Электронная микроскопия просвечивающая

Основное отличие электронного микроскопа от оптического — использование потока электронов вместо лучей света, а вместо стеклянных линз — магнитных или электрических. На рис. 15 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [c.45]

Рис. VI.2. Схема формирования изображения в электронном микроскопе просвечивающего типа.

Источником электронов в электронном микроскопе просвечивающего типа служит вольфрамовая проволока, которую сильно нагревают электрическим током. От катода К электроны устремляются к аноду А, в центре которого есть отверстие. Разность потенциалов между катодом и анодом составляет несколько тысяч вольт. Благодаря огромному напряже- [c.50]

Контрастность изображения, получаемого в электронном микроскопе просвечивающего типа, как отмечалось выше, определяется различием в рассеивании электронов отдельными элементами объекта, отличающимися но толщине и плотности. [c.187]

Среди разнообразных методов исследования при помощи электронного микроскопа просвечивающего типа можно выделить группу методов, различающихся условиями образования изображения. К этой группе целесообразно отнести светлопольный и темнопольный методы, метод муара и микродифракцию. [c.15]

Электронный микроскоп — один пз наиболее совершенных приборов для изучения коллоидных систем- На рис. 14 приведен общий вид отечественного электронного микроскопа просвечивающего типа. [c.45]

Длительное время растровые приборы значительно уступали электронным микроскопам просвечивающего типа в разрешении, однако благодаря успехам вакуумной техники и созданию катодных пушек нового типа в настоящее время для рутинных работ используются [c.358]

ИЗУЧЕНИЕ УСТРОЙСТВА ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА ПРОСВЕЧИВАЮЩЕГО ТИПА [c.258]

УЭМВ-100Т — универсальный электронный микроскоп просвечивающего типа 1-го класса с предельным разрешением 0,8 нм. Увеличение плавно изменяется от 300 до 200 000Х. Позволяет проводить исследования в светлом и темном поле. [c.147]

В настоящее время наибольшее распространение получили электронные микроскопы просвечивающего типа, так как они обладают наибольшей разрешающей способностью и с их помощью можно всесторонне исследовать самые различные объекты. Эти микроскопы позволяют получать светлопольные, темнопольные и стереоснимки в широком диапазоне увеличений. Ниже рассмотрено устройство электронных микроскопов только этого типа. [c.169]

С целью изучения влияния природы волокнистого наполнителя яа структуру полиэфирного армированного пластика в нашей работе был применен метод электронной микроскопии с использованием растрового электронного микроскопа (РЭМ), который позволяет получать почти трехмерное изображение исследуемой поверхности и исключает трудоемкий метод приготовления реплик с поверхности при использовании электронного микроскопа просвечивающего типа. [c.100]

Оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа аналогична оптической схеме светового микроскопа (рис. 7-6). [c.222]

Электронным микроскопом называется прибор, дающий увеличенное изображение объекта и использующий вместо света пучок быстрых электронов [1—3]. В качестве линз в электронном микроскопе используются электрические или магнитные поля. Наибольшее распространение в физико-химических исследованиях дисперсных тел получили электронные микроскопы просвечивающего типа. [c.237]

Оптическая система электронного микроскопа просвечивающего типа. Исследуемый объект в электронном микроскопе просвечивающего типа освещается пучком электронов, получаемым в электронной пушке. Между катодом и анодом электронной пушки приложено высокое напряжение (обычно 150—100 кв), формирующее эмиттируемые накаленным катодом электроны в пучок и ускоряющее их до больших скоростей. Получаемый таким образом электронный пучок фокусируется в дальнейшем электромаг- [c.237]

Определение подробной структуры мембран и органелл в клетках возможно только при высоком разрешении, которое дает просвечивающий электронный микроскоп. Просвечивающий электронный микроскоп также используют для определения формы индивидуальных макромолекул, оттененных тяжелыми металлами или негативным контрастированием. Однако точное расположение каждого атома в молекуле можно определить только после образования молекулами крупных кристаллов. В этом случае с помощью рентгеноструктурного анализа может быть рассчитана полная трехмерная структура молекулы. [c.194]

Ценность электронного микроскопа заключается в его способности разрешать объекты, которые не разрешаются оптическим микроскопом в видимом или ультрафиолетовом свете. Короткая длина волны электронов, которая уменьшается в прямой зависимости от подаваемого ускоряющего напряжения, позволяет разрешать, т. е. различать как отдельные объекты, отстоящие друг от друга всего на 2А (0,2 нм или 0,0002 мкм) или даже меньше, в то время как предел разрешения световой оптики лежит вблизи 0,2 мкм (он зависит от длины волны используемого света). На практике самые лучшие современные электронные микроскопы просвечивающего типа в самых оптимальных условиях работы (т. е. при при соответствующих вакууме, центрировке линз, ускоряющем напряжении, чистоте прибора, физической стабильности и качестве приготовленного образца) дают разрешение в диапазоне 0,5—1,0 нм. Но биологические образцы имеют вполне определенную толщину реально предел разрешения для срезов достигает около 2,5 нм, а для негативно контрастированных препаратов — около 1,0 нм. Чтобы улучшить разрешение, нужны мастерство и хорошо налаженный прибор. Образцы и поддерживающие пленки-подложки с большой толщиной увели- [c.92]

Наряду с приборами просвечивающего типа используют сканирующие электронные микроскопы, обеспечивающие рельефное изображение поверхности объекта. Разрешающая способность этих приборов значительно ниже, чем у электронных микроскопов просвечивающего типа. [c.18]

Рис. 25. Электронный микроскоп просвечивающего типа.

Рис. 19. Электронный микроскоп просвечивающего типа

Эффективным средством идентификации параметров и автоматизированного построения моделей пористых сред являются вычислительные комплексы, оснащенные средствами автоматического анализа изображения (ААИ). Принципиальная схема одного из таких вычислительных комплексов показана на рис. 3.3. При помощи передающего телевизионного сканирующего устройства изображение объекта может быть введено в цветном или чернобелом варианте непосредственно с плоскости наблюдения во всех ее видах, т. е., например, с фокальной плоскости окуляра оптического микроскопа, с экрана электронного микроскопа, с экрана телевизора, а также фотографических репродукций и др. Соответственно в схему ААИ может быть включен оптический микроскоп, электронный микроскоп (просвечивающий, эмиссионный или растровый), приемное телевизионное устройство, эпидиаскоп и т. п. Скорость работы современных ААИ более чем на 5 порядков превышает скорость работы человеческого глаза при значительно более высокой чувствительности (свыше 200 точек на [c.125]

Как видно из рис. VI. 16 и в, оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа в основных чертах напоминает оптическую схему обычного светового микроскоца (рис. VI. 1а) с тем отличием, что в электронном микроскопе источник света заменен источником электронов, а стеклянные линзы — электромагнитными или электростатическими. Электронные лучи создаются и формируются специальной электронно-оптической системой, которая называется электронной пушкой. Нагретая до высокой температуры вольфрамовая пить 1 (рис. VI.16 и й) эмитирует электроны, которые, попадая в ускоряющее поле электронной пушки, образуют пучок. В центре анода имеется небольшое отверстие, через которое пролетают электроны, используемые в дальнейшем для образования изображения. Далее электронный пучок попадает в конденсорную линзу 2, которая фокусирует его на исследуемый объект 3. Пройдя через объект, электронные лучи попадают в поле объективной линзы 4, которая создает промежуточное изображение 5, а затем в проекционную линзу 6, направляющую электронные лучи на флюоресцирующий экран и образующую конечное изображение 7. Флюоресцирующий экран покрыт веществом, способным светиться под действием ударов электронов (сульфид цинка, сульфид кадмия). Благодаря этому электронное изображение превращается в световое и становится видимым. Электронное изображение может быть зафиксировано на фотопластинке. [c.170]

Наилучшее разрешение в микроскопии может быть достигнуто с электронными микроскопами просвечивающего типа (трансмис-сионньпйи). Для формирования изображения в ТЭМ применяется мо-нокинетический пучок быстрых электронов, ускоренный высоким напряжением (50-100 кВ или даже 1 МВ), которые фокусируются электронными линзами (электрическим или магнитным полем). Изображение объекта проецируется на флуоресцирующий экран или фотопластинку. Ход лучей в просвечивающем электронном и оптическом микроскопе практически идентичен, высокое разрешение ТЭМ достигается исключительно за счет короткой длины волны электронного луча. Чтобы электронный пучок прошел в микроскопе весь путь (до 100 см) без соударений, в колонне микроскопа применяется высокий вакуум (Ю -Ю мм рт. ст.). [c.354]

Электронно-микроскопический анализ. Этот метод дает представление о строении кристаллических областей в ас-фальтенах, а также наглядную картину об их надмолекулярной организации. Исследования выполняются в просвечивающих и сканирующих (растровых) электронных микроскопах. Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно получать как электронно-микроскопический снимок, так и электроно-грамму в области больших и малых углов. Разрешающая способность их составляет [c.91]

За пределами чувствительности всех рассмотренных методов изучения микрогеометрии поверхности лежит целая область микрошероховатости и субмикросконических неровностей. Эта категория неровностей с размерами 10 —10 см представляет существенный интерес для оценки поверхностей субстратов. Наиболее перспективным методом изучения подобных микронеровностей является электронная микроскопия. Прогресс в создании совершенных и разнообразных электронных микроскопов способствует расширению этих исследований. До последнего времени наиболее широкое применение находили электронные микроскопы просвечивающего типа. В этих случаях структуру поверхности исследуют при помощи реплик — тонких прозрачных для электронов слепков с поверхности. Многочисленные способы получения реплик подробно описаны в руководствах [41, 241—244]. [c.96]

В развитии электронной микроскопии можно различать три периода [1]. Со времени появления первого электронного микроскопа просвечивающего типа в 1 932 г. [2] и до 1940 г. продолжался первый период, когда основное внимание было сосредоточено на улучшении конструкции приборов и разработке простейших методик препарирования. Проводившиеся исследования имели целью показать потенциальные возможности электронной микроскопии. К 1940 г. был создан прибор с разрешающей способностью около 50 А, конструкция которого в общих чертах сохранилась и до сих пор. [c.3]

ЭЛЕКТРОНИОМИК РОСКОПЙЧЕ-СКИЙ АНАЛИЗ — анализ структуры твердых тел методами электронной микроскопии. Применяется с 1931. Для Э. а. используют электронные микроскопы просвечивающие, отражательные, эмиссионные и растровые. В просвечивающих микроскопах падающий пучок электронов, проходя через исследуемый образец, рассеивается (упруго и неупруго) атомами кристаллической решетки, вследствие чего образуются один или несколько дифрагированных иучков, составляющих с падающим пучком углы до 1—2°. При фокусировании этих пучков получается изображение, дифракционный контраст к-рого зависит от распределения интенсивности электронов, отраженных под брэгговскими углами от разных участков образца. [c.774]

На рис. 50 показана принципиальная схема магнитного электронного микроскопа просвечивающего типа. Сверху микроскопа находится электронная пушка , состоящая из катода 1, фокусирующего электрода 2 и анода 3. Между катоОгом и анодом приложена большая разность потенциалов (от 30 до 100 кет в зависимости от конструкции микроскопа), причем анод заземляется. Выходящий из пушки поток быстрых электронов фокусируется конденсорной линзой 4, проходит сквозь исследубхмый объект 5 и попадает в объективную линзу 6. Объективная линза создает первое промежуточное изображение 7. Для наблюдения промежуточного изображения в этой плоскости помещают флуоресцирующий экран. Электроны, попадая на флуорес- [c.74]

Рис, 50. Схема, магаитного электронного микроскопа просвечивающего типа [c.75]

Особенно привлекает исследователей в этом типе электронного микроскопа то, что нет необходимости подвергать объекты для исследования слолсной обработке не требуются окрашивание, проводка через серию жидкостей, изготовление ультратон-ких срезов, которые необходимы для электронного микроскопа просвечивающего типа. Объект обычно приклеивают к объекто-держателю так, чтобы его толщина была меньше рабочего расстояния (между линзой и объектом), равного 5 мм. Сканирующий электронный микроскоп расширяет возможности изучения непрозрачных объектов, давая интересную информацию о поверхностных структурах. Так, его можно применять для исследования пыльцы, спор грибов, одноклеточных организмов, микро- и мегаспор, волосков, устьиц, желёз и т. д. [c.53]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология