Микроскопы, пределы увеличения

Микрокиноустановка МКУ-1. Для микрокиносъемки необходим ряд специальных условий яркая освещенность объекта, возможность постоянного регулирования резкости и т. п. Микрокиноустановка МКУ-1 состоит из микроскопа МБИ-5, киносъемочной камеры КСМ-2, механизма времени, пульта управления и осветительного устройства. Пределы увеличения микроскопа 5—3600 раз при визуальном наблюдении и от 500 до 100 000 раз и более при проектировании изображения на экран. Механизм времени позволяет вести непрерывную съемку со скоростью от 75 кадров в 1 с до одного кадра через 3 с. При покадровой съемке интервал времени между двумя отдельными съемками может регулироваться в пределах от 2,5 с до 3 ч 20 мин. Установка снабжена часами, циферблат которых фотографируется на каждом кадре. [c.128]

Наряду с указанными исследованиями были проведены также исследования [9] методом скоростной микрокиносъемки с целью определения скорости коалесценции при соприкосновении глобул воды в эмульсии. Пределы увеличения микроскопа находились в интервале от 220 до 550. Киносъемка проводилась при скоростях 950, 750 и 1500 кадров в секунду. Чтобы во время съемки происходила интенсивная коалесценция капель, к эмульсии добавляли ПАВ и дополнительно применяли переменное электрическое поле с градиентом напряжения 500—1000 в/см, частотой от 500 до 20 000 гц после достижения рабочей скорости кинокамеры СКС-1М. Постоянное электрическое поле не применялось, так как капли начинали двигаться по направлению к электродам, что приводило к быстрому исчезновению их из поля зрения микроскопа. [c.105]

Весь этот комплекс вопросов до развития современной электронной микроскопии лежал за пределами экспериментальных возможностей, что создавало благодарную почву для умозрительных построений и произвольных спекуляций. Можно надеяться, что благодаря электронному микроскопу в ближайшие же годы такого рода умозрительные выводы будут не нужны, ибо их сменят достоверные и надежные выводы прямых исследований, что окажет благотворное влияние на развитие теории и практики катализа. Следует помнить, что электронная микроскопия больших увеличений существует всего лишь около 10 лет, а электронномикроскопическое изучение катализаторов началось не более 2—3 лет назад. [c.87]

Вирус в переводе с латинского означает яд. Размеры вирусов колеблются в широких пределах. Мельчайшие из них приближаются по величине к белковым молекулам, а крупные близки по размерам к мельчайшим бактериям. Размеры вирусов выражают в нанометрах (Ihm = 10" м). Вирусы можно видеть только при помощи электронного микроскопа, дающего увеличение в десятки и сотни тысяч раз. [c.41]

Увеличение, получаемое при помощи электронных микроскопов, достигает 500 ООО, в то время как предел увеличения в лучших современных обычных ( световых ) микроскопах лежит около 3000. Это дает возможность с помощью электронного микроскопа производить ряд наблюдений, недоступных ранее, причем здесь полу- [c.347]

К сожалению, для светового микроскопа довольно быстро достигается предел увеличения, и предел этот очень и очень далек от молекулярного уровня. Известно, что разрешающая способность зависит от длины световой волны, проходящей через объект и микроскоп она равна половине длины волны. Вспомним еще раз меры длины, принятые для измерения микроскопических объектов (рис. 76). [c.186]

Предел увеличения в электронном микроскопе также определяется дифракцией электронов. Этот предел зависит от длины волн, эквивалентных данному потоку электронов, который, в свою очередь, зависит от их скорости. Последняя определяется напряжением электрического поля между катодом и анодом установки. Обычно применяемая разность потенциалов равна 10 в. Такой высокий потенциал используют для получения [c.279]

Увеличение, получаемое при помощи электронных микроскопов, уже в настоящее время достигает 500 ООО (предел увеличения в лучших современных световых микроскопах лежит около 3000 обычно же работают с увеличением 1000). Электронный микроскоп позволяет производить ряд наблюдений, ранее недоступных, причем он дает действительное изображение, а не только дифракционную картину, как ультрамикроскоп. [c.280]

Предел увеличения в электронном микроскопе также определяется дифракцией электронов. Этот предел зависит от длины волн, эквивалентных данному потоку электронов, который в свою очередь зависит от их скорости. Последняя определяется напряжением электрического поля между катодом и анодом установки. Обычно применяемая разность потенциалов равна 10 в. Такой высокий потенциал используют для получения достаточно большой скорости электронов (чем эта скорость выше, тем меньше длина электронной волны и тем выше разрешающая способность электронного микроскопа). Указанному напряжению (10 в) соответствует длина волны 4- 10" мк (4- 10 ° см). Это в 100 000 раз меньше наиболее короткой волны видимой части спектра (для фиолетового света она равна 0,38 мк). Такая крайне малая величина длины волны, эквивалентная потоку [c.355]

Между появлением зон повреждения, видимых под микроскопом, и увеличением хрупкости материала существует связь. Во всех случаях появления зон в образце, подвергнутом длительной постоянной деформации, возникают видимые под микроскопом нитевидные или клиновидные трещины и дальнейшая деформация приводит к разрушению образца при напряжении ниже значения, соответствующего пределу сгв, что хорошо согласуется с теорией сопротивления хрупкому разрушению. На рис. 19 показаны характеристические кривые, соответствующие диаграммам растяжения неповрежденного образца, исходного образца 92 [c.92]

В настоящее время в электронной микроскопии широкое распространение получил косвенный метод исследования. При этом методе в просвечивающем микроскопе исследуется не сам объект, а копия с рельефа его поверхности. Пленка-отпечаток должна быть бесструктурной в возможно более широких пределах увеличений, применяемых при исследовании, но вместе с тем воспроизводить рельеф поверхности с разрешением порядка разрешающей силы электронного микроскопа она не должна взаимодействовать с веществом исследуемой поверхности и легко, без искажений пленки, отделяться от исследуемой поверхности. [c.41]

Электронно -микроскопический метод. Если обычный микроскоп дает максимально возможные увеличения 1500—2000 раз, оптический микроскоп с кварцевой оптикой и использованием ультрафиолетовых лучей — порядка 3000—3500 раз, то электронный микроскоп имеет теоретический предел увеличения до 200 ООО раз. Имеющиеся в настоящее время лучшие модели электронных микроскопов позволяют уже различать на объекте детали размером 10—15 А. [c.39]

Для получения нативного препарата крови на предметное стекло наносят вазелиновый квадрат размером с покровное стекло. В центр квадрата помещают небольшую каплю крови и слегка прижимают покровным стеклом, чтобы она растекалась тонким слоем в пределах квадрата. Нативный препарат крови исследуют под малым увеличением микроскопа, при этом видны микрофилярии, активно двигающиеся между эритроцитами. [c.381]

С помощью микроскопа с окуляром-микрометром установили, что толщина темного слоя на пленках колеблется в пределах 20-30 мкм, причем тенденции к увеличению (по данным наблюдений в течение 5 -9 лет) не наблюдается. [c.25]

Микроскоп — это прибор, позволяющий получать увеличенные изображения мелких предметов. Волновая природа света накладывает определенный предел на тот минимальный размер деталей, который можно различить с помощью оптического микроскопа. [c.100]

Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

При длительной работе с микроскопом следует пользоваться двойными окулярами — бинокулярной насадкой. Бинокулярные насадки часто имеют собственное увеличение (около 1,5 X) и снабжены коррекционными линзами. Корпуса насадки могут раздвигаться в пределах 55—75 мм в зависимости от расстояния между глазами наблюдателя. Работа с бинокулярной насадкой улучшает видимость объекта, снижает яркость изображения и тем самым сохраняет зрение. [c.12]

Размеры и форму коллоидных частиц можно определить методом электронной микроскопии. В электронном микроскопе вместо световых лучей используется пучок быстро движущихся электронов. Для фокусировки электронного пучка применяются электронные линзы — электромагнитные катушки, создающие электрические и магнитные поля. Увеличенное изoJбpaжeниe объекта проецируется на светящийся (флуоресцирующий) экран. Для электронного микроскопа предел разрешения, характеризующий способность прибора различать мелкие, близко расположенные детали объекта, составляет 0,2— [c.189]

Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей. Брилл, Вейл и Шмидт [158] продемонстрировали возможность использования малоуглового рассеяния рентгеновских лучей для измерения распределения частиц по размерам в относительно разбавленных золях. Образцы коллоидного кремнезема с номинальным размером частиц около 15 и 10 нм (людокс-Н5 и людокс-5М) разбавляли примерно до 1 % 5102. Диаметры частиц измеряли с помощью электронного микроскопа при увеличении вплоть до 32 000 с погрешностью всего 1 нм. Было сделано заключение, что данные по распределениям частиц по их диаметрам, полученные с помощью малоуглового рассеяния рентгеновских лучей и электронной микроскопии, для таких образцов кремнезема находятся в хорошем согласии между собой в пределах экспериментальной погрешности. Аналогичное исследование кремнезема людокс-Н5 приводится в работе [159] в растворах, разбавленных до 0,5%, обнаружены частицы диаметром около 18 нм. [c.474]

Теоретически микроскоп может дать увеличение 2000X и более раз. Однако следует различать полезное и бесполезное увеличения микроскопа. Пределы полезного увеличения в обычно используемых микроскопах достигают 1400Х- При превышении границ полезного увеличения возникают дифракция и другие явления, обусловленные волновой природой света, которые незаметны в пределах полезного увеличения, но приводят к оптическим ошибкам в зоне бесполезных увеличений. [c.12]

Предел увеличения электронного микроскопа кладется диф-фракцией электронов. Диффракция электронов уменьшается с увеличением их скорости. Поэтому для увеличения скорости элеастранов применяют большие напряжен ия порядка 10 в. Этому напряжению соответствует длина электронной волны [c.252]

ТОЧНО указать день рождения микробиологии и имя первооткрывателя. Человек этот — голландец Антони ван Левенгук (Antony van Leeuwenhoek, 1632—1723), мануфактурщик из Дельфта. Заинтересовавшись строением льняного волокна, он отшлифовал для себя несколько грубых линз. Позднее А. ван Левенгук увлекся этой тонкой и кропотливой работой и достиг большого совершенства в деле изготовления линз, названных им микроскопиями . По внешней форме это были одинарные двояковыпуклые стекла, оправленные в серебро или латунь (то, что мы теперь называем лупы ), однако по своим оптическим свойствам линзы А. ван Левенгука,, дававшие увеличение в 200—270 раз,, не знали себе равных. Чтобы оценить их, достаточно напомнить, что теоретический предел увеличения двояковыпуклой линзы — 250—300 раз. [c.4]

Передо мной центрифужная пробирка, а в ней коричневый осадок, похожий на печеночный паштет. Здесь должны быть миллиарды отдельных митохондрий. Так ли это Посмотрим в микроскоп. На пределе увеличения видны чуть вытянутые частицы. Они находятся в беспорядочном движении — броунируют. Добавляю каплю красителя янус зеленый . Если частицы окрасятся в зеленый цвет, значит, это митохондрии. Частицы зеленеют. Пока все идет нормально. Но к чему еще способны эти митохондрии, безжалостно вырванные из привычной среды и лишенные своих партнеров по протоплазме [c.20]

В каждом опыте поверхность разрыва исследовали под стереоског пическим микроскопом при 45-кратном увеличении. В пределах изученных толщин пленок никакого вязкого течения в процессе разрыва не наблюдалось. Такое течение можно заметить только при толщинах порядка 10 см. [c.71]

Шероховатость поверхности измеряется также профилографическим методом. Поверхность детали вдоль определенной пинии точка за точкой прощупывается очень тонким штифтом (радиус 2-10 мкм) при незначительном давлении. Щуп прослеживает все неровности ис- следуемой поверхности, и путь его движения передается механикооптической и электрической системой в виде пропорционально увеличенного сечения профиля. Имеются также профилографы со световым указателем неровностей поверхности. При измерении щуп от датчика импульсов приводится в колебательное движение, которое заставляет его быстро перескакивать с одной точки измерения на другую. Пределы измерения при этом способе составляют 0,1-125 мкм. Измерение и исследования микронеровностей поверхности образцов могут также проводиться с помощью электронного микроскопа. [c.225]

Разрешающая способность автоматизированного телевизион--ного анализатора может регулироваться изменением кратности увеличения оптической схемы микроскопа в достаточно широких, пределах. В дальнейшем надежность и возможности анализатора АТА-1 могут быть значительно повышены за счет применения сканирующего стола с автоматическим поиском полей на фильтре. [c.314]

Метод получения изображения рентгеновском излучении при сканировании по площади представляет по существу растровый рентгеновский микроскоп. Усиленный сигнал от детекторной системы—спектрометра с дисперсией по энергии или кристалл-дифракционного спектрометра — используется для модуляции яркости электронно-лучевой трубки (ЭЛТ), которая сканируется синхронно с электронным пучком. Таким образом, изображение на экране ЭЛТ получают за счет изменения интенсивности рентгеновского излучения с поверхности образца. Здесь используется такая же система развертки с регулировкой увеличения и такой же усилитель, что и в растровом электронном микроскопе (гл. 4). Электронный пучок может сканировать по линии в направлениях X или У и давать распределение рентгеновского излучения по линии. Пример типичного сканирования по линии для Со и Сг по поверхности окисленного высокотемпературного сплава приведен на рис. 5.14 (гл. 5). Электронный пучок можно, конечно, развертывать и по площади н получать изображение в рентгеновских лучах. Изображение в рент-геповски.х лучах при сканировании по площади может содержать тона от черного до белого в зависимости от условий эксперимента. Места с высокой концентрацией исследуемого элемента в пределах области сканирования будут на изображении почти белыми, серыми, когда концентрация элемента ниже, и черными всюду, где элемент отсутствует. Пример, иллюстрирующий результаты исследования руды, приведен на рис. 6.15. [c.296]

Пространственное разрешение изображения во вторичных электронах составляет около Знм (в оптическом микроскопе — около 1мкм), поэтому можно достичь увеличения до 100000. Причина этого заключается в том, что глубина области, из которой вылетают вторичные электроны, всего около 10 нм. В пределах такой глубины расфокусировка первичного пучка незначительна и пространственное разрешение практически равно диаметру пучка. [c.330]

Визуально-оптическим называют неразрушаюший контроль качества с применением оптических средств, позволяющих существенно расширить пределы естественных возможностей органов зрения человека. Он является техническим продолжением визуального контроля, дает возможность обнаруживать более мелкие дефекты и производить измерения с высокой разрешающей способностью (1—5 мкм). При проведении визуально-оптического контроля надо учитывать основные особенности ( 6.5), характерные для визуального контроля, так как в обоих случаях решающую роль играет оператор. Усилить возможности человека позволяют лупы, микроскопы, телескопические устройства и другие технические средства. Главным недостатком визуально-оптического контроля является снижение производительности проведения неразрушающего контроля. Поэтому обычно проводят многоступенчатый контроль осматривают поверхность изделия без оптических средств, выявляя крупные дефекты и подозрительные места, изучают эти места через лупу (однолинзовый микроскоп), а затем исследуют отдельные участки контролируемого изделия с помощью многолинзового микроскопа, последовательно повышая кратность его увеличения. При правильном выборе условий визуально-оптического контроля размеры элементов объекта или минимальных выявляемых дефектов 1т1а (в мм) уменьшаются в соответствии с оптическим увеличением устройства Кув- [c.239]

Образцы смазок анализировали через двое суток, определяя содержание свободной щелочи по ГОСТу 6707-60, температуру каплепадения по ГОСТу 6793-53, коллоидную стабильность по ГОСТу 7142-54 эффективную вязкость (т]Р) по ГОСТу 7163-63, пределы прочности на сдвиг (Тп,) по ГОСТу 7143-54. Термическую стабильность оценивали визуально [5] по изменению внешнего вида смазки, нанесенной слоем 1,5—2 мм на отполированную металлическую пластинку и выдержанной в термостате в вертикальном положении при 150° С в течение 3 ч. Механическую стабильность оценивали, разрушая смазку в ротационном приборе (20°С и 3000 се г- ) и измеряя изменение предела прочности на разрыв (стпч) ДО й после разрушения [2]. Электронномикрофотографии структуры смазок получены на микроскопе ЭМ-5 при увеличении 15000 раз. [c.116]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология