Электронная микроскопия трансмиссионная

Трансмиссионная электронная микроскопия [c.127]

Существует три основных метода световая оптическая микроскопия, трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), растровая (или сканирующая) электронная микроскопия (РЭМ или СЭМ). Методы различаются сферами применения, определяемыми разрешением микроскопа. Разрешающая способность микроскопов определяется длиной волны излучения А, показателем преломления среды между образцом и линзой п р и углом приема линзы 6 [c.353]

Микроскопическое изучение вулканизационной сетки. Вулка-низат подвергают набуханию до равновесного состояния в стироле в присутствии пероксида, ингибитора и небольшого количества пластификатора (фталата). После полимеризации стирола из полученного композита вырезают ультратонкие образцы, которые обрабатывают тетраоксидом осмия и рассматривают с помощью трансмиссионной электронной микроскопии (ТЭМ). При достаточно большом увеличении можно увидеть сетчатую структуру, темные области которой соответствуют цепям сетки или их пучкам, однако на определенной стадии в процессе фазового разделения образуется тройная система, состоящая из эластомера, полистирола и сополимеризованного стирола. При этом наблюдается линейная корреляция между размерами ячеек и молекулярной массой цепей сетки М что позволяет оценивать плотность цепей сетки для отдельных фаз вулканизатов смесей, причем результаты хорошо согласуются с данными ЯМР-спектроскопии набухших вулканизатов. [c.517]

Электронная микроскопия (сканирующая - СЭМ и трансмиссионная - ТЭМ) превосходит оптическую по разрешающей способности и позволяет исследовать как ненаполненные, так и наполненные смеси. Однако при использовании электронной микроскопии могут возникнуть проблемы с контрастированием фаз, что требует или тонирования одной из фаз, или физической обработки. При близкой ненасыщенности эластомеров приходится применять более сложную процедуру травления. [c.576]

Маль разработал трансмиссионный электронный микроскоп с электростатическими линзами. [c.276]

Методом трансмиссионной электронной микроскопии было, показано, что напряженный материал растворяется избирательно на тех участках, где имеется высока плотность дислокаций. Их происхождение может быть результатом как скопления дислокаций по плоскостям скольжения, так и пересечения дислокаций с границами зерен и двойников. [c.110]

Рис. 24-2. А. Ворсинки слизистой тонкого кишечника видно, как велика площадь, через которую происходит всасывание продуктов пищеварения. Всасываемые аминокислоты, сахара и соли поступают в кровеносные капилляры, а триацилглицеролы - в расположенные в центре ворсинок лимфатические сосуды. Каждая эпителиальная клетка несет большое число микроворсинок. Б. Микрофотография ворсинок, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа. В, Г. Микрофотографии соответственно продольного и поперечного срезов ворсинок, полученные с помощью трансмиссионного электронного микроскопа видны внутренние микрофиламенты, обеспечивающие волнообразное движение ворсинок.

С помощью электронной микроскопии были достигнуты значительные успехи в изучении пористой структуры высокопроницаемых сетчатых полиэлектролитов. Вопросы подготовки образцов аморфных полимеров для электронно-микроскопического исследования и соответствие получаемых изображений реальным структурам обсуждаются в ряде работ [70, 40, 74]. Методом трансмиссионной электронной микроскопии (ТЭМ) исследуют тонкие срезы [c.24]

Растровая электронная микроскопия (РЭМ) предназначена для исследования рельефа новерхности образцов. Принцип РЭМ основан на сканировании поверхности образца электронным пучком с одновременной регистрацией вторичных электронов, вылетающих с исследуемой поверхности. В растровом микроскопе используется более низкое но сравнению с трансмиссионным рабочее напряжение 1—30 кВ. При больших ускоряющих напряжениях может происходить плавление микроструктуры образца из-за большого разогрева поверхности. Поэтому полезное увели- [c.25]

С помощью трансмиссионной электронной микроскопии в целом ряде полимеров обнаружена неоднородность структуры порядка 5—20 нм, которая занимает до 50 % объема в любом исследованном стеклообразном полимере (поликарбонат, поли-метилметакрилат, полиэтилентерефталат) [118]. Такие узелковые образования обнаружены и в полистироле, и в натуральном каучуке. Они присутствуют как в атактических, так и в стерео-регулярных полимерах. Считают, что нодулярная (узелковая) структура отличается высокой степенью упорядоченности. Предполагается, что аморфные полимеры состоят из малых доменов (3—10 нм), в которых имеет место локальный порядок (или укладка соседних сегментов). [c.37]

По характеру получаемой информации Э.-з. м. можно разделить на 3 фуппы 1) методы исследования топофа и пов-сти и кристаллич. структуры твердых тел 2) методы локального анализа 3) методы исследования электрофиз. характеристик и электронной структуры твердых тел. К первой фуппе относятся, в частности, электронная микроскопия - трансмиссионная (просвечивающая) (ТЭМ) и растровая (РЭМ), методы дифракции медденных (ДМЭ) и быстрых [c.443]

Измерены средние размеры полученных частиц при различных концентрациях полимеров методом динамического светорассеяния. Так, для полимеров с М 2000, 2600, 3300 максимальный вклад в распределение частиц по размерам вносят частицы с радиусом 20, 47 и 52 нм, соответственно. Наличие сферических частиц такого рашера подтверждено с помощью трансмиссионной электронной микроскопии. [c.92]

Имеется сравнительно немного микроструюурных данных в масштабе трансмиссионной электронной микроскопии, касающихся индуцированного внешней средой разрушения этих материалов. Поведение высокопрочных мартенситных сталей определяется процессами, связанными с основами механики разрущения [15, 16, 22, 344] и вполне может контролироваться диффузией водорода впереди трещины [318]. В отличие от всех уже рассмотренных систем сплавов, в сталях, особенно в высокопрочных, могут отсутствовать эффекты, обусловленные дислокационным транспортом водорода и характером скольжения. Однако, как мы уже отмечали, в этих сталях наблюдаются эффекты, связанные с влиянием состава и микроструктуры, для объяснения которых возможно понадобится привлечь представление о дислокационном транспорте. Один из главных вопросов относится к поведению примесей-ингибиторов рекомбинации водорода, поскольку их выделение в [c.142]

Трансмиссионная микроскопия реализуется с помощью трансмиссионных (просвечивающих) электронных микроскопов (ТЭМ рис. 1), в к-рых тонкопленочный объект просвечивается пучком ускоренных электронов с энергией 50-200 кэВ. Электроны, отклоненные атомами объекта на малые 5ТЛЫ и прошедшие сквозь него с небольшими энергетич. потерями, попадают в систему магн. линз, к-рые формируют на люминесцентном экране (и на фотопленке) светлопольное изображение внутр. структуры. При этом удается достичь разрешения порядка 0,1 нм, что соответствует увеличениям до 1,5 10 раз. Рассеянные электроны задерживаются диафрагмами, от диаметра к-рых в значит. степени зависит контраст изображения. При изучении сильно-рассеивающих объектов более информативны темнопольные изображения. [c.439]

Э. проводят в спец. приборах - электронофафах, в к-рых поддерживается вакуум 10 -10 Па, время эксггозиции ок. 1 с, или в трансмиссионных электронных микроскопах (см. Электронная микроскопия). Образцы для исследований готовят в виде тонких пленок толщиной 10--50 нм, осаждая кристаллич. в-во из р-ров или суспензий, либо получая пленки вакуумным распьшением. Образцы представляют собой мозаичный монокристалл, текст у или поликристалл. [c.451]

Более точная локализация этих веществ возможна посредством трансмиссионной электронной микроскопии в самом деле, в протоплазме можно наблюдать различные клеточные компарт-менты, отграниченные биологической мембраной, и обнаруживать [c.137]

Хотя повышение pH и ионной силы или присутствие липидов способствует агрегации всех глиадинов [10], образование фибрилл наблюдалось только у некоторых а-глиадинов. Ввиду этого возможно, что образование фибрилл вовлекает вторичные специфические взаимодействия, зависящие от конформации основных единиц [114]. Структура других глиадинов может препятствовать образованию фибрилл этого типа. К тому же иммунохими-ческое исследование глиадинов [28] показывает, что а-, р-, у- и ы-глиадины состоят из иммунологически различных белков, т. е. различных по своей третичной структуре. Различие антигенных структур недавно подтверждено методом ELISA [179]. Обнаружены различия в N-концевых последовательностях. Изучение структуры глиадинов с помощью трансмиссионной и сканирующей электронной микроскопии обнаруживает в них не определенную структуру, а аморфную совокупность [55, 142]. [c.198]

Распределение различных наполнителей и добавок изучают традиционными методами трансмиссионной и сканирующей электронной микроскопии [15]. Основной проблемой, однако, остается изучение распределения оксидных наполнителей или типа и местонахождения органических добавок. Эта проблема может быть решена путем использования элементоотражающей спектроскопической просвечивающей электронной микроскопии (ЭОС-ПЭМ). В этом случае нет необходимости в специальной подготовке образцов, поскольку фазы идентифицируются путем обнаружения характерных для них элементов. Метод ЭОС-ПЭМ успешно использован для всестороннего анализа наполнителей и аддитивов в каучуковых системах и для выявления жестких доменов в сегментированных полиуретанах [16]. [c.467]

В настоящем разделе приводятся результаты исследования методами ИК-спектроскопии, фотолюминесценции (ФЛ), электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и трансмиссионной электронной микроскопии (ТЭМ) синтетических монокристаллов алмаза. От- бирались полногранные кристаллы с зеркально гладкой поверхностью, достаточно прозрачные, что позволяло проводить исследования спектров поглощения. Кристаллы содержали небольшое коли- [c.427]

Методом трансмиссионной электронной микроскопии исследовались три группы синтетических алмазов, подвергнутых термообработке под давлением обычные кристаллы с содержанием азота м з кристаллы практически безазотные— [c.432]

Стевенс [81 ] в обзоре, посвященном исследованию кристаллогидратов с помощью микроскопической техники, описывает применение светового микроскопа с дополнительными приспособлениями (например, с обогреваемым столиком) в сочетании со сканирующим и трансмиссионным электронным микроскопом. Автор отмечает, что во избежание потерь летучих продуктов при электронномикроскопических исследованиях следует применять замкнутую влажную ячейку. Такую ячейку описывает Фуллам [34] в ней предусматривается хорошее уплотнение по краям, а также наличие окошек из тонкой эластичной полимерной пленки, обеспечивающей абсолютную герметичность препарата. Сочетание таких качеств может быть с успехом достигнуто при использовании двухслойной пленки, получаемой из растворов полимера в подходящем растворителе. Фуллам применял окошки из материала Формвар и нитроцеллюлозы растворы наливали последовательно на поверхность стекла, пленку затем смывали на чистую водную поверхность и собирали на медные сетки (400 меш). Толщина каждого из таких окошек составляла 300—400 А. Для предотвращения контакта образца с окошком служила пленка возогнанного монооксида кремния. Описано применение такой [c.516]

Такую возможность предоставляет применение оптического и электронного микроскопов. Причем при помощи последнего может быть получено не только изображение сферолита и отдельных его участков, но и картина электронной дифракции в малых и больших-углах. Так же, как и в случае монокристаллов, исследуемых в трансмиссионном электронном микроскопе, ограничение на непосредственное изучение тонких сферолитных пленок таким способом накладывает высокая радиационная повреждаемость полимерных объектов. Наибольшей устойчивостью к воздействию ионизирующего облучения обладают фторсодержащие полимеры, в частности, поливинилиденфторид (ПВФ). Электронномикроскопическое и электроннодифракционное исследование растянутых тонких пленок ПВФ, содержащих сферолиты, дало очень много ценной информации в отношении действующих мод деформации при растяжении сферолитов [40]. [c.189]

Несовершенства кристаллического строения алмаза исследуются пря-мыми. методами, включающими трансмиссионную электронную микроскопию, рентгеновскую топографию (методы Берга — Барретта и Фудживары [159, 164]), электронную микротопографию, а также непрямыми методами [194]. [c.54]

Рис. 2-7. Микрофотография крысиного гепато-цита (клетки печени основного типа), полученная методом трансмиссионной электронной микроскопии. Красным цветом выделена плазматическая мембрана, обладающая большой площадью поверхности и образующая многочисленные складки. Эти пальцеобразные выросты клеточной мембраны, благодаря которым значительно увелргаивается площадь ее поверхности, более четко видны на микрофотографии изолированного гепатоцита, полученной методом сканирующей электронной микроскопии (рис. 2-20).

Смотреть страницы где упоминается термин Электронная микроскопия трансмиссионная: [c.606] [c.60] [c.41] [c.439] [c.439] [c.8] [c.333] [c.369] [c.316] [c.65] [c.237] [c.238] [c.238] [c.276] [c.282] [c.45] [c.344] [c.41] [c.123] [c.137]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология