Возбуждение в плазме

Одним из преимуществ возбуждения в плазме является то, что при этом фактически исключаются молекулярные полосы, связанные с окислами металлов. Это особенно важно, когда исследуются элементы, образующие в пламенах горелок воздух — топливо стойкие окислы. Однако было показано, что степень окисления можно сильно снизить в большинстве случаев просто за счет введения аэрозоля в яркое пламя, образуемое смесью воздух — ацетилен, которая обогащена топливом. Другая методика, оказавшаяся особенно полезной в атомно-абсорбционных исследованиях, основана на использовании неяркого пламени окись азота — ацетилен. В таком пламени нет кислорода, и оно достаточно горячо для того, чтобы способствовать диссоциации большинства солей. [c.95]

Отношение интенсивностей линий аналитической пары определяется не только вышеупомянутыми эффектами. Все те факторы, которые влияют на эмиссию паров, также играют роль, поскольку они воздействуют на возбуждение элементов х и г. Так, температура паров посторонних элементов, входящих в плазму во время возбуждения, изменяется, что приводит к изменению во времени условий возбуждения в плазме. Кроме того, если, например, линия X или г подвержена самопоглощению, то играет роль также плотность холодных паров, окружающих излучающую плазму. Этот фактор также меняется во времени и поэтому влияет на значение ЛУ. Характерный пример такого влияния показан [c.200]

Влияние третьего элемента может проявляться двояко. Во-первых, он воздействует на процесс испарения, т. е. на поступление в плазму элементов х и г, причем иногда в разной степени. Во-вторых, он может изменять условия возбуждения в плазме и, таким образом, значения интенсивностей /х, 1г или обеих сразу (разд. 2.2.9 в Па]). [c.218]

Накладываемый на дугу импульс может изменить как условия возбуждения в плазме разряда, так и ее состав. При возбуждении в таком разряде спектров вещества электродов наблюдается усиление линий атомов и ионов по сравнению с дугой [1—3]. В случае пробы, находящейся в кратере электрода, происходит увеличение интенсивностей линий ионов при неизменны интенсивностях линий атомов [4]. [c.24]

Глава 9 Возбуждение в плазме [c.198]

А. Д. Сах л ров, Изв. АН СССР, серия физическая, 12, 372 (1948), Температура возбуждения в плазме газового разряда. [c.778]

Рассмотрены способы увеличения чувствительности и точности прямого спектрального анализа. Особое внимание уделено обсуждению процессов поступления микроэлементов из кратера электрода и их распределению и возбуждению в плазме. Разработаны принципиально новые методы определения галогенов, серы, фосфора в геологических объектах, а также ряд методов определения микроэлементов с повышенной чувствительностью в чистых веществах, геологических объектах и лунном грунте. Подробно обсуждается механизм воздействия магнитного поля, инертных газов при анализе сухих остатков разбавленных растворов, нанесенных на торец электрода. Приведены способы повышения чувствительности определения примесей РЗЭ в различных объектах эмиссионным спектральным и люминесцентным методами. [c.362]

Аналитические пары спектральных линий. Наличие зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации атомов в плазме разряда (кривая роста) указывает на возможность проведения количественного анализа. Однако необходимо учитывать целый ряд явлений, искажающих эту зависимость и нарушающих правильность количественного определения. Действительно, интенсивность спектральных линий зависит от условий возбуждения в плазме разряда (сила разрядного тока, индуктивность разрядного контура, мощность и продол- [c.28]

Выше были рассмотрены процессы ионизации и возбуждения в плазме, температура которой постоянна во всем объеме системы. Существующая во многих случаях неоднородность поля температур может привести к появлению новых эффектов. Если плазма оптически тонка, такая неоднородность несущественна, поскольку уравнения (I. 4. 169) и (I. 4. 158) локальны. Когда же условия таковы, что поглощение излучения значительно, положение осложняется, так как уравнения кинетики ионизации и возбуждения являются теперь интегро-дифференциальными. Правда, их можно приближенно представить в виде дифференциальных уравне- [c.154]

Для повышения чувствительности метода двойной дуги Шролл и др. [6] сконструировали макротигель из графита. Использование такого тигля позволяет из большой навески пробы (около 10 г) определять летучие элементы с чувствительностью 10 %. На рис. 3.25 показана двойная камера, в которой имеется перегородка с отверстиями, предназначенная для устранения выброса пробы. Тигель нагревают дугой постоянного тока (220 В, 24 А), а испаряющиеся пары возбуждают дугой переменного тока при силе тока 8 А или искрой (С = 6 мкФ, = 0,1 мГ, и = 1,5 кВ). В таком источнике излучения процессы испарения материала и возбуждения в плазме в значительной степени разделены друг от Друга. [c.133]

Электрические колебания в плазме. Возможность возбуждения в плазме электрических колебаний была впервые экспериментально установлена в 1929 году. Колебания были обнаружены путём соединения одного из основных электродов и внешней металлической обкладки трубки или специально введённого внутрь трубки электрода с системой лехеровских проводов. [c.313]

Обычно концентраты, полученные после выпаривания экстрактов на коллектор, содержат остатки органических реагентов и продуктов их разложения. Присутствие органических веществ в концентрате может влиять на процессы возбуждения в плазме, вследствие чего / тенсив-ность излучения линий элементов-примесей становится зависимой от содержания этих веществ. В этих случаях, как правило, необходимо тщательно озолить экстракты. [c.169]

В известных пределах изменения концентрации величины а н Ь можно считать постоянными, что на практике выражается в прямолинейности графика зависимости 1д/ от 1 С. При значительных изменениях концентрации прямолинейность нарушается. Причина этого лежит не только в самопоглош,ении линии, которое наступает при значительных концентрациях элемента в плазме, но и в том, что концентрация элемента в плазме весьма сложным образом зависит от концентрации его в пробе Кроме того, хорошо известное влияние третьих компонентов на результат анализа является следствием не только изменения условий возбуждения в плазме, но и изменения условий поступления вешества. [c.223]

Резонансное поведение ограниченных плазменных образований во внешних высокочастотных электрических полях стало за последнее время предметом широкого изучения (см., например [1]). Однако к настоящему времени хорошо изучены только высокочастотные резонансные эффекты, связанные с возбуждением в плазме электронных плазменных волн (так называемые резонансы Тонкса—Даттнера). Поэтому интересно исследование резонансных эффектов, связанных с возбуждением низкочастотной ветви волн в плазме. Как будет показано ниже, изучение низкочастотных резонансов ограниченной плазмы более перспективно с точки зрения разработки методов диагностики плазмы. [c.101]

Чувствительность и точность эмиссионного спектрального анализа в значительной мере определяется процессами в источниках возбуждения спектров. Поэтому, естественно, было обращено внимание на исследование этих процессов, а именно процессов поступления микроэлементов из кратера электродов и их распределения и возбуждения в плазме. В изучение этих процессов большой вклад внесли работы Боуманса [1], Райхбаума [2—4] и ряда других исследователей [5—11]. В первую очередь были достигнуты определенные успехи в исследовании процессов поступления элементов в плазму. [c.17]

Систематическиё ошибки действуют длительное время в одну сторону. Например, по какой-то причине изменилось сопротивление контактов в электрической схеме искрового или дугового генератора, от этого изменились условия возбуждения в плазме, разряда результат определения будет отклоняться в какую-то одну сторону все время, пока действует эта причина. При длительном использовании одной и той же группы эталонов изменяются свойства эталонов (например, вследствие многократного теплового воздействия разряда) и изменяется выход вещества в зону разряда. Это приводит к смещению аналитических кривых и к ошибкам определения в одну сторону, пока не будут сменены эталоны. Случайные ошибки действуют в разных направлениях и приводят к тому, что при многократном повторении анализа одной и гой же пробы результаты определения будут колебаться в обе стороны относительно некоторого среднего значения для данной серии измерений. Длительно действующая систематическая ошибка будет смещать это среднее значение в какую-то одну сторону. Случайные ошибки вызываются неоднородностью пробы, неоднородностью фотографической пластинки, плохой воспроизводимостью межэлектродного промежутка при установке электродов, неоднородностью проявления и другими случайными причинами. [c.114]

Кроме того, значения "х = = ЪеЮ = ф (с/Мд) получаются из экспериментов в электронных роях при малых степенях ионизации и возбуждения. В плазме электрических разрядов степени возбуждения и ионизации существенно выше и могут повлиять на зависимость Ё х = ф (й /Л д), поскольку возможно изменение ФР электронов. Расчеты для плазмы азота показали, что учет влияния колебательного возбуждения молекул не меняет существенно низкоэнергетической части ФР (см. рис. 3.3) и не влияет на величины скорости дрейфа и характеристической энергии [112, ИЗ, 348]. Увеличение степени ионизации влияет на нигкоэнергетическую часть ФР и, следовательно, должно приводить к искажению зависимости "х = Ф ёШо), полученной в электронных роях. [c.82]

Обратная реакция СО О1 " СОт -ь О в силу своей зкзоэргичности, по-видимому, слабо стимулируется колебательным возбуждением в плазме молекул окиси углерода. [c.61]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология