Контур линии

Рис. 103. Теоретические контуры линий поглощения, когда для верхнего

Естественная ширина уровней энергии зависит от принципа неопределенности и характеризует спонтанные испускания, отсюда вытекает и контур линии спектра, и распределение интенсивностей внутри контура. Можно написать [c.302]

Допплеровское уширение. Существенно большее влияние на уширение спектральных линий оказывает эффект Допплера, т. е. уширение линий вследствие хаотического теплового движения атомов. Допплеровское распределение интенсивности (коэффициента поглощения) по контуру линии подчиняется экспоненциальному закону [c.140]

Рис. 1. Контур линии (или полосы) поглощения дисперсионной формы

Пробу отобранной реакционной массы в количестве 6—10 мл вводят в хроматографическую колонку и записывают хроматограммы. Площадь пиков (мм ) определяют как произведение высоты пика и его ширины, измеренной по половине высоты (полуширины). Высота измеряется с помощью линейки, а полуширина — лупой с ценой деления 0,1 мм от внешнего контура линии одной стороны пика до внутреннего контура другой. [c.113]

Как следует из соотношений (3.72) и (3.73), независимо от того, какими причинами обусловлена форма контура линии поглощения, между значением коэффициента поглощения в центре линии и концентрацией атомов N в поглощающем слое существует прямая пропорциональная зависимость, т. е. основное аналитическое соотношение (3.67) может быть переписано в виде [c.141]

Если возможен прямой переход из основного состояния как в непрерывную область энергий, так и на дискретные уровни с той же энергией, то происходит взаимное влияние одного перехода на другой, вследствие чего соответствующие линии поглощения становятся асимметричными с одной стороны первоначальной линии поглощение уменьшается (кажущееся увеличение испускания), с другой стороны линии поглощение увеличивается, в результате чего контур линии становится асимметричным. Фано 14 1] рассчитал контуры линий для различных значении отношения дискретного поглощения к непрерывному полученные им кривые показаны на рис. 103. Такие же кривые описывают рассеяние электронов или других частиц вблизи резонанса в обращенном процессе Оже. [c.181]

Рис 47 Контуры линии уровня правдоподобия для среднего значения и дисперсии нормальных наблюдений при п = 100 [c.160]

Поскольку трудно выписать в явном виде сумму квадратов, приходится рассмотреть и другой способ получения доверительных областей Если контуры линий уровня суммы квадратов построены, то доверительную область можно получить, выбирая согласно (П4 1 17) тот контур, для которого [c.244]

Отдельные линии вращательной структуры полос поглощения газов также имеют контур, похожий иа контур полос, ио контуры линий можно исследовать только при большом разрешении. - Прим. ред. [c.150]

Еще в 1933 г. было показано, что контур линий вращательной структуры спектров паров и расстояние между ними определяются направлением изменения дипольного момента в процессе колебания и моментами инерции молекулы [100]. Результаты этой работы, которая первоначально была выполнена на симметричных молекулах, впоследствии были распространены и на несимметричные [11, 128]. Зная конфигурацию молекулы, можно зачастую предсказать контур огибающей вращательной структуры для отдельного колебания и вычислить расстояние между максимумами Р- и Л-ветвей. Однако данные по молекулярной симметрии редко можно получить только из контуров полос. Более детальную информацию дает исследование с высоким разрешением вращательной структуры. [c.219]

Плош д > пика каждого компонента (мм ) — произведение высоты пика и его ширины, измеренной на половине высоты. Высота определяется с помощью линейки, а полуширина — лупой с ценой деления 0,1 мм от внешнего контура линии одной стороны пика до внутреннего другой. [c.119]

Зависимость коэффициента поглощения от частоты в пределах контура линии поглощения описывается соотношением [c.825]

Рис. 14.45. Контуры линии Сг 357,9 нм в магнитном поле 0,4 и 1,6 Тл (1 Тл = 10 Гс)

Рис. 14.46. Контуры линии С(1228,8 нм в магнитном поле 0,4 Тл (а) и 1,6 Тл (б) вокруг атомизатора (нормальный ЗеемаН Эффект) [83]

Высоту пика измеряют от его вершины до основания, включая толщину линии, а полуширину — от внешнего контура линии одной стороны до внутреннего контура другой (рис. 3). Высоту пика измеряют масштабной линейкой, полуширину — измерительной лупой с ценой деления 0,1 мм. [c.13]

Другая группа четырехкомпонентных систем исследована для тех же целей Чангом и Маултоном [4а]. Подробные данные опубликованы для системы вода — этанол — бензол — этилизовалерат. Характеристика этих систем такова, что взаимная смешиваемость двух пар их жидких компонентов ничтожно мала . Благодаря этому ограничению контуры линий растворимости имеют прямолинейную форму в противоположность таким кривым для системы, описанной выше [151, в которую входит анилин, обладающий ограниченной взаимной смешиваемостью с водой. [c.182]

Лорентцевское уширение. Допплеровское уширение играет основную роль только в случае достаточно разреженных газов. При атмосферном давлении большое дополнительное влияние на уширение линий оказывают столкновения частиц (эффект Лорентца). В случае, когда преобладающими являются столкновения атомов с посторонними частицами, зависимость ky от частоты в пределах контура линии поглощения описывается соотношением [c.140]

Дув — допплеровская полуширина линии vo —частота, соответствующая центру лорентцевского контура линии V — то же для допплеровского коп> тура. [c.140]

Вторая причина уширепия липни свя ана с соударением возбужденного атома с другими атомами или молекулами. Если соударения Е ызывают уменьшение времени жизни атома в возбужденном состоянии, то возбужденный уровень уширяется, что приводит к уширению линии. Такое уширение называют ударным, или лоренцепским. Контур линии описывается формулой, такой же как при естественном уширении, только вместо Av вводится Дууд — полуширина при ударном уширении. [c.15]

На рис. 8.2 контур линии поглощения сопоставляется с более широким контуром полосы испускания источника излучения, причем полуширина такой полосы испускания (АЛисп) гораздо больше полосы пропускания монохроматора (Д 1монохр). При облучении таким источником атомов с линией АЯ огл часть интенсивности света в центре полосы испускания источника будет поглощена атомами. Контур полосы испускания источника излучения после прохождения через монохроматор представлен на рис. 8.2, а. Из рисунка видно, что доля поглощаемой энергии настолько мала по сравнению с полной энергией, испускаемой источником излучения (заштрихованная площадь), что такой способ измерения поглощения малочувствителеи и при нем наблюдается отклонение от закона Бера, т. е. отсутствует прямолинейная зависимость величины поглощения А от концентрации свободных атомов. [c.140]

Если же контур линии поглощения взаимодействует с узкой линией испускания источника (ДЯисп<АЯпогл), то энергия последней поглощается в пределе ее полной ширины и измеренная величина оптической плотности находится в прямой пропорциональной зависимости от концентрации свободных атомов определяемого элемента (см. рис. 8.3). Лампы с полым катодом. Наиболее распространенным источником для атомно-абсорбцион- Схема устройства лам- [c.143]

Лазерные методы позволяют получать частицы как с определенным значением и направлением вектора скорости, так и с определенной ориентацией в пространстве. Если для возбуждения молекулы, контур линии поглощения которой обусловлен допплеровским уширением, использовать лазер, дающий излучение со спектральной шириной, заметно меньшей ширины линии поглощения, то возбуждению подвергнутся лишь молекулы, двигаюцдаеся с определенной скоростью в направлении луча лазера. Например, если частота генерации лазера соответствует частоте центра линии поглощения молекулы, то возбуждаться будут лишь "покоящиеся" молекулы. [c.136]

Возбуждение флуоресценции. В качестве источников света в методе АФС используются источники сплошного спектра (напршусер, ксеноновая лампа сверхвысокого давления), а также линейчатого — лампы с полым катодом и высокочастотные безэлектродные лампы. Соотношение между шириной линии возбуждающего излучения и шириной линии поглощения в методе АФС менее критично, чем в методе атомной абсорбции. Однако и здесь желательно, чтобы контур линии излучения был несколько уже контура линии поглощения, в противном случае часть возбуждающего излучения, оказывающаяся вне контура линии поглощения, не участвует в возбуждении флуоресценции и создает лишь паразитный сигнал неселективного рассеяния света интенсивность атомной флуоресценции тем больше, чем больше интенсивность возбуждающего излучения. Речь идет о так называемом линейном режгше флуоресценции. [c.852]

При проведении этих исследований требуется детектировать не только вращательные и колебательные состояния продуктов, но и распределение по скоростям разлета продуктов. Для этого используется либо времяпролетная масс-спектроскопия, либо метод ЛИФ с высоким спеюральным разрещением. При использовании ЛИФ измеряют допплеровский контур линии спектра возбуждения. Поскольку атомы, имеющие разные векторы скорости, согласно эффекту Допплера поглощают (из- [c.142]

Принципиально важным источником возмущения формы линии являются процессы химического обмена (гл. 4). В области промежуточных скоростей обмена контур линии не может быть представлен в виде суперпозиции лоренцовых форм, и требуется более точный анализ с помощью уравнений Блоха— Мак-Коннела. [c.166]

Все известные экспериментальные измерения штар-ковских параметров выполнены эмиссионным методом. Техника таких измерений проще, чем измерений интенсивности, так как не требуется энергетическая калибровка установки. Большинство экспериментальных данных получено с помощью дуговых и импульсных разрядов, обеспечивающих достаточную плотность электронов в плазме. Наряду с шириной и сдвигом изучают также непосредственно контур линии и его асимметричность. [c.356]

Допплеровское уширение. Существенно большее влияние на уширение спектральных линий оказывает эффект Допплера, т. е. утиирение линий вследствие хаотического теплового движения атомов. Как уже отмечалось ранее, это движение описывается распределением Максвелла. Соответственно распределение коэффициента поглощения (интенсивности) по контуру линии подчиняется экспоненциальному закону [c.825]