Интенсивность линий рентгеновского

Изучение переходов разл. серий во всех атомах, образующих исследуемое соед., позволяет детально определить структуру валентных уровней (или зон). Особенно ценную информацию получают при рассмотрении угловой зависимости интенсивности линий в эмиссионных спектрах монокристаллов, т.к. использование при этом поляризованного рентгеновского излучения существенно облегчает интерпретацию спектров. Интенсивности линий рентгеновского эмиссионного спектра пропорциональны заселенностям уровней, с к-рых совершается переход, и, следовательно, квадратам коэф. линейной комбинации атомных орбиталей (см. Молекулярных орбиталей методы). На этом основаны способы определения этих коэффициентов. [c.240]

Численные значения фундаментальных параметров, входящих в выражения для расчета интенсивностей линий рентгеновской флуоресценции, постоянно уточняются. Однако экспериментальные данные к настоящему времени получены далеко не для всех элементов, а расхождения между результатами разных авторов весьма значительны. Поэтому на современном этапе развития аналитических методов рентгеновской спектроскопии различного рода интерполяционные формулы имеют большое практическое значение. [c.357]

Интенсивность линий рентгеновского излучения в значительной степени зависит от химического состава, геометрии и физических свойств пробы. В зависимости от вида и химического состава пробы ее готовят для анализа различными методами. Эта могут быть прессованные с какой-либо основой таблетки, пропитанная анализируемым вепдеством фильтровальная бумага, сплавы и т. д. [c.46]

Если при данной величине открытого участка кристалла желательно без ущерба для точности анализа повысить интенсивность линий рентгеновского спектра, то для этого наиболее целесообразно создание такой конструкции рентгеновской трубки, антикатод которой составлял бы с направлением касательной к поверхности отражающего кристалла угол, близкий к прямому. В этом случае фактическая протяженность фокусного пятна в рентгеновской трубке может быть много больше, чем вычисленная по формуле (28). Это, во-первых, позволяет, не изменяя удельной нагрузки единицы поверхности анода, увеличить общую мощность рентгеновской трубки, которая эффективно используется в спектрографе во-вторых, делает возможным приблизить кристалл вплотную к антикатоду и таким образом увеличить интервал углов, в котором при данной величине кристалла может проводиться одновременное спектральное определение содержания различных элементов в пробе в-третьих, позволяет использовать для очень большого интервала углов строго неизменную поверхность фокусного пятна и, наконец, приводит к большой остроте линий, связанной с тем, что в отражении лучей каждой длины волны участвует относительно небольшая часть изогнутого кристалла. [c.35]

Интенсивность линий рентгеновского спектра зависит от распределения бомбардирующих электронов по скоростям или от распределения интенсивности в спектре возбуждающего излучения в случае флуоресцентных спектров. При одинаковых условиях интенсивность характеристических линий спектра максимальна, когда максимальная интенсивность источника возбуждения соответствует энергии возбуждения данной линии. Интенсивность спектра зависит также от числа излучающих атомов, вероятности излучательного перехода и некоторых других факторов. Точная оценка величин, оказывающих влияние на интенсивность спектральной линии, очень сложна. Более надежны данные, так же как и в оптической эмиссионной спектроскопии, полученные по относительной интенсивности двух спектральных линий. [c.121]

Количественные определения основаны на пропорциональности между интенсивностью линии характеристического излучения и концентрацией элемента в пробе. На абсолютную интенсивность линий влияют условия возбуждения и другие факторы, а также химический состав пробы, что приходится учитывать серией специальных измерений и теоретическими расчетами. Зависимость интенсивности линий рентгеновского спектра от концентрации элемента имеет более сложный характер, чем концентрационная зависимость интенсивности линий в эмиссионной спектроскопии. [c.130]

Если по интенсивности линии рентгеновского спектра ( аналитической линии ) определяется содержание элемента в образце, то указывает наивысшую возможную точность такого определения. [c.81]

На зависимости интенсивности линии рентгеновского эмиссионного спектра от концентрации соответствующего элемента основан рентгеновский флуоресцентный аиализ (РФА), к-рый широко используют для количеств, анализа разл. материалов, особенно в черной и цветной металлургии, цементной пром-сти и геологии. При этом используют вторичное излучение, т.к. первичный способ возбуждения спектров наряду с разложением в-ва приводит к плохой воспроизводимости результатов. РФА отличается экспрессностью и высокой степенью автоматизации. Пределы обнаружения в зависимости от элемента, состава матршц, и используемого спектрометра лежат в пределах 10" -10 %. Определять можно все элементы, начиная с Mg в твердой или жидкой фазе. [c.240]

TOB по более интенсивным -линиям рентгеновского спектра компактность, надежность и экономичность анализирующей аппаратуры. Разработаны портативные приборы, снабженные набором разл. типов датчиков, позволяющих проводить определения мн. элементов без отбора проб на месте проведения геол. изысканий, в продуктах переработки минер, сырья, в сплавах, в биол. и др. объектах. Рентгенорадиометрич. анализаторы применяли для исследования элементного состава пород на Луне и Венере. [c.245]

Интенсивности линий рентгеновского излучения определяются силами осцилляторов и частотами соответствующих переходов, а также статистическими весами уровней атомов. Вычисление сил осцилляторов представляет собой очень трудоемкую задачу. Однако для относительных интенсивностей линий внутри одного мультиплета можно получить простые соотношения, воспользовавшись следующим правилом Бургера—Дор-гело если расщеплением начальных (конечных) уровней пренебречь, то суммы интенсивностей тех линий, [c.805]

Большую интенсивность рентгеновских спектров в спектрографах с изогнутым кристаллом удается получить потому, что в них одновременно с разложением пучка лучей в спектр осуществляется фокусировка монохроматических лучей, отраженных от большой поверхности изогнутого по цилиндру кристалла. Кроме того, вследствие возможности использования непараллельных пучков лучей можно применять широкофокусные рентгеновские трубки повышенной мощности, а также пользоваться любым, в том числе и фотографическим, методом регистрации рентгеновских спектров. Уже в первых моделях спектрографов этого типа интенсивность линий рентгеновского спектра была увеличена в 10 100 раз по сравнению с использовавшимися в те ходы спектрографами с плоским кристаллом. Это в большой мере предопределило пути и масштабы применения методов рентгеноспектрального анализа в практике и сделало его одним из наиболее удобных методов для анализа руд, пород, минералов и продуктов их технологической переработки на содержание в них многочисленных редких и рассеянных элементов. [c.6]

Особенно значительно влияние химической связи на струк-туру рентгеновских спектров элементов с небольшими атомными номерами. В этом случае положение максимума, ширина, относительная интенсивность линий рентгеновского спектра элемента часто оказываются отличными от значений, характеризующих свободный атом, из-за влияния со стороны атомов, окружающих данный в соединении. Иногда в спектре атома в соединении наблюдается также появление новых, но преимуществу недиаграммных линий. Независимо от степени возмущающего действия соседе на энергетическое состояние электронов в атоме исследуемого в соединении элемента, одной 3 самых чувствительных характеристик этого влиян 1я остается форма рентгеновских ЛИНШ1, особенно тех из них, начальным уровнем для которых является какой-либо из внешних уровней атома. Эта характеристика может быть использована для изучения структуры твердых тел. Поэтому в пределах группы легк1 х элементов от лития до серы, которые будут рассматриваться ниже, наибольший интерес представляют линии Кр-группы, появляющиеся в результате перехода валентных электронов с Мидц- и М1у,у-уровней на К-уровень атома. [c.39]

Это 5ке явление, по нашим наблюдениям, оказывает некоторое влияние и на интенсивность линий рентгеновских спектров, получаемых в спектрографах, в которых изогнутые кварцевые пластинки используются в качестве анализаторов рентгеновских лучей. Снятые с интервалом в 3 месяца и проявленные в стандартных условиях спектрограммы от одного и того же веш ества заметно отличались друг от друга интенсивностью и основных лпнин спектра п общего фона. Так как основная серия опытов, о которых речь будет итти ниже, проводилась в течение нескольких лет, то было необходимо выяснить, не появляется ли, по мере увеличения за время опытов интенсивности окраски кристалла, систематическая ошибка в измерениях. [c.55]

Исследования в области рентгеновской спектроскопии, получившие большое развитие сразу же после открытия явления диффракции рентгеновских лучей в кристаллах, как известно, сыграли выдаюш уюся роль в создании современной теории атома. Уже в первые годы физики, работавшие в этой области, накопили большой экспериментальный материал, касающийся величин длин волн и относительной интенсивности линий рентгеновских спектров большинства химических элементов, и установили в высшей степени интересные и важные закономерности. Их объяснение, так же как и возможность создания на базе новых теоретических представлений рациональной систематики линий рентгеновского снектра, являлось одним из паиболее крупных успехов теории атома. Только после этого и особенно после успешного внедрения в 30-х годах нашего столетия в практику светосильных рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом стало возможным использование рентгеновской спектроскопии в химии. При помощи этого нового аналитического метода были впервые обнаружены и охарактеризованы некоторые, до тех пор неизвестные химические элементы — рений и гафний, существование которых в природе было предсказано Д. И. Менделеевым. [c.201]

Рентгеновский флуоресцентный анализ не требует разрушения образца и основан на анализе интенсивности линий рентгеновской флуоресценции. Схематично механизм происхождения рентгеновской флуоресценции показан на рис. 8. После эмиттирования фотоэлектрона, что составляет основу метода РФЭС, возможно два процесса тушения дырки на внутреннем электронном уровне в атоме через Оже-процесс и через рентгеновскую флуоресценцию. Очевидно, что Оже-процесс и рентгеновская флуоресценция являются связанными процессами и их суммарный выход должен состалять единицу. Анализ индивидуальных выходов в зависимости от по- [c.22]