Микроскоп отражательный применение

Наиболее четко карбиды могут быть выявлены с помощью электронного микроскопа отражательного типа, пользуясь которым можно избежать неопределенностей, связанных с методикой изготовления реплик, необходимых в случае применения микроскопа, использующего проходящие лучи Сайкс считает, что данные электронной микроскопии подтверждают точку зрения, связывающую межкристаллитную коррозию с обеднением границ зерен хромом [12]. [c.609]

Применение электронного микроскопа отражательного типа весьма ограничено главным образом вследствие искажения масштаба изображения. [c.48]

Все акустические микроскопы, как и более низкочастотные интроскопические системы, разделяют на отражательные и просвечивающие (трансмиссионные). Контакт иммерсионный. Наибольшее применение получили отражательные микроскопы. Принцип работы такого микроско- [c.261]

Численно апертура отражательного объектива микроскопа определяется точно так же, как для обычного преломляющего объектива, и равна произведению синуса половины угла при вершине конуса лучей, идущих от объекта к вогнутому зеркалу, на показатель преломления среды, в которой эти лучи распространяются. В некоторых работах рассматривалась возможность увеличения апертуры инфракрасных микроспектрометров применением преломляющей оптики, однако, как показали Блаут и Бэрд [12], использование иммерсионных линз в инфракрасной области приводит к таким потерям света на отражение, что выигрыш за счет увеличения апертуры сводится на нет. Поэтому мы будем рассматривать только отражательные объективы сухого типа. [c.275]

Дифракционная микрорентгенография. Основы рентгеновской дифракционной микроскопии (микрорентгенография) были заложены Бергом [31, 32]. Им было показано, что исследование поверхности. монокристалла с помощью рентгеновских лучей может быть проведено двумя способами либо применением точечного источника и белого излучения, либо линейного источника и монохроматического излучения. В этих случаях каждая точка интерференционного пятна соответствует только одной точке на поверхности монокристалла (рис. 1). Различная отражательная способность отдельных участков кристалла позволяет выявить в нем наличие дезориентированных областей, а также других несовершенств. [c.307]

Распространенными методами определения коэффициентов диффузии и проницаемости являются сорбционно-десорбционный (с применением весов Мак-Бена), интерференционный (по интерференции света определяется граница продвижения вещества в пленке), микроскопический (определяется фронт поляризации света под микроскопом), метод фазовой границы с применением вертикального оптиметра, сканирующей и отражательной микроскопии, электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа (для пленок радиационностойких полимеров) [38, с. 198, 256]. [c.119]

В зависимости от способа исследования объектов имеются электронные микроскопы различных типов просвечивающие, отражательные, растровые, эмиссионные (в том числе элект- роннйб проекторы) и теневые. Однако наибольшее распростра- нение получили приборы просвечивающего типа, обладающие (высоким разрешением и наибольшей универсальностью применения. В данной книге рассматривается почти исключительно применение просвечивающей электронной микроскопии. [c.4]

Комплексное применение совокупности новых препаративных методов ЭМ исследования полимеров (механическая и ультразвуковая диспергация, контрастирование продуктов дробления, использование метода реплик, ультратонких срезов, отражательной и сканирующей электронной микроскопии и т. п.) создали условия для выяснения характера НМС целлюлозы [6, 7]. Оказалось, что если диспергировать в жидкости пеболь-щую навеску волокна, то удается наблюдать распад исходного волокна на удлиненные образования, так как при дроблении полимер разрушается в первую очередь по границам структурных образований. Поперечные размеры продуктов дробления заключены в достаточно широком интервале (рис. П.1,с). Малоконтрастность снимков, не позволяющая обнаружить никаких более тонких деталей, обусловлена тем, что полимерные объекты состоят из слаборассеивающих элементов (в основном углерода), а соседние области мало различаются по толщине. Поэтому препараты для прямого исследования необходимо контрастировать , создавая неравномерное распределение посторонних веществ, содержащих тяжелые атомы. Для этой цели применяют методы косого напыления металлов в вакууме негативного контрастирования, а также пропитку за счет диффузии паров 0з04 или иода [8, гл. 9]. [c.87]

Пузырьки диаметром 0,5 мк хорошо видны на электронмикро-фотографиях. (Методика получения реплик описана в Приложении.) Диаметр наименьших пузырьков, которые, по-видимому, образуются в первую очередь, составляет примерно 0,04 мк. Темные участки на микрофотографиях (рис. 4 — см. вклейку в конце книги) соответствуют областям поверхности кольца с высокой плотностью смазочного материала, а участки с высокой отражательной способностью — областям, покрытым лишь очень тонким слоем МоЗз. Пузырьки больших размеров удобно наблюдать с помощью оптического микроскопа. К сожалению, возможности киносъемки, по результатам которой можно судить о динамике развития пузырьков, ограничены, поскольку применение [c.248]

Беннет и сотр. [15] составили обзор, посвященный технологическому применению фазово-контрастного микроскопа к ряду материалов. Так, например, прозрачные пластики можно исследовать на неоднородность и на содержание примесей. В листовых материалах этим методом удается идентифицировать волокна и другие наполнители. Покрытия можно изучать в виде поперечных срезов или тонких пленок. Для исследования поверх-1Юстей применяют метод отпечатков некоторые поверхности, обладающие достаточно высокой отражательной способностью, можно изучать с помощью фазово-контрастного вертикального освещения. Метод фазового контраста позволяет определять характеристики бумажных волокон, отсутствие в них лигнина и других примесей. Реймут [200] указал ряд применений этого метода в текстильной промышленности. К их числу относятся наблюдения за бактериальным и ферментативным разложением шерсти, исследования деталей поперечных срезов шерсти, бактерий и плесени в волокнах, частиц, включенных в волокна, и изломов волокон, возникающих при стирке и глажении ткани. Ройер и Мареш [209] сообщили о результатах исследования поперечных срезов искусственного волокна и тонких пленок на тканях, целлюлозных волокнах и коже. Можно также изучать животные волокна со слабой пигментацией. С пигментированных волокон можно снять отпечатки [90, 264]. Фазово-контрастная оптика позволяет хорошо 5азличать структуру набухших волокон [49]. [c.247]

В библиографиях, посвященных электронной микроскопии [37, 1571, указаны работы по применению этого метода для анализа полимеров. Наилучшие результаты получены с материалами, из которых можно получить образцы толщиной в несколько сотен ангстрем. Почти все исследованные образцы можно отнести к группам срезов, дисперсий или отпечатков во многих случаях подготовка образцов является серьезной задачей. Далее, во время исследования в вакууме образцы подвергаются действию электронов с энергией 50 кв и более. Шерсть и другие кератиновые вещества исследовали в виде отпечатков или дисперсий химически модифицированных волокон. Целлюлозу, как нативную, так и регенерированную, изучали в виде дисперсий. С волокон хлопка, ацетилцеллюлозы и регенерированной целлюлозы снимали отпечатки, причем в некоторых случаях после химической обработки образцов. Интенсивно изучались дисперсии коллагеновых веществ. Имеются более или менее специфичные красители для электронной микроскопии использование ультрамикротома еще более расширит область применения электронного микроскопа. Чепмен иМентер [31] использовали отражательный электронный микроскоп для изучения формы волокна, структуры его поверхности и его износа. Быстрое разрушение образца, искажение пучка и относительно небольшое разрешение уменьшают преимущества непосредственного исследования образца. Однако вследствие ограниченных возможностей применения для аналитических целей методы электронной микроскопии в настоящем разделе детально не рассматриваются, а читатель отсылается к некоторым книгам [38, 84, 85, 272, 274], посвященным электронной оптике и методам на ее основе. Королевское общество микроскопии посвятило целый номер своего журнала 45] практическому использованию метода электронной микроскопии. Этот сборник может служить полезным руководством по приготовлению образцов. [c.248]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология