Приборы для исследования поверхности

В отличие от электроосмоса при электрофорезе можио непосредственно измерять скорость движения частиц. Электрофорез удобно наблюдать с помощью прибора, изображенного на рис. IV. 13. В качестве прибора для исследования электрофореза можно использовать и-образную трубку, в колена которой вставлены электроды, и-образную трубку заполняют до уровня а — а исследуемым золем, на поверхность которого наливают контактную жидкость, имеющую одинаковую с золем электропроводность и включают электрическую цепь. Через определенные промежутки времени отмечают степень перемещения золя к соответствующему электроду, т. е, уровень золя в обоих коленах трубки. Вполне естественно, что скорость перемещения частиц дисперсной фазы определяется значением -потенциала на частицах твердой фазы. [c.223]

Колебания атомов на поверхности твердого тела и колебания или вращения молекул или кластеров, адсорбированных на поверхности, могут изучаться методами инфракрасной спектроскопии. Применяются методы адсорбционной спектроскопии с применением стандартных приборов. Однако для исследований поверхности эффективно применяются методы отражательно-адсорбционной инфракрасной спектроскопии (ОАИКС), спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС) и спектроскопия характеристических потерь энергии электронов высокого разрешения (СХПЭЭВР). [c.87]

Большой успех в исследованиях поверхности твердых тел достигнут в последнее десятилетие в результате разработки методов с применением приборов для измерения ее химической, геометрической, колебательной и электронной структуры. К ним следует отнести прежде всего метод дифракции медленных электронов (ДМЭ), который используется для идентификации периодической структуры поверхности определенной кристаллографической ориентации и известного химического состава. Глубина проникновения низкоэнергетических электронов в кристалл в методе ДМЭ составляет один — два периода решетки. Появление посторонних атомов на поверхности фиксируется с точностью 5—10% от монослоя [28, с. 83]. [c.33]

Можно сконструировать небольшой, компактный сканирующий электронный микроскоп таким образом, что его можно установить на вакуумных приборах и комбинировать с исследованиями поверхности методами электронной оже-спектроскопии (ЭОС), дифракции медленных электронов (ДМЭ) и ионного распыления. Однако следует отметить, что сканирующие туннельные микроскопы могут работать в воздушной среде и даже в жидкой, что открывает [c.369]

Приборы для исследования поверхностей [c.236]

Эксплуатационные характеристики абляционных материалов определяются при помощи контрольно-измерительных приборов. Макроскопические изменения, в частности искажения профиля поверхности материала, качественно определяются в процессе высокотемпературного воздействия путем визуальных наблюдений. Более подробные данные получают при помощи высокоскоростной киносъемки с последующим изучением пленки в увеличенном масштабе. Таким методом фиксируют различные процессы разрушения, происходящие в процессе абляции материала. К ним относятся растрескивание, шелушение, расслаивание, смещение твердых частиц, стекание жидкости, испарение, кипение и др. Последующее оптическое исследование поверхности абляции может дать дополнительную информацию о равномерности и общей картине абляции. Неровности и шероховатость поверхности измеряются оптическим профилометром или щеточным анализатором. [c.427]

Освоение космического пространства выдвинуло ряд новых областей применения инфракрасной техники. Приборы ИК-техники начали применяться в космической навигации, для исследований поверхности и атмосферы Земли и других планет, для различных астрономических и астрофизических исследований, в системах космической связи. [c.256]

Из многих факторов, влияющих на структуру пленки, к числу наиболее важных следует отнести толщину пленки [111], скорость роста [112], природу, состояние и температуру подкладки [113— 115], а также влияние, оказываемое газовой атмосферой [108]. Особенности структурных свойств таких пленок [116] и применение последних для исследований поверхностей подробно рассматривались в литературе [108]. Тем не менее требуется провести еще больщую работу по усоверщенствованию метода напыления с тем, чтобы получаемые пленки обладали вполне определенными и воспроизводимыми поверхностными структурами, поскольку это весьма существенно при изучении свойств поверхностей. Это не означает, что существующий метод напыления не дает возможности получать в приборе, в котором проводятся исследования, очень чистые металлические поверхности при соответствующих условиях опыта. Значение этого метода при исследовании поверхностей достаточно хорощо известно. [c.89]

Описанный в этой статье метод с применением вакуумных микровесов иллюстрирует преимущества прецизионных микрогравиметрических методов для исследования поверхности. Микровесы являются чувствительным прибором, который позволяет производить прямые и непрерывные измерения изменений веса как при протекании процесса, так и в условиях равновесия. Они применимы для работы в высоком вакууме. Существующие методы приготовления образцов с хорошо выраженной поверхностной структурой позволяют получать образцы с такой малой величиной площади поверхности, что их изучение возможно только при помощи микровесов. Эти приборы сравнительно недороги и весьма просты в работе. [c.127]

До недавнего времени большинство работ скорее проводили для изучения возможностей и ограничений метода исследования поверхностей, чем для решения какой-либо конкретной проблемы. Почти для любого прибора с распылением получены данные относительно масс, зарядов и распределения по энергиям выбитых частиц в зависимости от массы, энергии и плотности первичного ионизирующего пучка. Наиболее эффективный материал для мишени — монокристалл высокочистой меди. [c.352]

Метод ионной бомбардировки отличается тем, что его применение не требует разрушения пробы. Метод позволяет определить почти все элементы за один прием и очень подходит для исследований поверхности, так как температура пробы во время анализа заметно не повышается. Однако точность анализа плохая. Значительное развитие этого метода последует вслед за появлением в продаже приборов. [c.369]

Техническая помощь производству со стороны ЦЗЛ очень важна, так как связана с непосредственным воздействием на производство и промышленной реализацией новых технологических разработок. При переходе от лабораторных исследований к промышленным всегда необходимо учитывать, что в производственных условиях многие процессы могут протекать иначе, чем в лабораторных. Например, удельная поверхность, т. е. поверхность соприкосновения стенки аппарата с массой, приходящаяся на единицу объема этой массы, в лабораторном сосуде в десятки раз больше, чем в производственном аппарате, поэтому процессы теплообмена (нагревание, охлаждение, тепловые потери в окружающее пространство) в лаборатории проходят значительно быстрее по сравнению с аппаратами большой емкости. В лабораторном приборе удельная поверхность зеркала испарения больше, чем в производственном аппарате. Очень большое различие наблюдается в интенсивности размешивания массы механическими мешалками в лабораторных и промышленных условиях. [c.26]

Исследование поверхностей трения проводилось при режимах заедания на нижних неподвижных шарах. По методике, описанной в работе [5], изготовлялись шлифы и производилось их травление. На приборе МПТ-3 измерялась микротвердость шлифов. [c.218]

Важное значение при оценке и исследовании пределов прочности смазок имеет явление пристенного скольжения. Сдвиг вдоль твердой поверхности (стекло, металл) осуществляется значительно легче, чем в объеме смазки. Для устранения этого эффекта поверхность приборов, в которых определяют предел прочности, делают шероховатой. [c.272]

Для выяснения зависимости толщины граничного слоя от характеристики твердой фазы были проведены исследования на приборе с плоскопараллельными дисками с подложками различной природы [105]. В качестве твердых подложек были использованы диски нз кварца, доломита и керамики. Поверхность этих дисков была обработана по 13—14 классу. [c.115]

Одним из наиболее распространенных недостатков оргаиических ингибиторов коррозии является повышенное содержание смол, которые в процессе переработки сырья оседают на внутренних поверхностях аппаратов, ухудшая теплопередачу, а иногда и нарушая работу контрольно-измерительных приборов. Сравнение результатов исследования ингибиторов И-1-А, АНПО, ИКСГ, КО с результатами анализов углеводородных конденсатов, не содержащих ингибиторов, показало, например, что при ингибировании скважин суммарное содержание смол в газоконденсате возрастает с 33 до 68 мг на 10 кг [28]. [c.96]

Прибор, используемый в исследованиях, которые проводят с помощью первого метода, состоит из стеклянной и-образной трубки, в открытые концы которой помещены платиновые электроды. Трубку заполняют эмульсией М/В ниже края каждого электрода, а затем вводят достаточное количество дистиллированной воды с тем, чтобы покрыть их. К электродам подводят постоянный ток и измеряют скорость, с которой поверхность раздела вода — эмульсия движется в верхнюю часть одного из лимбов и-образной трубки. Поток можно направить в противоположную сторону и изучать скорость движения в другом лимбе. Измерения проводят при различных напряжениях, подтверждая, что скорость не зависит от подаваемого потенциала. [c.160]

Преимущества этого метода аналогичны преимуществам метода вторичной ионно-ионной эмиссии. Это выдвигает электронно-стимулиро-вапную десорбцию при исследовании поверхности твердого тела как одно из перспективных направлений. На основе метода построен прибор со сканирующим электронным зондом, позволяющий получать картину распределения адсорбированных газов. [c.50]

Большой инт )ес для широкого круга читателей представит обзор Б.Е. Конвея "Специальные методы изучения электродных процессов и электрохимической адсорбции" (глава 5). В электрохимии уже давно ощущается острая потребность в использовании новых физических методов исследования границы раздела фаз, поскольку только они могут позволить перейти от феноменологического описания поверхности на атомно-молекулярный уровень. Соответствующая обзорная литература на русском языке практически отсутствует. Поэтому статья Б.Е. Конвея, содержащая обширную библиографию, приобретает особую ценность. Значительная часть обзора посвящена оптическим методам исследования поверхности электродов. Подробно изложена эллипсомет-рия - от математических основ до приборов и приложений. Далее описан метод электрооиражения и спектроскопия внутреннего отражения в прозрачных электродах. Специальный раздал отведен дифракции рентге новских лучей на поверхности электродов. Описаны методические успехи в исследованиях адсорбции и электродных процессов. Особо рассмотрен радиоизотопный метод и его различные приложения. Кратко обсужден фотоэффект и его использование в исследованиях по электро. химической кинетике. В конце главы дается ряд новейших методов, среди которых отметим накопительную рефлектометрию. [c.6]

В ряде работ при помощи метода реплик были изучены изменения рельефа поверхности обычных ненористых стекол в результате различных технологических операций, действия протравливающих агентов, царапания и т. д. [22—26]. Применялось комбинированное исследование поверхности посредством светового, электронного и интерференционного микроскопов [24, 25]. Вначале реплику со сравнительно большого участка поверхности рассматривали в световом микроскопе и выбирали наиболее интересные места. Затем с этих мест, фиксированных при помощи специального нриспособления, получали реплики, пригодные для электрОпно-микроскопического исследования. Для определения величины неровностей рельефа исследуемой поверхности также применялись специальным образом подготовленные реплики, которые исследовались в интерференционном микроскопе. Исследования в электронном микроскопе проводили нри небольших увеличениях, используя большую глубину резкости прибора. Эти работы показали, что электронный микроскоп может дать важные сведения о состоянии поверхностного слоя стекла и применение его весьма полезно для выяснения таких вопросов, как пластичность стекол, размягчение их при высоких давлениях, особенности процессов шлифования и полировки стекол. [c.245]

Кроме обоих этих методов получения электронно-микроскопического изображения структур поверхностей, от эмиссионного микроскопа больще нельзя лолучить никаких выгод для исследований коллоидов. В таком приборе изображение поверхности образца получается вследствие непосредственного измерения электронов или благодаря очень тонкому слою окиси. [c.282]

Наука о поверхности развивается очень быстро. И главная причина ее успехов — применение мощных приборов и методов для установления химического состава и атомной структуры поверхностей. Изучение поверхности стимулируется также обширностью области использования результатов таких исследований. Например, электрические свойства поверхностей и пленок важны для уменьщения размеров полупроводниковых приборов. Поэтому поверхности и тонкие пленки привлекают внимание как химиков, так и физиков. Они изучают травление поверхности, чтобы научиться удалять с нужных мест при изготовлении микросхем слои толыщной всего в несколько атомов в полном соответствии с рисунком. Вторая проблема, привлекающая внимание ученых, — вырашдаание пленок полупроводников, например пленок кремния, при конденсации пара на холодной поверхности. Установлено, что электрические свойства пленки, получаемой конденсацией кремния на холодной поверхности, определяются кристаллической структурой подложки (эпитаксиальный рост). И, конечно, одной из наиболее важных проблем, которую дают возможность исследовать новые приборы, является изучение фундаментальных закономерностей катализа, открывающее захватывающие перспективы в будущем. [c.236]

Электронно-микроскопические исследования поверхности образцов после испытаний проводили на приборе s-405 рмы "Хитачи". Перед исследованием образцы обезжиривались и обезвоживались промывкой в ацетоне и в спирте. На исследтемую поверхность напылялось платиновое покрытие толщиной 250 А, которое выравнивало поверхностную электропроводность образца и увеличивало эмиссию вторичных электронов, что обеспечивало хорошую проработку на микрофотографиях структурных и морфологических особенностей не-электроцроводных продуктов коррозии. [c.39]

Основное назначение метода ионной бомбардировки — исследование поверхности твердых веществ. Как показали Либл и Герцог [14], для получения количественных данных прибор следует градуировать по образцам известного состава. [c.113]

Пользуясь описанными выше принципами, Кирк, Крэйг, Гулл-берг и Бойер [38] сконструировали очень удачные крутильные микровесы, позволившие в 1942—1946 гг. количественно изучить химические свойства трансурановых элементов, имевшихся в количествах порядка миллиграмма. В этих весах сочетаются устройство с крутильной нитью по Нееру, подвеска чашечек по Стилу и Гранту, колодцы для чашек по Петтерсону и отсчетный микроскоп Эмиха и Донау для определения положения коромысла. Благодаря применению жесткого коромысла консольного типа главная часть нагрузки и веса чашек уравновешивалась противовесом. Незначительные дифференциальные изменения веса измерялись поворотом колеса, сообщавшим нити момент кручения, достаточный для возвращения коромысла в исходное нулевое положение, которое определялось ранее при помощи отсчетного микроскопа. Конструкция и принципы работы этого прибора подробно описаны в указанной выше статье [38]. Чувствительность, предельная нагрузка и рабочий интервал этих весов существенно меняются при изменении конструкции отдельных деталей, особенно длины и диаметра кварцевой нити. В од--ном из приборов, приспособленных автором для работы в вакууме, применялась крутильная нить толщиной 18 с чувствительностью 6 10" г на 1 мин. дуги и предельной нагрузкой всего лишь 0,050 г. Столь малая предельная нагрузка является недостатком в исследованиях поверхности, когда образцы с достаточно большой поверхностью весят обычно в 10 раз больше (около 0,3 г). Кроме того, работа с весами в вакууме осложнялась необходимостью приведения в действие арретиров и крутильного механизма через стенку вакуумного кожуха с одновременным осуществлением достаточно точной регулировки. Применение стационарных арретиров устраняет первое из затруднений, но сужает рабочий интервал весов, ограничивая колебания коромысла малой дугой. Предельная нагрузка определялась главным образом величиной площади поперечного сечения крутильной нити, в то время как чувствительность изменялась обратно пропорционально квадрату этой площади. В результате для исследования поверхностных процессов были использованы весы с крутильной нитью толщиной 50 f, предельной нагрузкой около 0,5 г, а чувствительностью приблизительно около 1 у. В крутильных весах Гарнера предельная нагрузка увеличена за счет того, что применяются более тяжелые вертикальны ритц подвеса зна ительно более twrss [c.58]

Другими словами, общая нагрузка должна взвешиваться с максимальной точностью в абсолютном смысле этого понятия. Эти весы пригодны для быстрой работы и в случае вакуумных исследований более предпочтительны, чем приборы, использование которых связано с изгибанием или кручением отдельных механических деталей (см. описанные выще весы с изгибающейся нитью). Они легко изготовляются и монтируются в вакуумной установке, легко обезгаживаются, применимы при высоких температурах и очень хорошо работают в случае сорбционных исследований при высоких давлениях. Весы с кварцевой спиралью особенно пригодны для изучения поверхностных явлений на корродирующихся материалах, так как для изготовления таких весов не требуется никаких материалов, подверженных коррозии [51]. Упоминавшиеся ранее механические свойства кварца как материала для изготовления коромысла в такой же степени важны и при изготовлении спиральных весов. Кирк и Шеффер [48] составили превосходный обзор конструкций и специальных применений весов с кварцевыми спиралями, который можно реколкыдовать читателю, интересующемуся вопросом их применения к исследованию поверхностей. Описано также [49—51] применение пружин из фосфористой бронзы, медно-бериллиевого сплава, молибдена, нержавеющей стали и пирекса. Спирали [52], у которых смещение происходит не по прямой линии, а по кругу, также применимы для быстрого и удобного взвешивания, но они менее пригодны для исследования поверхностных явлений. В зависимости от материала и диаметра нити, диаметра спирали, длины и шага спирали были изготовлены вертикальные спирали, чувствительность которых колеблется в пределах от 1 т ДО 1 -мг на 1 мм отклонения. Очевидно, что полная нагрузка спирали длиной в 10 см, при которой общее удлинение может быть достаточно удобно измерено в указанном интервале чувствительности, будет меняться соответственно от 100 т до 1 г. [c.61]

Геттеры и методы обезгаживания. В исследованиях поверхностных явлений при помощи вакуумных микровесов особенно важной задачей часто является сохранение поверхногти образца свободной от загрязнений, поскольку величина этих поверхностей обычно весьма мала. Обезгаживание реакционных трубок при температурах 1000—1100° С легко достигается, если они изгото-влены из кварца или термостойкого фарфора. Соединительные трубки из стекла пирекс можно прогревать при достаточно высокой температуре (500°С), однако обезгаживание весов и их кожуха представляет трудность, так как прецизионные весы могут выдерживать только ограниченные температуры. Для пружинных весов такого ограничения нет, но весы более сложной конструкции, особенно в случае соединения частей такими цементами, как селен или хлористое серебро, было бы неблагоразумно обезгаживать при температурах, превышающих 300° С обычно во избежание каких бы то ни было пластических деформаций температура не должна превышать 200° С. При этой температуре адсорбированная вода может быть полностью удалена со стеклянных поверхностей [69]. Для соединения вольфрамовых проволочек с кварцем автор пользовался тругоплавким (т. пл. 500° С) платино-серебряным припоем (50 50), однако хорошее соединение тонких деталей на этом припое осуществить нелегко. В случае обезгаживания кожуха весов при температурах выше 60° С необходимо устранить все стеклянные краны на смазке и металлические окошки на прокладках. Для прецизионных исследований поверхности нужно применять цельнопаянную систему из стекла и кварца без всяких кранов, шлифов или окошек на прокладках и прогревать реакционную трубку при 1000°, соединительные трубки при 500° и кожух весов при 300° С. Обезгаживание самих весов выполнимо благодаря тому, что они изготовлены из кварца, но применение различных механических или оптических приборов, предназначенных для работы в вакууме, приводит к нежелательному усложнению конструкции. [c.71]

Поскольку основная задача — исследование поверхности, то приготовление проб для анализа имеет огромное значение. Реальная методика анализа определяется целью исследований. Анализ начинается с прогрева после первоначальной откачки для достижения наилучшего вакуума. В приборе фирмы Nu lide вакуум в области мишени равен 4-10 лж рт. ст. фоновые газы состоят из всегда присут-ствуюш,их СО и СОг- Рабочее давление 4-10 мм рт. ст. достигается после включения и оптимальной регулировки ионного луча. Если электронный луч выключен, выбитые ионы проходят через ионизирующий источник без помех и спектр в этом случае состоит из вторичных ионов но- [c.351]

В этом приборе волновые свойства электронов работают на нас, а не на снижение четкости сигнала. Напря жение, подаваемое на острие и объект исследования (поверхность), невелико. Ток, который возникает между 1ШМИ, обусловлен лишь квантовым туннельным эффектом, действующим только на очень малых расстояниях. Природа этого эс х )екта связана с тем, что даже в условиях, когда подвижность электрона ограничена жестким энергетическим барьером, существует некоторая вероятность, чтЬ эта непоседливая частица-волна окажется по ту сторону . Туннельный ток резко — экспоненциально — меняется в зависимости от расстояния. Поэтому малейшие неровности на поверхности объекта сказываются на вероятности проскока электрона весьма резко (слоёо ток применительно [c.198]

Еще одна новинка, сведения о которой опубликованы тогда же,— позитронный микроскоп, по принципу действия сходный с электронным. Напомню позитроны при столкновении с электронами айнигилируют, порождая гамма-кванты. Оба позитронных микроскопа, построенных в США, фиксируют это излучение. Те участки объекта, на которых электронная плотность выше, получаются на снимках более темными. Пока эти приборы уступают электронным микроскопам по разрешающей способности и используются лишь для исследования поверхности твердых тел. Од- [c.215]

В ряде случаев можно, видимо, использовать для целей определения границ кинетической области в системах жидкость —жидкость прибор, аналогичный предложенному Данквертсом [И] для исследования процессов адсорбции (рис. 4.7). Прибор, точнее реактор, представляет собою цилиндр, разделенный на две части решеткой-ус-иокоителем с большой долей просветов. Выше и ниже решетки вращаются лопасти мешалки. В реакторе определяются, как обычно, скорости превращений в зависимости от числа оборотов мешалок. Здесь, в отличие от обычных аппаратов, поверхность раздела фаз строго определена, граница последних совпадает с уровнем решетки. Поэтому, рассчитав критерии Рейнольдса и Нуссельта для обеих мешалок, можно точно указать гидродинамическую границу перехода в кинетическую область. Полученные результаты затем можно в нринцине перенести и на другие аппараты. Такой прием хорош [c.74]

Выполнено сравнительное экспериментальное исследование удельных сопротивлений осадков, полученных на воронке с поршнем и на рамном фильтрпрессе с 4 рамами размером 0,2X0,2 м, с использованием водных суспензий окиси цинка, карбоната кальция и карбоната магния при концентрации 20— 150 кг-м- и разности давлений 35-10 —170-10 Па [186]. В частности найдено, что для осадка карбоната магния Вп составляет 0,71—0,72, а бф равно 0,64—0,69 соответственно те же величины для осадка окиси цинка находятся в пределах 0,61—0,69 и 0,77—0,81 (здесь Вп и бф — пористости осадка на фильтре с порщнем и на фильтрпрессе). Отсюда видно большое различие в пористости осадков, образованных на фильтре с поршнем и на фильтрпрессе, причем для осадка карбоната магния бп > Вф, а для осадка окиси цинка еп < Еф. В соответствии с сильной зависимостью удельного сопротивления осадка от пористости оказалось, что Гп отличается в несколько раз от Гф, причем для осадка карбоната магния Гп<Гф, а для осадка окиси цинка Гп>Гф (здесь и Гф — удельные сопротивления осадков, образованных на фильтре с поршнем и на фильтрпрессе). Однако отмечено, что значительное различие между г и Гф не может быть объяснено влиянием одной пористости, а также трением осадка о стенки фильтра с поршнем. Указано на различие в структуре осадков на фильтрах обоих типов. Высказано соображение о необходимости усовершенствования методики работы на фильтре с поршнем, без чего значения удельного сопротивления осадка, полученные на этом лабораторном приборе, не могут быть использованы для практических расчетов. Для ясности следует сказать, что рамный фильтрпресс с вертикальной поверхностью фильтрования представляет собой недостаточно подходящий объект для сравнения с фильтром с поршнем, поскольку в фильтрпрессе наблюдаются специфические явления, связанные со сползанием осадка и образование.м мостиков, которые затруднительно учесть в теоретическом сопоставлении. [c.182]

Сдвиговый иластометр (рис. 4.9) является прибором, предназначенным для измерения вязкости высококоицептрированных систем, включая чистый сополимер. Основная часть-прибора состоит из двух рифленых пластинок 1 vl 2 размером 50 X 30 X 8 мм и 50 X 30 X 4 мм, первая из которых крепится неподвижно к основанию прибора на нее наносится слой исследуемого материала 3 толщиной 5 мм, а сверху укладывается пластина 2, на которую действует сдвигающая сила F. Для исключения пристенного скольжения исследуемый материал при сополимеризации между пластинами затекал в углубления рифов пластин, равномерно покрывая всю их поверхность. В качестве отсчетного устройства использовался микроскоп 4, жестко закрепленный на рабочей части прибора и имеющий возможность в то же время перемещаться вдоль пластии, чтобы отсчетная шкала находилась все время в поле микроскопа. В связи с необходимостью проводить исследования при повышенных температурах рабочие пластины помещены в термостат 5. [c.320]

При высоких температурах (200—450 °С) на приборе Папок изучали адге- зию при отрыве стального кольца от поверхности пленки нефтепродукта, заключенного между кольцом и металлическим диском. На основании исследований [Продуктов прямогонного происхождения Ишкильдин [50] пришел к выводу, что адгезия зависит от соотношения групповых компонентов в нефтяных остатках и с повышением концентрации асфальтенов она возрастает. Кроме того, адгезия зависит от природы, дисперсности и состояния контактной поверхности. С увеличением адсорбционной способности и химической активности поверхности коксов адгезия пеков к ним возрастает. В общем случае факторы, обусловливающие повышенную адгезию жидких продуктов к углеродам (температура, время контакта, давление и др.), приводят к получению углеродонаполненных систем и далее конечных продуктов с хорошими эксплуатационными показателями. [c.78]

Для исследования процесса структурирования в высокотемпературной области Э. X, Зиннуровым предложен многофункциональный высокотемпературный вискозиметр (вискозитрон), работающий в комплексе с электронно-вычислительной и микропроцессорной техникой [181]. Прибор является универсальным в качестве измерительных поверхностей в зависимости от типа и консистенции исследуемого материала допускается подсоединение следующих измерительных систем биконус — конус, конус — плоскость, цилиндр — цилиндр. На таком приборе можно измерять вязкость нефтепродуктов в пределах (1-10 — 1-10 ) Па-с. С помощью впскознтрона возможно исследование также различных нефтепродуктов (нефти, смолы, пеки, битумы, пасты, суспензии, эмульсии). Результаты измерений вязкостно-кинетических функций и температурно-времепного режима могут быть представлены на дисплее ЭВМ, графопостроителе, что существенно повышает эффективность исследований, позволяя оперативно находить характерные закономерности реологических свойств изучаемых объектов. [c.139]

В сжощметр--с вращаютимся,,,коаксиальным ляет работать при постоянной скорости сдвига и при постоянном цапряжещш.сдвига. Он может быть весьма полезен для исследований неньютоновских и э.тЗс тичных материалов при условии, что в случае сдвига в каком-либо одном направлении может быть достигнуто равновесие. Схема вискозиметра с вращающимся цилиндром показана на рис. 3.2 [61]- Внешний и внутренний цилиндры укреплены в зажимах, удерживающих эти цилиндры в заданном положении. Расплавленный битум заливают в зазор между цилиндрами. На поверхности металла (латуни), соприкасающегося с битумом, делается насечка, чтобы избежать скольжения на поверхности контакта его с битумом при наложении больших напряжений сдвига. Поверхность зазора покрыта крышкой для предотвращения выползания эластичных битумов из рабочей части прибора. [c.108]