Яркость спектральных линий

Количественный эмиссионный спектральный анализ основан на зависимости, существующей между интенсивностью (яркостью) спектральных линий определяемого элемента и его концентрацией. Другими словами, мерой концентрации данного элемента в исследуемой пробе является интенсивность линий спектров паров определяемого элемента. [c.224]

Наблюдая спектр с помощью спектрального прибора (спектроскоп, стилоскоп, стилометр), можно установить не только количественный состав анализируемого материала, но и оценить по яркости спектральных линий содержание элементов, так как при увеличении концентрации примеси в пробе увеличивается и интенсивность его линий. Сам факт появления линии определяемого элемента в спектре пробы уже [c.675]

Для определения криптона и ксенона предложен метод, основанный на сравнении яркости спектральных линий анализируемого газа и эталона. Для этого фракцию Аг -1- [c.275]

Бг — интегральная яркость спектральной линии) пропорциональна ширине А/ наиболее узкой из щелей, причем величина пропускаемого спектрального диапазона 6А совершенно не зависит от ширины щелей. Остановимся на последнем обстоятельстве. Означает ли оно, что ширины щелей могут быть сколь угодно велики Отнюдь нет. Во-первых, чем шире входная щель, тем больше величина рассеянного света в приборе. Во-вторых, от ширины щелей зависит предел разрешения прибора. Очевидно, что при ширине изображения входной щели в фокальной плоскости прибора, равной А/1, и ширине выходной щели, равной А/г, световые потоки двух соседних узких линий излучения будут одновременно проходить через выходную щель прибора, если спектральное расстояние между ними будет меньше величины [c.225]

Интерференционные полосы обычно слабы, но они могут внести заметные ошибки при прецизионных энергетических измерениях. Особенно неприятно интерференция может сказаться при исследовании линейчатых спектров, где она искажает относительную яркость спектральных линий. [c.93]

Несколько особняком от описанных способов стоит прием, заключающийся в измерении ширины изображения спектральных линий. Чем ярче изображение спектральной линии, тем дальше оно распределяется от ее центра. В приборах с малой и средней дисперсией это уширение спектральной линии связано не со свойствами источника (спектральная ширина самой линии), а с рассеянием света фотографической эмульсией. Таким образом, область почернений вблизи линии оказывается тем шире, чем больше экспозиция. Предложен метод, позволяющий при небольшой переделке микрофотометра измерять эффективную ширину фотографического изображения линии и таким образом сравнивать яркости спектральных линий, сильно различающиеся между собой [12.8]. Однако широкого распространения он не получил. [c.307]

Из выражения (42) следует, что в случае преобладания измерительной ошибки минимальная обнаружимая яркость спектральной линии снижается с уменьшением спектральной ширины щели, т, е. при увеличении практической разрешающей способности прибора. [c.84]

Если преобладающей является флуктуационная ошибка (в случае источника, дающего малый сплошной фон, или минимальной спектральной ширины щелей), то для минимальной обнаружимой яркости спектральной линии справедливо выражение (36). В этом случае величина предела обнаружения перестает зависеть от практической разрешающей способности прибора, но уменьшается с увеличением действующего отверстия прибора, угловой высоты щели, угловой дисперсии, квантового выхода фотокатода и времени регистрации спектра. [c.84]

Внутренний стандарт. Яркость спектральных линий какого-либо элемента, находящегося в пробе, кроме концентрации элемента, зависит еще от очень многих факторов. Она зависит от того, как проходит световой пучок в щель спектрального прибора. При использовании в качестве источника света дуги или искры последние бегают по поверхности электрода, при этом изменяется интенсивность спектральных линий. Колебания в электрическом режиме источника также влияют на интенсивность спектральных линий. При фотографировании спектров почернение изображения спектральной линии на фотографической пластинке, кроме всех перечисленных причин, зависит также от чувствительности фотоэмульсии и от процесса ее фотографической обработки. [c.214]

Тонкими проводниками подключают разрядную трубку к источнику высокого напряжения (несколько тысяч вольт) — индукционной катушке, автотракторным бобинам и т. п. Весьма удобны специальные осветительные устройства, имеюшие повышающий трансформатор с регулируемым напряжением до 3000 В для питания разрядных (гейслеровых) трубок, низковольтный трансформатор для подвески шкал и дроссель для зажигания натриевых ламп. Разрядные трубки следует включать только на время измерения. Продолжительное непрерывное употребление разрядных трубок приводит к снижению яркости спектральных линий и выходу ламп из строя. Поэтому разрядную трубку надо выключить сразу же после установки креста. [c.151]

Современные рефрактометры Пульфриха комплектуются блоком питания, имеющим повышающий трансформатор с регулируемым напряжением до 3000 В для разрядных (гейслеровых) трубок, низковольтный трансформатор для подсветки шкал и дроссель для зажигания спектральных ламп. Разрядные трубки следует включать только на время измерения. Продолжительное непрерывное употребление разрядных трубок приводит к снижению яркости спектральных линий и выходу из строя. Поэтому разрядную трубку надо выключать сразу же после установки креста. [c.138]

Такая зависимость между количеством элемента и яркостью линий позволяет количественно, с известной точностью, определить его содержание в сплаве. Поскольку яркость спектральных линий основного металла, например железа, постоянна, то эти линии являются стандартом для определения яркости линий другого металла. [c.95]

Нами импульсный характер излучения, связанный с неоднородным составом пробы, использован для выявления частиц, отличающихся своим химическим составом или концентрацией одного из элементов, в материалах абразивной промышленности электрокорунде белом (ЭБ и электрокорунде хромистом (ЭХ). В процессе производства в ЭБ образуются частицы, обогащенные железом, а в ЭХ — частицы металлического хрома. Присутствие частиц, содержащих металл в повышенной концентрации или в свободном состоянии, снижает качество абразивных инструментов, приготовленных из этих материалов [4]. Так как применяемые для контроля качества этих материалов методы спектрального анализа [9] позволяют установить только среднее содержание элемента в составе электрокорундов, то была использована зависимость между мгновенной яркостью спектральной линии и концентрацией металла, находящегося в составе отдельных частиц абразива. [c.18]

Яркости спектральных линий в первой части указаны для трех источников света дуги, искры и разрядной трубки (в последнем случае числа заключены в скобки). [c.12]

В первой и третьей частях книги принята шкала яркостей, предложенная Гаррисоном 1 . Для оценки яркости спектральных линий каждого элемента выбрана своя пропорциональная шкала, в которой наиболее интенсивная линия данного элемента имеет 1000 условных единиц яркости (отдельные, особенно яркие линии — до 9000 единиц). Таким образом, эти оценки яркости могут служить только для сравнения линий одного и того же элемента. Однако и в этом случае следует проявлять большую осторожность при сопоставлении линий, расположенных в отдаленных областях спектра. [c.12]

Наблюдая спектр, можно ие только установить состав исследуемого вещества, ио и оценить содержание интересующих примесей по яркости спектральных линий. Внешняя связь интенсивности спектральной линии с концентрацией хорошо заметна чем больше содержание примеси в испытуемом образце, тем интенсивнее линии этой примеси в спектре. На рис. 111 показано, как меняется интенсивность линий марганца при изменении содержания его от 0,10 до 10%. [c.115]

ИСТОЧНИК света (дуга или искра между дисковым электродом прибора и исследуемой деталью, положенной на столик для проб) 2, 3 4 — трехлинзовая конденсорная система обесиецц-вает равномерную яркость спектральных линий, не зависящую от перемещений дуги по поверхности электродов) 5 —Бходнаящель постоянной ширины (0.02 мм). прорезанная на металлическом слое, который нанесен на стеклянную пластинку (последняя склеена с конденсорной линзой 4) 6 и 7 — поворотные отражающие призмы 8 — линзовый объектив 9 к 10 — призмы (на катетную грань призмы 10 нанесен алюминиевый отражающий слой) 11 — поворотное зеркало 12 — фотометрический клин (полоска платинового слоя меняющейся плотности на стеклянной подложке) 13 — окуляр [c.288]

В качестве примера покажем результат совместного действия эффектов Эберхардта и рассеяния света на вид инструментального контура спектрографа при разной ширине щели (рис. 12.9, в). Мы видим, что эти эффекты могут не только исказить измеряемую яркость спектральной линии, но и, подобно соляризации, превратить одиночную спектральную линию в дублет или изменить расстояние между составляющими мультинлета. [c.301]

Установка источников свет а—разрядных (гейсле-ровых) трубок с водородом или гелием и натриевых или ртутных ламп. Разрядные трубки применяются Н-образной формы и укрепляются в специальных зажимах перед конденсором так, чтобы капиллярная часть трубки располагалась на оптической оси конденсора (рнс. 9). Тонкими проводниками подключают разрядную трубку к источнику высокого напряжения (несколько тысяч вольт) — индукционной катушке, автотракторным бобинам и т. п. Разрядную трубку следует включать только на время измерения, для чего на рабочем столе с левой стороны должен быть кнопочный выключатель. Продолжительное непрерывное употребление разрядных трубок приводит к снижению яркости спектральных линий. Поэтому разрядную трубку надо выключить сразу же после установки креста. [c.43]

Спектры более тяжелых элементов имеют более сложное строение и насчитывают сотни различных линий. Каждый элемент имеет свой характерный спектр. Это позволяет проводить качественный анализ веществ. Количественное содержание вещества влияет на интен-оивность (яркость) спектральных линий. На основании яркости соответствующих линий можно провести количественный спектральный анализ. [c.90]

Если наполнить стеклянную трубку радоном, то можно наблюдать, что постепенно яркость спектральных линий радона уменьшается, но зато появляются линии спектра гелия. Это наблюдение показывает, что радон постепенно превращается в гелий. Одновременно стенки стеклянной трубки покрываются микроналетом нового твердого радиоактивного элемента. Этот элемент получил название радия А (КаА). На основании этого можно написать второе уравнение превращения элементов [c.100]

Для выбора оптимального режима электролиза были изучены зависимости степени выделения от времени электролиза при различных токах (от 25 до 200 мА). При больших токах было обнаружено наличие оптимального времени электролиза. Увеличение времени электролиза сверх опттдального ведет к уменьшению количества выделенного на катоде металла. На рис.З для примера приведены зависимости яркости спектральных лини t молибдена и никеля от времени электро-осаждения этих элементов на медном электроде при силе тока ХООмА. Как видно из рисунка, оптимальное время электролиза может бнть различным для разных металловДля никеля это время равно 5 нин, для молибдена - 8 мин. [c.107]

Обычно целесообразно щель спектрографа расширить настолько, чтобы инструментальный контур был существенно шире контура самой линии. При этом почернение вблизи максимума инструментального контура посто-янно и измерение яркости позволяет получить величины, пропорциональные интегральной яркости спектральной линии. Если линия широка по сравнению с инструментальным контуром, то ее можно рассматривать как участок сплошного спектра. Для измерения распределения в нем энергии нужно измерить почернения для ряда соседних участков и по полученным величинам определить значения спектральных яркостей Ъ%. Суммируя их, находим [c.307]

Для определения криптона и ксенона Мурё был предложен метод, основанный на сравнении яркости спектральных линий испытуемого газа и эталона. Для подобных измерений фракцию А -Ь Кг -H Хе Мурё обогащал криптоном и ксеноном, для чего подвергал эту фракцию циркуляции над углем, охлаждавшемся хлористым метилом до —23°. Циркуляцию можно [c.36]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология