Аномальное рассеяние

Состояние двух равновесно существующих фаз, при достижении которого фазы становятся тождественным и по свойствам называется критическим состоянием. Критическое состояние характеризуется критическими значениями температуры, давления и удельного объема. Б критическом состоянии системы жидкость - пар удельные объемы жидкой и паровой фаз становятся одинаковыми, теплота ФП обращается в нуль, исчезает граница раздела фаз и поверхностное натяжение. Сжимаемость системы жидкость - пар очень велика, вследствие чего резко возрастают флуктуации плотности. В критическом состоянии появляются особые свойства вещества, например аномальное рассеяние света (критическая опалесценция) и возрастание теплоемкости. [c.20]

Полное решение задачи об абсолютной конфигурации молекул дает метод аномального рассеяния рентгеновских лучей, который используется для этих целей с 1949 г. [c.167]

Первые два метода позволяют лишь относительно устанавливать конфигурацию энантиомеров. Только рентгеноструктурный анализ с использованием аномального рассеяния рентгеновских лучей решает вопрос об абсолютной конфигурации хиральных молекул. [c.168]

АНОМАЛЬНОЕ РАССЕЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ-МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ АБСОЛЮТНОЙ КОНФИГУРАЦИИ [c.216]

В общем курсе кристаллохимии рассматриваются методы исследования структуры кристаллов — рентгеноструктурный анализ, нейтронография и, частично, электронография. Однако не дается изложение специального метода рентгеноструктурного анализа, который используется для определения абсолютной конфигурации молекул. Такая задача возникает при изучении оптически активных веществ. В гл. VIH, IX и X представлены оптические методы исследования оптически активных веществ. Особенность этих методов состоит в том, что легко определить с их помощью различие в абсолютной конфигурации молекул, но нет возможности прямого отнесения экспериментальных данных по ДОВ или КД к определенному энантиомеру. Именно эту проблему и решает метод аномального рассеяния рентгеновских лучей. [c.216]

Из решения этого уравнения можно найти для одного электрона амплитуду р а с се я н и я /х и затем атомную амплитуду аномального рассеяния/а в комплексной форме [c.220]

АНОМАЛЬНОЕ РАССЕЯНИЕ И ОПРЕДЕЛЕНИЕ АБСОЛЮТНОЙ КОНФИГУРАЦИИ МОЛЕКУЛ [c.221]

Поскольку при рассеянии в области поглощения (при аномальном рассеянии) изменяется фаза рассеяния на атоме по сравнению с нормальным рассеянием, возникает новая возможность при изучении дифракции рентгеновских лучей. Так, например, в упрощенной модели дифракционного эксперимента при рассеянии на двух [c.221]

Теперь можно показать, что в общем случае аномального рассеяния для структур, не имеющих центра симметрии, не выполняется закон Фриделя. Действительно, [c.222]

Следовательно, в случае аномального рассеяния энантиоморфными структурами рефлексы, связанные центром симметрии, имеют различную интенсивность и их отнесение позволяет определить абсолютную конфигурацию. [c.223]

Один из путей определения энантиомерной структуры состоит в том, что сначала проводят обычное рентгеноструктурное исследование в области нормального рассеяния, из которого находят структуру вещества, но с точностью до знака всех координат атомов. Затем проводят эксперимент в условиях аномального рассеяния хотя бы одного атома. Измеренные величины /(Н) и /(Н) сравнивают с рассчитанными на основе структурных амплитуд, т. е. сопоставляют уравнения для разностей этих величин [c.223]

Практически единственным методом, позволяющим определять абсолютную конфигурацию, является метод аномального рассеяния рентгеновских лучей. Благодаря автоматизации эксперимента существенно расширяется база структурных данных, [c.224]

Сформулируйте условия нормального и аномального рассеяния рентгеновских лучей атомами. [c.226]

В чем состоит особенность выражения для амплитуды атомного аномального рассеяния [c.226]

Какова зависимость фазы аномального рассеяния атома от частоты падающего излучения [c.226]

Докажите, что в случае аномального рассеяния рентгеновских лучей имеется возможность определить абсолютную конфигурацию энантиомера. [c.226]

XVI. Аномальное рассеяние рентгеновских лучей — метод определения абсолютной конфигурации [c.279]

В последние годы постепенно расширяется область применения синхротронного излучения (СИ), испускаемого электронами, движущимися в синхротроне. Это излучение охватывает большой интервал длин волн, включая рентгеновскую область спектра. Для монохроматизации необходимо отражение от монокристалла. Перспективы использования СИ обусловлены высокой интенсивностью источников излучения, возможностью плавного изменения длины волны, что представляет интерес для структурного анализа, так как позволяет более эффективно использовать эффект аномального рассеяния (см. раздел 7.4). Другая область - применение длинноволнового рентгеновского излучения для структурного анализа биологических объектов с большими параметрами решетки. [c.15]

Проблему заселенности одних и тех же позиций атомами разного сорта можно решить используя эффект аномального рассеяния с применением синхротронного излучения. Так, в сложных оксидах возможно заселение [c.204]

Это правило нарушается, если некоторые из атомов, входящих в состав кристалла, попадают в область аномального рассеяния используемого излучения. [c.69]

Как уже отмечалось, закон Фриделя нарушается, если рентгеновские лучи попадают в область аномального рассеяния атомами одного из (или ряда) элементов, входящих в состав кристалла. Эта область определяется близостью длины волны рентгеновских лучей к краю К- или -полосы их поглощения элементом если X края элемента несколько больше, чем X лучей, то рассеяние лучей атома.ми этого элемента сопровождается небольшим изменением их начальной фазы. Этот дополнительный сдвиг по фазе отражается, естественно, и на результирующей амплитуде дифракционного луча. [c.80]

Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей — подобрать источник излучения (длину волны Я) так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг (см. с. 81). Тогда амплитуды отражений F hkl) и F (hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F (hkl) и F (hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [c.133]

Существует несколько приемов решения этой задачи. Простейший из них — учет аномального рассеяния на заключительной стадии уточнения координат и расчет Р-фактора как для того варианта, который использовался при уточнении, так и для варианта с координатами [c.133]

Важнейшие из побочных факторов поглощение рентгеновских лучей при прохождении через кристалл, эффекты первичной и вторичной экстинкции, аномальное рассеяние рентгеновских лучей атомами. [c.138]

Практически он учитывается заменой табличного значения атомной амплитуды атома / , на комплексную величину/ -==/ ,е у/, где ф/ — сдвиг по фазе, вызванный аномальным рассеянием. Поскольку ф, мало, более удобна формула fj = (P/ + Af ) + iAf , , где Afi и Af"i — малые по величине поправки к исходной амплитуде f°j. Как и fj, эти поправки приводятся в специальных справочниках в виде таблиц в функции Я и Z,-. [c.98]

Метод аномального рассеяния, основанный на сопоставлении амплитуд F(hkl) и F(hkl), не равных друг другу в условиях, когда длина волны рентгеновского излучения близка к краю полосы поглощения одного из атомов исследуемого кристалла . [c.147]

Сочетание метода аномального рассеяния с энергодисперсионной методикой регистрации отражений, позволяющей сопоставлять значения F(hkl), полученные при разных длинах волн. Особенно перспективно здесь использование синхротронного излучения. [c.147]

Существует несколько приемов решения этой задачи. Простейший из них — учет аномального рассеяния на заключительной стадии уточнения координат и расчет / -фактора как для того варианта, который использовался при уточнении, так и для варианта с координатами всех атомов, измененными на обратные. Вариант с более низким i -фактором дает истинную абсолютную конфигурацию. [c.178]

РЕНТГЕНОВСКАЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЯ АНОМАЛЬНОГО РАССЕЯНИЯ [c.40]

Впервые этот метод был использован в 1951 г. Бийво для определения абсолютной конфигурации аниона винной кислоты в двойной натрийрубидиевой соли Na, КЬ-С4Н40б-4Н20. В качестве источника использовалось ТСа-излучение циркония с 0,0784 нм. При этом атом Rb давал аномальное рассеяние, так как поглоще- [c.223]

Метод аномального рассеяния широко используется также для установления абсолютных конфигураций комплексных соединений и биоорганических соединений [c.224]

I Ф (Н) I, несовершенства кристаллов как дифракционных решеток). Поэтому наряду с прямыми методами разработаны и успешно используются различные экспериментальные приемы решения фазовой проблемы (методы тяжелого атома, изоморфных замещений, аномального рассеяния [6, гл. V—VII]). Новые перспективы решения фазовой проблемы открывает мёссбауэрогра-фия — резонансный структурный анализ [7]. [c.14]

Комплексные /, заменяют вещественные // в формуле структур-турной амплитуды (28), Так как сдвиг по фазе не зависит от индексов дифракционного луча и, в частности, не заменяется па обратную величину при переходе от hkl к hkl, то включение поправки на аномальное рассеяние делает лучи с индексами hkl и Ш не вполне равноценными по интенсивности и, следовательно, нарушает закон центросимметричности рентгеновской оптики, [c.81]

Метод наименьщих квадратов для уточнения атомных параметров структуры в изотропном и анизотропном приближении, с учетом вторичной экстинкции (см. с. 75) и аномального рассеяния (см. с. 81) в полноматричном и блок-диагональном приближении. [c.146]

Методом аномального рассеяния рентгеновских лучей было установлено, что соед. I-III действительно имеют К.с,, к-рая соответствует именно этим проекц. формулам. Поэтому если относит, конфигурации к.-л, асимметрич. атомов определены путем сопоставления с этими структурами, то такие К,с. наз. также абсолютными конфигурациями. [c.457]

Хиральная С. оперирует понятиями элементов хиральности, т. е. найм, структурных фрагментов молекулы, к-рые обладают хирмьностью. Соотв. различают центральную, осевую, планарную и винтовую хиральность. Установление абс. конфигурации хирального фрагмента молекулы производится посредством корреляции (соотношения) с др. молекулами, конфигурация к-рых уже известна. В конечном счете существует единств, метод, к-рый позволяет отличить правую конфигурацию от левой -аномальное рассеяние рентгеновских лучей. [c.433]

До 1949 г. на вопрос о конфигурации нельзя было ответить в абсолютном смысле ни для одного оптически активного соединения. В 1949 г. Вийо, директор лаборатории Вант-Гоффа в Утрехтском университете (разд. 3.2), сообщил об определении действительного пространственного расположения атомов в оптически активном соединении особым методом рентгеноструктурного анализа (методом аномального рассеяния). Этим соединением была ( [-)-вин-ная кислота — та же кислота, на примере которой ровно 100 лет назад Пастер открыл оптическую изомерию. До 1949 г. были установлены связи между конфигурацией (+)-винной кислоты и конфигурациями сотен оптически активных соединений (методами, которые будут рассмотрены в разд. 7.4 и 31.6) теперь, когда известна абсолютная конфигурация (4-)-винной кислоты, сразу же стали известны и абсолютные конфигурации других соединенний (Для втор-бутилхлорида, например, установлено, что (—)-изомер имеет конфигурацию I, а (4-)-изомер — конфигурацию П.] [c.87]