Разрешение спектральных линий

Рис. 31. Разрешение спектральных линий

Положение линий. При переходах между двумя энергетическими уровнями наблюдают спектральную линию, характеризующуюся волновым числом V (или длиной волны ), Для разрешенных переходов имеет силу правило отбора [c.183]

Реальная разрешающая способность спектральных аппаратов несколько меньше, чем теоретическая, найденная по формуле (28). Одной из основных причин уменьшения разрешающей способности являются различные виды аберраций в оптической системе спектральных аппаратов. Иногда реальная разрешающая способность прибора ограничена низким качеством изготовления оптических деталей или недостаточно точной их установкой в приборе. Если разрешающая способность, вычисленная по разрешению близких линий в спектре, немного отличается от теоретической, то качество оптики спектрального аппарата хорошее. Так, например, качество кварцевых спектрографов со средней разрешающей способностью, проверяют по разрешению триплета 3100 А в дуговом спектре железа отдельные линии которого имеют близкие длины волн (ДЛ 0,ЗА). [c.106]

Так как спектральную линию нельзя сделать сколь угодно тонкой, то оказывается невозможным добиться разрешения любых близких спектральных линий. Для того чтобы линии оказались разделенными, расстояние между их центрами (М) должно быть больше, чем дифракционная ширина каждой линии. Когда Д/>5д, линии разрешены при Д/ С5д — они сливаются. [c.104]

Спектроскопические исследования изотопных смесей связаны с некоторыми трудностями. Для разрешения спектральных линий, отличающихся по длине волны лишь на десятые доли ангстрема, и измерения их относительной интенсивности при количественном определении необходимы приборы высокой разрешающей силы. К разрешающей силе приборов предъявляются еще большие требования, когда определяются малые примеси одного изотопа в другом, так как в этом случае необходимо измерять интенсивность слабой линии, расположенной рядом с очень сильной линией. Поэтому при разработке [c.231]

При этом повышается и разрешение спектральных линий, характер которого для плоских кристаллов (зависимость интенсивности от качества кристалла) приведен на рис. 22. [c.59]

При рассмотрении спектральной картины электронных переходов атомов щелочных металлов, получаемой на спектрографах с высокой разрешающей способностью, можно обнаружить, что каждая спектральная линия расщепляется на две близко стоящие друг к другу линии . Этот эффект известен в атомной спектроскопии как проявление дублетной структуры спектров щелочных металлов. Он стал одним из важнейших экспериментальных оснований введения представлений об электронном спине. Происхождение трех линий, регистрируемых на ранних приборах с недостаточным разрешением, легко объяснить в рамках одноэлектронной модели атома (рис. 15). [c.80]

Спектры ПМР, полученные на современных приборах, состоят из узких (1 Гц и менее), хорошо разрешенных линий, которые обычно соответствуют различным группам ядер водорода в молекуле. Такие спектры называются спектрами высокого разрешения. Тонкую структуру спектральных линий можно рассчитать с помощью простых математических правил на основании числа и взаимного расположения атомов водорода и других ядер в молекуле. Такой расчет называется прямой спектральной задачей. Как правило, может быть решена и обратная спектральная задача — вывод структурной формулы на основании спектра ЯМР [c.9]

Усреднение здесь проводится с вероятностями ру и характеризующими соответственно свободное и связанное состояния лиганда (р +р , 1). Эти простые соотношения выполняются в том случае, если среднее время жизни парамагнитного комплекса существенно меньше времен релаксации ТJ 2м и обратной разности химических сдвигов для свободного и связанного состояний 1/ I Дб I. Варьируя условия проведения эксперимента, необходимо подобрать такие времена релаксации, которые позволят наблюдать хорошее разрешение спектральных линий. [c.125]

Если задачей исследования поставить разрешение спектральных линий и принять, что снижение разрешающей силы приемно-регистрирующей системой на 10% допустимо, то [c.220]

Спектральная ширина ш,ели равна произведению геометрической ширины линии на величину, обратную линейной дисперсии. Чем шире щель, тем больше ее спектральная ширина и тем хуже разрешение спектральных линий. При нормальной ширине щели достигается наименьшая ее спектральная ширина. [c.131]

Переходы, для которых Dftj = 0, называются запрещенными в дипольном приближении, и соответствующие этим переходам спектральные линии отсутствуют в наблюдаемом спектре. Большая часть возможных переходов в атоме запрещена, в связи с чем в спектроскопии важное значение имеют правила отбора для разрешенных переходов. [c.40]

Более светосильный прибор, но с достаточным разрешением спектральных линий, позволяет повысить абсолютную чувствительность определений. Относительная же чувствительность определяется точностью, с которой измеряют превышение интенсивности аналитической линии над интенсивностью фона. В качестве критерия оценки порога и границы чувствительности принимают превы- [c.180]

Определите, насколько полно использована теоретическая разрешающая способность двухпризменного спектрального аппарата, если наиболее близкие разрешенные линии в спектре железа 4154,8 и 4154,5 А. Действующее отверстие прибора 30 мм, а угловая дисперсия каждой призмы в этой области 2,8-10 рад/к. Найдите дифракционную ширину спектральных линий и расстояние между ними в фокальной поверхности, если фокусное расстояние объектива камеры 600 мм. [c.111]

Если данный переход запрещен как электрический дипольный, он может быть разрешен как связанный с изменением электрического квадрупольного или магнитного дипольного моментов. Однако вероятности таких переходов в сотни миллионов раз меньше, и соответствующие спектральные линии очень слабы. [c.144]

Вследствие релаксационных процессов время жизни ядра в возбужденном состоянии ограничено, а, согласно принципу неопределенности, ограничение времени жизни А/ расширит ядерные магнитные уровни энергии, т. е. увеличит ширину Дv линии ЯМР (A Дv 1). Поэтому при малых значениях Ту (10 —10 с) ширина спектральной линии Av составит около 10 кГц и можно считать, что это область низкого разрешения. В мало вязких жидкостях время релаксации обычно-равно 1—10 с, в связи с чем ширина линий составляет доли герца. В данном случае можно говорить о высоком разрешении. [c.51]

Для регистрации и анализа амплитудно-частотных характеристик акустических гомогенизаторов использован универсальный анализатор модели Аи-014, представляющий собой автономный портативный переносной микропроцессорный виброизмерительный прибор. Прибор позволяет измерять и анализировать динамические сигналы (вибрацию) с возможностью записи результатов измерений в долговременную память, последующего их просмотра и разгрузки в базу данных на персональном компьютере через последовательный интерфейс К8-232 при использовании программного пакета ТРЕНД-ТЕСТ при использовании версии 1.14 и выше. Устройство укомплектовано двумя пьезодинамическими датчиками виброускорения дифференциального типа со встроенными предусилителями, обеспечивающими высокую чувствительность, помехозащищенность и линейность характеристики во всем частотном диапазоне измерений. Прибор позволяет проводить спектральный анализ вибрации в диапазоне от 0,4 до 10000 Гц с разрешением 200 линий спектра. [c.61]

Увеличение разрешающей способности приборов позволяет работать со все более сложными спектрами. Где же лежит предел повышения разрешающей способности приборов Практически она обычно ограничена их размерами и стоимостью. Теоретический предел разрешения дает ширина спектральных линий, определяемая источником света и собственной шириной линии, которую до сих пор не учитывали, считая, что она значительно меньше геометрической и дифракционной ширины. Если разность длин волн двух линий, излучаемых источником света, меньше, чем ширина каждой из них, то добиться разрешения нельзя ни при каких параметрах спектрального аппарата. [c.107]

Разрешающая способность. Зная линейную дисперсию, можно подсчитать, как далеко отстоят друг от друга центры двух спектральных линий с близкими длинами волн, но это еще не дает ответа на важный вопрос — являются ли эти линии разрешенными (разделенными друг от друга) или они сливаются в одну линию. Для этого необходимо знать не только расстояние между линиями, но и их ширину. Если линии узкие по сравнению с расстоянием между ними, то они оказываются разделенными. Наоборот, широкие линии могут оказаться слившимися даже при значительном расстоянии между ними. [c.103]

Природу, структуру и электронное состояние промежуточного продукта. Для абсорбционной спектроскопии можно использовать источник белого света в сочетании со спектрографом для получения фотографически зарегистрированного обзорного спектра поглощающих соединений в реакционной системе. В других случаях для сканирования спектрального диапазона может применяться монохроматор с фотоэлектрическим приемником. Многие исследуемые короткоживущие интермедиаты обладают достаточно большим оптическим поглощением из-за наличия разрешенного электронного дипольного перехода на более высокий уровень энергии, В этом случае, например, триплетные возбужденные состояния могут наблюдаться по их триплет-триплетному поглощению. В общем случае индивидуальные полосы поглощения имеют тем большую амплитуду, чем они уже. Вследствие этого эффекта атомы имеют разрешенные линии поглощения с особенно большими амплитудами. При количественных измерениях поглощения обычно выбирается длина волны, при которой наблюдается сильная полоса поглощения и на нее не накладываются полосы поглощения других соединений, В экспериментах по оптическому поглощению в качестве источника света можно применять лазеры. Очень эффективны в лазерных абсорбционных исследованиях перестраиваемые лазеры на красителях, особенно для веществ с узкими полосами поглощения (таких, как атомы и малые радикалы), поскольку лазерное излучение отличается высокой монохроматичностью и узкой спектральной полосой. Повышения поглощения можно достигнуть, заставив световой пучок многократно пересекать образец с помощью соответствующего расположения зеркал в многопроходовом абсорбционном эксперименте. Вновь для этой цели превосходно подходят лазеры благодаря малой расходимости лазерного пучка. В ряде случаев можно создать источник света, который спектрально адекватен абсорбционным свойствам именно исследуемых соединений. Например, можно сконструировать электрические разрядные лампы, содержащие подходящие газы и испускающие резонансные спектральные линии (при переходе из первого возбужденного состояния в основное) многих атомов и простых свободных радикалов. Очевидно, что резонансные спектральные линии точно соответствуют длинам волн поглощения этих же веществ, соответствующим переходу из основного электронного состояния. Если эти атомы или простые радикалы присутствуют в реакционной смеси, то будет наблюдаться резонансное поглощение. Если спектральные ширины полосы испускания источника и полосы поглощения объекта исследования совпадают, то чувствительность абсорбционных измерений может быть высокой при различающейся избирательности, так [c.195]

Таким образом, разрешающая способность спектрального аппарата зависит только от действующего отверстия и угловой дисперсии. Этот результат не является неожиданным. Его физический смысл ясен. Действующее отверстие определяет дифракционную угловую ширину каждой спектральной линии, а угловая дисперсия — угол между соседними линиями. Если первый угол меньше второго, то линии выходят из диспергирующей системы разрешенными. В противном случае пучки выходят неразрешенными и никакое увеличение фокусного расстояния объектива камеры не приводит к их разделению, так как одновременно пропорционально увеличивается и расстояние между линиями, и ширина каждой линии (рис, 75). [c.105]

Предельное разрешение двух спектральных линий одинаковой интенсивности достигается при таком их наложении, когда главный максимум дифракционного изображения % налагается на первый минимум дифракционного изображения щели лучами с длиной волны Я-< -АЯ, (предел разрешения Релея). Очевидно, что две полосы поглощения "к И могут быть разрешены, т. е. зафиксированы раз- [c.39]

Теоретическое разрешение, возможное в экспфименте УФС, где определяются энергии связывания валентных электронов, обсуждалось Тернером [31]. Напомним, что измерения проводятся в газовой фазе. Разрешение в спектре УФС ограничивается скоростью движения молекулы-мишени в сочетании со скоростью движения фотоэлектрона (фактически это явление аналогично доплеровскому уширению) величиной эВ. Если вместо камеры, заполненной газообразным веществом, использовать пучок молекул-мишеней, то можно достичь разрешения 10 эВ. В случае пучка распределение молекулярных скоростей относительно источника более однородно. Вклад в ширину спектральных линий УФС за счет времени жизни возбужденного состояния [c.334]

При расчете молекул, содержащих несколько атомов, решение векового уравнения позволяет найти энергетические уровни электронов, разности которых приблизительно определяют частоту электронного спектра. Число таких энергетических уровней сравнительно велико. Если учесть, что оптические переходы возможны не только между основным и возбужденными, но и между двумя возбужденными состояниями, можно ожидать появления большого числа спектральных линий. Однако в спектре даже сравнительно сложных молекул (бензол, хинолин и т. п.) наблюдается всего несколько линий, характерных для -соответствующего я-электронного фрагмента. Например, в спектре бензола отмечается три линии вблизи частоты 3600 см- одна интенсивная и две слабые. Причина этого заключается в том, что далеко не между всеми энергетическими уровнями оптический переход разрешен. Как известно из теории квантовых переходов под влиянием световой волны, вероятность дипольного перехода между уровнями Ея и Ем пропорциональна матричному элементу Окм= < к1г1 м>, значение которого при наличии разной пространственной симметрии функций и Ч м становится равным нулю (см. 7 гл. IV). Если симметрия молекулы нарушается (например, вследствие движения ядер, влияния полей, действующих [c.135]

В A. . проявляются не все возможные квантовые переходы, а лишь разрешенные правилами отбора. Так, в случае атома с одним внеш. электроном разрешены лишь переходы между уровнями, для к-рых орбитальное квантовое число / изменяется на 1 (Д/ = 1), т.е. 5-уровни (/ = 0) комбинируют с р-уровнями (/=1), р-уровни-с d-уровнями (/ = 2) и т.д. Количеста характеристика разрешенного оптич. квантового перехода-его вероятность, определяющая интенсивность спектральной линии, соответствующей этому переходу. Вероятности переходов в простейших случаях м. б. рассчитаны методами квантовой механики. [c.219]

Рис. 75. Разрешение близких спектральных линий а — линии не р1зрешены, применение более длинного фокусного объектива не улучшает разрешение б — ЛИНИН рг1зрешены. (Суммарный контур обеих линий показан жирной линией.)

В аналитической практике большую роль играет абсолютная чувствительность спектральных линий. Наибольшую интенсивность в исследуемой области спектра имеют линии с низким потенциалом возбуждения и соответствующие разрешенным переходам. Такие линии называют последними, так как они исчезают в спектрах эталонных и анализируемых образцов при уменьшении содержания элементов последними после исчезновения других линий. К их числу принадлежат также резонансные спектральные линии, которые соответствуют переходу из нижайшего возбужденного уровня на основной уровень. Основной уровень имеет особое значение в процессах излучения и поглощения, так как его заполнение всегда относительно велико. [c.648]

Как указывалось ранее, естественная гиирина линии в спектрах ЯМР обратно пропорциональна времени спин-спи-новой и спин-решеточной релаксации. У твердых тел время спин-спиновой релаксации очень мало, поэтому их спектры ЯМР состоят из широких линий ( 10 Гц), и потому мало пригодны для исследования органических соединений, у которых расстояние между спектральными линиями может составлять всего лишь несколько герц. В невязких жидкостях и газах и Tj имеют порядок нескольких секунд, что соответствует естественной ширине спектральной линии, равной десятым долям герца. И в этом случае решающим фактором, определяющим наблюдаемую форму спектральной кривой (в частности, ее полуширину), может стать разрешающая способность (разрешение) прибора. Например, если прибор с рабочей частотой 80 МГц имеет разрешение 5 10 , то это значит, что полуширина спектральных линий, полученных с помощью этого спектрометра, не будет меньше 0,4 Гц(8 10 X 5 10 ). [c.33]

Главное квантовое число п — это положительное целое число, 1, 2, 3,4,..которое характеризует в основном энергетический уровень электрона. Оно имеет приблизительно такой же смысл, как и в модели Бора, если речь идет только об энергии электрона, однако в квантовомеханической модели с каждым энергетическим уровнем не связывают орбиту строго определенного радиуса. Вместо этого значениями п характеризуют относительные радиусы электронных облаков. При и = 1 электрон находится в самом низком по энергии разрешенном состоянии, называемом основным состоянием. По мере возрастания п энергия электрона увеличивается. Подстановка значений п в уравнение Ридберга (5.2) позволяет объяснить спектральные линии атомарного водорода переходами электрона между его энергетическими уровнями, подобно тому как это делалось в модели Бора. [c.76]

Trenns hleuder f центробежный сепаратор, центрифуга Trennung f 1. отделение разделение 2. отслоение, отставание (слоя)] расслоение 3. отклеивание расклеивание 4. разрешение (спектральных линий) 5. разъединение , analytis he аналитическое разделение [c.695]

Превосходное энергетическое разрешение кристалл-дифрак-ционного спектрометра приводит в результате к значительно более высокому отношению пик/фон и лучшей спектральной дисперсии, сводя тем самым к минимуму возможность перекрытия пиков. Это легко увидеть, сравнивая спектры одного и того же эталона из специального сплава, полученные с помощью кристалл-дифракционного спектрометра (рис. 5.12, а и б) н Si (Li)-детектора (рис. 5.53). На рис. 5.12, а отчетл1иво различаются пики TaiQ,, Ni/ p и Wl , в то время как на рис. 5,53 эти линии едва разрешимы. Подобным образом, линии Ма, Та, W н Re легко разделяются с помощью кристалла RAP, но остаются неразрешенными для Si (Li)-детектора. Из-за плохого разрешения твердотельного детектора часто возникает необходимость установить наличие серии спектральных линий данного элемента, когда идентификация отдельного пика неоднозначна, или пик ожидаемой линии скрыт другим элементом. В таких случаях обычно используются линейные маркеры или набираются спектры одного или более чистых элементов и воспроизводятся одновременно со спектром неизвестного образца для прямого их сравнения. [c.261]

Расщепление уровней, а следовательно, и спектральных линий зависит от квантового числа проекции магнитного момента М./, которое мол<ет принимать 2]+ значение. Схема расщепления уровней термов 51/ , атома щелочного металла в магнитном поле показана иа рис. 17, На этом же рисунке даны разрешенные правилами отбора электронные переходы, приводящие к наблюдаемым экспериментально десяги спектральным линиям. [c.82]

При качественном анализе устанавливают нормальную ширину щели спектрального аппарата. Для увеличения интенсивности линии можно увеличить ширину щели, но не больше чем вдвое. Увеличение щели сверх этого предела приводит только к ухудшению разрешения и уменьшению отношения интенсивности спектральных линий к интен-сивнЬсти сплошного фона. [c.220]

РАДИОПРОЗРАЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫ, см. Радиопоглощающие и радиопрозрачные материалы. РАДИОСПЕКТРОСКОПИЯ, методы исследования состава, строения, реакц. способности и др. св-в в-в, основанные на изучении спектров электромагн. излучения в диапазоне )адиоволн от 5 10 до Ю м (частоты от 6 - Ш до неск. ц). Благодаря малой энергии квантов и малой естеств. ширине спектральной линии в диапазоне радиоволн можно получить высокое разрешение спектра, а его параметры (положение, интенсивность, ширину и фор.му линий) определить с большой точностью. Это позволяет регистрировать резонансное поглощение или испускание электромагн. энергии, возникающее вследствие очень небольших расщеплений энергетич. уровней, к-рые невозможно обнаружить с помощью др. спектроскопич. методов. [c.171]

Обратной линейной дисперсией прнзмы определяется разрешающая сила и прибора, которая представляет собой отношение средней длины волны двух самых близких линий, разрешаемых данным прибором, к разности их длин волн. Две спектральные линии равной интенсивности считаются разрешенными, если дифракционный максимум одной из них находится против минимума другой линии (рнс. 71). [c.237]