Линии спектральные зависимость интенсивности

Аналитические пары спектральных линий. Наличие зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации атомов в плазме разряда (кривая роста) указывает на возможность проведения количественного анализа. Однако необходимо учитывать целый ряд явлений, искажающих эту зависимость и нарушающих правильность количественного определения. Действительно, интенсивность спектральных линий зависит от условий возбуждения в плазме разряда (сила разрядного тока, индуктивность разрядного контура, мощность и продол- [c.28]

Для достаточно широкого интервала концентраций элемента с, зависимость интенсивности спектральной линии от с может быть описана выражением [c.11]

Фотопластинку со спектрограммой помещают на столик микрофотометра и фотометрируют спектральные линии железа разной интенсивности, полученные через 9-ступенчатый ослабитель по всем ступеням, записывают величины почернений и соответствующие им логарифмы пропусканий ступенек ослабителя (lg Г) и строят на миллиметровой бумаге зависимости 5 = — яля каждой спектральной линии в одинаковом масштабе величин почернений и логарифмов пропускания. Получают несколько параллельных кривых. Путем горизонтального переноса точек на одну из кривых получают полную характеристическую кривую фотопластинки для всего диапазона почернений 0,05—2,00. [c.34]

Рис. 1.13. Зависимость интенсивности излучения, атомной спектральной линии от концентрации эле-мe тa

Интенсивность спектральной линии при постоянных условиях пропорциональна количеству введенных в пламя атомов элемента или концентрации соли металла в анализируемом растворе. Однако в реальных случаях эта зависимость может нарушаться вследствие протекания в пламени процессов самопоглощения, ионизации и образования термически устойчивых соединений. На рис. 1.13 представлена зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в растворе. При средних содержаниях определяемого элемента в растворе эта зависимость линейна. Для больших содержаний сказывается влияние самопоглощения эмиссии атомов в плазме и в этом случае интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна корню квадратному, из концентрации элемента в растворе. При очень низких концентрациях элемента и высокой температуре плазмы проявляется процесс ионизации его атомов и интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна квадрату концентрации. В обоих случаях градуировочный график искривляется. Кроме процессов, указанных выше, на ход графика влияет ряд других факторов, поэтому определение элементов в методе фотометрии пламени проводят с использованием серии растворов сравнения. Они должны содержать все вещества, входящие в состав исследуемого раствора, и фотометрироваться в одинаковых с ним условиях. [c.37]

Лекция 6. Происхождение эмиссионных спектров. Зависимость интенсивности спектральных линий от температуры и концентрации элемента в пробе. Источники возбуждения, типы спектральных приборов. Характеристики спектральных приборов. [c.205]

Зависимость интенсивности спектральной линии элемента от концентрации излучающих атомов можно представить в виде так называемой кривой роста (рис. 3.13). Для малых содержаний элемента (область /), достаточно хорошим приближением является простая линейная зависимость [c.84]

Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента аппроксимирована прямой линией лишь для сравнительно узкого интервала концентраций, который в большой степени зависит от параметров прибора и типа пламени. В практической работе необходимо установить линейность между силой фототока и концентрацией элемента в растворе для этого используют эталонные растворы. [c.15]

Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность спектральных линий элемента зависит от концентрации этого элемента в пробе. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации имеет сложный характер. В некотором интервале концентраций при постоянстве условий возбуждения эта зависимость выражается эмпирическим уравнением Б. В. Ломакина. [c.189]

Количественный спектральный анализ. Б. А. Ломакиным выведена эмпирическая формула зависимости интенсивности спектральных линий от концентрации элемента примеси [c.44]

Интенсивность спектральной линии возрастает пропорционально концентрации невозбужденных атомов в плазме N0, а следовательно и концентрации элемента в пробе только при малых значениях этих величин. При более высоких концентрациях атомов зависимость интенсивности от N0 ослабляется вследствие эффекта поглощения плазмой излученных фотонов (самопоглощение). Влияние самопоглощения наиболее выражено для резонансных линий, так как в этом случае фотоны поглощаются атомами, находящимися в основном состоянии, т. е. преобладающими в плазме. При очень высоких концентрациях элемента и, соответственно, высоком самопоглощении интенсивность спектральной линии достигает максимума, не зависит от концентрации и равна интенсивности излучения абсолютно черного тела для данной температуры в данном спектральном интервале длин волн. [c.11]

Рис. 7.3. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в пробе

Количественный спектральный анализ заключается в определении содержания элемента в пробе по интенсивности спектральных линий. Такую зависимость удобно выражать графически и использовать в анализе, откладывая на оси абсцисс значение десятичных логарифмов концентрации элемента на оси ординат - интенсивность данной спектральной линии [c.10]

В этом методе измеряется зависимость интенсивности падающей (/о) и прошедшей волны 1 Х) и экспериментальные данные представляют через следующие величины пропускание [Т = У(1)//о] поглощение (/4=1- Т), оптическая плотность О [О = 1п(/о//( )]. Спектральные линии поглощения (испускания) не являются монохроматическими, вследствие чего физические величины, характеризующие переходы молекулярной системы из одного квантового состояния в другое, также энергетически размыты. Поэтому любая спектральная величина Р (сечение поглощения, коэффициент поглощения, коэффициенты Эйнштейна и др.) может быть трех типов Д - спектральная величина Ро - максимальная величина, соответствующая частоте Уо Р = Р /у - интегральная величина для спектральной линии. Интегральная и спектральная величины связаны следующим соотношением [c.115]

При анализе суспензий изучалась зависимость интенсивности излучения натрия от концентрации кремния [263]. Кремний увеличивает эмиссию натрия, однако характер влияния не установлен. Если вводить в пламя суспензию в растворе хлорида кальция, интенсивность спектральных линий щелочных элементов возрастает в 1,7— [c.115]

Березин И.А..Разуваев В.А.Зависимость интенсивностей спектральных линий серы и галогенов от способа введения пробы в искру и от материала электродов, ЖПС.т с.915-919. [c.80]

Важное значение при спектральном определении фосфора в стали на воздухе имеет правильный выбор материала подставного электрода [194, 886]. Если для зтой цели применить материал, обладающий высоким сродством к кислороду, то значительная Часть кислорода воздуха будет связываться этим материалом, что приведет к уменьшению скорости окисления фосфора. На рис. 5 приведены кривые, иллюстрирующие зависимость интенсивности линий Р1 214, 91 нм от времени обжига и материала подставного электрода (дуга переменного тока, 12 а). Видно, что применение графитового электрода дает максимальную интенсивность для линии фосфора, а процесс выгорания фосфора из поверхностного слоя пробы протекает значительно медленнее, чем при работе с железным и никелевым электродами. [c.72]

Атомные спектры обладают ярко выраженной индивидуальностью. Каждому элементу соответствует свой спектр, и это обстоятельство используется в качественном элементном анализе. На зависимости интенсивности спектральной линии от содержания элемента в пробе основан количественный анализ. [c.344]

Угловое, высотное и спектральное распределения интенсивностей поля коротковолновой радиации определяются процессами отражения солнечного излучения подстилающей поверхностью, молекулярным и аэрозольным рассеянием радиации, молекулярным и аэрозольным поглощением коротковолновой радиации Солнца. В связи с изменением освещенности на верхней границе атмосферы в зависимости от угла визирования Солнца и вариациями оптической толщи аэрозоля, поглощательной способности газовых компонентов по линии визирования в зависимости от зенитного и азимутального углов наблюдения спектральные интенсивности коротковолновой радиации при фиксированном состоянии атмосферы в значительной мере будут определяться положением Солнца на небосводе. [c.183]

Для определения щелочноземельных элементов обычно применяются установки с использованием монохроматоров, которые позволяют вести измерение спектральных линий во всей полосе видимого спектра от 700 до 400 ммк. Определение кальция методом фотометрии пламени проводится по линии 422,7 ммк. Зависимость. интенсивности резонансного излучения кальция от концентрации его в растворе представляет прямую линию в области 8—390 мкг мл, прм более высокой концентрации интенсивность излучения пропорциональна корню квадратному из концентрации. [c.102]

Из абс. и относит, интенсивностей спектральных линий и зависимости этих интенсивностей от т-ры можно найти среднеквадратичные смещения атома из положения равновесия и анизотропию этих смещений, установить координац. число атома, а по форме линий — судить о диффузионных движениях атомов. [c.324]

Сначала определяют номера ступенек, имеющих одинаковое почернение. Затем из паспортных данных берут значение логарифмов коэффициентов пропускания и по их разности получают величину относительной интенсивности спектральных линий, не зависимых от свойств фотопластинки. [c.184]

Автором настоящей статьи в 1960 г. [23] была предложена методика расчета зависимости интенсивности спектральной линии от состава, основанная на учете глубины проникновения электронов в анод, поглощения характеристического излучения и флуоресцентного селективного возбуждения. Для характеристики этих процессов были использованы экспериментальные данные, полученные при анализе эталонных образцов. В дальнейшем в Институте геохимии и аналитической химии им. В. И. Вернадского АН СССР эта методика была развита, уточнены общие для всех систем исходные параметры для учета поглощения в образце и селективного возбуждения, принят во внимание эффект зависимости числа отраженных электронов от материала анода. В общем виде зависимость интенсивности рентгеновской линии от концентрации имеет вид [c.64]

В основе всех методов эмиссионного количественного спектрального анализа лежит эмпирическая зависимость интенсивности излучения данной спектральной линии от количественного содержания элемента в исследуемой пробе. [c.239]

Если принять во внимание возможное самопоглощение в плазме источника, то прямая пропорциональная зависимость интенсивности от концентрации заменяется степенной зависимостью / С , где Ь < 1 определяет характер самопоглощения для данной спектральной линии. В этом случае формулу (238) можно написать в более общем виде, объединив постоянные в один коэффициент [c.240]

Рис. 21.1. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации атомов в пламени разряда

Уширение спектральных линий может быть связано с неразрешенной сверхтонкой или изотопической структурой спектральных линий. В зависимости от числа и интенсивности компонентов [c.263]

Спектральное распределение интенсивности ядерного резонансного рассеяния имеет два максимума, происхождение которых связано со сдвигом между резонансными частотами рассеивателя и источника. Это может быть как изомерный сдвиг, так и сдвиг линий испускания и рассеяния за счет доп.перовской скорости, сообщаемой источнику или поглотителю. Наконец, интерференционный член имеет довольно сложный вид зависимости. Уинтррф (и), которая при т = ( 1 меняет знак. Таким образом, Лцнтерф дает заметный вклад в интенсивность рассеяния при достаточной бли- [c.227]

Эксперименты на пикосекундной временной шкале и более короткой требуют других подходов. Световая вспышка, вызывающая возбуждение или фотолиз молекул исследуемого вещества, генерируется лазером с пассивной синхронизацией мод, оснащенным системой выделения одиночного импульса из цуга. Хотя пикосекундная импульсная спектроскопия опирается на методику двух вспышек — возбуждающей и зондирую -щей,— импульс зондирующего света обычно получается за счет преобразования части света возбуждающей вспышки, а необходимая короткая временная задержка легко достигается благодаря конечной скорости света. Зондирующий световой пучок направляется по варьируемому более длинному оптическому пути. Для абсорбционных экспериментов спектр этого излучения может быть уширен (например, ССЬ преобразует малую часть излучения лазера на неодимовом стекле с длиной волны 1060 нм в излучение в широком спектральном диапазоне). Для других диагностических методик, например КАСКР, это излучение может быть преобразовано в излучение другой частоты. Существует также ряд специализированных методик для изучения испускания света в пикосекундном диапазоне. Одна из них связана с электронным вариантом стрик-камеры. Для регистрации временной зависимости интенсивности сфокусированного пучка или светового пятна в механическом варианте стрик-камеры используется быстро движущаяся фотопленка. В электронном варианте изображение вначале попадает на фотокатод специального фотоумножителя типа передающей телевизионной трубки. Под действием линейно изменяющегося напряжения, прилагаемого к пластинам внутри трубки, образующиеся фотоэлектроны отклоняются тем сильнее, чем позже они вылетели из фотокатода. Для регистрации мест попадания отклоненных электронов может использоваться фосфоресцирующий экран с относительно длинным послесвечением, изображение на котором фотографируется или преобразуется с помощью электроники для последующего анализа. Этот метод носит название электронно-оптической хроноскопии. В альтернативном методе для изучения флуоресценции с пикосекундным временным разрешением Используется затвор, основанный на эффекте Керра (вращение плоскости поляризации света в электрическом поле), индуцируемом открывающим лазерным импульсом. В еще одном методе (флуоресцентная корреляционная спектроскопия) часть света возбуждающего импульса проходит через оптическую линию задержки и смешивается с испускаемой флуоресценцией в нелинейном кристалле (см. конец разд. 7.2.3), давая на выходе [c.203]

Спектральный анализ (эмиссионный) — физический метод качественного и количественного анализа состава вещества на основе изучения спектров. Оптический С. а. характеризуется относительной простотой выполнения, экспрессностью, отсутствием сложной подготовки проб к анализу, незначительным количеством вещества (10—30 мг), необходимого для анализа на большое число элементов. Спектры эмиссии получают переведением вещества в парообразное состояние и возбуждением атомов элементов нагреванием вещества до 1000—10 000°С. В качестве источников возбуждения спектров прп анализе материалов, проводящих ток, применяют искру, дугу переменного тока. Пробу помещают в кратер одного из угольных электродов. Для анализа растворов широко используют пламя различных газов. Качественный н полуколичественныйС. а. сводятся к установлению наличия или отсутствия в спектре характерных линий и оценки по их интенсивностям содержания искомых элементов. Количественное определение содержания элемента основано на Эмпирической зависимости (при малых содержаниях) интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе. С. а.— чувствительный метод и широко применяется в химии, астрофизике, металлургии, машиностроении, геологической разведке и др- МетодС. а. был предложен в 1859 г. Г. Кирхгофом и Р. Бунзеном. С его помощью гелий был открыт на Солнце ранее, чем на Земле. Спектроскопия инфракрасная — см. Ифракрасная спектроскопия. Спектрофотометрия (абсорбционная)—физико-химический метод исследования растворов и твердых веществ, основанный на изучении спектров поглощения в ультрафиолетовой (200—iOO нм), видимой (400—760 нм) и инфракрасной (>760 нм) областях спектра. Основная зависимость, изучаемая в С.,— зависимость интенсивности поглощения падающего света от длины волны. С. широко применяется при изучении строения и состава различных соединений (комплексов, красителей, аналитических реагентов и др.), для качественного и количественного определения веществ (определения следов элементов в металлах, сплавах, технических объектах). Приборы С.—спектрофотометры. [c.125]

Излучение определяемого элемента отделяется от постороннего с г омощью светофильтра или монохроматора, попадает на фотоэлемент и вызывает фототок, который измеряется с помощью гальванометра, электронного потенциометра и других приборов. Количественное определение элемента по методу эмиссионной пламенной спектрометрии основано на функциональной зависимости интенсивности спектральной линии (/) и концентрации элемента в растворе (с). Прямая пропорциональность между / и с имеет место лишь в определенной для данного элемента области концентрации. При этом линейную зависимость / от с может нарушать самопоглощение, ионизация, образование газообразных или трудно диссоциирующих в пламени соединений. [c.42]

Многолинейный спектр хрома создает значительные затруднения при спектральном определении микропримесей в нем [269]. Исследовалась зависимость интенсивности аналитических линий В1, Со, С(1, Зп, РЬ, Си, Ре, Ъп от концентрации хрома [268]. Из данных рис. 29 следует, что присутствие хрома в количествах до 8 мг не оказывает влияния на интенсивность линий В1, 0(1, Зп, РЬ и Си, зато интенсивности линий Со и особенно Ре снижают- [c.178]

В работах [ 6,7 J показана возмолшость определения серы в коксах и углях спектрографическим методом. Порошкообразная проба кокса при помощи коллодия наносится тонклм слоем на поверхность вращающегося латунного цилиндра или массивной платформы. В качестве источника света применялась низковольтная искра в жестком режиме (С=80 mkS, =30 мкГн) [ 6]и генератор дуги переменного тока с тройным искровым промежутком t 7 J. Установлена зависимость интенсивности спектральных линий от вида сернистого соединения и от присутствия третьих компонентов. [c.78]

Одна ю самых замечательных особенностей атомных спектров — их линейчатая структура (разд. 11.2). Ввиду этого атомные спектры весьма информативны. Положения линий индивидуальны для каждого элемента И мо1уг использоваться для качественного анализа. На зависимости интенсивности спектральной линии от содержания элемента в пробе основан количественный анализ. Ввиду того, что ширина атомных спектральных линий весьма мала, относительно мала и вероятность наложения линий различных элементов. Поэтому многие методы атомной спектроскопии можно использовать для обнаружения и определения одновременно нескольких элементов, т. е. для многоэлементного анализа. [c.224]

Форма функции возбуждения часто объясняет характер изменения интенсивности отдельных линий при изменении условий разряда. Например, при исследовании импульсного разряда методом спектральных разверток ход интенсивности спектральной линии в зависимости от времени напоминает ее функцию возбуждения Это происходит потому, что электронная температура (а значит, и средняя скорость электронов) меняется в течение импульса. Следовательно, спектральная развертка дает ход интенсивности спектральной линии в зависимости от скорости электронов, т, е, мы получаем функцию возбуждения, но только без достаточной моно-хроматизации пучка электронов. [c.17]

Все методы количественного спектрального анализа основаны на сравнении интенсивностей спектральных линий. Для целей спектрального анализа газов важно выяснить, какова зависимость интенсивности спектральных линий от силы тока, давления и концентрации элемента в смеси ). Это дает возможность судить о процессах, происходящих внутри источника света, так как всякое изменение параметров разряда неизбежно вызывает изменение интенсивности спектральных линий. Связь параметров разряда с интенсивностью лииий и метод подсчета интенсивностей линий является чрезвычайно сложной проблемой, которой посвящены многие исследования, в том числе работы В, Фабриканта РП С. Э. Фриша рэ, 40, 142] [c.30]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология