Микроскопы ультрафиолетовый типа МУФ

Ценность электронного микроскопа заключается в его способности разрешать объекты, которые не разрешаются оптическим микроскопом в видимом или ультрафиолетовом свете. Короткая длина волны электронов, которая уменьшается в прямой зависимости от подаваемого ускоряющего напряжения, позволяет разрешать, т. е. различать как отдельные объекты, отстоящие друг от друга всего на 2А (0,2 нм или 0,0002 мкм) или даже меньше, в то время как предел разрешения световой оптики лежит вблизи 0,2 мкм (он зависит от длины волны используемого света). На практике самые лучшие современные электронные микроскопы просвечивающего типа в самых оптимальных условиях работы (т. е. при при соответствующих вакууме, центрировке линз, ускоряющем напряжении, чистоте прибора, физической стабильности и качестве приготовленного образца) дают разрешение в диапазоне 0,5—1,0 нм. Но биологические образцы имеют вполне определенную толщину реально предел разрешения для срезов достигает около 2,5 нм, а для негативно контрастированных препаратов — около 1,0 нм. Чтобы улучшить разрешение, нужны мастерство и хорошо налаженный прибор. Образцы и поддерживающие пленки-подложки с большой толщиной увели- [c.92]

Флюоресцентный метод. Используется способность большинства масел к флюоресценции под действием ультрафиолетовых лучей. Если при осмотре пробы эмульсии под микроскопом в ультрафиолетовом свете все поле флюоресцирует, образуется эмульсия типа вода в масле, при флюоресценции отдельных капель — эмульсия типа масло в воде. [c.242]

Реакции, выполняемые в ультрафиолетовой области, просты и высоко чувствительны. Кроме того, они позволяют заполнить пробелы в микрохимических методиках, дают возможность построить относительно простую схему микрохимического анализа, комбинируя обычные реакции, наблюдаемые в видимом свете, ультрафиолетовые и некоторые люминесцентные, основанные на наблюдении цвета флуоресценции продуктов реакции (см. стр. 83). Все три типа реакций легко воспроизводятся при помощи одного и того же универсального прибора — ультрафиолетового микроскопа (см. гл. 2). [c.8]

Изменения, происходящие в покрытиях в процессе старения на молекулярном уровне, должны неизбежно приводить к разрушению исходной структуры, возникшей при их формировании, и образованию структур нового типа. Для изучения изменения структуры в процессе старения покрытий был применен [29] метод оптической микроскопии. Однако этот метод не позволяет проследить характер изменения надмолекулярной структуры в процессе старения покрытий, так как с помощью оптической микроскопии можно обнаружить только вторичные надмолекулярные структуры, возникающие при разрушении покрытий, и нельзя выявить тонкую структуру аморфных полимеров. Исследовалась [43 надмолекулярная структура эпоксидных покрытий на различных этапах старения под действием ультрафиолетового облучения. Покрытия формировались на стеклянной подложке при 80 °С. Результаты исследования в зависимости от продолжительности ультрафиолетового облучения были получены для слоев покрытий, граничащих с подложкой и с воздухом. [c.28]

Как известно, от ультрафиолетового света сильно портится зрение, и в этом отношении необходимо соблюдать известные предосторожности. Во-первых, на окуляр микроскопа следует надеть специальный фильтр, поглощающий ультрафиолетовый свет, а во-вторых, глаза также следует защитить от рассеянных ультрафиолетовых лучей, не попавших в микроскоп. Проверить наличие ультрафиолетового излучения можно очень легко при помощи специальной индикаторной бумаги для этого кусок фильтровальной бумаги пропитывается насыщенным раствором антрацена в бензоле, и раствору. дают испариться. Свечение индикаторной бумаги в затемненной комнате показывает наличие рассеянного ультрафиолетового излучения, и в этом случае необходимо поставить специальные защитные экраны. Эти предосторожности особенно необходимы, если ртутная лампа помещена в наспех сделанном кожухе временного типа. [c.218]

Эндомитозом, или внутренним делением, называется особый тип репликации хромосом внутри ядра без развития митотического аппарата. В таких случаях в клетке происходит внутриядерное кратное увеличение числа хромосом (количества ДНК) без типичного, отчетливо выраженного деления ядерного вещества, которое сопровождается укрупнением ядра и повышением содержания в нем хроматина, что может быть установлено путем ультрафиолетового метода исследования и с помощью флуоресцентной микроскопии. [c.113]

На подготовленных образцах с помощью специального штампа делают поперечные срезы. Глубину проникновения средь[ на срезе определяют окулярмикрометром или отсчетным микроскопом типа ШМ-1 при освещении ультрафиолетовыми лучами от осветителя типа ОИ-18 или СИ-17 со светофильтрами УФС-3 или ФС-1. Если на трех и более срезах образцов первоначальная красная окраска за несколько часов изменилась на интенсивно-синюю по всей толыщне среза, это означает, что резина является проницаемой. При изменении окраски только в поверхностном слое проводят повторные испытания с увеличением продолжительности воздействия агрессивной [c.138]

Дисперсионный анализ методом световой микроскопии. Под дисперсионным анализом понимают анализ дисперсности системы, включающий определение размера и формы частиц дисперсной фазы, их ко1щен1рации, удельной поверхности. Наиболее грубодисперсные системы с размером частиц от 5 мм можно исследовать визуально, измеряя размеры с помощью различных приспособлений типа кронциркуля. Для характеристики систем с дисперсностью 0,5—5,0 мм применяют ситовой анализ, используют лупы и т, д. Системы с дисперсностью от 0.5 мм и менее попадают в пределы применения световой микроскопии. При обычном освеи ении нижнему пределу светового микроскопа соответствует размер частиц порядка 0,5-10 " м. Освещение коротковолновыми ультрафиолетовыми лучами позволяет снизть этот предел до 1-10 м. [c.392]

Флуоресценция—еще одно свойство, которое помогает специалистам при диагностике камней. Проверяемый камень облучают ультрафиолетовым светом, при этом некоторые материалы обладают свойством трансформировать невидимое излучение в видимый свет. Длины волн видимого излучения и, следовательно, цвет камня под ультрафиолетовыми лампами обычно бывают двух типов короткие волны длиной 2537 А и более длинные — 3660 А (I ангстрем — одна стомиллионная доля сантиметра). В заключение следует перечислить наиболее важные приборы, используемые специалистами по исследованию драгоценных камней весы для определения удельной массы, рефрактометр, полярископ, лупа и (или) микроскоп и спектроскоп, Дихро-скоп, ультрафиолетовая лампа и фильтры также являются обычным оборудованием лабораторий по проверке драгоценных камней. Определение твердости камней следует использовать только как самое последнее средство. [c.148]

Электронные микроскопы. Движение электронных пучкон в электрических и магнитных полях имеет место в целом ряде электровакуумных приборов и устройств, применяемых в радио и в проволочной связи, а также в некоторых других разделах новой техники. Сюда относятся электронные осциллографы, различные типы передающих и приёмных приборов телевидения электронные умножители электроннооптические преобразователи невидимого изображения, даваемого ультрафиолетовыми ил1г [c.200]

В результате для молекул эпоксиметакрилового эфира предпочтительной является развернутая конформация, что приводит к формированию в жидкой фазе ассоциатов анизодиаметричного типа. Этот ассоциативный порядок сохраняется и при формировании покрытий цод действием ультрафиолетового излучения. При изучении надмолекулярной структуры покрытий на различных этапах отверждения методом электронной микроскопии было установлено, что через 2 мин облучения в покрытиях из эпоксиметакриловых эфиров на металле возникает неоднородная структура наряду с глобулами диаметром 10 нм формируются более крупные структуры анизодиаметричного типа. Вместе с тем наблюдаются отдельные участки, структура которых не выявляется. При облучении в течение 3 мин обнаруживается однородная сетчатая структура из плотно упакованных структурных элементов анизодиаметричной морфологии. Увеличение продолжительности процесса отверждения приводит к разрушению анизодиаметричных структур. Более медленно процессы структурообразования протекают при формировании покрытий на стеклянной подложке, отличающейся меньшей адгезией к эпоксиметакриловым олигомерам. После 2 мин облучения структура покрытий в этих условиях формирования выявляется нечетко видны лишь отдельные надмолекулярные образования диаметром около 5 нм. После 3 мин формирования обнаруживается неоднородная структура из глобул диаметром около 15— 20 нм и их агрегатов. Последующее увеличение продолжительности облучения приводит к разрушению структуры. [c.190]

Поглощение кристаллических веществ складывается из поглощения основного вещества и поглощения активатора. Полоса поглощения основного вещества называется основной или фундаментальной. Основное поглощение обычно лежит в ультрафиолетовой области спектра и представляет собою широкую полосу. В видимой области спектра основное вещество в большинстве случаев прозрачно. Форма полос поглощения кристаллофосфоров за редкими исключениями известна лишь качественно. Это вызвано трудностью измерений. Большинство кристаллофосфоров представляет собою мелкий порошок, сильно рассеивающий падающий на них свет обычные приёмы исследования спектров поглощения для них неприменимы, так как при прохождении света через рассеивающие слои ослабление света, идущего в прежней направлении, происходит не столько вследствие поглощения, сколько в результате рассеяния, которое действует в десятки и сотни раз сильнее, чем поглощение. Точное измерение поглощения возможно у веществ, дающих крупные кристаллы, например у щёлочногалоидных фосфоров типа МХ (М—щелочной металл, X—галоид). Примеры подобных спектров приводятся пиже (см., например, рис. 282). У мелких кристаллов с линейными размерами 10 —20 х, например у фосфоров группы сернистого цинка, исследование спектров поглощения можно производить с помощью люминесцентного микроскопа, обладающего кварцевым осветителем и кварцевым объективом и спектрографом особой конструкции в виде насадки на микроскоп. Подобное устройство осуществлено в последнее время Е. М. Брумбергом [60] и С. А. Гершгорипым. Полученные этим способом спектры фосфоров группы сернистого цинка приводятся ниже, на рис. 207а. Однако число веществ, изученных этим путём, ещё незначительно. В большинстве случаев величина поглощения определяется качественно или по спектрам отражения, или косвенно, по яркости возникающего излучения [158, 370]. [c.295]

Приведены [150] методы определения каучука и таблицы, содержащие описание поведения каучуков при сжигании, их растворимость в органических растворителях, цветные реакции и пробы на окрашивание под микроскопом. Имеется краткий обзор [223], в котором приведены важнейшие детали методов идентификации, применявшихся до 1945 г., и дан их критический анализ. Пожалуй, наиболее полно этот вопрос изложен в настоящее время в Users Memorandum [43], где приведены характеристики главных типов каучуков, а также схема систематического качественного анализа смесей. Для идентификации полимеров в смесях начинает применяться новая техника спектроскопия в инфракрасном и ультрафиолетовом свете и хроматография. Но так как эти методы оказались пригодными и для количественных определений, то они будут рассмотрены в разделе, посвященном количественному анализу каучуков. Такому вопросу, как определение наполнителей и других компонентов смесей, отведен особый раздел. [c.102]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология