Профилограф-профилометр

Рис. 2.5. Схема профилографа-профилометра (модель 201)

Фиг. 112. Вид на профилометр Киселева (а) схема проверки чистоты поверхности на профилометре Киселева (б) диаграмма результатов проверки чистоты поверхностей на профилографах Левина и Аммона (в).

Контроль точности элементов валов в серийном производстве осуществляют универсальным измерительным инструментом и калибрами. Он предусматривает проверки диаметральных размеров и длин шеек, размеров шпоночных пазов, шлицев и резьб. Проверяют предельными скобами, шаблонами, шлицевыми кольцами, предельными резьбовыми кольцами, скобами и пробками. Шероховатость поверхности контролируют с помощью профилографов и профилометров. Радиальное биение и соосность шеек вала измеряют индикатором с помощью приспособления с центрами или с помощью призм. При контроле используют также многомерные индикаторные приспособления для проверки диаметральных размеров и биения шеек валов относительно базовых шеек. В условиях крупносерийного и массового производства технический контроль осуществляют также автоматические устройства. [c.297]

При необходимости определение шероховатости производят профилометрами (по ГОСТ 19300—73) или профилографами (по ГОСТ 19299—73). Определение шероховатости до 8 класса допускается производить с помощью образцов (по ГОСТ 9378—75) визуальным сравнением или на ощупь при условии, что поверхности образцов обработаны тем же методом, что и сравниваемые геометрическая форма образцов должна соответствовать форме контролируемой поверхности. Шероховатость поверхностей, не доступных непосредственному измерению специальными приборами или сравнению с образцами, допускается определять методом слепков. Твердость поверхностей определяют приборами по ГОСТ 9030—75. [c.128]

Оценку состояния поверхности по всей длине образца металла можно проводить по профилограммам, снятым на профилографе-профилометре модели 201. [c.84]

Профилограф-профилометр типа 201 (рис. 2J), действие которого основано на принципе ощупывания поверхности покрытий алмазной иглой с весьма малым радиусом закругления и преоб ования колебаний иглы в измеиение напряжения индуктивным методам. Профилограф-профилометр - высокочувствительный прибор, позволяющий воспроизводить иа электротермической диаграммной бумаге линию неоднородности поверхности с вертикальным увеличением от 1000 до 2000 и с горизонта тм увеличением от 2 до 4000. [c.71]

ОЦЕНКА ШАГРЕНИ ПРОФИЛОГРАФОМ ПРОФИЛОМЕТРОМ [c.38]

Оценку шагрени профилографом-профилометром поверхности покрытия осуществляют в соответствии с инструкцией к прибору при максимальной длине хода датчика 40 мм. Рекомендуемое вертикальное увеличение пр записи 2000— —4000 раз, горизонтальное — в 4 раза. [c.38]

Оценку состояния поверхности но всей длине образца металла можно про водить по профилограммам, снятым на профилографе профилометре модели 201 По глубине поражения определяют скорость коррозии (мм/год) Для этого измеренная величина глубины повреждения делится на продолжительность и пытаний в днях и умножается на 365 [c.84]

Для определения микрошероховатости могут быть использованы различные микроскопы (оптические, металлографические, растровые, электронные сканирующие), а также профилометры и профилографы. [c.40]

Использовали образцы кварцевого стекла и алюмо-силикатных стекол ТСМ-700 и ТРЛ-10. Каждую партию этих стекол шлифовали или полировали в идентичных условиях абразивными порошками определенной зернистости. Чистоту обработки поверхности определяли с помощью профилометра-профилографа завода Калибр путем измерения RA — величины среднеарифметического отклонения от средней линии высоты, микронеровностей. Результаты измерений сведены в таблице. Сопоставление значений На с твердостью (микротвердостью) стекол показывает, что уменьшение микротвердости в 2 раза лишь незначительно увеличивает высоту микронеровностей. [c.48]

Для определения чистоты поверхности наиболее удобны профилометр и профилограф, записывающий профиль на светочувствительной бумаге. [c.9]

Из всей совокупности погрешностей поверхности наиболее важной для обрабатываемости металлов и сплавов методом ЭХО является шероховатость. При анализе состояния шероховатости после ЭХО необходимо исходить из деления шероховатости на наследственную, являюш,уюся результатом сглаживания ранее полученного микрорельефа, и стабильную, обусловленную только режимом ЭХО и свойствами обрабатываемого материала. Для шероховатости после ЭХО (стабильной) характерно отсутствие направленности следов обработки. Нерегулярный характер интерференционной картины после ЭХО и отсутствие направленности следов обработки не позволяют пользоваться микроинтерферометром и двойным микроскопом МИС-11. Измерение шероховатости после ЭХО производят щуповыми приборами, в частности профилометром-профилографом модели 201. [c.39]

Качество электрополирования можно определить различными способами. Чистоту поверхности контролируют с помощью специальных приборов — профилометра, профилографа, микроинтерферометра, позволяющих визуально или графически определять характеристики шероховатости поверхности. Весьма часто определяют отражательную способность в цехах электрохимических покрытий при обработке неответственных деталей бывает достаточным сравнение их с эталонными образцами. Можно рекомендовать также следующий простой и доступный метод. Детали располагают вертикально на лежащем листе бумаги, на котором в шахматном порядке четко нанесены черные и белые клетки. Хорошо отполированная поверхность металла дает контрастное зеркальное изображение клеток. При наличии легкой матовости поверхности изображение получается слегка расплывчатым, а при значительной матовости контуры изображения трудно различимы. Указанный способ определения применяется только для плоских поверхностей и для поверхностей с очень малой кривизной. [c.67]

Для количественного определения чистоты поверхности сконструированы специальные приборы профилометры и профилографы [26]. Широкое применение для определения чистоты поверхности имеет двойной микроскоп МИС-11 акад. В. П. Линника. [c.75]

Профилометры. . . Профилограф Левина Профилограф Аммона Двойной микроскоп [c.369]

Замеры чистоты поверхности производились приборами профилометром КВ-4 и профилографом ИЗО-17 замеры микротвердости — прибором ПМТ-3. Подсчет числа [c.119]

Степень шероховатости осадка оценивали визуальным осмотром при увеличении в 80 раз и с помощью профилограф-профилометра. Микроструктуру золотых осадков изучали на поперечных шлифах с помощью металлографического микроскопа МИМ-7. Структуру тонких золотых осадков, снятых с образцов из нержавеющей стали, изучали после электролитического травления на приборе Е]1 роУ1 з1 в электролите следующего состава, г/л 3—4 серебра металлического, 20 цианистого калия, 20 углекислого калия. [c.94]

Для металлизационных покрытий оптимальная величина шероховатости поверхности устанавливается по ГОСТ 9.304—84. Исследованиями, проведенными в СССР, была установлена зависимость степени шероховатости от гранулометрического состава песка, применяемого для очистки. С помощью высокочувствительного профилографа — профилометра модели 201 была определена шероховатость поверхности стальных пластин, очищенных путем обдува песком с различной крупностью зерен. Из полученных профилограмм (рис. 1) видно, что с увеличением размера зерен используемого песка степень шерохо- [c.8]

Из каждого испытываемого материала было изготовлено шесть ос-разцов, котоще закреплялись на специальной раме, стационарно установленной в проточную часть горизонтальной нефтеловушкир таким образом, чтобы исключить возможность переноса сточной водой продуктов коррозии от одних материалов на другие. Анализ образцов проводили через 720, 2160, 4320 ч экспозиции. По два образца из каждого материала подвергались исследованиям замерялась их масса до и после экспозиции, а на профилографе-профилометре ВЭК "Колибр" были построены профилограммы поверхности образцов. Результаты экспериментов приведены в табл. 13. [c.42]

Основным методом замера микрогеометрических неровностей является профильный метод, с помощью которого можно с той или иной точностью наблюдать профиль микронеровкостей (микроинтерферометр) или ощупывать их тонко заточенной иглой (профилометр, профилограф). Сущность метода заключается в том, что замеряют ряд параметров чистоты поверхности, из которых наиболее употребительны среднее квадратичное отклонения профиля от его средней линии Не.к, максимальная высота неровностей, среднее арифметическое отклонения профиля от его средней линии. [c.8]

При количественном методе оценки высоту микронеровностей определяют непосредственно в Нск ч I p с помощью приборов. Наибольшее распространение для количественной оценки получили щуповые и оптические приборы — профилометр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. [c.557]

ИОВ и наибольших максимумов профиля в пределах измеряемой длины (0,8 мм) или параметром Rg — средним арифметическим отклонением неровностей поверхности от,средней линии по всей длине измеряемого профиля. Шероховатость измеряется на профилометрах КВ-4, КВ-7, ПЧ-3, профилографе-про( илометре модели 201 , двойном микроскопе МИС-11, интерференционном микроскопе-МИИ-4. Кроме этого, шероховатость поверхности оценивают качественно, сравнением е образцами-этало-нами визуально или на микроскопе. [c.203]

Для оценки качества травленой поверхности единый критерий отсутствует. Поэтому пользуются несколькими различными по своей природе показателями. Микрошероховатость поверхности оценивают виз) ально с помощью микроскопов (оптического, металлографического, растрового, электронного сканирующего) или по светорассеянию, а также при помощи профилометров, профилографов. Для определения микромеханических свойств можно использовать методы микровдавливания, склерометрии, трибометрии или определять износостойкость поверхности. Физико-химические свойства легче всего оценивать по смачиваемости и окрашиваемости поверхности, а также по прилипанию липких лент и приклеиванию полосок материи желатином. Весьма детальные и ценные сведения о химическом состоянии поверхности пластмасс можно получить методом рентгенофотоэлектронной спектроскопии. [c.35]

Измерением параметров шероховатости непосредственно по шкале приборов (профилометро в), либо по увеличенному изображению профиля, или записанной профилограмме сечения, полученным на профилографах. [c.348]

Шероховатость поверхности определяется профилометрами и профилографами. Первые служат для количественной оценки чистоты поверхности одним числовым параметром, например высотой неровностей — наибольшей или среднеарифметической. Вторые —для воспроизведения в увеличенном масштабе микроиеровностей измеряемой новерхностн с последующим определением- их количественной величины. По методу оценки чистоты поверхности приборы подразделяются на а) производящие количественную оценку чистоты поверхности в выбранном сечении, б) производящие количественную оценку сравнением с эталоном и в) производящие суммарную количественную оценку на выбранном участке. [c.38]

Выращивание лент на установках типа Редмет-1 позволило обнаружить влияние механических колебаний на положение фронта кристаллизации. Эти колебания отражались на поверхности лент в виде периодических выпуклостей (волнистости), шаг которых был равен шагу резьбы ходового винта механизма вытягивания. В отдельных случаях неточность соблюдения формы но этой причине достигала 20- -30 мкм. Исследования колебаний толщины ленты, проведенные с помощью микроскопа МИИ-4 и профилометра-профилографа типа ПП-11, показали, что толщина ленты вдоль направления вытягивания достаточно постоянна и ее колебания не превышают 5—6%. Величина этих колебаний по ширине ленты находится в пределах 3- 10%. Для получения гладких поверхностей ленты в производстве в отдельных случаях использовалась подвеска затравкодержателя на тонкой эластичной нити (платиновой, графитовдй,,кварцевой и др.). При выращивании ленты с таким высоким качеством поверхности, которое бы исключало или сводило к минимуму последующую химическую и механическую обработку, необходимо классифицировать все поверхностные дефекты на две группы 1) обусловленные несовершенством аппаратуры и режимов выращивания — наплывы, затиры, волнистость (см. гл. 3, 43) 2) вызванные кристаллографическими особенностями роста. [c.153]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология