Приборы высокой разрешающей силы

Вращательные спектры комбинационного рассеяния можно использовать для определения вращательных постоянных и других констант гомонуклеарных молекул На, О2, СЬ, которые не имеют спектров поглощения в ИК-области. Для этого нужны приборы высокой разрешающей силы, так как комбинационные смещения во вращательных спектрах малы и стоксовы линии лежат очень близко к релеевской, затмевающей их своей интенсивностью. Поэтому наряду с КР-спектрами для указанной цели используют с большим успехом электронные спектры. [c.155]

Особо следует отметить то обстоятельство, что при использовании линейчатого источника света отпадает необходимость в применении спектрального прибора высокой разрешающей силы. Спектральный прибор в данном случае необходим лишь для отделения измеряемой линии от других линий, испускаемых источником света. [c.142]

НОМ ряду И при Примерно 7100 см в первом обертоне. Частота свободной гидроксильной группы V (ОН) в известной мере зависит от индуктивного эффекта сильно полярных заместителей, располо-. женных по соседству с гидроксильной группой, а также от того, является ли оксигруппа первичной, вторичной или третичной [22, 23]. На частоту поглощения также влияют пространственные эффекты в молекуле так, в циклогексанолах частота аксиальной гидроксильной группы на несколько единиц выше частоты экваториального гидроксила [23—251. При применении приборов высокой разрешающей силы полоса свободной гидроксильной группы у некоторых первичных и вторичных спиртов выступает как частично расщепленный дублет в результате присутствия двух неэквивалентных С — О-поворотных изомеров [26—301. [c.119]

Прецизионное определение масс ядер производится обычно с помощью масс-спектральных приборов высокой разрешающей силы. [c.137]

Рациональный выбор спектрального прибора имеет важное значение при определении малых количеств мышьяка. Эффективность применения приборов высокой разрешающей силы показана, например, в работе по определению мышьяка в двуокиси титана [432]. В этой работе установлено, что переход от кварцевого спектрографа ИСП-22 средней дисперсии к спектрографу ДФС-8 с дифракционной решеткой 600 штрих/мм, позволяет снизить предел обнаружения мышьяка в 2,5 раза. Приближенные теоретические расчеты [250] показали, что возбуждение спектров в полом катоде примерно на порядок снижает относительные пределы обнаружения примесей по сравнению с возбуждением дугой. Так, например, при определении мышьяка в стали при возбуждении спектров дугой [26] достигнут предел обнаружения 3-10 Зо/ц а при возбуждении в полом катоде — 2-10 % Аз [1145]. При прямом определении мышьяка в кремнии при возбуждении спектров в полом катоде предел обнаружения достигает 5-10 % [241], а при возбуждении спектров в дуге переменного тока при использовании предварительного химического обогащения он составляет только 1-10 % [143]. [c.93]

Интерферометр Фабри—Перо ИТ-28 является спектральным прибором высокой разрешающей силы и предназначается для исследования структуры и контуров спектральных линий. Прибор имеет специальную осветительную систему с кварцевой оптикой и дополнительный рельс для установки перед входной щелью спектрографа ИСП-28. Световое отверстие прибора диаметром 50 мж [c.304]

Химические сдвиги измеряются на приборах высокой разрешающей силы. Обычно применяются поля в 10 ООО и 14 ООО гс. При таких полях резонансные радиочастоты для магнитного момента протона составляют около 40 и 60 Мгц. Требование исключительно высокой однородности поля ограничивает объем образца несколькими десятыми миллилитра. Особенно удобно вести работу с жидкими образцами. С помощью специальных приспособлений такие образцы могут быть изучены в интервале температур от —80 до 200°. Растворы могут быть исследованы вплоть до концентраций 0,1 М. Для исследования систем с Н-связями такие концентрации обычно еще велики. Имеется лишь небольшое число измерений ЯМР в газах, однако они представляют особый интерес. Твердые тела дают спектры с широкими линиями, для изучения которых высокого разрешения не требуется. [c.127]

Приборы высокой разрешающей силы дают возможность исследовать химическую диссоциацию и скорость обмена. Слияние сигналов ЯМР от протонов, входящих в различные молекулярные образования с Н-связью, указывает на то, что возникновение и диссоциация этих образований происходят за время, малое по сравнению с характеристическим временем измерения. Таким образом, могут быть измерены времена диссоциации порядка миллисекунд. [c.128]

Экспериментальное исследование тонкой структуры до сих пор ограничивалось небольшим числом чистых жидкостей [1]. Для растворов известны лишь две попытки качественных измерений, не приведшие к каким-либо определенным выводам [2, 3]. Такое небольшое количество исследований сопряжено с большими экспериментальными трудностями в связи с тем, что приходится иметь дело с малыми интенсивностями рассеяния и необходимостью использовать спектральные приборы высокой разрешающей силы. [c.77]

Спектроскопические исследования изотопных смесей связаны с некоторыми трудностями. Для разрешения спектральных линий, отличающихся по длине волны лишь на десятые доли ангстрема, и измерения их относительной интенсивности при количественном определении необходимы приборы высокой разрешающей силы. К разрешающей силе приборов предъявляются еще большие требования, когда определяются малые примеси одного изотопа в другом, так как в этом случае необходимо измерять интенсивность слабой линии, расположенной рядом с очень сильной линией. Поэтому при разработке [c.231]

ПРИБОРЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ [c.157]

Типы приборов высокой разрешающей силы и их основные свойства [c.157]

Из рассмотренных нами ранее приборов на принципе многолучевой интерференции основано действие дифракционной решетки (см. гл. 2). Однако между действием дифракционной решетки и приборов высокой разрешающей силы имеются и существенные различия, что оправдывает выделение этих приборов в отдельную главу. [c.157]

В настоящее время известно три основных типа приборов высокой разрешающей силы. Все они названы по имени их изобретателей пластинка Люммера и Герке, которую иногда называют пластинкой Люммера, эшелон Майкельсона и эталон, или интерферометр, Фабри — Перо. [c.158]

П типы ПРИБОРОВ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ 159 [c.159]

ПРИБОРЫ высокой РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ [ГЛ. 5 [c.162]

Отражательный эшелон Майкельсона — Вильямса является единственным прибором высокой разрешающей силы, который может быть использован для исследований в вакуумной ультрафиолетовой части спектра. Несмотря на перечисленные достоинства, число исследований, которое было выполнено с помощью эшелона Майкельсона — Вильямса, все же остается небольшим. Это, вероятно, объясняется техническими трудностями изготовления хороших отражательных эшелонов. [c.164]

ПРИБОРЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ [ГЛ. 6 [c.166]

Раньше приборы большой дисперсии и разрешающей силы использовали для спектрального анализа веществ, обладающих сложными спектрами, с целью устранения взаимных наложений спектральных линий. При этом удавалось достичь значительного снижения пределов обнаружения в результате использования наиболее сильных аналитических линий. Однако, в соответствии с предыдущим изложением, применение приборов высокой разрешающей силы полезно и при анализе веществ с простыми спектрами. Так, например, в работах по анализу элементарного селена [845, 846] при фотографировании спектров на приборах ДФС-8 и СТЭ-1 достигнуты низкие относительные пределы обнаружения большого числа примесей (3 10" — Ы0 %). Низкие пределы обнаружения примесей в чистой сурьме получены в работе [1103] путем фотографирования спектров на дифракционном приборе PGS-2. Подсчитанные по трехсигмовому критерию Кайзера значения пределов обнаружения составили для меди и серебра—3-10- %, магния, алюминия и кремния — 3 10- %, олова— 1 10- %, свинца, висмута и железа — 1 10 % и т. д. Многочисленные примеры снижения пределов обнаружения с использованием приборов большой дисперсии при анализе минерального сырья приведены е монографии [319]. Эффективность применения [c.79]

Установленная связь величины пределов обнаружения-с параметрами спектрального прибора послужила основанием для применения в спектрально-аналитической практике прибора высокой разрешающей силы —интерферометра Фабри — Перо [553]. [c.81]

Следует отметить, что в ряде случаев для регистрации близко расположенных спектральных линий, принадлежащих разным изотопам одного и того же элемента, можно использовать интерферометрические приборы высокой разрешающей силы, среди которых наиболее удобным и наиболее распространённым является интерферометр Фабри-Перо [7, И]. Его разрешающая способность определяется выражением [c.102]

Среди приборов высокой разрешающей силы наибольшее распространение получил эталон Фабри—Перо. Жесткий эталон Фабри—Перо с интерференцией невысокого порядка, называемый интерференционным фильтром, является простейшим безщелевым спектральным прибором для получения монохроматического излучения. [c.90]

Е[ринцип действия. Разрешающая способность Я даже больших призменных приборов не превышает 10 —10 , а для приборов с дифракционными решетками — нескольких сот тысяч. Однако имеется широкий круг спектроскопических задач, для решения которых необходима значительно большая разрешающая способность. Так, при исследовании сверхтонкой и изотопической структуры спектральных линий необходимо разрешать компоненты линий, длины волн которых отличаются на 10 —10 А. Для этого необходимы приборы с разрешающей способностью 5-10 —5-10 Такие приборы называются приборами высокой разрешающей силы. Их действие основано на использовании многолучевой интерференции. [c.157]

Другой отличительной особенностью приборов высокой разрешающей силы является малая величина спектральттого интервала, свободного от наложения спектров соседних порядков. Ве.личина этого интервала ДХ называется постоянной прибора. Малая величина АХ для приборов высокой разрешающей силы также является следствием больших разностей хода между интерферирующими пучками. Действительно, интерференционные максимумы для лучей с длиной волны X образуются, если разность хода между соседними интерферирующими пучками равна целому числу длин волн Д = кХ. При этом будет образовываться интерференционный максимум и для длины волны / = X 4- Ак, для которой выполнено условие Дц = к Х. Минимальное значение АХ соответствует к — к = I, откуда, приравнивая величины кХ и к Х, найдем, что постоянная прибора [c.158]