Амплитудная селекция

Для того чтобы устранить это явление, необходимо применять усилители с амплитудной селекцией [99] или непрерывно изменять в небольших пределах частоту посылаемого в изделие звука. Наиболее простым методом изменения (модуляции) частоты является соединение осп вращающегося конденсатора, входящего в выходной контур высокочастотного генератора, с электромотором. При этом изменения частоты излучаемого звука определяются конструктивными параметрами конденсатора п [c.128]

Селективность контроля ультразвуковым дефектоскопом достигается за счет контроля изделия по слоям с системой временной селекции сигналов и лупой времени . Кроме того, в дефектоскопах предусмотрена амплитудная селекция, т. е. отсечка (ограничение) сигналов по минимуму. [c.157]

Амплитудная селекция [54]. Некоторые детекторы позволяют обеспечить пропорциональность между средней амплитудой импульса и энергией рентгеновского кванта. С помощью амплитудной селекции — своего рода электронного фильтра — можно выделять для дальнейшего счета импульсы определенной амплитуды, не пропуская остальные импульсы. Следовательно, при соответствующих условиях можно выделить из пучка рентгеновских лучей и считать кванты только определенных энергий (см. 2.13). Амплитудная селекция усложняется тем, что даже моноэнергетическое рентгеновское излучение дает импульсы с различными амплитудами, распределенными около некоторого среднего значения, как показано на рис. 20. [c.60]

Рис. 23. Зависимость средней амплитуды импульсов от энергии кванта, иллюстрирующая амплитудную селекцию характеристических линий. Пропорциональный счетчик диаметром 76 мм с боковым окном, на осевую проволоку диаметром 0,13 мм подано напряжение 1275 в, наполнен аргоном с 10% этилена, общее дав ление 150 мм рт. ст., коэффициент газового усиления 3,5- 10 .

Одна из интересных модификаций счетчика Гейгера улучшает регистрацию длинноволнового рентгеновского излучения [66]. Счетчик сделан проточным, что позволило успешно применить более тонкие окошки. Кроме того, он был укорочен для того, чтобы уменьшить поглощение в нем коротковолнового рентгеновского излучения. Все это сыграло ту же роль, что и амплитудная селекция. [c.70]

Если пропорциональный счетчик используется для амплитудной селекции (см. 2.13), то схема должна удовлетворять дополнительным требованиям. Особенно важное значение приобретают линейность (см. выше) и высокая стабильность напряжения. Как следует из рис. 22, в области работы пропорционального счетчика (между Уг и Уз) коэффициент усиления сильно зависит от напряжения. Кроме того, для обеспечения надежности амплитудной селекции в этой области нельзя допускать искажений импульсов. [c.75]

В отличие от счетчика Гейгера, в пропорциональном и сцинтилляционном счетчиках можно добиться пропорциональности между величиной (амплитудой) импульса и энергией регистрируемого рентгеновского кванта. Так как эта энергия обратно пропорциональна длине волны, амплитудная селекция делает возможным спектральный анализ (рис. 23). Поэтому интересно сравнить амплитудную селекцию с брэгговским отражением (см. 1.14), поскольку она позволяет сортировать рентгеновские лучи по длинам волн. Следует также выяснить, может ли метод амплитудной селекции при необходимости заменить кристалл-анализатор, а также можно ли использовать их совместно. Такие методы применяются в основном в рентгеновской эмиссионной спектроскопии (см. гл. 7), [c.76]

Существуют способы, позволяющие справиться с этими наложениями. Прямым методом является амплитудная селекция (см. 2.13). В гл. 7 рассмотрено определение вольфрама в водном растворе. В данном очень сложном случае рассеянная линия мишени налагается на такую же линию образца. Эта трудность была успешно преодолена введением соответствующей поправки на фон. [c.117]

СТИ Lai-линии тантала при одном положении гониометра. Избыток разрешающей способности (как бы запас прочности ДЯ) для этого случая показан на рис. 46 (вверху). Здесь может быть полезной амплитудная селекция. [c.129]

Рис. 80. Фон при определении алюминия в сплаве Альнико. Амплитудная селекция облегчает анализ, уменьшая роль фона и линий никеля и титана (V и III порядки отражения), входящих в состав сплава 123]

Амплитудная селекция импульсов [c.320]

Рис. 91. Запись спектра флуоресценции от одной и той же пробы (стекло) самописцем спектрометра без амплитудной селекции импульсов (а) и с применением селектора (б). Анод трубки хромовый, кристалл-анализатор — РЕ

Использование амплитудной селекции сигналов применяют не только в амплитудных анализаторах, но и в приборах с кристалл-анализатором. [c.243]

Особенности амплитудной селекции, вернее энергетической дисперсии, часто позволяют решать очень сложные задачи [c.243]

Метод несравненно превосходит по светосиле все приборы с кристаллами, но уступает им по разрешающей силе. Поэтому он незаменим при измерениях слабых интенсивностей, особенно при работе со спектрами, которые бедны числом своих линий. Сочетание же амплитудной селекции со светосильными, даже слабыми по разрешающей способности, кристалл-анализаторами позволяет получить не только высокое разрешение спектра, но и высокую чувствительность и точность результатов анализа. [c.244]

Флуоресцентный метод анализа дает меньшую интенсивность спектральных линий, чем с электронным возбуждением спектра, но контрастность и порог чувствительности у него выше отсутствует фон, ибо нет тормозного излучения. Картина резко меняется, если при регистрации спектра использовать амплитудную селекцию импульсов. [c.247]

Оценка эффективности амплитудной селекции сигналов. Настоящий подраздел содержит описание методики приближенной оценки эффективности амплитудной селекции сигналов от частиц дисперсной фазы [c.83]

Амплитудная селекция сигналов позволяет уменьшать частоту поступления данных от частиц дисперсной фазы при проведении измерений в гетерогенном потоке Dp, снижая тем самым значение перекрестной помехи. Для упрощения последующего анализа примем допущение о том, что присутствие частиц-трассеров не оказывает влияния на частоту поступления данных от частиц дисперсной фазы, т.е. D Dp ( Dp — частота поступления данных от частиц дисперсной фазы в отсутствие частиц-трассеров). В этом случае эффективность амплитудной дискриминации (степень подавления сигналов частиц дисперсной фазы) определим из выражения [c.85]

Таким образом, для эффективности амплитудной селекции сигналов получим . 2 1 /2 [c.86]

Для получения количественной оценки эффективности амплитудной селекции сигналов с использованием соотношения (3.5.18) необходимо знание отношения максимальных амплитуд сигналов частиц-трассеров и частиц дисперсной фазы, однако выражения (3.5.6) и (3.5.8) не позволяют это сделать, т. к. каждое из них содержит по две неизвестные величины вид-ности сигналов 7]pf, Щр и функции рассеяния G dpf), G dp). [c.86]

В итоге из (3.5.18) имеем три различных зависимости для оценки эффективности амплитудной селекции сигналов [c.87]

Эффективность амплитудной селекции сигналов в зависимости от соотношения диаметров частиц дисперсной фазы и частиц-трассеров представлена на рис. 3.18. Данный рисунок подтверждает отмеченное выше обстоятельство о том, что применение амплитудной дискриминации не позволяет полностью исключить перекрестную помеху. [c.87]

Рис. 3.18. Эффективность амплитудной селекции сигналов в зависимости от соотношения диаметров частиц дисперсной фазы и частиц-трассеров (кривые 1 - 3 построены по соотношениям (3.5.22))

В итоге область возможных значений перекрестной помехи перед проведением экспериментов по измерению параметров несущей фазы гетерогенного течения при использовании амплитудной селекции сигналов можно оценить как [c.88]

Контроль селекции сигналов. Данный подраздел содержит описание методики контроля эффективности амплитудной селекции сигналов при проведении измерений параметров несущей фазы. [c.88]

Дифрагированное от кристалла излучение попадает в детектор, преобразующий кванты рентгеновского излучения в электрические импульсы, амплитуда которых пропорциональна энергии квантов. После усиления и амплитудной селекции, позволяющей исключить компоненты фона, обусловленные высшими порядками дифракции и рассеянием постороннего излучения, импульсы поступают в пересчетное устройство, регистрирующее их количество за время экспозиции. Количество зарегистрированных импульсов может быть выведено на табло, цифропечать или передано в ЭВМ для последующей обработки и расчета концентраций определяемых элементов. [c.11]

Элекфонная часть предназначена для питания феррозондовых преобразователей, а также для обработки исходных первичных сигналов, включая их последующую амплитудную селекцию, после которой производится вывод сигнала-команды на сортировочные усфойства. [c.357]

Большая путанлца возникает вследствие того, что термины амплитудный анализ, амплитудная дискриминация и амплитудная селекция иногда употребляются слишком произвольно или равнозначно. Мы будем придерживаться Международного словаря по физике и электронике [54, сгр. 715, 716], где для аппаратуры, выполняющей соответствующие функции, даны следующие определения [c.60]

При анализе на легкие элементы приходится разрешать линии, разность длин волн которых велика. Для таких анализов трудно подобрать хорошие кристаллы, поэтому амплитудная селекция весьма парспектиана. [c.77]

Если бы не было так трудно уменьшить разбросы амплитуд, появилась бы возможность замены кристаллов амплитудными селекто(рами при разложении рентгеновских лучей в спектр с целью определения состава образца. При разложении лучей в спектр с помощью брэгговского отражения (см. 4.9) потери интенсивности велики вследствии коллимации пучка и большого расстояния от образца до детектора (см. 4.16). Если выделение спектральных линий осуществлять амплитудным селектором, образец может быть помещен очень близко от детектора, благодаря чему резко возрастет интенсивность аналитической линии (и фона). Так как всегда можно ввести поправку на частичное наложение соседней линии, если ее интенсивность известна, то нет необхо димости, чтобы селектор шолностью разрешал близкие спектральные линии. Однако удовлетворительные измерения такого рода требуют значительно более тщательной стабилизации источника питания детектора, чем это необходимо в других случаях. В настоящее время невозможно предсказать, насколько широко в дальнейшем будет проводиться замена кристаллов амплитудными селекторами, так как в этом направлении сделаны лишь первые шаги. Во всяком случае такая замена будет возможна не всегда. Она может быть перспективной, если рентгеновский спектр образца o tOiHt из сравнительно небольшого числа линий, далеко отстоящих друг от друга. Чем больше расстояние между линиями, тем лучше, но всегда эти расстояния должны быть ке меньше, чем для линий одной серии рентгеновских спектров элементов, отличающихся на несколько атомных номеров. Метод амплитудной селекции прежде всего может быть применен для контроля производственных процессов и в ряде других простых задач, требующих быстрого реагирования или высокой интенсивности. [c.78]

Таблица 32. Эффективность действия амплитудной селекции импульсов (АСИ) ири иодавлении фона

Интенсивность излучения элементов гораздо выше, когда проба бомбардируется пучком электронов. При этом сокращается время набора импульсов, а граница определяемых элементов значительно смещается в сторону более легких из них. Это говорит и о том, что повышается чувствительность возбуждения спектральных линий. Однако последнее не следует путать с чувствительностью самого анализа без применения амплитудной селекции импульсов, т. е. энергетической дисперсии (см. с. 241 и 246), реальная чувствительность анализа в этих случаях гораздо ниже, чем при флуоресцентном методе. В то же время анализ с нанесением пробы на анод рентгеновской трубки не совсем удобен для обычной работы и к тому же достаточно длителен. Практичнее оказались способы анализа обособленной пробы флуоресцентным методом и с рентгеновскими трубками без окон. В настоящее время особое внимание уделяется модели такой трубки, сконструированной в виде электронной пушки . В ней при высоком вакууме и в сильном электрическом поле электроны приобретают большую скорость, выходят через узкое выходное отверстие и бомбардируют электронентральную пробу. Форма пробы и ее подготовка к анализу в этом случае ничем не отличаются от применяемых в пракпп ре1 Тгенофлуоресцептного метода анализа. [c.202]

Рис. 93. Величина фона в спектре сплава Альнико при определении алюминия без амплитудной селекции импульсов и с применением амплитудных дискри иина-торов

Для изучения обратного влияния частиц на характеристики течения потока газа необходимо проведение измерений полей мгновенных скоростей частиц-трассеров, моделирующих движение сплошной среды, в присутствии частиц дисперсной фазы и их последующей статистической обработки. Главная проблема при проведении такого рода измерений в гетерогенных потоках — вероятность возникновения перекрестной помехи сигналов от обоих видов частиц (мелких частиц-трассеров и крупных частиц дисперсной фазы), присутствующих в течении. Точность получаемых результатов во многом зависит от того, в какой степени можно отделить сигналы от указанных выше частиц. Отметим, что серийно выпускаемые ЛДА производства фирм TSI (США) и Dante (Дания) не оборудованы устройствами, позволяющими осуществлять селекцию сигналов. Тем не менее в течение последних лет ЛДА стали основным инструментом при исследовании гетерогенных потоков. При проведении этих экспериментов исследователи были вынуждены разрабатывать устройства, осуществляющие дискриминацию сигналов. Ниже описываются методы селекции сигналов, а также методика теоретической оценки эффективности амплитудной селекции сигналов и ее контроля экспериментальным путем. [c.80]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология