Спектральные линии сравнения

Интенсивность спектральной линии при постоянных условиях пропорциональна количеству введенных в пламя атомов элемента или концентрации соли металла в анализируемом растворе. Однако в реальных случаях эта зависимость может нарушаться вследствие протекания в пламени процессов самопоглощения, ионизации и образования термически устойчивых соединений. На рис. 1.13 представлена зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в растворе. При средних содержаниях определяемого элемента в растворе эта зависимость линейна. Для больших содержаний сказывается влияние самопоглощения эмиссии атомов в плазме и в этом случае интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна корню квадратному, из концентрации элемента в растворе. При очень низких концентрациях элемента и высокой температуре плазмы проявляется процесс ионизации его атомов и интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна квадрату концентрации. В обоих случаях градуировочный график искривляется. Кроме процессов, указанных выше, на ход графика влияет ряд других факторов, поэтому определение элементов в методе фотометрии пламени проводят с использованием серии растворов сравнения. Они должны содержать все вещества, входящие в состав исследуемого раствора, и фотометрироваться в одинаковых с ним условиях. [c.37]

Интенсивность спектральной линии зависит от температуры источника света пропорционально фактору (1—л )ехр(—Е кТ)]. Поэтому в атомно-эмиссионном спектральном анализе принято измерять интенсивность аналитической линии относительно интенсивности некоторой линии сравнения (внутренний стандарт). Чаще всего — это линия, принадлежащая основному компоненту пробы. Иногда компонент, играющий роль внутреннего стандарта, специально вводят в анализируемую пробу. [c.55]

Анализ может быть выполнен следующим образом готовят серию образцов сравнения, измеряют интенсивность аналитической спектральной линии для каждого из них, строят градуировочный график в координатах gla- g , измеряют интенсивность аналитической спектральной линии для пробы с помощью графика, который, как это видно з приведенной зависимости, представляет собой прямую, определяют концентрацию элемента в пробе. Однако, кроме концентрации, на интенсивность спектральной линии сильное влияние оказывают температура плазмы, скорость испарения в ней вещества пробы, степень его атомизации и т. д., т. е. факторы, которые не могут быть идентичными для стандартных образцов и проб, вследствие различия их состава и физико-химических свойств и изменяются в кал дом эксперименте. Погрешность определений уменьшается, если измерять относительную интенсивность двух спектральных линий (так называемая гомологическая пара), одна из которых принадлежит анализируемому элементу, а другая — элементу сравнения, вводимому в эталоны и пробы с одинаковой концентрацией. Относительная интенсивность гомологической пары спектральных линий зависит только от концентрации анализируемого элемента [c.23]

Количественный фотографический спектральный анализ основан на измерении относительных почернений спектральных линий гомологической пары и нахождении неизвестной концентрации по градуировочному графику, построенному в координатах lg/a// p — lg по образцам сравнения (минимум три). В образцах сравнения концентрация определяемого элемента изменяется, а концентрация элемента сравнения остается постоянной. Спектральные линии должны быть гомологичными. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется при помощи характеристической кривой фотопластинки (см. рис. 1.10). Для прямолинейного участка характеристической кривой [c.32]

Построение градуировочного графика. Подготовку стилометра СТ-7, генератора ИГ-3, электродов, а также установку электродов проводят как указано в работе 1. Включают разряд конденсированной искры напряжение 220 В, емкость 0,005 мкФ, индуктивность 0,55 мкГ, сила тока питания трансформатора 1,0 А (сложная схема). При использовании высокочастотной искры — межэлектродный промежуток 1,0 мм, сила тока питания трансформатора 0,6 А. Устанавливают ширину щели стилометра 0,08 мм. Проверяют полноту освещенности поля зрения окуляра, корректируют резкость спектра и находят спектральные линии гомологической пары. Устанавливают спектральную линию магния внутри рамки, у ее левого края (рис. 1.6,а), перемещая спектр микрометрическим винтом призмы. Рамка при этом, как и спектр, должна быть полностью освещена и находиться в исходном положении. Затем рамку с линией сравнения перемещают влево к линии меди так, чтобы между ними оставалось расстояние в 2—3 ширины спектральной линии (рис. 1.6,6). На месте рамки остается темный вырез. [c.24]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Принцип работы компаратора основан на том, что расстояние между спектральными линиями иа фотопластинке сравнивают со шкалой. Сравнение производится ири помощи двух жестко связанных микроскопов. Левый микроскоп имеет в иоле зрения окуляра перекрестие, которое наводится на исследуемую линию в спектре. Спектрограмма помещается на столике и двигается вертикально при помощи маховичка слева. Далее необходимо зеркалом под столиком осветить спектрограмму, маховичком наводки фокуса добиться четкого изобра- [c.60]

В основе большинства современных методов количественного анализа лежит измерение относительной интенсивности спектральных линий определяемого элемента и элемента сравнения, находящегося в той же пробе. Это вызвано тем, что интенсивность спектральной линии зависит от ряда неконтролируемых процессов (изменения условий испарения пробы и возбуждения спектров во время проведения анализа, регистрирующего устройства и др.). [c.106]

Спектр атомного поглощения элемента проще эмиссионного, так как состоит только из спектральных линий резонансной серии. В то же время среди линий резонансной серии имеются такие, которые в спектре эмиссии отсутствуют вследствие высоких потенциалов их возбуждения. Последние спектральные линии некоторых элементов (Со, Сг) смещены в спектре абсорбции в более коротковолновую область по сравнению с наиболее яркой эмиссионной спектральной линией. [c.49]

Значительное развитие, особенно в связи с появлением ИСП-источника, получили сканирующие спектрометры. В приборах этого типа один из детекторов излучения находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой. Применение новых электромеханических средств и микропроцессорного управления придали необходимую гибкость и оперативность системам сканирования, обеспечивающим быстрое перемещение от одной спектральной линии к другой и автоматическую остановку выходной щели на заданных аналитических линиях. [c.72]

При определении примесей в качестве линий сравнения можно использовать спектральные линии основных элементов пробы, так как при высоких концентрациях элемента его малоинтенсивные линии не испытывают влияния концентрационных колебаний в пределах долей процента. Например, при анализе [c.32]

Микрофотометрирование. Для определения железа в пробе кварцевого песка берут линию спектра железа Я = 2510 А. В качестве линии внутреннего стандарта берут линию в спектре кремния Я = 2503 А. При помощи планшета № 10 атласа спектральных линий находят линию кремния (элемент сравнения) I = 2503 А и линию железа X = 2510 А. На микрофотометре МФ-2 определяют величину плотности почернения 5ре линии железа и величину плотности почернения 5з1 линии кремния, затем находят их разность А5 А5 = 5ре — 5з1. [c.241]

При количественном анализе проводят сравнения интенсивностей спектральных линий определяемых элементов с интенсивностями тех же самых линий в спектрах стандартных образцов,содержащих определяемые элементы в известных концентрациях. [c.4]

Для спектральной линии с частотой Ю с , чем соответствует длина волны Х=300 нм, мы получим, что Лv/v= 10/10 = 10 . Отсюда очевидно, что ширина спектральных линий, обусловленная только конечными временами комбинирующих состояний, чрезвычайно мала по сравнению с их абсолютными значениями частот в видимой и ультрафиолетовой областях спектра. Вследствие это- [c.14]

Метод сравнения, или метод гомологических пар. На одной и той же фотопластинке в одинаковых условиях фотографируют спектры стандартов или стандартных образцов и анализируемых проб. Путем визуального сравнения почернений гомологических спектральных линий в стандартах и пробах определяют пределы содержания элемента в последних. [c.100]

Тогда интенсивность спектральной линии, как это видно из формулы (9), должна меняться линейно с изменением концентрации вещества. Также должна меняться и относительная интенсивность аналитической пары, если концентрация элемента сравнения постоянна. [c.53]

Разрешающая способность. Зная линейную дисперсию, можно подсчитать, как далеко отстоят друг от друга центры двух спектральных линий с близкими длинами волн, но это еще не дает ответа на важный вопрос — являются ли эти линии разрешенными (разделенными друг от друга) или они сливаются в одну линию. Для этого необходимо знать не только расстояние между линиями, но и их ширину. Если линии узкие по сравнению с расстоянием между ними, то они оказываются разделенными. Наоборот, широкие линии могут оказаться слившимися даже при значительном расстоянии между ними. [c.103]

Персия и увеличение спектрального аппарата остаются прежними. Количество света, попавшего в прибор (линейчатого и сплошного), уменьшилось в 4 раза за счет уменьшения относительного отверстия коллиматора. Кроме того, освещенность сплошного спектра уменьшилась еще в 2 раза, так как его длина возросла угловая ширина спектра та же, но фокусное расстояние объектива камеры увеличилось вдвое. Если ширина спектральной линии определялась ее геометрической шириной, то ее размеры останутся неизменными и интенсивность линий по сравнению со сплошным спектром увеличится в два раза. При работе с нормальной щелью ширина линии зависит от дифракции и увеличивается при увеличении фокусного расстояния объектива камеры. Выигрыша в чувствительности в этом случае получить нельзя. [c.109]

Наибольшую относительную интенсивность по сравнению с фоном большинство спектральных линий имеет при нормальной ширине щели спектрального аппарата. Только линии со значительной собственной шириной имеют максимальную чувствительность при большей ширине щели. [c.110]

Точность определения относительной интенсивности зависит также от яркости линий. Сравнение интенсивностей слабых линий затруднительно и обычно ведет к большим ошибкам. Поэтому при применении визуальной фотометрии необходимо пользоваться возможно более яркими источниками света. Необходимо также следить за правильностью установки электродов и конденсоров с тем, чтобы обеспечить максимальную яркость и равномерную освещенность спектральных линий. [c.155]

Для более точного определения относительной интенсивности, когда почернения ступенек не равны точно друг другу, находят между почернениями каких ступенек лежит почернение выбранной ступеньки аналитической линии. Например, если почернение четвертой ступеньки аналитической линии больше, чем почернение третьей ступеньки для линии сравнения, но меньше, чем почернение второй ступеньки, то мысленно разбивают интервал почернений между второй и третьей ступенькой на десять частей и дают оценку почернению аналитической линии. Результаты такой оценки записывают в виде 4 =, = 2,1 или 4=2,2, если почернение четвертой ступеньки аналитической линии близко по плотности к почернению второй ступеньки линии сравнения если оно близко к третьей ступеньке, то запись имеет вид 4 == 2,8 или 4 = 2,9 и т. д. Сделав такую оценку, вычисляют относительную интенсивность спектральных линий по формуле [c.183]

У стилометра на выходе каждого фотоэлемента после предварительного усилителя имеется накопительный конденсатор. Во время экспозиций показывающий прибор подключен к каналу неразложенного света. Экспозиция продолжается до тех пор, пока напряжение на этом конденсаторе не достигнет заранее заданной величины. После этого автоматически отключается генератор, а усилитель подключается к конденсатору канала аналитической линии и измеряет напряжение на нем. Эти показания прибора пропорциональны относительной интенсивности спектральной линии по сравнению с неразложенным светом источника. Прибор позволяет измерять и абсолютные интенсивности аналитических линий. В этом случае отключают канал неразложенного света и выдержку автоматически отмеряют с помощью реле времени. Интенсивность линии определяют по напряжению на накопительном конденсаторе, измеренному показывающим прибором. [c.198]

В спектре неизвестной пробы идентифицируйте спектральные линии двух или трех элементов, спектры которых сфотографируйте рядом со спектром пробы. Сравните относительную интенсивность линий одного элемента в пробе и в спектре сравнения. [c.216]

Студенты изучают принцип действия прибора, который заключается в излучениии маломощной рентгеновской трубкой и фиксировании определенных длин волн излучения. Наличие характерных спектральных линий свидетельствует об элементном составе образца. Интенсивность линий связана с количественным содержанием. Студенты учатся рассчитывать количественные содержания химических элементов с помощью микропроцессора или персонального компьютера путем сравнения с результатами анализа стандартных образцов, осваивают пробоподготовку, метод измерений, рассчитывают нормы погрешностей спектрального анализа. [c.56]

Во многих количественных методах спектрального анализа используются не абсолютные, а относительные интенсив-ности. Оценка относительных интенси вносгёй аналитических линий производится с помощью специально подобранных спектральных линий сравнения в спектре пробы и в спектре эталона. Для этой цели во все пробы и эталоны вводится, как правило, в одних и тех же количествах один и тот же добавочный химический элемент, называемый внутренним стандартом. [c.108]

Для оценки интенсивностей двух линий (элемента сравнения и определяемого элемента) перед щелыо стилоскопа устанавливаются две лампочки. Они освещают верхнюю и нижнюю части щели, середина щели освещается светом дуги. В окуляр наблюдается спектр пробы, расположенный между двумя полями сплошного спектра (рис. 242, 243). Для удобства сравнения линий с участками сплошного спектра в окуляр можно вводить подвижные шторки с вырезами, которые образуют как бы искусственные спектральные линии сравнения. [c.252]

Количественные определения можно также уточнять с помощью специально подобранных постоянных электродов, в которых известным образом меняется какая-либо примесь, дающая спектральную линию сравнения возле линии определяемого элемента, подобно тому как это рекомендует Трише [512] для фотографического метода количественного анализа. Проградуировав набор таких электродов в концентрациях определяемого элемента, можно подобрать электрод, дающий равиоинтенсивность линии искомой примеси и линии сравнения. Например, кремний можно определять по красным линиям 6346,7 и 6371,4 А, сравнивая их с линией цинка 6362 А. Если иметь набор постоянных, например медных, электродов с различным содержанием цинка и заранее установить, при каких содержаниях кремния и с каким из электродов будет наблюдаться равноинтен-сивпость линий кремния и цинка, то можно производить количественные определения кремния в неизвестных образцах, подбирая электрод, в комбинации с которым линии кремния и цинка будут равпоинтенсивны. [c.253]

Здесь азот находится в аксиально-симметричном окружении, и следует ожидать только одну линию. Однако предполагается, что взаимодействия между цепями снижают симметрию окружения азота, и это приводит к двум спектральным линиям. Для Bг N можно записать различные резонансные формы, а величины e Qq указывают, что на броме находится формальный положительный заряд. Заметное увеличение e-Qq для брома наблюдается в твердом веществе по сравнению с газовой фазой, что может быть обусловлено увеличением вкладов структуры Вг СН в основное состояние в твердом веществе из-за стабилизации Вг за счет координации. Если связь Н - Вг—С описывается р -гибридом, то e Qq будет также увеличиваться за счет возросшего вклада -орбиталей в связь углерода с бромом. [c.278]

Визуальные способы регистрации спектров используют при стилоскопических и стилометрических исследованиях состава материалов, главным образом металлов. В первом случае производят визуальное сравнение интенсивностей спектральных линий определяемого элемента и близлежащих линий из спектра основного компонента пробы. В силу особен ностей глаза как приемника излучения с достаточной точ" иостью можно только установить либо равенство интенсивно стей соседних линий, либо выделить наиболее яркую линию из [c.74]

Полученные спектрограммы рассматривают, пользуясь спек-тропроектором. С помощью вспомогательного спектра железа и атласа спектральных линий находят нужные пары аналитических линий. Для определения хрома, никеля и марганца в сталях используют аналитические пары линий, приведенные в табл. 3.5 (элемент сравнения — железо). [c.121]

ИХ химических сдвигов, выраженным в герцах. Когда разность химических сдвигов Аг велика по сравнению с КССВ, а именно, когда Ау > 6J (см. раздел 4.3), то происходит расщепление спектральных линий первого порядка, и картина спектра ЯМР подчиняется правилам, изложенным в разделе 4.3. Если же разность химических сдвигов Ау становится величиной, соизмеримой с КССВ, то получается система почти эквивалентных ядер и наблюдается расщепление второго порядка. Вид спектра ЯМР при этом значительно усложняется, причем в тем большей степени, чем меньше величина отношения Ау/У. [c.87]

Резонансное поглощение. Вследствие пространственного расширения возбужденной плазмы и существующего в ней градиента температур внутри плазмы может происходить обратное поглощение спектральных линий (закон инверсии испускания и поглощения Кирхгофа). Это явление самопогло-щения наблюдается преимущественно для резонансных линий и искажает связь между интенсивностью и числом частиц. Так как во внешних более холодных зонах плазмы допплеровское уширение меньше, чем в более горячей центральной зоне, то поглощаются преимущественно центры линий. В предельном случае интенсивность центра линий становится пренебрежимо малой по сравнению с интенсивностью обоих крыльев линии (самообраш -ние линий). Линии, отличающиеся склонностью к самопоглощению и само-обращению, в спектральных атласах приводят с индексом R (от reversal — обратный ход). Наблюдая резонансное поглощение в сложном спектре, можно найти, какие линии соответствуют переходам на основной уровень. Резонансное поглощение наблюдается также в случае прохождения резонансной линии от внешнего источника излучения через диссоциированный до атомов пар соответствующего простого вещества. Интенсивность первичного светового потока ослабляется при этом соответственно уравнению [c.186]

Детально изучен метод просыпки порошков в горизонтальную плазму дуги переменного тока. Метод применяется для анализа минерального сырья и имеет ряд преимуществ по сравнению с методом испарения из канала при равномерном вдувании порошка не наблюдается фракциошюго испарения, температура и электронная концентрация практически постоянны, для многих элементов интенсивность спектральных линий также не меняется во времени (рис. 3.15 и 3.16). Благодаря этому время регистрации [c.47]

Как уже было сказано вьш1е, неизвестная концентрация определяется сравнением интенсивностей спектральных линий в спектрах пробы и стандартов. Естественно, что практически невероятно приготовить стандарт с такой же интенсивностью спектральной липни атома (или иона) определяемого элемента, как в пробе. Поэтому готовится серия стандартов, в которых содержание [c.91]

Приборы, предназначенные для визуального сравнения иитенсивности спектральных линий при анализе сталей, получили название стилометры (от английского слова steel — сталь). Недостатки оценки интенсивности на глаз при работе, например, на стилоскопе (стилометре) состоят в том, что не учитывается разная чувствительность глаза к различным частям спектра, его утомляемость. Необходимо отметить, что оценка на глаз сугубо субъективна. [c.100]

Визуальное измерение относительной интенсивности спектральных линий без помощи фотометра невозможно, так как при простом сравнении их яркости нельзя даже примерно определить во сколько раз одна линия ярче другой. На глаз можно только с достаточной точностью установить равенство интенсивностей или определить, какая из линий ярче. Поэтому визуальные методы делятся на стилоскопи-ческие и стилометрические. [c.155]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология