Стекло как подложка

Оптические методы. В связи с быстрым развитием ВЭТСХ, которая позволила стандартизировать многие стадии хроматографического процесса и привела к получению воспроизводимых результатов, стало возможным использовать точные количественные методы оценки разделенных веществ на тонкослойных хроматограммах. Этому также способствовали создание и выпуск рядом фирм специальных приборов для количественных определений в ТСХ. Оптические сканирующие методы основаны на измерении исходного излучения, прошедшего через слой сорбента (поглощение), отраженного от него (отражение), сочетании поглощения и отражения, флуоресценции, гашении флуоресценции. Возможно измерение пропускания света с длиной волны только больше 325 нм, так как стекло (подложка) и слой адсорбента поглощают УФ-излучение. Измерение по методу отражения можно проводить по всей области спектра от 196 до 2500 нм (ив области УФ-излучения). [c.370]

I — стекло-подложка 2 — слой серебра [c.234]

Хлоркаучук применяют при производстве линолеума, плит для полов, в производстве задников для обуви, прокладок для безосколочного стекла, подложки для заменителей алюминиевой фольги, как клей, лак для копировальной бумаги . [c.154]

Сила Р вызывает в подложке напряжение Од. Это напряжение приводит к оптической анизотропии стекла подложки и к возникновению в нем двулучепреломления, которое определяется оптическим методом. Имея тарировочный график, легко перейти от двулучепреломления к напряжениям в подложке. В работе [10] обнаружено, что Оп изменяется по сечению призмы в направлении, перпендикулярном покрытию, как показано на рис. 4.9. [c.145]

Чтобы заменить желатину, необходимо синтезировать такой полимер, который давал бы с водой студни при нормальной температуре, но образовывал раствор при повышенных температурах, поскольку приготовление светочувствительных составов и нанесение их на поверхность бумаги, пленки или стекла (подложки для фотослоев) производится из раствора, который затем застудневает и подвергается высушиванию. [c.244]

Из рис. 2 следует, что при введении калия через поверхность сурьмы по направлению к подложке фототок достигает максимума при составе KSb, а при введении калня в сурьму непосредственно из стекла при составе KSb фототок мал и максимум отсутствует. Можно предположить, что влияющая на величину фототека структура повер.хности слоя сурьмы сильно нарушается, когда ионы калия поступают в слой сурьмы именно через эту поверхность. Если же ноны калия поступают в слой сурьмы непосредственно из стекла подложки, то наружная поверхность слоя гораздо дольше пе нарушается. [c.147]

Известны и другие методы определения внутренних напряжений, в частности оптический метод [10]. Сущность оптического метода заключается в определении напряжений, возникающих в стекле (подложке) и пленке клея в зоне контакта в момент отделения клея от стекла. Если прочность адгезионных связей между клеем и подложкой достаточна, то усадочные напряжения, возникающие в клее, воспринимаются подложкой как механические нагрузки. Если подложка сделана из оптически активного материала, в ней проявляется двойное лучепреломление, по величине которого и определяют возникающие напряжения. [c.457]

При фотографических методах регистрации информации от таких излучателей Ламберта, как фосфор, в электроннолучевой трубке наблюдаются значительные потери света и разрешения. Линзы f/l, работающие при увеличении в единицу, принимают от объекта полуугол конуса света в 14°. После поправки на преломление в стекле подложки это соответствует 5% общей энергии, излучаемой осажденным фосфором, или 2% энергии, излучаемой прозрачным фосфором. С учетом потерь на преломление и светопоглощение в линзах до фотографической пленки дойдет приблизительно 1—3% излучаемого света. Значительная часть энергии появляется в виде паразитного фона . Однако при замене фронтального стекла электроннолучевой трубки вакуумплотным пучком из волокон с высокой числовой апертурой и осаждении фосфора на внутренней поверхности пучка информация может быть зарегистрирована путем помещения фотографической пленки в непосредственном контакте с внешней поверхностью пучка волокон. Это позволяет полностью устранить фон и значительно увеличить фотометрический эффект. Путем соответствующего подбора стекол для изготовления волокон может быть использовано приблизительно 70% осевого светового потока, излучаемого фосфором. При применении волокон с числовой апертурой 0,9 можно улучшить фотометрические данные на величину порядка 20—40 единиц, а при применении волокон с числовой апертурой 1,2 — на величину порядка 60 единиц по сравнению с системой линз //1, работающей при увеличении в единицу. [c.126]

На практике следует учитывать, что на пути от головки пульверизатора до подложки струя суспензии нагревается вследствие теплоотдачи от стенок колбы. Поэтому при прочих равных условиях чем больше поверхность колбы или чем больше расстояние от головки пульверизатора до дна колбы, тем выше должно быть давление, под которым суспензия разбрызгивается по подложке (для уменьшения продолжительности нахождения струи суспензии внутри горячей колбы и соответственно уменьшения вероятности слипания и комкования зерен люминофора). Однако если температура поверхности подложки мала, а струя суспензии разбрызгивается под большим давлением, то на покрытии образуются просветы. Это объясняется тем, что с недостаточно разогретой подложки растворители испаряются медленно, покрытие остается сырым, плохо держится на подложке и частички люминофора сбиваются струей суспензии. При этом чем тоньше стекло подложки, тем больше его теплоотдача и тем скорей оно остывает в результате получение качественного экрана затрудняется. [c.280]

Анализ изотерм П(/г) для ос-пленок воды на поверхности кварца показал, что приближенно они следуют экспоненциальной зависимости (1.1) [47]. При этом параметр К для пленок на подложках из стекла, кварцы и слюды сохраняет примерно то же значение, что и для симметричных водных прослоек (1-ьЗ) 10 " Н/см2, но длина корреляции I выше, составляя до 10 нм для наиболее гидрофильных поверхностей и снижаясь до 1 нм при уменьшении степени гидрофильности. Повышение температуры приводит, главным образом, к падению значений I от 3,3 нм — при 20 °С до 0,8 нм — при 40 °С для пленок на слюде. Для почти гидрофобной поверхности пиролитического углерода (краевой угол 0 = 72°) меняется, как и в случае симметричных прослоек, знак параметра К —2-10 Н/см ) прп сохранении обычного порядка значений / = 0,7 нм. [c.18]

Мембрану 1 и подложку 2 зажимают между фланцами ячейки. Газ под давлением поступает в нижнюю камеру, равномерно распределяется п ней с помощью отбойника 5 и, пройдя через подложку 2 и мембрану 1, попадает в слой смачивающей мембрану жидкости 3, Момент начала появления пузырьков в слое жидкости над мембраной (т. е. начало открытия крупных пор в мембране) определяется визуально (камера 4 изготовляется из органического или силикатного стекла). [c.100]

Толщина аномального слоя нефти на границе с твердой фазой была впервые определена в работе [117]. В этой работе по величине раскрытия щели до и после фильтрации нефти определяли толщину граничного слоя, образуемого на поверхностях, ограничивающих щель. В результате установлено, что толщина граничного слоя для исследованной нефти на данной поверхности (органическое стекло) составляет 1 мкм. Исследованиями [136, 120] было установлено, что в зависимости от природы твердой подложки и компонентного состава нефти толщина граничного слоя может достигать 2—5 мкм. Причем толщина аномального слоя зависит от градиента давления вытеснения и величины радиуса капилляров. Поэтому в пористой среде с размером пор, соизмеримым с толщиной граничного слоя, адсорбционно-сольватные слои, обладающие аномальными свойствами, должны оказывать значительное влияние на процесс фильтрации. [c.97]

В 1955 г. Дерягин и Зорин получили количественные результаты для тонких слоев на твердых поверхностях (оптических стеклах). Их изящная работа была проведена очень оригинально во многих отношениях. Они поддерживали температуру подложки несколько ниже температуры объемной жидкости, н, следовательно, [c.189]

Пленки-подложки. При прямом методе исследования объект помещают на пленку-подложку, роль которой аналогична предметному стеклу в световой микроскопии. Пленки должны быть достаточно прочными и не иметь заметной собственной структуры при применяемом увеличении. Приготавливаются они как из органических, так и неорганических веществ коллодия, формвара, цапонлака, кварца, оксида алюминия, угля, металлов и т. п. [c.136]

Капельный анализ. В капельном анализе один из реактантов, чаще пробу анализируемого вещества, берут в виде капли раствора [18, 19, 27]. Капельные реакции можно выполнять на пористой или плотной подложке. В качестве пористого материала лучше всего выбрать специальную бумагу для капельного анализа — особо хорошо впитывающую плотную фильтровальную бумагу. Наряду с этим рекомендуются пластинки из гипса или из другого пористого материала. В качестве плотных подложек применяют капельные пластинки из фарфора или стекла, часовые стекла, микропробирки и др. Способ работы очень прост. На подложку наносят одну каплю пробы и. затем прибавляют по каплям раствор реактива. Иногда удобнее эти капли нанести рядом, а потом перемешать. Если работают с капельной пластинкой, то обе капли помещают в углубления на ней и затем перемешивают. При проведении капельного анализа на фильтровальной бумаге используют ее капиллярные свойства. Различная капиллярная активность отдельных компонентов в анализируемой смеси обусловливает их способность к избирательной адсорбции. [c.53]

Для учета отражения света от подложки — стекла или пленки — обычно измеряют интенсивность не самого падающего пучка, а пучка, прошедшего через светлое место негатива. [c.159]

Техника проведения тонкослойной хроматографии. Выбор подложки. Пластинки для хроматографии в тонком слое состоят из тонкого слоя адсорбента (толщиной 0,1—10 мм),. распределенного по подложке — пластинке из стекла, алюминиевой фольги или пластмассы. [c.133]

Нанесение сорбента. Чтобы приготовить пластинки с незакрепленным слоем, подготовленный сорбент нужной активности насыпают на стекло (или другую подложку) и разравнивают валиком из нержавеющей стали с утолщением на концах в 0,5—1 мм или стеклянной трубочкой, на концы которой одеты кусочки резиновой трубки (рис. 46, а). [c.135]

Через 2—4 сут камеры извлекали, делгонтнровали, стекла подложки с выросшими па пих клетками отпаивали и после фиксации и окрашивания препараты подвергали морфологическому исследованию. [c.32]

В качестве контроля состояния клеточной культуры ткани использовали смонтированные камеры с культурой той же серии посадки. Через 4—5 сут камеры извлекали, демонтировали, стекла-подложки отпаивали и изготавливали препараты для. морфологических исследований. Предварительно из каждой камеры (зараженной и иезараженной) забирали культуральную жидкость для пассажа на выделение вируса. [c.36]

Во второй серии экспериментов выяснялась роль малых доз УФ-радиации, воздействующей на культуру-детектор при воспроизведении зеркального ЦПЭ с помощью вирусного поражения клеток культуры-индуктора. Зеркальная культура подвергалась предварительному УФ-облучению малой дозой перед стыкованием с зараженной вирусом камерой. Доза подбиралась экспериментально к каждой серии опытов (10—15 с облучения лампой БУВ-30 на расстоянии 0,5 м). Использовался аденовирус 5-го типа. Опыт проводился по обычной методике. Через 48—72 ч камеры демонтировались, а клетки на стеклах-подложках окрашивались азур-П-эозипом. Результаты опытов представлены в табл. 9. [c.49]

Контроль па выявление споптанпой дегенерации в клеточных культурах незараженные клеточные культуры с разреженным и плотным монослоем монтировали попарно и помещали в термостат вместе с опытными, через 48 ч стекла-подложки окрашивали и просматривали па наличие неспецифической спонтанной дегенерации. [c.69]

Исследуя зависимость проявления зеркального ЦПЭ от различной дозы вируса, мы использовали первично трипсини-зированные клетки куриного эмбриона и вирус классической чумы птиц в титре от 10" до 10 и аденовирус 5-го типа в тех же титрах на перевиваемой линии клеток Яер-2 и первично тринсипизирован-ных клетках человеческого эмбриона. Вирус вносился вкамерусвы-росшей суточной культурой клеток в определенном заданном титре. После этого зараженные камеры соединялись попарно с незара-женными и помещались в термостат при температуре 37,2° па 2— 3 сут. Через 2 сут камеры демонтировали, стекла-подложки после фиксации и окрашивания выращенных клеток подвергали морфологическому исследованию. [c.71]

Электронно-микроскопический анализ. Этот метод дает представление о строении кристаллических областей в асфальтенах и дает наглядную картину об их надмолекулярной организации. Исследования выполняются в просвечивающих и сканирующих (растровых)- электронных микроскопах [329, 330]. Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно получать как электронно-микроскопический снимок, так и электронограмму в области больших и малых углов. Разрешающая способность их составляет 15—2 нм, а для сканирующих микроскопов 3—5 нм. Пучок электронов вызывает значительный разогрев и даже плавление образцов, поэтому просвечивающая электронная микроскопия применяется для объектов, имеющих незначительную толщину,— несколько десятков нанометров. Для этого образцы специальным образом готовят получают либо тонкие пленки, либо с помощью ультрамикротомов готовят срезы толщиной 10—20 нм. Из косвенных методов для исследования структуры асфальтенов получил распространение метод реплик. Для исследования используют мелкодисперсные порошки асфальтенов [325] или растворы в бензоле [319]. В первом случае асфальтены помещают на угольную (аморфную) подложку на медной сетке. С целью определения фоновых микропримесей проводят контрольные съемки пустой подложки. Во втором случае бензольные 0,1 % растворы асфальтенов диспергируют на поверхность полированного стекла с частотой излучателя 35 кГц. Далее стекло.с пленкой асфальтенов помещают в вакуумный пост и растворитель откачивают в течение 20 мин. Для контроля сходимости результатов с поверхности пленки асфальтенов получают реплику двумя способами. Одноступенчатая реплика образовывается напылением угольной пленки, а двухступенчатая — чистого алюминия толщиной не менее 0,2 мм. Затем асфальтеновую пленку растворяют в бензоле и отдельную угольную реплику оттеняют платиной. Во втором случае на обратную сторону отдельной алюминиевой фольги напыляют платиноугольную реплику толщиной 20—30 нм, а алюминиевую фольгу затем растворяют в азотной кислоте [331]. [c.158]

Исследовано осаждение а-С Н пленок в высокочастотном тлеющем разряде в углеводородной среде по трехэлектродной и двухэлектродной схемам на подложки из полиэтилентерефтолата и стекла. В первом случае между двумя электродами зажигался тлеющий разряд, а к третьему электроду подводилась частота 250 кГц для управления потоком ионов на растущую поверхность. Во втором случае система была асимметрична маленький центральный электрод, к которому подводилась частота 250 кГц и который служил подложкодержателем, и большой заземленный экран-электрод. Благодаря автоматическому напряжению смещения ионы ускоряются к подложке и происходит рост углеродной пленки. [c.70]

Исследована структура фуллеритовых и металл-фуллереновых плёнок с разными массовыми долями компонентов. Плёнки осаждались в вакууме при остаточном давлении воздуха не более 10" Па на подложки из стекла, кремния и Na I. Для получения металл-фуллереновых плёнок использовались два испарителя (отдельно для металла и фуллерена См)- В качестве металлов были выбраны медь, олово и алюминий. Технологическими параметрами являлись 1) температура подложки 2) температура испарителя фуллеренов 3) температура испарителя металла (для металл-фуллереновых плёнок) 4) расстояние между подложкой и испарителем фуллеренов 5) расстояние между подложкой и испар1ггелем металла (для металл-фуллереновых плёнок). [c.209]

Применение эллипсометрии для пленок, получаемых путем утончения слоя жидкости, поздолило продвинуться в область еще меньших значений /г по сравнению с экспериментами Кусакова [27] и Блейка [29]. На рис. 7 показаны изотермы П (к), полученные методом отсасывания жидкости с твердой подложки через пористый фильтр [30—32 ]. Кривая 1 относится к смачивающим пленкам тетрадекана на полированной поверхности стекла, кривая 2 — на поверхности стали. Черные и белые точки отвечают экспериментам, проведенным при приближении к равновесию пленки путем ее утолщения или утончения соответственно. Как видно из графиков, эти изотермы действительно являются равновесными, поскольку черные и белые точки лежат на одной кривой. [c.295]

В качестве пластин, служащих подложкой для сорбента, чаще всего применяют стекло, алюминиевую фольгу или полиэфирную пленку. Стеклянные пластинки наиболее универсальны вследствие устойчивости к воздействию любых растворителей и реагентов, применяющихся в ТСХ. Алюминиевые и пластмассовые пластинки эластичны, поэтому им можно придавать любую форму. Кроме того, полиэфирные пленки прозрачны для УФ излучения в пределах до 320 нм и, следовательно, на них можно производить фотометриро-вание пятен непосредственно в слое. [c.125]

Дырчатые пленки-подложки получают из органического материала и металлов. Органические пленки готовят на предметном стекле, помещенном сначала в сосуд с 27о-ным раствором формвара в этилендихлориде, а затем перенесенном в другой сосуд, в который вдувается влажный воздух. Пузырьки воздуха проникают в размягченную формварную пленку и сильно утончают ее в этих местах. При снятии пленки со стекла (путем погружения стекла в воду) она прорывается в местах, где были сорбированы пузырьки воздуха, с образованием различных по размеру дыр. Протравливая стекло (делая его поверхность шершавой), можно получить пленки с круглыми отверстиями величиной до 0,5— 1,0 мкм. При необходимости такие сетки можно укреплять напылением на них в вакууме слоя металла или угля. Металлические дырчатые пленки (сетки) готовят на основе дырчатых органических пленок путем напыления на последние металла с последующим отделением сетки растворением пластиковых подложек. [c.137]

Качество пленки зависит от концентрации реагентов — атомного отношения РЬ S в исходных веществах, а также от температуры реакции. Вследствие окисления поверхности пленки меняется ее проводимость и поэтому необходимо проводить отжиг пленки, обеспечивающий ее стабильность. Стеклянные подложки (можно применять предметные стекла) должны быть тщательно очищены, обезжирены погружением на 1—2мин в 10%-ный раствор щелочи, промыты дистиллированной водой и высушены над электрической плиткой или в сушильном шкафу. [c.299]

Плепка-подлозкка имеет то же назначение, что и предметное стекло В световой микроскопии. Как предметное стекло не должно поглощать световые лучи, так и подложка не должна заметно рассеивать электроны. Поэтому подложки должны быть изготовлены из вещества, [c.176]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология