Интенсивность характеристических линий

Для количественного рентгенофлуоресцентного анализа имеет значение измерение интенсивности характеристических линий излучения. Рассмотрим процессы, происходящие при взаимодействии монохроматического излучения рентгеновской трубки с анализируемым веществом. Они соответствуют схеме, приведенной на рис. 33.2. Из рисунка видно, что только некоторая часть энергии первичного излучения [c.781]

Относительные интенсивности линий на рис. 15.4 пропорциональны относительным заселенностям начальных уровней и интенсивности характеристической линии. Как было объяснено ранее, относительные заселенности вращательных уровней пропорциональны произведению (2/4-1)-кратного вырождения уровней и множителя Больцмана. Таким образом, интенсивность линий проходит через максимум с каждой стороны от центра полосы, и изменение интенсивности показано на рис. 15.1. Максимумы Р-и -ветвей строго соответствуют вращательным уровням, которые имеют самую большую заселенность. [c.469]

Рис. 8.3-18. Возможные виды зависимости интенсивности характеристической линии от концентрации элемента, а — ни поглощения, ни усиления б — поглощение в — усиление.

При анализе элементов с г от 22-24 и выше (1 < 2,5 А) максимальная интенсивность их аналитических линий достигается при работе с трубками, имеющими анод из тяжелого металла (вольфрам, рений, золото, платина), для которых характерен высокий выход тормозного излучения. При анализе легких элементов (2 < 17) приемлемая интенсивность вторичных спектров может быть получена при использовании анодов из элементов, имеющих интенсивные характеристические линии в длинноволновой области спектра (хром, скандий и др.). [c.12]

Рентгенофазовый анализ образцов цеолитов до и после изучения кинетики сорбции показал, что выдерживание образцов при высокой температуре пе приводит к изменению углов рассеивания, а оказывает влияние только на интенсивность характеристических линий, причем снижение интенсивности различных характеристических линий происходит неравномерно. Это свидетельствует о том, что наряду с возможным частичным разрушением кристаллической структуры решетка цеолита становится более дефектной. [c.261]

Давления, при которых интенсивности характеристических линий Кг и Хе одинаковы с интенсивностью характеристических линий Лг [c.276]

Если аналитический метод основан на поглощении энергии или диффузии частиц, показания регистрирующего прибора могут зависеть от температуры. Так, для того чтобы компенсировать флуктуации температуры, которые могут возникать при возбуждении образцов электрическими разрядами, было признано необходимым сравнивать интенсивность характеристической линии спектра испускания определяемого элемента с интенсивностью некоторой выбранной линии спектра вещества основы либо внутреннего стандарта. [c.54]

Большинство монографий, относящихся к этой теме, включает таблицы, в кот орых перечислены длины волн и относительные интенсивности характеристических линий излучения для различных элементов., В этих таблицах содержатся наиболее часто появляющиеся линии элементов с помощью таблиц определяют минимальную концентрацию элемента, при которой еще наблюдается данная линия. Поскольку чувствительность к большинству составляющих около 0,0001%, метод эмиссионной спектрометрии является особенно полезным средством для обнаружения малых содержаний примесей в материалах. [c.97]

При количественных анализах мерой содержания данного элемента в пробе служит интенсивность характеристических линий. Интенсивность излучения зависит не только от действительной концентрации примеси, но и от ряда других факторов для компенсации многих изменений, которые могут произойти в эксперименте, используют внутренний стандарт. Этот элемент должен присутствовать в постоянной концентрации, а его аналитическая линия должна возбуждаться при определенной энергии, т. е. удовлетворять требованиям, приведенным в разделе П.Б. Для металлических сплавов роль внутреннего стандарта часто выполняет подходящая линия основ] ого металла. [c.98]

Катод, нагреваемый низковольтным источником питания, испускает электроны, которые ускоряются в вакууме потенциалом в несколько киловольт и направляются на металлическую мишень. Величина ускоряющего напряжения определяется энергией, необходимой для возбуждения рентгеновского излучения. Она повышается с увеличением атомного номера при возбуждении /С-серии ее минимальное значение изменяется от 1,3 кВ для магния до 39 кВ для лаНтана. С приложенным напряжением связана и интенсивность характеристических линий излучения. Обычно рентгеновские спектрометры работают при напряжениях до 60 кВ существуют устройства, позволяющие использовать еще более высокие напряжения. [c.100]

Интенсивность испускаемых рентгеновских лучей является функцией многих переменных величин, среди которых можно отметить ускоряющий потенциал, долю поглощаемых электронов, глубину их проникновения, атомный номер возбуждаемого элемента, состав основы и т. д. В некоторых случаях интенсивность характеристических линий линейна изменяется в зависимости от состава тогда можно определить концентрацию элемента с ошибкой около 3% от его содержания. В других исследованиях необходимо использовать калибровочные кривые, построенные с помощью различных серий стандартных образцов. [c.101]

Если можно быть уверенным в том, что в ограниченном диапазоне концентраций сохраняется линейная зависимость между концентрацией и интенсивностью линий, эффект влияния основы можно свести к минимуму, используя метод добавок. При этом анализ выполняют путем измерения интенсивности характеристической линии как до, так и после добавления к образцу известного количества элемента. [c.104]

Поскольку интенсивность характеристических линий в рентгенограммах пропорциональна концентрации компонентов, то оказалось возможным, кроме структуры по соответствующим калибровочным спектрам, определить и количество кристаллических веществ, входящих в состав отЛожений (табл. 15). ИК-спектры отложений, образовавшихся при окислении ГФ и Г-7, очень похожи (рис. 39), содержат небольшое число весьма интенсивных полос поглощения, указывающих на наличие во всех образцах структур общего строения. Эти структуры относятся в основном к солям карбоновых кислот (1600, 1580 см , 1340—1400 см ) и карбонатам (800—830— 880 и 1400 см ). Полоса 3400 смг и плечо 1630 полосы 1580 см свидетельствуют о возможном присутствии в составе отложений кристаллизационной воды. [c.72]

Характеристические рентгеновские лучи возникают при отрыве электронов с К-, L- и М-оболочек атома с последующим возвращением атома из возбужденного состояния в нормальное путем перехода внешних электронов на вакантные места внутренних оболочек. Атомы с определенным атомным номером излучают строго определенные по длинам волн рентгеновские фотоны. Диапазон длин волн лежит от 0,005 до 37,5 нм, длина волны излучения уменьшается с ростом Z. Пиковая интенсивность характеристических линий / является функцией ускоряющего электрона напряжения (энергии зонда о), критического потенциала возбуждения кр данного элемента и тока зонда i [c.221]

Чтобы обнаружить взаимодействие структурных групп, определяли частоты и интегральные интенсивности характеристических линий спектров КР. Спектры КР регистрировали на фотопластинке на спектрографе ИСП-51, интегральные интенсивности определяли на спектрометре ДФС-12 методом внутреннего эталона. [c.301]

Интенсивность линий рентгеновского спектра зависит от распределения бомбардирующих электронов по скоростям или от распределения интенсивности в спектре возбуждающего излучения в случае флуоресцентных спектров. При одинаковых условиях интенсивность характеристических линий спектра максимальна, когда максимальная интенсивность источника возбуждения соответствует энергии возбуждения данной линии. Интенсивность спектра зависит также от числа излучающих атомов, вероятности излучательного перехода и некоторых других факторов. Точная оценка величин, оказывающих влияние на интенсивность спектральной линии, очень сложна. Более надежны данные, так же как и в оптической эмиссионной спектроскопии, полученные по относительной интенсивности двух спектральных линий. [c.121]

Интенсивность характеристической линии может быть получена как произведение трех величин [c.118]

С другой стороны очевидно, что метод анализа по скачку поглощения часто будет невыгодным по сравнению с определениями, основанными на рентгеновской эмиссии, поскольку измерение интенсивности характеристической линии несравненно проще, чем выполнение дифференциального измерения интенсивностей с двух сторон от края поглощения. [c.153]

Изменение интенсивности характеристической линии с толщиной покрытия. Критическая толщина [c.165]

На практике широкое распространение получило использование в качестве внутреннего стандарта интенсивности характеристической линии материала анода рентгеновской трубки или интенсивности его тормозного спектра на участке вблизи аналитической линии. Поскольку в детектор они приходят в виде рассеянного пробой излучения, способ называют способом стандарта-фона. Он весьма удобен, ие требует никаких добавок к пробе, позволяет значительно уменьшить влияние качества подготовки пробы к анализу. Но этот способ нельзя применять без предварительной проверки в щель детектора может попасть и линия неучитываемого элемента, который случайно может оказаться в составе очередной анализируемой пробы. Удовлетворительно учесть влияние химического состава пробы можно при следующих условиях [c.261]

Для РФ-спектрометрии органических веществ характерен высокий уровень фона вследствие рассеяния (отражения) коротковолнового излучения, идущего от анодов рентгеновских трубок на образец. Интенсивные характеристические линии спектров вольфрама, молибдена и хрома, из которых сделаны используемые аноды, ограничивают возможности спектрометрии органических веществ на значительных участках спектра. Эти линии практически не видны при спектрометрии сплавов и других неорганических объектов. Подбором рентгеновских трубок, коллиматоров и режимов прохождения сигнала можно устранять фоновые и другие наложения, добиваясь максимума отношения полезного сигнала к фону /л//ф. Так, на рис. 70 показано изме- [c.255]

Возбуждение флуоресценции смешанным излучением неизбежно происходит при использовании в качестве источников возбуждения рентгеновских трубок. В общем случае для получения максимальной интенсивности флуоресценции желателен соответствующий выбор материала анода трубки, обеспечивающего расположение наиболее интенсивных характеристических линий первичного излучения возможно ближе (с коротковолновой стороны) к краю поглощения определяемого элемента. [c.19]

Полимерные материалы являются исключительно благоприятным объектом приложения рентгеноспектрального флуоресцентного анализа ввиду особенностей их химического состава (невысокие содержания тяжелых элементов в легком наполнителе), Это позволяет ограничиться в основном следующими способами для их анализа внешнего стандарта (сравнивают интенсивности аналитических линий от образца и эталона, т. е. -образца с известным содержанием определяемого элемента), стандарта-фона (определяют отношение интенсивности характеристической линии определяемого элемента к интенсивности фона от рассеянного на образце первичного излучения) и учета межэлементного влияния при многокомпонентном анализе. [c.24]

Монохроматическое излучение или излучение, близкое к нему (со степенью монохроматичности более 90%), может быть получено различными способами брэгговским отражением, выделением с помощью дифференциальных сбалансированных фильтров или фильтрованием с помощью селективных рентгеновских фильтров. Находят широкое применение также пучки рентгеновских лучей, в которых интенсивные характеристические линии значительно преобладают над фоном. Примером может служить близкое к монохроматическому излучение источников на основе вторичных излучателей. [c.104]

Абсорбционная линия (линии) спектра поглощения определяемого элемента в пламени очень узкая и соответствует резонансной линии (линиям) этого элемента. Поэтому источник поглощаемого света должен обладать резкими яркими линиями, интенсивность которых постоянна во времени. В различных областях спектроскопии в качестве источников излучения спектра малолетучих элементов в течение многих лет применяют лампы с полым катодом. Такая лампа, содержащая катод из определяемого элемента, излучает узкие интенсивные характеристические линии. Источником спектра более летучих элементов (таких, как ртуть или щелочные металлы) служат разрядные лампы. [c.186]

Г. ИНТЕНСИВНОСТЬ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ЛИНИЙ [c.207]

Коэффициент К можно оценить по отношению интенсивности линии при 419,2 нм в спектре флуоресценции раствора 1,12-бензперилена в н-гексане (Уст), принятого за единый стандарт, к интенсивности характеристической линии в спеетре флуоресценции эталонного раствора определяемого ПАУ (/ ) [c.253]

В одном из вариантов метода 0,2—I мкг брома определяют по эмиссии ЗпВг с максимумом 495,0 нм. В этом случае полость покрывают оловом, а спектр возбуждают азото-водородным пламенем [504]. Способ считается очень перспективным [29]. Напротив, интенсивность характеристических линий СаВг недостаточна для аналитического применения [422]. [c.151]

Кастэн [2, 17] вывел, что интенсивность характеристической линии данного элемента пропорциональна массовой концентрации этого элемента ь образце. Первым приближением является соотношение [c.63]

Количественные определения проводят, сравнивая интенсивности характеристической линии (или полосы) для раствора с неизвестной концентрацией и стандартного раствора исследуемого элемента. При этом необходимо ввести ряд поправок. Первая из них — учет фона, связанного с пламенем. Один из используемых подходов — установка прибора на нуль при введении в горелку чистого раствора, не содержащего данной примеси. Второй вариант — вьшитание показаний прибора, соответствующих чистому раствору, из данных, соответствующих исследуемому образцу. В третьем методе коррекцию на фон определяют, измеряя сигнал на выходе прибора при небольшом изменении длины волны, пропускаемой спектральным аппаратом, т. е. в областях, прилегающих с двух сторон к характеристической линии. [c.88]

При 140, 150 и 160° С возникают осадки, сходные между собой по составу и структуре (рис. 80). Интерпретация их спектров приведена выше. Однако с повышением температуры интенсивность характеристических линий в осадках изменяется, что свидетельствует об изменении их состава и структуры. Отсутствующий при 140° С максимум 1200 см появляется при 150° С и впослед- [c.184]

МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬ-НЫЙ АНАЛИЗ, л о к а л ь н ы й рентгеноспектральный анализ — анализ состава микрообъема твердого материала по первичным рентгеновским спектрам содержащихся в нем хим. элементов разновидность рентгеноспектралъно-го анализа. Впервые проведен в начале 50-х гг. 20 в. во Франции и в СССР. М. а, основан на возбуждении острофокусированным до диаметра 0,1—3 мкм пучком электронов (электронным зондом) характеристического рентгеновского излучения в микрообъеме исследуемого материала. Миним. анализируемый объем зависит от размера зоны возбуждения рентгеновского излучения, определяемого диаметром пучка электронов и степенью их рассеяния в материале, и составляет 1- -10 мк.и . Различают качественный (см. Качественный анализ) и количественный (см. Количественный анализ) М. а. хим. элементов от лития до урапа. При качественном М. а. возбужденное в материале рентгеновское излучение разлагают в спектр, и линии спектра идентифицируют. При количественном М. а. измеряют интенсивность характеристических линий определяемых хим. элементов относительно интенсивности соответствующих линий от эталонов с последующим пересчетом относительной интенсивности на концентрацию. При расчете концентрации вводят поправки на различие условий возбуждения и выхода рентгеновских лучей из исследуемого матерпала и эталона. Методика расчета концентрации при использовании в качестве. эталона чистых хим. элементов обеспечивает точ- [c.817]

ОДНОГО фильтра последовательно в два различных положения. Этот метод, напоминающий одну из работ Баркла (см. 1.8), основан на том, что в двух положениях фильтра, показанных на рис. 43, интенсивность рассеянного рентгеновского излучения, попадающего на детектор, одинакова, тогда как интенсивность характеристической линии различна она значительно меньше, когда фильтр расположен между образцом и детектором. [c.124]

Прежде чем перейти к методу И, рассмотрим зависимость интенсивности характеристической линии, возбужденной рентгеновскими лучами в пленке, от толщины последней. Дальнейшее изложение важно и для эмиссионного рентгеноспектрального анализа основные идеи содержатся в явном или скрытом виде в работе Глокера и Шрайбера [166]. [c.165]

Кох и Когерти [167] экспериментально показали, что интенсивность характеристической линии, испущенной тонкой металлической пленкой, меньше интенсивности той же линии от массивного металла, если толщина пленки меньше 30 мк. Как показали расчеты [168], эта величина является приемлемым значением критической толщины. Кох и Когерти предположили, что такое изменение интенсивности линии может быть применено для измерения толщины пленки. В этом методе (метод И) рентгеновские лучи от подкладки не используются и могут лишь быть помехой (обычно несерьезной), поскольку они могут увеличить интенсивность характеристической линии, по которой определяется толщина пленки. Такие эффекты возбуждения будут рассмотрены в гл. 7. [c.166]

Подстановка известных значений в уравнение (75) дает меньшее значение а (3520, вместо 4410), чем значения, соответствующие экспериментальным точкам на рис. 63. Отсюда следует, что скорости счета, измеренные для линий Ка хрома, выше ожидаемых на основе проведенного выше рассмотрения. Такое увеличение интенсивности характеристической линии могло произойти из-за ее возбуждения характеристическими линиями подкладки, в основном линией Ка молибдена. Такой лронесс возбуждения был установлен экспериментально [165]. [c.170]

I значительно более реакционноспособно чем II родан, например, оно присоединяет в 10 раз быстрее. Даже (СНз)з51СН=СН2 присоединяет родан в 5 раз медленнее, чем вещество I. Исследование полимеризации этих соединений также показало резкое различие веществ I и II в то время как соединение II полимеризуется с образованием пентамера, вещество I в этих условиях совершенно не полимеризуется. Что касается спектров КРС этих двух соединений, то в веществе I обращает на себя внимание довольно интенсивная характеристическая линия кратной связи, которая к тому же пеобыкповеппо широка (20 см ). В веществе II эта линия узка и едва заметна. [c.225]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология