворителем служил ДХЭ. Фокусировка объектива микроскопа и положение предметного столика обеспечивали четкое изображение испытуемого образца. Отсчет времени осуществлялся с помощью секундомера. [c.322]

Для анализа состава твердых веществ и сплавов необходимо использовать масс-спектрометры с двойной фокусировкой и универсальным источником ионов (паЕгример искровым). [c.521]

Для решения некоторых частных структурных задач могут быть использованы разные методы фиксирования метастабильных ионов, т. е. ионов, образующихся не в ионном источнике, а в беспо-левом пространстве (первом или втором) масс-спектрометра с двойной фокусировкой. Так, были применены спектры метастабильных переходов для определения терпанов и стеранов во фракциях нефти [189]. Вариант техники прямого анализа дочерних ионов был использован для различения изомерных полициклических аренов [190j, дающих практически не различающиеся обычные масс-спектры. Этим же методом определяли элементы структуры ванадилпорфиринов [190]. Для анализа последних использовался и метод дефокусировки [191]. [c.134]

При фокусировке микроскопа на уровень нулевого электро-осматического потока в ячейке с круговым поперечным сечением могут появляться погрешности (Генри, 1938), потому что луч света, входящий при таком уровне, загибается вверх. Точечный фокус объектива относится к точечному фокусу в воздухе, как [c.163]

Ошибка в 5% при вычислении В/Ео приводит к ошибке 0,20аз в измеряемой скорости. В табл. III.8 приведены значения поправок регулировки хорошо настроенного микроскопа, если внутренний диаметр стеклянной ячейки равен 2 мм, наименьшая толщина стенок 0,25 мм, ] = 0,25 мм = 1,000, = 1,515 (стекло) и = = 1,342. Поправки, полученные при (3° С и фокусировке на верхней внешней поверхности трубки, сведены в графу 2. [c.163]

При постановке задач о наилучшей форме тел в сверхзвуковом потоке возникнет необходимость определения условий, которым функции V], -9, р, р или их часть, подчиняются на характеристиках. Предельно быстрое увеличение плотности приводит к соответствуюшим разрывам функций на ударных волнах, предельно быстрое уменьшение — к конечным скоростям изменения р на характеристиках с возможной бесконечной скоростью изменения р в точке или даже с разрывом в точке фокусировки характеристик (как, например, в течении Прандтля—Майера). [c.52]

Изэнтропические разрьты. Энтропия газа S при прохождении через ударную волну увеличивается, вместе с ней увеличивается и величина tp. В дальнейшем появится необходимость построения разрывных течений с постоянной энтропией. Такого вида разрывы могут быть получены только в отдельных точках потока фокусировкой характеристик, начинающихся выше по потоку (рис. 3.3). Области течений с непрерывным сжатием, содержащие фокусирующиеся характеристики, иногда называют волнами сжатия. [c.54]

Для получения соотношений между функциями в точке фокусировки характеристик h достаточно рассмотреть плоское течение. Это объясняется тем, что и в осесиметричном течении бесконечно малая окрестность точки, находящейся вне оси симметрии, подчиняется уравнениям плоских течений. [c.54]

Пусть точка Л расположена так, как это показано на рис. 3.22, и принадлежит области (4.12). Это означает, что в плоскости a,i , точка Л расположена ниже кривой VSU, определяемой равенством (4.8) при п = 0. На рис. 3.23 точку h отметим символом Hq в соответствии с индексацией 3.1.2. Очевидно, что из точки Ло для получения решения вариационной задачи необходимо перейти некоторым путем ЛоЛд в область (4.11) так, что точка ftg будет принадлежать этой области. При всяком допустимом непрерывном переходе по крайней мере часть кривой /iq/iq принадлежит (рис. 3.24) области (4.12). Это означает, что участок /io/iq может быть проварьирован так, что величина х уменьшится. Остается использовать разрывный переход из одной области в другую. При безударных течениях допустим только изэнтропический разрыв (3.1.2), обусловленный фокусировкой характеристик первого семейства ahk в точке h (рис. 3.22). Такой переход в плоскости a,i (рис. 3.23) производится по характеристике второго семейства h(jh и характеристике первого семейства /11/14. [c.119]

ИЛИ водородом. Излучение лампы фокусируется зеркалами А[ и Лг на входную щель 4 монохроматора. При помощи зеркала на диспергирующее устройство / (призму из высококачественного кварца или дифракционную решетку) направляется параллельный пучок излучения. На диспергирующем устройстве излучение разлагается в спектр, изображение которого тем же зеркалом Лз фокусируется на выходной щели 5 монохроматора. Выходная щель из полученного спектра источника вырезает узкую полосу спектра. Чем уже щель, тем более монохрома тичная полоса спектра выходит пз монохроматора. Излучение называется монохроматическим, если в нем все волны имеют одинаковую частоту. Средняя длина волны, характеризующая данную полосу спектра, определяется углом поворота диспергирующего устройства вокруг оси. Затем зеркалом Л4 монохромахизированный пучок света разделяется на два одинаковых по интенсив 0ст и луча луч, проходящий через кювету сравнения я через кювету с образцом. Вращающейся диафрагмой 6 перекрывают попеременно то луч сравнения, то луч образца, чем достигается разделение данных лучей во времени. Зеркалами Л5 лучи сравнения и образца фокусируются на кювете сравнения и образца соответственно. Требования к фокусировке пучка лучей на кюветах в современных приборах очень высокие ширина пучка должна быть порядка 1—2 мм на расстоянии 10— 40 мм. Только с такими узкими пучками света, проходящими через кюветы, возможно использование микрокювет. После прохождения кювет световой поток зеркалами Ав направляется на детектор 7, которым обычно служит фотоэлемент или фотоумножитель. [c.12]

На рис. 53 приведена оптическая схема, включающая в себя лампу И, систему линз и диафрагм, фильтр и приемник излучения. Линзы подбираются исходя из следующих требований Л] для получения параллельио1 о пучка света, проходящего через фильтр Ф Лг для сужения пучка света до такой величины, чтобы он имел иаименьщий диаметр приблизительно в центре кюветы К, Лз для фокусировки света на приемник излучения Я. Диафрагмы Дь Дг, Дз служат для того, чтобы весь свет проходил через линзу Л, фильтр Ф и фотохимическую кювету /С соответственно. [c.149]

Масс-спектрометр с двойной фокусировкой обеспечивает фокусировку но направлению и скоростям с помощью электрического и магнитного полей. Существуют различные способы комбипнроваиия магнитного и электрического полей в простейшей из этих комбинаций магнитное поле следует за электрическим. Введение электрического поля улучшает фокусировку изображения, устраняя скоростные аберрации первого порядка в ряде случаев и аберрации второго порядка могут быть сведены к нулю [51—53]. Вторым способом достижения двойной фокусировки является совмещение электрического и магнитного полей (масс-спектрометр с совме-н1енными полями) [54], третьим — сочетание наложенных однородных электрического и магнитного полей с объектом и изображением внутри поля (циклоидальный масс-спектрометр с совме1цен1п>1ми полями) [55]. [c.32]

Качественный анализ и идентиф икация органических соединений с помощью масс-спектрометра высокого разрешения с двойной фокусировкой основаны на точном определении разности масс ионов в сочетании с известными дефектами масс изотопов атомов в исследуемых веществах. Этот метод, впервые предложенный Бейноном [214—216] для качественного анализа соединений относительно низкого молекулярного веса (меньше 250), представляет собой спектроскопию дефектов масс и при выводе структурной формулы учитывает соотношение интенсивностей пиков ионов, входящих в состав мультиплетов, обладаюишх одинаковой номинальной массой. [c.125]

Включают разряд. По дисперсионной кривой выводят в окуляр стилоскопа рабочую область спектра (линии кремния SiH 634,701 и Sill 637,109 нм). Наблюдения спектра выполняют при резкой фокусировке изображения источника на щель стилоскопа. [c.105]

Смотреть страницы где упоминается термин Фокусировка: [c.33] [c.40] [c.316] [c.316] [c.434] [c.201] [c.378] [c.448] [c.448] [c.448] [c.449] [c.469] [c.162] [c.47] [c.66] [c.184] [c.266] [c.33] [c.31] [c.32] [c.32] [c.36]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология