Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Изотопная распространенность

    Многие неорганические соединения достаточно стабильны к нагреванию и могут быть введены в масс-спектрометр. Большинство таких изученных соединений рассмотрено в гл. 10 при описании исследования их скрытой теплоты образования или агрегатного состояния в паровой фазе. Присутствие непредвиденного элемента в образце, подвергнутом идентификации, устанавливается на основании необычных значений масс и массовых разностей между основными пиками в масс-спектре или на основании необычной изотопной распространенности. Например, в том случае, когда наличие изотопов указывает на присутствие кремния, следует вычесть массу атомов кремния из точно измеренной массы ионов, что позволит установить формулу остальной части иона при помощи приложения 1. [c.438]


    Здесь <т —сечение реакции, имеющее размерность см (единица его измерения—барн, 16 = 10 см ). Сечение —это физическая постоянная, определяющая вероятность протекания ядерной реакции, и, следовательно, она подобна константе скорости бимолекулярной химической реакции. Ф—это плотность потока налетающих частиц а на 1 см в секунду. Число ядер мишени в облучаемой части пробы Па может быть рассчитано, исходя из массы т элемента в пробе, атомной массы элемента изотопной распространенности реагирующего нуклида /а, которая может меняться в интервале от 3 10 ( Са) до 1 (например, А1), и числа Авогадро ЛТд. Уравнение для числа ядер мишени, следовательно, может быть записано как [c.94]

    Анализ на изотопную распространенность и элементный состав жидких проб — водных или органических растворов и суспензий с диспергированными твердыми нерас-творенными частицами — проводят на МС, в которьгх в качестве источников ионов используется ИСП. В плазме при воздействии высокой температуры (7000-8000 К) и высокочастотного электрического поля происходит атомизация вещества пробы и образование ионов [2, 7, 8, 21, 30]. Анализаторами ионов для таких источников являются секторные магниты, системы разделения с двойной фокусировкой, анализаторы на основе ионно-циклотронного резонанса, времяпролетные и квадрупольные системы. Выбор анализатора зависит от требуемого разрешения по массам (из-за наложения дублетов ионов в исследуемой области массовых чисел), пофешности измерения изотопного и элементного состава, количества анализов, а также экономических факторов. Наиболее часто встречающиеся в масс-спектрах дублеты приведены в табл. 7.9. [c.859]

    При использовании низких энергий ионизирующих электронов, близких к потенциалам ионизации (в источниках с электронной бомбардировкой), очень важно добиться постоянства энергии электронов. Даже малые изменения этих энергий, вызываемые колебанием величины работы выхода катода или значений контактных потенциалов, могут оказать сильное влияние на результаты исследований. Непостоянная эмиссия электронов, обусловленная образованием нитратов на катоде при реакции вольфрама с углеводородами и азотсодержащими веществами, сильно сказывается, когда потенциалы появления ионов различных соединений отличаются незначительно. Энергия электронов определяет и вероятность образования различных изотопных разновидностей, в связи с чем выбираются наиболее удобные ионы для регистрации (молекулярные или осколочные). Широкий диапазон потенциалов появления различных ионов соединения при ионизации двухатомных молекул позволяет без труда останавливаться на любой ионной разновидности при определении изотопной распространенности. В качестве примера можно привести разновидности ионов, образовавшиеся в результате электронной бомбардировки молекул СО [80]. Окись углерода применяется как [c.138]


    Единственной задачей масс-спектрометрии является определение относительной изотопной распространенности введенного элемента. При манипулировании электродами под микроскопом относительный вклад в пучок ионов от поверхности образца и золотой подложки неконтролируемо флуктуирует. В результате регистрируемый промежуточным монитором ток отражает только приблизительные относительные экспозиции элементов. Чтобы обойти эту проблему, изотопные соотношения измеряют независимо от каждой из нескольких экспозиций различной продолжительности. [c.292]

    Однако сечения радиационного захвата тепловых нейтронов ядрами не связаны с геометрическими размерами для некоторых ядер сечения п, у)-реакции всего 10 барн, для других доходят до 10 барн. Из уравнения (4) следует, что те стабильные изотопы, которые обладают большими сечениями п, 7)-реакции и образуют радиоизотопы с удобными периодами полураспада, определяются с наибольшей чувствительностью, если только их изотопная распространенность не очень мала. [c.244]

    Крайне низкие пределы обнаружения уже сегодня могут быть достигнуты методом НАА для многих материалов, таких, как алмаз и графит, кремний и другие материалы на его основе, а также органические материалы, используемые в микроэлектронике, например полиимиды. При активами углеродсодержащих материалов не образуется радионуклидов основы с детектируемой активностью. Таким образом, можно определять все индикаторные радионуклиды без каких-либо помех со стороны радионуклидов основы (например, см. рис. 8.4-6). В НАА кремния и кремнийсодержащих материалов радионуклид 81, образуемый в реакции 81(п,7) 81 из основы, благодаря его малому периоду полураспада 1х/2 = 2,6 ч) оказывает влияние только при определении короткоживущих индикаторных радионуклидов. Более того, довольно низкие сгт (0,116) и изотопная распространенность 81(3,1%), а также тот факт, что является почти чистым /3-излучателем, еще больше уменьшают степень влияния 3 81. Поэтому ИНАА можно рассматривать как наиболее мощный метод ультраследового анализа кремния и кремний содержащих материалов, таких, как кварц, нитрид кремния и карбид кремния. В ИНАА, использующем современную 7-спектрометрию, поток нейтронов 10 см -с и оптимальный режим облучения, можно достигнуть крайне низких пределов обнаружения для большого числа примесных элементов в кремнии, как можно видеть из рис. 8.4-9. 42 элемента можно определить при содержаниях < 1млрд . [c.124]

    Несмотря на то, что использование водорода может привести к серьезной дискриминации по массам при абсолютном определении изотопных распространенностей [8091, этот метод лишен недостатков при достаточном количестве эталонных образцов, используемых для контроля воспроизводимости измерений и калибровки прибора [347]. Использование молекулярного водорода исключает необходимость введения поправок на наложение пиков изотопов других элементов. Кроме того, эта область низких масс в спектре свободнее от пиков, вызываемых примесями или фоном. Анализ смесей водорода, дейтерия и трития был описан Мак-Интиром и Поттером [1354], которые создавали равновесные условия в смеси при помощи катушки Тесла и использовали в своих вычислениях эмпирически определенные константы равновесия. Другие исследователи определяли дейтерий в легких неполярных водородсодержащих соединениях. [c.86]

    Величины 0,95026 0,00760 0,04200 0,00014 были взяты как отношения вероятностей образования и но они должны рассматриваться лишь как усредненные значения вследствие заметных естественных вариаций изотопных распространенностей. Относительная распространенность изотопов соединения С4Нб025г приведена в табл. 5 и показана на рис. 127. [c.307]

    Часто в качестве внутреннего фона фигурируют молекулярные ионы, образовавщиеся при электронной ионизации молекул, состоящих из сочетания изотопов исследуемого элемента, входящего в состав анализируемого соединения. Подобные случаи широко распространены при анализах изотопов элементов, использующих в качестве рабочего соединения окислы. Например, при определении (Изотопного состава серы таким фоном являются ионы (5 Ю 0 ) +, накладывающиеся в масс-спектре на рабочую массу М66 (З Юг ). Тем не менее, зная природную распространенность изотопов кислорода (0 0,2%) и пренебрегая его малыми вариациями в природе, вводят необходимую поправку в окончательные результаты при регистрации (З /З ) [84]. Аналогичным способом учитывают влияние изотопа при определении изотопных отношений углерода [85]. Наложение на рабочий масс-спектр ионов, получившихся в результате многократной ионизации, для большинства исследований изотопной распространенности отсутствует такому процессу требуется избыточная энергия электронов при бомбардировке [90, 94] (например, для иона С0 + + необходимо иметь энергию электронов, равную 42,0 в). Подробный учет всех возможных погрешностей при расчете изотопных отношений кислорода при масс-спектрометрическом анализе приводит в своей работе Фишлер [91]. [c.145]

    Черчилль [43] подробно рассмотрел пять принципиальна отличных способов калибровки эмульсии, используемых в оптической спектрографии. Один из них — метод двух линий — был применен в масс-спектрометрии [17, 19, 44]. Этот метод предполагает построение вспомогательной кривой (рис. 3.12) по значениям факторов пропускания линий двух изотопов одного элемента, отношение распространенностей которых г должно находиться в пределах 1,2—3,0. Выбор такой величины отношения изотопных распространенностей обусловлен тем обстоятельством, что в этом случае ширина регистрируемых линий практически одинакова [23]. [c.93]


    Другой метод построения характеристической (калибровочной) кривой также основан на использовании изотопных распространенностей элементов. В литературе он известен под названием многоизотопного метода Маттауха — Эвальда [45]. Для определения формы кривой выбирают линии элементов, имеющих несколько стабильных изотопов различной распространенности, таких, как Сс1, 5п, Оз, Hg. На рнс. 3.13 приведен график, построенный по изотопам кадмия, ирофотометрпрован- 94 [c.94]

    Таким образом, тщательные исследования фотоэмульсии как ионного детектора позволили перейти к решению других вопросов. метода вакуумной искрьк в частности к выяснению причин невысокой точности результатов. Если погрешности, вносимые в результаты, полученные фоторегистрацией, установлены путем сопоставления изотопных распространенностей (см. табл. П.1) с зарегистрированными на фотопластинке, то повышение точности определения концентрации элементов образца состояло в том, чтобы дисперсия аналитических данных приблизилась к предельным возможностям фотографического метода оценки. [c.107]


Смотреть страницы где упоминается термин Изотопная распространенность: [c.120]    [c.146]    [c.463]    [c.133]   
Аналитические возможности искровой масс-спектрометрии (1972) -- [ c.92 , c.95 , c.112 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте