Линии спектральные определение интенсивности

Принцип метода заключается в следующем раствор распыляют с помощью сжатого воздуха в пламя горелки, где происходит ряд сложных процессов, в результате которых образуются атомы или молекулы. Их излучение направляют в спектральный прибор, где излучение определяемого элемента выделяют светофильтрами или другим монохроматором. Попадая на детектор, излучение вызывает фототок, который после усиления измеряют регистрирующим прибором. Градуировочные графики строят в координатах величина фототока (мкА) — концентрация элемента в раство ре с (мкг/мл). Зависимость между интенсивностью излучения / и концентрацией элемента в растворе аппроксимируется прямой линией в определенной для каждого элемента области концентраций и зависит от спектральной линии, аппаратуры и условий работы. Отклонение от линейности наблюдается в области больщих (например, более 100 мкг/мл для калия) и малых концентраций. В первом случае происходит самопоглощение света невозбужденными атомами, во втором — уменьщается доля свободных атомов за счет смещения равновесия реакции ионизации атомов. [c.11]

Другой важнейшей характеристикой методов регистрации является их точность. Ошибка в определении интенсивностей линий при их регистрации должна быть меньше, чем ошибки, связанные с источником света. Современные фотоэлектрические методы измерения интенсивностей спектральных линий обеспечивают высокую точность измерения, тогда как при визуальной и фотографической фотометрии измерение интенсивностей часто вносит большие ошибки в результаты анализа. [c.153]

В большинстве случаев атом может находиться в возбужденном состоянии в течение примерно 10 сек. После этого он самопроизвольно переходит на более низкий уровень с излучением фотона. Чем чаще совершаются такие переходы, тем больше интенсивность соответствующей спектральной линии. Для определения интенсивности линии необходимо знать число атомов, находящихся в возбужденном состоянии на соответствующем верхнем уровне. [c.49]

Для определения положения длин волн спектральных линий и их интенсивностей необходимо использовать приборы, по воляющие выделять из всего спектра отдельные монохроматические составляющие и измерять количество переносимой ими энергии. [c.8]

Для определения интенсивности спектральной линии необходимо знать зависимость между почернением 5 фотопластинки и интенсивностью / излучения, вызвавшего это почернение. Зависимость между 5 и lg / выражают кривой, которую называют кривой почернения или характеристической кривой фотопластинки. На прямолинейном участке этой кривой зависимость 5 от g/ выражается уравнением [c.228]

Спектральное определение (разд. 37.2.1.2, см. также гл. 40). Легколетучие соединения галлия и индия окрашивают пламя бунзеновской горелки в фиолетовый цвет [Я,оа=417,2 нм (403,3 нм) Л,т =451,1 нм], а соединения таллия—в зеленый. У таллия наблюдается интенсивная зеленая линия при =535,1 нм. [c.592]

Строение молекулы (ее симметрия) проявляет себя отчетливо в колебательном спектре, отражаясь в его характерных особенностях — числе полос, значениях частот, поляризации линий комбинационного рассеяния, интенсивности спектральных линий и их контуре и т. п. Вся совокупность данных, а не одна из особенностей позволяет установить строение многих малых молекул. В табл. 16 отражены формы колебаний и активность в ИК- и КР-спектрах газов ряда конфигураций малых молекул. Обычно для исследуемой молекулы возможно предположить исходя из соображений симметрии или химической интуиции несколько равновесных конфигураций, для каждой из которых характерно определенное число полос, соотношение между их интенсивностями и т. д. Сопоставляя имеющиеся спектральные данные с предполагаемой моделью, определяют наиболее вероятную конфигурацию (структурный анализ). Например, для молекул ВОз можно предположить две структуры — плоскую (0 ) и пирамидальную (Сзг,). Для последней в ИК- и в КР-спектрах активны все четыре колебания М1, М2, УЗ, Для плоской конфигурации в ИК-спектре активны три частоты кроме ух), а в КР-спектре — тоже три (кроме Уа). Для молекулы B я в КР-спектре найдены всего три фундаментальные частоты 471, 956 и 243 см 1. Из них наиболее интенсивна первая. В ИК-спектре обнаружены полосы при 460, 956 и 243 м . Таким образом, пирамидальная конфигурация отпадает, молекула должна быть плоской (см. табл. 16). Линия 471 см 1 в КР-спектре должна принадлежать полносимметричному колебанию у1 как наиболее яркая в КР-и отсутствующая в ИК-спектре. Вывод о плоском строении молекулы ВСЬ подтверждается методом изотопного замещения. Из табл. 16 (см. молекулы ХУз симметрии Оз ) видно, что только в полносимметричном колебании У1 (ВСЬ) = 471 см ядро атома бора не смещается от положения равновесия. Следовательно, только частота [c.175]

Градуировка спектральных приборов. С целью уменьшения ошибок при определении интенсивности аналитических линий и проверки волновых чисел необходимо градуировать спектральные приборы по эталонным веществам. [c.58]

В качестве примера в табл. 7.1 приведены значения длин воли гомологических линий при определении примеси свинца в олове. В последней графе таблицы показано содержание свинца в олове, когда интенсивности двух спектральных линий, расположенных в одной строке, оказываются одинаковыми. [c.100]

После открытия спектрального анализа начинают появляться работы по его применению для качественного анализа. Хотя уже в первых работах было установлено, что интенсивность спектральной линии зависит от концентрации элемента в пробе, развитие количественных методов шло. крайне медленно. Сильное влияние состава пробы на интенсивность спектральных линий, нестабильность источников света, отсутствие надежных методов регистрации спектра и определения интенсивности линии не позволяли установить надежную зависимость между интенсивностью линии и концентрацией анализируемого элемента. Наряду с отдельными успехами были столь большие неудачи, что некоторые спектроскописты даже ставили под сомнение возможность количественного спектрального анализа. [c.224]

Линейчатый спектр каждого элемента характеризуется рядом спектральных линий, соответствующих лучам, испускаемым раскаленными парами и газами. Эти лучи имеют определенную длину волны (> ) и частоту колебаний (V). Наличие в спектре излучения этих линий, отвечающих определенным длинам волн, характерным для обнаруживаемых элементов, дает возможность судить о наличии искомых элементов в исследуемом веществе, а по интенсивности линий — об их количественном содержании. [c.473]

Спектральное определение малых количеств урана в руда представляет собой трудную аналитическую задачу, так как абсолютная чувствительность обнаружения этого элемента невелика вследствие низкой летучести его окислов и сложности спектра, обладающего большим числом линий малой интенсивности. [c.248]

Большой интерес представляют прямые спектральные методы анализа без химической обработки образца [92]. Прямое спектральное определение рения в молибденитах рекомендуют проводить на дифракционном спектрографе ДФС-3 с решеткой 1203 штрихов на 1 мм, позволяющим работать во втором и третьем порядках (дисперсия 0,95 и 0,53 А/мм соответственно). Эталоны готовят разбавлением тщательно проанализированного образца молибденита (с высоким содержанием рения) сульфидом молибдена. Анализируемые пробы и эталоны смешивают в соотношении 1 9с буферной смесью состава 4% РЬО, 45% ГезО,, 5% СиО, 1% КС1 и 0,05% С(13. Такой состав буферной смеси обеспечивает наибольшую величину отношения интенсивности линии рения к фону. Спектры возбуждают в дуге постоянного тока (12 а) в течение 20 сек. Калибровочный график строят в координатах [c.246]

Эмиссионный спектр мышьяка содержит 239 линий [12, 133, 154, 355, 716]. Наиболее интенсивные линии расположены в области 200—300 нм (указаны в порядке убывания их интенсивности) 228, 812 234, 984 245, 653 303, 284 278, 020 286, 045 и 289, 871 нм. Выбор этих линий ограничивается составом пробы, характеристиками используемых спектральных приборов и приемников излучения. В короткой ультрафиолетовой области спектра имеются еще две интенсивные линии — 180,620 и 197,203 нм. Однако их использование требует применения при фотографировании спектров специальной вакуумированной аппаратуры. На возможность применения этих линий при определении мышьяка, в сталях указано в работе [697]. [c.92]

Перед спектральным определением бериллия в алюминиевых сплавах [459] 1 г сплава растворяют в 25 мл НС1 (1 1). Часть раствора помещают в лодочку, погружают дисковый электрод в раствор и возбуждают пробу в искре от генератора (индуктивность 0,06 мгн, емкость 0,005 мкф, напряжение 15 в). Величина искрового промежутка 3 мм, экспозиция 20 сек. Содержание бериллия в пробах определяют по калибровочному графику, построенному в координатах содержание бериллия (в %) —log отношения интенсивностей линий Ве и А1. [c.96]

При спектральном определении кальция в боре мешает интенсивный молекулярный спектр, который маскирует аналитические линии многих элементов. Природа фона обусловлена излучением образуюш ихся в разряде окислов бора. Молекулярный спектр и сплошной фон ослабевают, если в качестве источника возбуждения спектра пользоваться дугой в токе азота [180] или аргона [295] при силе тока 14—15 а. Анализ в атмосфере инертного газа увеличивает чувствительность определения от 10 до 10 %. [c.119]

Важное значение при спектральном определении фосфора в стали на воздухе имеет правильный выбор материала подставного электрода [194, 886]. Если для зтой цели применить материал, обладающий высоким сродством к кислороду, то значительная Часть кислорода воздуха будет связываться этим материалом, что приведет к уменьшению скорости окисления фосфора. На рис. 5 приведены кривые, иллюстрирующие зависимость интенсивности линий Р1 214, 91 нм от времени обжига и материала подставного электрода (дуга переменного тока, 12 а). Видно, что применение графитового электрода дает максимальную интенсивность для линии фосфора, а процесс выгорания фосфора из поверхностного слоя пробы протекает значительно медленнее, чем при работе с железным и никелевым электродами. [c.72]

Спектральное определение галлия в силикатных породах и минералах. Метод основан на установлении зависимости между концентрацией галлия в образцах и относительным почернением пары линий Ga—Sn или Ga—In в их спектрах в области больших концентраций при концентрациях <0,001% Ga устанавливается зависимость между концентрацией галлия и относительной интенсивностью пары линий Ga—Sn или Ga—In. Возбуждение спектров производится в угольной дуге постоянного тока с использованием эффекта фракционированной возгонки в катодном [c.182]

На спектрограмме каждый элемент имеет строго специфическое расположение линий, характеризующееся определенными длинами волн. Однако довольно часто линии разных элементов, имеющие близкие или даже одинаковые длины волн, могут накладываться одна на другую или располагаться очень близко и оказывать влияние на интенсивность соседних линий. В этом случае их дифференциация становится невозможной. Поэтому для проведения спектрального анализа необходимо выбирать линии анализируемого элемента в таком участке спектра, где нет близко расположенных линий другого элемента. Такие линии именуют аналитическими. В ряде случаев в качестве аналитических линий целесообразно иопользовать так. называемые последние линии, которые при постепенном уменьшении концентрации исследуемого элемента в испытуемой пробе исчезают последними. На этом основана методика последних линий. Ниже приведены аналогичные (последние) линии некоторых микроэлементов Индиченко (1960) [c.78]

Но и этого еще недостаточно необходимо иметь, кроме того, спо- соб количественного исчисления активных центров и определения отсюда их абсолютной активности, т. е. производительности одного активного центра. Только путем сопоставления таких абсолютных активностей для разных процессов и в разных условиях можно проникнуть в механизм катализа и поднять его на уровень современных физических теорий. Никакие условные меры активности — вроде расчета на единицу веса, на единицу поверхности, сопоставление энергии актива- ции — не могут дать сколько-нибудь надежных результатов (см. доклад Атом, кристалл и электрон в катализе ). Анализировать механизм катализа без знания структуры активного центра и его активности — это все равно, что судить об энергетических уровнях атомов или молекул по спектрам, не зная волновых чисел спектральных линий и их интенсивностей. [c.43]

Под прямым анализом подразумевается такой метод, при котором спектральные параметры получают непосредственно из положения и относительной интенсивности линий, вводя, например, частоты линий в определенные уравнения, характерные для каждого типа спектров. [c.111]

Построение характеристической кривой пластинки с помощью девятиступенчатого ослабителя по относительным интенсивностям спектральных линий и определение коэффициента контрастности 7. [c.203]

Определение содержания пробы по почернению линий на спектрограмме. Интенсивность / исследуемой спектральной линии тем выше, чем больше число излучающих атомов (рис. 21.1). В прямолинейной части она достаточно хорошо описывается формулой Ломакина [c.185]

Установка выходных шелей. Выходные щели выделяют из спектра, расположенного по кругу Роуланда, аналитические линии, которые проектируются зеркалами на катоды соответствующих фотоэлементов. Для точного определения интенсивности спектральной линии необходимо выходные щели квантометра точно совместить с изображениями анализируемых линий. Наиболее простой способ контроля установки щели — так называемое фотоэлектрическое профилирование, которое заключается в перемещении щели в направлении дисперсии с измерением интенсив- [c.294]

Если при данной величине открытого участка кристалла желательно без ущерба для точности анализа повысить интенсивность линий рентгеновского спектра, то для этого наиболее целесообразно создание такой конструкции рентгеновской трубки, антикатод которой составлял бы с направлением касательной к поверхности отражающего кристалла угол, близкий к прямому. В этом случае фактическая протяженность фокусного пятна в рентгеновской трубке может быть много больше, чем вычисленная по формуле (28). Это, во-первых, позволяет, не изменяя удельной нагрузки единицы поверхности анода, увеличить общую мощность рентгеновской трубки, которая эффективно используется в спектрографе во-вторых, делает возможным приблизить кристалл вплотную к антикатоду и таким образом увеличить интервал углов, в котором при данной величине кристалла может проводиться одновременное спектральное определение содержания различных элементов в пробе в-третьих, позволяет использовать для очень большого интервала углов строго неизменную поверхность фокусного пятна и, наконец, приводит к большой остроте линий, связанной с тем, что в отражении лучей каждой длины волны участвует относительно небольшая часть изогнутого кристалла. [c.35]

В результате все возрастающего применения элементарного бора в, полупроводниковой и ракетной технике, ядерной энергетике, требования к его чистоте значительно повысились. В настоящее время необходимо осуществлять контроль примесей при содержаниях порядка Ю " —10 7о-Поэтому чувствительность применяемых методов должна соответствовать этой величине. Прямое спектральное определение Са, А1, 51, Ре. Си, Мд, 5п, Т1 и Сг в боре при возбуждении спектра в дуге переменного тока в атмосфере воздуха не приводит к желаемым результатам [1], чувствительность определения не превышает 10 2%. Это обусловлено мешающим влиянием спектра молекулы бора, который расположен в области аналитических линий большинства примесей. Однако чувствительность может быть доведена до пЛО- % за счет применения в качестве источника возбуждения дуги постоянного тока (г = 14 а) и проведения анализа в токе азота, что способствует ослаблению интенсивности молекулярного спектра [2]. Для этих целей используют специальное приспособление, обеспечивающее в процессе сжигания образцов в дуге равномерную циркуляцию азота вокруг угольных электродов. Спектр фотографируют на спектрографе ИСП-22 при ширине щели прибора 0,01 мм и величине межэлектродного промежутка 4 мм. Экспозиция составляет 60 сек. Внутренним стандартом служит германий, вводимый в образцы в смеси с угольным порошком. Концентрацию примесей находят по градуировочным графикам, построенным по эталонам, которые приготовляют путем введения в чистую основу (бор) известного количества определяемых элементов. [c.482]

Спектр, возбуждаемый в плазменной струе, характеризуется интенсивным сплошным фоном, возникающим вследствие высокой концентрации электронов. Отмечено уменьшение фона при добавлении в поток аргона гелия [1119, 1432]. Однако несмотря на интенсивный фон высокая временная и пространственная стабильность всех параметров плазменной струи позволяет надежно регистрировать излучение очень слабых линий, интенсивность которых составляет сотые доли интенсивности сплошного фона. Это — одно из главных достоинств плазматрона как источника света для спектрального определения следов элементов. Оптимальные условия, обеспечивающие наилучшее отношение интенсивности аналитических линий к интенсивности фона, подбирают регулировкой параметров источника они различны для разных плазматронов. Флуктуации абсолютных и относительных интенсивностей излучения спектральных линий характеризуются обычно коэффициентом вариации 2—3%, а в ряде случаев — 1 % и меньше. [c.163]

Строение молекулы (ее симметрия) проявляет себя отчетливо в колебательном спектре, отражаясь в его характерных особенностях — числе полос, значениях частот, поляризации линий комбинационного рассеяния, интенсивности спектральных линий и их контуре и т. п. Вся совокупность данных, а не одна из особенностей позволяет установить строение многих малых молекул. В табл. 16 отражены формы колебаний и активность в ИК- и КР-спектрах газов ряда конфигураций малых молекул. Обычно для исследуемой молекулы возможно предположить исходя из соображений симметрии или химической интуиции несколько равновесных конфигураций, для каждой из которых характерно определенное число полос, соотношение между их интенсивностями и т. д. Сопоставляя имеющиеся спектральные данные с предполагаемой моделью, определяют наиболее вероятную конфигурацию (структурный анализ). Например, для молекул ВС1з можно предположить две структуры — плоскую и пирамидальную [c.175]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

Теоретические основы наиболее распространенных современных методов спектрального анализа изложены в [441]. Структура электронных оболочек атома хрома — 15 25 2р 35 3р 3й 45 — определяет сложный характер его спектра. Он состоит из 1133 спектральных линий [477]. Наиболее интенсивные линии хрома расположены в видимой области и имеют длины волн 425,43, 427,48 и 428,97 нм. Для определения малых количеств хрома используют линию 425,43 нм [178, 186]. Однако в присутствии кальция она непригодна для определения хрома из-за влияния интенсивной линии кальция 428,93 нм. В УФ-области имеется ряд менее чувствительных линий 340,53, 357,86 и 389,34 нм. Во многих случаях пользуются также линиями 278,07, 283,56, 284,32 и 284,98 нм. Например, пределы обнаружения хрома по линии 283,56 нм равны 1-10 % при возбуждении спектра в обычной дуге и 5-10 % — в дуге Столвуда [283]. [c.72]

А. К. Русанов и С. М. Солодовник [82] разработали ускоренный метод визуального спектрального определения индия в растворах, полученных при химической переработке руд, легко осуществимый в условиях заводской лаборатории. Для работы требуется стеклянный спектроскоп с небольшой дисперсией (типа Бунзена-Кирхгофа). Спектр возбуждают в воздушноацетиленовом пламени. Анализируемый раствор вводят в пламя при помощи специального распылителя. Концентрацию индия определяют методом гашения синей линии In 4511 A. Для этой цели перед щелью спектроскопа устаналивают клинообразную кювету, наполненную 0,2%-ным раствором Kj rjO,. Вдвигая кювету, добиваются такого ее положения, при котором глаз перестает отмечать в спектре ацетиленового пламени присутствие синей линии индия. Толщину слоя раствора ( ), гасящего линию индия, определяют по нанесенной сбоку кюветы шкале. Величина d зависит от интенсивности спектральной линии, т. е. от концентрации индия в растворе. Для определения этой зависимости фотометрируют линию спектра, полученную при помощи ряда стандартных растворов индия. Для построения калибровочной кривой по оси абсцисс откладывается логарифм концентрации индия, а по оси ординат—соответствующие им величины d. [c.206]

М. М. Клер и В. В. Хохлов [43] указывают на возможность спектрального определения 40—50 элементов в экспедиционных условиях црипоисках и разведке рудных элементов.Исследуемую пробу испаряют в угольной дуге переменного тока. Для приближенного количественного анализа на большое число элементов разработана специальная методика ослабления интенсивности спектральных линий на три порядка. [c.213]

Введение порошковых проб в дуговой разряд воздушной струей повышает воспроизводимость аналитических линий, облегчает автоматизацию процессов анализа и регистрацию спектра. Одной из причин плохой воспроизводимости результатов анализа является различие размеров частиц анализируемых материалов, так как интенсивность линии пропорциональна величине, характеризующей полноту испарения частиц. В работе [271] было экспериментально показано, что степень испарения элементов при спектральном определении из порошковых материалов зависит от размера частиц анализируемого материала. На основании проведенных расчетов установлено,, что размер частиц материала при определении ртути в дуговом разряде при силе тока 15 а и скорости воздушной струи 2 м1сек должен составлять не более 0,16 мм. [c.124]

Твердый образец подвергают облучению либо электронами, ускоренными в вакууме при разности потенциалов 5-40 кВ, либо первичным рентгеновским излучением высокой энергии и интенсивности. Испускаемое образцом вторичное характеристическое излучение рентгеновской частоты проходит через щель коллиматора на кристалл-анализатор, исполняющий роль диффракционной решетки для определения длины волны излучения, и попадает на регистратор для определения интенсивности отдельных линий и непрерывной записи рентгеновского спектра. Так работают приборы электронно-спектрального химического анализа (ЭСХА), рентгено-спектрального химического анализа (РСХА), электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы и др. В последнее время их объединяют с оптическими и электронными микроскопами для целенаправленного выбора объекта исследования в неоднородных средах. [c.109]

Многолинейный спектр хрома создает значительные затруднения при спектральном определении микропримесей в нем [269]. Исследовалась зависимость интенсивности аналитических линий В1, Со, С(1, Зп, РЬ, Си, Ре, Ъп от концентрации хрома [268]. Из данных рис. 29 следует, что присутствие хрома в количествах до 8 мг не оказывает влияния на интенсивность линий В1, 0(1, Зп, РЬ и Си, зато интенсивности линий Со и особенно Ре снижают- [c.178]

Некоторые авторы указывают на возможность повышения чувствительности спектрального определения бериллия при замене атмосферы воздуха, в которой сжигают пробу, на инертные газы. Так, Валли и Петти [440] наблюдали увеличение интенсивности искровых линий бериллия в атмосфере гелия дуговые линии при этом были ослаблены, но чувствительность определения повышалась из-за ослабления фона. В атмосфере Не(Аг) интенсивность линии 3130,4 А в 10 раз больше, чем в воздухе [441]. Очевидно, в атмосфере гелия и аргона усиливаются линии ионизированных атомов, требующие большой энергии возбуждения линии нейтральных атомов более интенсивны в воздухе [442]. Мочалов и Рафф [441] также подтвердили увеличение интенсивности линий ионов бериллия в аргоне (дуговой разряд) при одновременном уменьшении интенсивности линий нейтральных атомов. [c.91]

Для повышения воспроизводимости и правильности результатов спектрального анализа предложен способ, основанный на введении в пробу двух элементов сравнения, один из которых обладает более высокой, а другой более низкой летучестью, чем определяемый элемент [1422]. При удачном выборе концентраций этих элементов может быть достигнуто одинаковое изменение во времени суммарной интенсивности двух линий сравнения и интенсивности линии определяемого элемента. При определении этим способом галлия в омеси СаСОз и МдСОз элементами сравнения служат индий и палладий, вводимые в пробу в равных количествах. Определение проводят по линиям Са —2943,6 1п —3256,1 и Рс1 —3441,4 А. Метод целесообразно применять при одновременном определении большого числа примесей. [c.157]

Спектральное определение галлия. Пламенно-фотометрическое определение гал.лия в концентратах и полупродуктах производства. Метод основан на измерении интенсивности линии галлия Я = 417,2 нм в спектре аце-тилено-воздушного пламени, получаемом при введении в него раствора пробы и пробы с добавками галлия [408]. [c.187]

Фотоэлектрическими приборами в пламенной фотометрии для определения интенсивности монохроматического пучка слуЖат фотоэлементы, фотоячейки и фотоумножители. Фотоэлементы — самые нетребовательные, так как нуждаются только в чувствительном гальванометре для измерения тока. Сравнительно более высокой лувствительностью обладают приборы с фотоячейками, для которых требуется дополнительный внешний источник энергии, а также соответствующие усилительные устройства. Еще более хорошими возможностями для применения в пламенной фотометрии обладают фотоумножители. В силу высокой чувствительности эти приборы могут измерять световые потоки с незначительной интенсивностью и поэтому их обычно используют в приборах с монохроматорами, с помощью которых достигается наиболее полное отделение определенной спектральной линии от ее ближайших соседей. [c.354]