Интерференция с усилением

Из разд. 2.7 вы уже знаете, что электромагнитное излучение обладает волновыми свойствами, причем каждая волна характеризуется определенной частотой V, длиной волны X и распространяется со скоростью света с. Волновая природа излучения при определенных условиях может обусловливать дифракцию волнового фронта, в результате чего происходит интерференция — усиление волн, совпадающих по фазе, и ослабление волн с противоположными фазами (рис. 10.9). [c.173]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны X. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (рис. 1.77). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 6 лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том случае, когда б равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.77, луч Si отраженный от плоскости атомов Ри проходит меньший путь, чем луч S , отраженный от соседней плоскости Р , разность этих путей равна сумме длин отрезков АВ и ВС, Поскольку АВ ВС = d sin ф, то 6 = 2d sin ф (где d — расстояние между плоскостями отражения, ф — угол, образуемый падающим лучом и плоскостью). Усиление отраженного излучения происходит при условии [c.142]

Это наложение максимально в области между ядрами на линии, соединяющей их. Так же как интерференция волн приводит к их усилению или погашению в области наложения, здесь в межъядерной области происходит усиление или ослабление электронной плотности по сравнению с удвоенной атомной в зависимости от того, имеют С1 и Са одинаковые или разные знаки. [c.61]

Волновая теория. Если два луча от одного и того же источника света встречаются в одной точке пространства, то происходит интерференция света, т. е. взаимное усиление или ослабление интенсивности лучей. При прохождении света через небольшие отверстия наблюдается его д и ф р а к ц и я, т. е. отклонение света от первоначального направления в одной и той же однородной среде, например в воздухе. Интерференция и дифракция типичны для волновых процессов. Волны, распространяющиеся на поверхности воды, позволяют легко увидеть эти явления. Была также установлена тесная связь света с электрическими и магнитными явлениями. Поэтому в прошлом веке утвердилась волновая теория, согласно которой свет — это электромагнитные волны. Они непрерывно излучаются нагретым [c.14]

Другой способ нормировки экспериментальных кривых рассеяния основан на законе сохранения интенсивности, который можно сформулировать так интенсивность рассеяния не зависит от того, как расположены атомы друг относительно друга, образуют ли они кристалл, молекулы жидкости или газа. Интерференция между волнами, рассеянными данным числом атомов, приводит лишь к перераспределению интенсивности, усилению в одних направлениях и ослаблению в других, не изменяя суммарной ее величины. Поэтому если нормированные экспериментальные значения интенсивности проинтегрировать по всем 5, то этот интеграл будет равен интегралу по значениям интенсивности, даваемым изолированными атомами [c.102]

Интерференцией автор называет взаимное погашение волн. Но в большинстве случаев этот термин употребляют в более широком смысле под интерференцией понимают как взаимное погашение, так и взаимное усиление волн. — Прим. перев. [c.64]

Рис. 2.17. Усиление и ослабление волн при интерференции.

Рис. 5-18. Диаграмма, иллюстрирующая интерференцию монохроматического света с усилением и ослаблением.

Уравнение (56) легко вывести из схемы (рис. 18, а), из которой следует, что усиление отраженного луча 1 вследствие его интерференции с отраженным лучом 2 возможно только тогда, когда на разности их хода (выделенные части лучей 2-4) уложится целое число волн излучения. [c.214]

Если трещину наблюдать в отраженном свете, то происходит интерференция лучей света, отраженных от нижней и верхней (по ношению к наблюдателю и источнику света) поверхностей створок трещин. Так как усиление луча света соответствует определенной разности хода, то наблюдаемые интерференционные полосы (обозначенные пунктиром на рис. П.23) соответствуют равным расстояниям между створками трещины. Форма и расположение интерференционных полос соответствуют форме, расположению и размерам трещины. Таким образом, по наблюдаемой [c.85]

Простая линейная дифракционная решетка рассеивает свет во всех направлениях, но в основном в плоскости, перпендикулярной линиям решетки, так как последние составляют систему параллельных щелей. Даже и в этой плоскости возникает только несколько интенсивных дифрагированных пучков, поскольку в других направлениях интерференция вызывает погашение. Условие взаимного усиления соседних рассеянных волн (рис. 88) состоит в том, что разность хода должна составлять целое число длин волн, т. е. пХ = d sin 0. Дифракционная картина, возникающая на экране или фотографической пластинке, состоит из центрального пятна, обусловленного нерассеянным пучком наряду с двумя или тремя более слабыми пятнами по обе стороны от центрального эти пятна представляют собой дифракции первого, второго и высших порядков в зависимости от значений п. [c.297]

Для измерения показателей преломления в невидимых областях спектра могут быть использованы явления интерференции в тонких пластинках. Луч, прошедший слой вещества I порядка нескольких длин волн, и луч, дважды отраженный от стенок кюветы (рис. 117), имеют оптическую разность хода 21п. Условие максимального усиления их при интерференции [c.246]

Зная расстояния между двумя рассеивающими центрами и длину волны, легко можно вычислить углы, при которых будет происходить усиление и интерференция. Схема, на основании которой построен расчет, показана на рис. 44. На этом рисунке r — расстояние от первого рассеивающего центра и гг — расстояние от второго рассеивающего цент- [c.63]

Автор называет интерференцией взаимное погашение воли в противоположность их взаимному усилению. Таково точное значение термина. Но нередко его употребляют в более широком смысле, называя интерференцией как взаимное погашение, так и взаимное усиление волн.— Прим. ред. [c.63]

До сих пор предполагали, что рентгеновские лучи одинаково рассеиваются различивши узлами решетки и что усиление волн в соответствии с принципами оптической интерференции приводит к образованию дифракционных пучков, распространяющихся в определенных направлениях при повороте кристалла на соответствующий угол. Если между каждой парой плоскостей с заданным расположением узлов решетки находятся плоскости, узлы решетки в которых сдвинуты на межузлового расстояния относительно узлов в первых двух, то происходит гашение рентгеновского луча, т. е. отражение отсутствует. Этим чисто геометрическим способом — фиксированием наличия или отсутствия точек на фотопленке и измерением их Положения — можно определить размеры элементарной ячейки, класс симметрии и очень часто — пространственную группу. Если [c.42]

Волновая теория. Если два луча от одного и того же источника света встречаются в одной точке пространства, то происходит интерференция света, т. е. взаимное усиление или ослабление интенсивности лучей. При прохождении света через небольшие отверстия наблюдается его д и ф р а к ц и я, т. е. отклонение [c.13]

Всю поверхность щели можно разделить на небольшие участки, считая каждый из них точечным источником. Колебания от каждого такого источника распространяются во все стороны и если бы не происходила интерференция колебаний, идущих от разных точек, то свет во всех направлениях распространялся бы с одинаковой интенсивностью. В действительности же интерференция приводит к усилению света в некоторых направлениях, и к его ослаблению и даже полному гашению в других. [c.17]

В основу действия шахтных интерферометров положен предложенный Жаменом способ измерения показателей преломления газов и жидкостей с использованием явления сложения в пространстве двух световых волн (интерференция света). При таком сложении наблюдается характерное пространственное распределение интенсивности света (интерференционная картина) в виде чередующихся светлых и темных полос, отражающих усиление или ослабление амплитуды результирующей волны. Интерференционная картина наблюдается только при сложении световых волн одной длины, когда разность фаз слагаемых волн остается неизменной т. е. световые волны когерентны. [c.700]

Толщину кювет, как и тонких пленок, в интервале от сотых до нескольких десятых мм точнее всего определяют также по интерференционной картине. Интерфе-рограмму получают при записи спектра пустой кюветы или пленки в виде характерной гребенки чередующихся максимумов и минимумов, которые возникают из-за интерференции (усиления и ослабления) отраженного от разных поверхностей (внутренних в пустой кювете) излучения. Толщина слоя точно рассчитывается по формуле [c.274]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны Л (рис. 1.71). Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (атомные п.10скости pi, p , Рз, Ра). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 5 лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление излучения происходит в том случае, когда <> равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны находятся в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.71, луч Si, [c.151]

Всю поверхность щели можно разделить на небольшие участки, считая каждый из них точечным источником. Колебания от каждого распространяются во все стороны и если бы не про-ренция колебаний, идущих от разных точек, то свет ниях распространялся бы с одинаковой интенсив-тельности же интерференция приводит к усилению аправлениях и к его ослаблению и даже полному [c.17]

Вывод уравнения Брэггов сводится к выяснению условий интерференции рентгеновских лучей от частиц, составляющих плоскости в кристалле. Условие усиления интерферированного луча разность хода лучей должна быть равна целому числу длин волн. Луч 1 возбуждает атом А и уходит под углом в от плоскости. Луч 2 возбуждает атом В и частично атом С, лежащий в следующей плоскости. Суммируют излучение атомов С и В и лучи интерферируют. [c.99]

Для работы в инфракрасной области спектра и в приборах ео скрещенной оптикой применяют решетки с профилированным шагом с числом штрихов на миллиметр, равным 10. Такие дифракционные решетки называют эшелле и эшеллетами. Эти решетки нарезаны таким образом, что излучение данной длины волны концентрируется главным образом в одном порядке. При прохождении монохроматического света через узкую щель на экране видна дифракционная картина. Один из лучей проходит через щель прямо, образуя в центре интенсивную полосу. Другие лучи той же длины волны отклоняются от него симметрично на разные углы, величины которых зависят от длины волны монохроматического света. При освещении дифракционной решетки немонохроматическим светом на экране наблюдается усиление одних участков спектров и ослабление других вследствие интерференции. Если выбрать из этого потока только те лучи, которые образуют с основным направлением света, падающего на дифракционную решетку, угол ф, то можно заметить, что пути лучей будут отличаться на величину аЬ. Если эта величина будет равна длине волны света или четному ей числу, то освещенность будет максимальной. Если величина аЬ будет равна [c.653]

Более удобным способом ивляется использование частиц-меток для усиления светорассеивающих свойств меченого конъюгата. Когда частицу облучают моисхроматическим светом, падающее поле вызывает флук ацяю диполя и свет рассеивается перпещщкулярно оси диполя в направлениях, которые дают информацию о размере частицы. Характер рассеяния зависит от соотношения между объеме частицы и длиной волны. Если длина волны намного больше, чем частица, свет одинаково рассеивается во всех направлениях, но если размер частицы увеличивается, то интерференция рассеянного света в различных точках на частице уменьшает количество света, рассеиваемого о атно в сторону источника, и образует участки высокой интенсивности (рис. 7.9-9). [c.584]

Иа рис. 5-17 приведена оптическая схема ИК-детектора с преобразованием Фурье. Излучение от ИК-источника проходит через интерферометр. Разделитель лучей иронускает часть иучка к движущемуся зеркалу, отражая другую его часть на закрепленное зеркало. После отражения иучков от движущегося и закреиленного зеркала свет рекомбинируется на разделителе лучей. Зеркала расположены таким образом, что длины путей пучков света различны. Поэтому ири объединении лучей они не совпадают по фазе, в результате чего наблюдается интерференция с усилением и ослаблением. Рис. 5-18 иллюстрирует возникновение интерференции с усилением и ослаблением для монохроматического света. Система интерференционных полос с усилением и ослаблением для всех длин волн, достигающих детектора, называется интерферограммой (интерференционной картиной) (рис. 5-19). [c.87]

Таким образом, условие Бора (2Л) означает, что ка душне орбиты укладьгаается целое число длин волн и происходит иитерферейционное усиление электронной волны. Между боровскими орбитами эле1стро1 в волны гасятся интерференцией. К (2.2) надо добавить равенство центростремительной силы сило кулоновского притяжения [c.7]

Рис. 6.5.2. а — суперпозиция пары пиков, каждый из которых представлен в смешанной моде иа иижием квадранте координаты резонансных пиков смещены вдоль положительной диагонали ДЯ = ДПг = 4X1 = 4Хг (т. е. смещение равно удвоенной полной ширине линии иа половине высоты) из-за наложения отрицательных дисперсионных компонент и положительных компонент поглощения это дает интерференцию с ослаблением. На верхнем квадранте пики смещены вдоль отрицательной диагонали (ДЙ1 = - ДЙ2 = 4Х = 4X2), что дает интерференцию с взаимным усилением б — суперпозиция двух смещенных иа ДП = ДПг = 4Х] = 4X2 пиков чистого поглощения. Показаны линии уровня, соответствующие 22, 16, 10, 4 и -4 процентам максимальной высоты изолированного пика. Отрицательные линии обозначены пунктиром. [c.376]

Методы определения координат атомов в кристаллической решетке с помощью рентгеноструктурного анализа хорошо отработаны и продолжают совершенствоваться. В основе их. лежит изучение картины дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Пучок рентгеновского излучения рассеивается на атомах решетки, причем в результате интерференции лучей, рассеянных в определенном направлении от разных областей решет ки, происходит практически полное гашение рассеянного пучка. Взаимное усиление п])оисходит лишь в некоторых определенных направлениях, удовлетворяющих уравнению. Лауэ [c.309]

Эккел [115] в исследованиях по различной обработке поверхностей катализаторов и по влиянию ее на каталитическую активность, а также на химическое превращение, утверждает, что 1) активность нерекристаллизован-ного никеля и шлифованных листов никеля не может быть приписана неоднородности поверхности, 2) обработка на холоду и шлифовка одинаково влияют на структуру катализатора. Шлифование затрагивает только наружные атомные слои предполагается, что такое воздействие приводит, с одной стороны, к разрушению зерна, а с другой стороны, к деформированию решетки, в ссо- енности в плоскости скольжения. Это вызывает усиление интерференции рентгеновских лучей соответственно наблюдаемому на Ка дублете прокатанного листа никеля. Сдвинутые при деформации атомы могут быть элиминированы нагревом, что указывает расщепление дублета Ка. Определения активности, проведенные с никелем, нагретым до 200, 235, 270 и 350°, показывают, что снижение активнссти соответствует расщеплению дублета Ка. Эккел считает, что полученные им результаты убедительны он предполагает, что каталитически активные места отличаются атомами, которые сдвинуты в каком-либо направлении от нормального положения, а также изменили атомные расстояния. [c.247]

Теория интерференции рентгеновских лучей. Интерференция рентгеновских лучей, как и световых лучей, происходит в том случае, если имеет место взаимное усиление или ослабление в зависимости от угла рассеяния соседних лучей после их отражения от плоскостей решетки. Условие, необходимое для усиления рентгеновских лучей, отраженных от различных, равноотстояш их одна от другой плоскостей решетки, можно легко найти по рис. 40. [c.232]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология