Аналитическая кривая

Построить аналитические кривые для определения неизвестных концентраций элементов примесей, используя три метода количественного спектрального анализа трех эталонов, [c.268]

Для определения в каком-либо аппарате коэффициента продольного перемешивания Dj или параметра Пекле для продольного перемешивания Ре можно сопоставить экспериментальную кривую отклика на импульсный ввод индикатора с аналитической кривой, полученной решением уравнения (III.13) при z = 1. При решении этого уравнения большое внимание уделяют краевым условиям. [c.111]

Метод трех стандартов основан на использовании зависимости между относительным почернением аналитической пары линий и логарифмом концентрации элемента в пробе. Используется следующее математическое выражение аналитической кривой [c.107]

Способы устранения мешающих факторов можно разделить на две основные группы. К первой группе относят фотографические способы количественного спектрального анализа, при которых градуировочные графики действительны только для одной фотографической пластинки, на которой рядом с анализируемыми образцами обязательно снимаются стандартные образцы (метод трех эталонов, метод одного эталона, метод двух спектральных линий и т. п.). Это наиболее универсальные, надежные и точные методы, требующие большой затраты времени, фотоматериалов, эталонов. Ко второй группе относят более экспрессные способы — методы постоянного графика или постоянной аналитической кривой, основанные на учете или иа устранении таких свойств фотографической [c.681]

Ниже приведены некоторые приемы анализа по методу постоянного графика или постоянной аналитической кривой. [c.685]

Эта процедура итераций прошла широкую проверку. Она дает быструю сходимость, так как гиперболическая аппроксимация в действительности почти всегда с достаточной точностью представляет аналитическую кривую зависимости С от к. Как правило, число требуемых итераций редко превышает три. [c.29]

Эта формула является математическим выражением всех аналитических кривых, которые строятся при проведении количественного спектрального анализа [1, 2]. [c.240]

Аналитические кривые, которые строят при проведении количественного спектрального анализа для градуировки метода, охватывают обычно небольшой интервал концентраций. Поэтому они в логарифмических координатах, как правило, прямолинейны. Наклон прямой к оси абсцисс (коэффициент Ь) должен быть в общем случае равен единице, если используются такие концентрации в облаке источника света, при которых самопоглощение еще отсутствует коэффициент Ь может быть меньше 1, что указывает на наличие самопоглощения. [c.247]

Методы построения аналитических кривых [c.261]

Для проведения анализа необходимо построить аналитическую кривую зависимости lg = / (С) по эталонным образцам с известным содержанием примеси, а затем, измерив отношение в неизвестном образце, определить концентрацию элемента в образце. [c.261]

Такая аналитическая кривая, построенная в логарифмических координатах, часто прямолинейна, что облегчает ее построение и, следовательно, позволяет свести число эталонов к минимуму. [c.261]

Построение подобной аналитической кривой является градуировкой данного метода количественного спектрального анализа. [c.262]

Для проведения аналитической прямой достаточны две точки (два эталона). Однако не всегда заранее известно, что для данного типа сплава аналитическая кривая является прямой, поэтому необходимо иметь еще хотя бы одну точку. Кроме того, наличие трех или более точек позволяет точнее установить положение аналитической кривой и провести эту кривую (или прямую). Минимальное число эталонов для этого — три, поэтому и метод получил название метода трех эталонов. [c.262]

Если почернения одной или обеих линий из аналитической пары находятся в области недодержек, то аналитическая кривая не является прямой линией и это, конечно, снижает точность анализа. [c.263]

После построения аналитической кривой анализ сводится к определению 1 С по измеренному значению А5 в исследуемом образце. [c.263]

Метод постоянной аналитической кривой. Для проведения количественного спектрального анализа в ряде случаев выгодно получать аналитическую кривую, не зависящую от свойств фотографической пластинки. Для этого необходимо пользоваться координатами lg Я, lg С. Переход от плотности почернения 5 к логарифму относительной интенсивности может быть осуществлен двумя способами [c.264]

Этот метод измерения относительных интенсивностей определяет расстояние между характеристическими кривыми, построенными для двух линий — примеси и сравнения (рис. 157). Определив таким образом относительную интенсивность в спектре эталонов, можно построить постоянную аналитическую кривую, по которой определяется неизвестная концентрация сплава. [c.265]

Во всех описанных выше случаях, кроме метода трех эталонов , может иметь место смещение аналитической кривой параллельно самой себе от неконтролируемых изменений в условиях возбуждения спектра. [c.265]

Для проверки этого смещения применяют фотографирование спектра одного из эталонов вместе с пробами, чтобы уточнить положение аналитической кривой. [c.265]

Измерения для каждого эталона проделать по два раза, и для построения аналитической кривой взять среднее значение. Перед каждой экспозицией эталон и подставной электрод должны быть тщательно зачищены. [c.277]

По этому методу определяют коэфф. контрастности для фотонластинок, на к-рых сфотографированы спектры эталонов, и для фотопластинок со спектрами анализируемых проб. Св-ва фотопластинок учитывают введением переводного множителя , позволяющего согласовывать измерения, сделанные па разных фотопластинках использованием характеристической кривой фотопластинки фотометрировапием со ступенчатым ослабителем, дающим возможность измерять непосредственно величину логарифма интенсивности (метод фотометрического интерполирования). Для контроля положения аналитической кривой фотографируют спектры эталонов (метод контрольного эталона). При фотоэлектрической регистрации спектра световая энергия преобразуется фотоэлементом или фотоэлектронным умножителем в электрическую. По величине же электр. сигнала оценивают интенсивность спектральной линии. Фотоэлектрические методы основываются на тех же зависимостях, что и визуальные и фотографические. Однако используются другие устройства — двухканальные (папр., тина ФЭС-1) или многоканальные установки типа квантометров (напр., типов ДФС-10, ДФС-31, ДФС-36, ДФС-41). В фокальной плоскости 36-канального прибора типа ДФС-10 есть 36 выходных щелей и приемных блоков, к-рые настроешл на определенные спектральные линии и сведены в программы по 5—12 элементов в каждой (сталь, чугун, цветные снлавы). Для анализа одного образца необходимо 3—5 мин. Пламенная фотометрия также является фотоэлектрическим методом анализа, где в качестве источника света используется пламя горючего газа (напр., светильного) [c.423]

Пример построения аналитической прямой показан на рис. 158. Если по каким-либо причинам почернения аналитических пар линий на первой пластинке не окажутся в области нормальных почернений, то в этом случае метод трех эталонов не используется (п. 1). В этом случае следует строить аналитическую кривую в координатах 1 i , lg С. [c.268]

В случае применения ФЭС-1 аналитические кривые строят по эталонам в координатах lg п — lg С (п — показание выходного прибора, С — концентрация анализируемого элемента в образце). [c.272]

Линия моновариантных равновесий Ое, изображаюш,ая зависимость точки превращения от давления, называется кривой превращения. Как уже отмечалось, эта линия имеет много общего с линией плавления. Аналитически кривая превращения также описывается уравнением Клапейрона—Клаузиуса. Но между фазовыми процессами — плавлением и полиморфным превращением — имеется существенная разница, а именно обе полиморфные модификации можно получать в метастабильном состоянии, т. е. перегреть форму, устойчивую ниже точки превращения, и переохладить форму, устойчивую выше этой точки, в то время как твердое тело нельзя перегреть выше точки плавления. [c.273]

Построить аналитическую кривую по эталонам для указанного элемента. [c.274]

Построение аналитической кривой по эталонам. Предлагается построить аналитическую кривую для определения марганца и цинка в двойных сплавах на медной основе В работе используются эталоны, концентрации которых указаны в табл. 15 и 16. [c.275]

Для построения аналитической кривой составить таблицу по указанной ниже схеме. Кривую строить в координатах lg п, lg С. [c.277]

Определение концентрации элемента в образце. Установить в штатив образец и несколько раз измерить относительную интенсивность анализируемой линии, пользуясь вышеуказанными приемами. По аналитической кривой определить содержание анализируемого элемента в образце. [c.277]

Появились мнения, что пограничная кривая вблизи критической точки представляет собой кривую третьего порядка [4, 5]. Такой взгляд предполагает математические особенности критической точки и отвергает предположение о том, что пограничная кривая вблизи критической точки является аналитической кривой. [c.50]

Количественное определение более достоверно, если определение проводить по аналитической паре линий с помощью приборов, называемых стиломет-рами. В этих приборах имеются приспособления, позволяющие устанавливать рядом далеко отстоящие линии аналитической пары и ослаблять их интенсивность с помощью фотометрических клиньев. Количественный анализ проводят по аналитическим кривым, построенным по стандартным образцам. [c.676]

Выражение (3) представляет собой ур-нение прямой линии в координатах Д5 — lg С с угловым наклоном уЪ. По методу трех эталонов аналитические кривые строят для каждой фотопластинки, поскольку в выражение (3) входит коэфф. контрастности, характеризующий св-ва фотопластинок. Для этого на каждую фотопластинку рядом со спектрами анализируемых образцов фотографируют и спектр эталонов. Этот метод дает надежные результаты, однако для экспрессных анализов пригоден ма- [c.423]

VIII-4. Эмпирические зависимости между аналитической кривев разгонки и свойствами топлив [c.395]

При постоянном значении ш формулы (3.5), (3.6) позволяют получать реше 1ия, з вая гармоническую функцию Ф(ж,у). Рассмотрим граничную задачу определения Ф с условиями прилипания и = и = О на аналитической кривой у = Y(x). [c.194]

Масса малоразмолотого сульфитцеллюлозного волокна дает значительные отклонения от аналитической кривой уже при 10% сухого вещества отклонения при 93% сухого вещества почти на 20% больше, чем в первом примере. [c.246]

Аналитическая кривая, следовательно, будет справедлива только для данной цластннки, и потому при проведении анализа [c.262]

При выводе этих уравнений принято, что, несмотря насильное взаимное эмульгирование фаз (поверхностное натяжение на границе фаз в критической точке равно нулю), поверхностные силы не влияют на термодинамическое поведение системы. Принято также, что критическая точка не имеет никаких математических особецностей, и пограничная кривая и критическая изотерма являются вблизи критической точки аналитическими кривыми. Правильность этих допущений, как и справедливость основных положений классической теории критических явлений, требовали экспериментальной проверки. [c.50]

Если исходить из таких физических предпосылок и принять, что пограничная кривая вблизи критической точки является аналитической кривой, можно получить новые термодинамические уравнения, связывающие значения скачков производных некоторых свойств (как для чистых веществ, так и для растворов) с формой пограничной кривой вблизи критической точки. При этом было показано, что в случае, когда пограничная кривая является параболой второй степени, скачок этих производных при пересечении пограничной кривой в критической точке имеет конечное значение. Если же кривая имела бы вблизи критической точки плоский участок или была бы кривой более высокого порядка, чем второй, скачки имели бы бесконечно большое значение. Таким образом, центральный вопрос теории критических явлений может получить однозначный ответ, если только установить экспериментально, конечное или бесконечное значение имеет скачок, скажем, [ду1дТ)р или Ср,л для двойных растворов, или для чистых веществ. Термодинамическая связь между скачками производных различных величин (например, (5о/с Т)р,л и ср.л ) дает дополнительную возможность проверки как правильности экспериментального исследования различных скачков, так и правильности посылок, положенных в основу классической теории, и тех новых термодинамических соотношений, которые подвергаются проверке. Таким образом, появились новые и термодинамический, и экспериментальный методы исследования критических явлений. Новый [c.51]

Так как все подвергавшиеся проверке соотношения выведены в предположении о том, что пограничная кривая вблизи критической точки есть аналитическая кривая и что поверхностными силами можно пренебречь, то вполне удовлетворительное совпадение вычисленных и найденных экспериментально значений скачков производной ду/дТ)р и свидетельствуют о полной правомерности указанных предпосылок. Особенно хотелось бы подчеркнуть правильность второй предпосылки, так как поверхностным явлениям в критической точке отводят (в частности теория обобш,енных критических явлений), с нашей точки зрения, незаконно большую роль. [c.54]

На рис. 2 изображены кривые р згона по каналу количество хладагента, подаваемого в рубашку (jx. - температура реактора Т. Аналитическая кривая рассчитывалась по формуле [c.187]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология