Вогнутые решетки

Рис. 5.11. Схема спектрографа с вогнутой решеткой, показывающая принцип круга Роуланда

Рис. 8.1-10. Схематическое изображение полихро-матора, основанного на использовалии вогнутой решетки. 1 — источник излучения 2 — фокусирующая система 3 — входная щель 4 — вогнутая решетка 5 — круг Роуланда б — окружность решетки 7 — выходная щель.

Вогнутые решетки сами фокусируют свет и строят изображение щели. Поэтому объективы вовсе не нужны. Существует много различных схем спектральных аппаратов с вогнутыми решетками. На рис. 71 показаны две из них. Диаметр круга (круг Роуланда), на котором расположены щель и фокальная поверхность, равен радиусу кривизны поверхности решетки. [c.98]

В нижней части реактора размещен слой фарфоровых шаров, служащий опорой для нижнего слоя катализатора п обеспечивающий равномерный вывод продукта из аппарата. Над штуцером вывода продукта установлен сборник он состоит из обечайки, имеющей прорези, и перфорированной вогнутой решетки, которые обтянуты сеткой. [c.230]

Рис. 72. Круг Роуланда для вогнутой решетки

Диспергирующие устройства в спектрометрах бывают двух типов призмы и дифракционные решетки. В большинстве современных приборов используются дифракционные решетки благодаря их более высоким дисперсионным характеристикам. Дифракционная решетка состоит из периодических параллельных штрихов или линий на плоской или вогнутой поверхности, которые налагают периодическое изменение на амплитуду и фазу падающей волны. Первая дифракционная решетка была создана Фраунгофером (1821 г), а первая вогнутая решетка была нарезана Роуландом (1890 г.). В настоящее время используют только отражательные решетки. [c.25]

Изменение линейной дисперсии приборов с вогнутой решеткой зависит от способа ее установки. Дисперсия спектрографа остается практически постоянной,если падающий и разложенные лучи образуют с поверхностью решетки углы, близкие к прямому. [c.101]

ДФС-9 Вогнутая решетка Радиус кривизны 1 30 4,i г кассета - [c.140]

Хотя описано большое число оптических схем, в которых используют стандартные решетки, в настоящее время применяют лишь ограниченное число конструкций. Полихроматоры снабжены вогнутыми решетками и основаны главным образом на конфигурации Пашена—Рунге. Вогнутые решетки служат не только для дифракции, но и для коллимирования. [c.29]

Схема Пашена—Рунге основана на использовании круга Роуланда. Сферическая вогнутая решетка радиуса К установлена по периметру окружности с диаметром, равным Я (рис. 8.1-10). Штрихи решетки перпендикулярны плоскости окружности. Одним из преимуществ такой схемы является то, что если входная щель установлена на круге, то оптическая система "ает дифрагированные лучи, которые также сфокусированы на круге. Преимущество такой схемы заключается в том, что круг или часть круга легко изготовить. [c.29]

В основу конструкции спектрографов с такими вогнутыми решетками (рис. 5.11) положено важное геометрическое свойство (открытое Роуландом в 1882 г.).- Строят большую окружность Я (называемую кругом Роуланда), радиус кривизны которой составляет половину радиуса кривизны решетки О при этом окружность касается центра дифракционной решетки. Можно показать математически, что если входная щель расположена на этой окружности, то дифрагированное излучение собирается в фокусе также на этой окружности. Часть излучения, которая не диспергируется, отражается от решетки как от вогнутого зеркала и фокусируется на окружности в точке Р, известной под названием главного фокуса или центрального изображения. Начиная от точки Р в обоих направлениях по кругу будут находиться в фокусе спектральные изображения щели, причем значения соответствующих длин волн будут почти пропорциональны их расстояниям от точки р. [c.91]

На установках, сооружавшихся в более позднее время, применяли вогнутые решетки (рис. ХП-8, б), здесь высота слоя увели- [c.508]

Наилучшими типа.ми неподвижных газораспределительных устройств являются пористые или перфорированные (с большим числом отверстий) вогнутые решетки плоские пористые, конические колосниковые решетки типа ГИАП с выводом крупных кусков материала через центр с помощью механического выгрузочного устройства распределители Лейна—Винклера система сопряженных конусов сотовые одно- и двусторонние решетки и подины с направленным дутьем. Для работы в жестких температурных условиях и в агрессивных средах лучшим вариантом, вероятно, является колпачковое распределительное устройство. Доля [c.538]

Браун [991] определил волновые числа кантов полос, соответствующих значениям V = 7—21, и" 5 системы В <- X и у 21, ь" = 1—5 системы Л <- X. Значения колебательных постоянных основного состояния ВГг, найденные Брауном в этой работе, равны сое = 323,86, со Хе = 1,15 В дальнейшем Браун [994] сфотографировал спектр Вга в третьем порядке 21-футовой вогнутой решетки с дисперсией 0,8 к/мм. В спектре наблюдалось 12 полос с разрешенной вращательной структурой, соответствующих переходам с уровней V" = 2—4 состояния на уровни V = 7—13 состояния На основании данных, полученных в работах [991, 994], Браун определил значения колебательных и вращательных постоянных Вга в состояниях Х Х иБ П +. Системы полос В [c.268]

Наиболее тщательное исследование системы полос В Е" — Х Е было выполнено Дженкинсом и Ласло [2234]. Эти авторы сфотографировали полосы секвенций Аи = О v, v 5) и Ди = 1 (u = 3, 4, 5, 6 и v" = 2, 3, 4, 5) во втором порядке спектрографа с вогнутой решеткой (дисперсия 0,96 КЫм). В результате анализа колебательной и вращательной структуры системы полос В Е — Х Е Дженкинс и Ласло определили значения молекулярных постоянных SiN в состояниях Х 2" и В Е , приведенные в табл. 198. [c.667]

В 1954 г. Зееман и Риттер [4376] вновь исследовали систему полос ЛШ — Спектр наблюдался при введении алюминия в графитовую трубку печи Кинга. Печь наполнялась чистым водородом, давление которого изменялось от 40 до 50 мм Hg. При достижении температуры 2100° С спектр фотографировался как в излучении, так и в поглощении во втором и третьем порядках 21-футовой вогнутой решетки. Найденные в результате анализа тонкой [c.754]

Долгое время вращательные постоянные A1F в основном электронном состоянии оставались неизвестными, так как из-за перекрывания соседними полосами тонкая структура полос системы ЛЧ1 — X S не могла быть разрешена даже в седьмом и девятом порядках 21-футовой вогнутой решетки [3028], а другие системы, связанные с переходами в состояние Х Е, расположены в вакуумном ультрафиолете. Только в 1956 г. Барроу, Джонс и Смит [657] на основании измерений расстояний между кантами Р- и Q-ветвей и между кантами 1 - и Q-ветвей 24 полос системы Л Ш —Х Е, а также значений вращательных постоянных в состоянии ЛЧ1, [c.757]

Дифракционные решетки являются диспергирующим устройством, заменяющим во многих случаях призму. Они незаменимы в далеких ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, где неизвестны прозрачные материалы для изготовления призм и преломляющей оптики. Рассмотрим здесь работу плоской дифракционной решетки (вогнутая решетка будет рассмотрена в 19). [c.19]

Действие вогнутой решетки определяется оптической разностью хода, создаваемой соседними элементами решетки в месте изображения щели. [c.115]

Учет влияния координаты z, которым мы ранее пренебрегали, приводит к появлению астигматического действия вогнутой решетки. [c.119]

Знаки углов ijj и ф определятся правилом, сформулированным в 4. Таким образом, для вогнутой решетки справедливо то же условие для главных дифракционных максимумов, что и для плоской. [c.116]

Выражение (147) показывает, что в вертикальном направлении вогнутая решетка действует как вогнутое зеркало и дает обратное [c.120]

Условие (138) обозначает, что точки Л и Л должны лежать на круге, диаметр которого равен радиусу кривизны вогнутой решетки д (рис. 72). Этот круг называется кругом Роуланда. Таким-образом, если входную щель спектрального прибора и решетку с радиусом кривизны д установить на круге, диаметр которого равен 5, то такая решетка будет фокусировать спектр на круге Роуланда и фокальная кривая определится выражением [c.117]

Рис. 75. Астигматическая разность вогнутой решетки а — горизонтальное сечение б — вертикальное сечение

Наличие члена х дает дополнительную разность хода, которая исказит изображение. Это искажение происходит от того, что вогнутая решетка расположена на круге Роуланда, [c.118]

Рис. 5.15. Стигматическая установка Уодсворта для спектрографа с вогнутой решеткой

Под пятой зоной, заполненной катализатором и водяным паром, расположена вогнутая решетка с пропущенными сквозь нее длинными патрубками, по которым катализатор опускается из реактора в регенератор. Вместе с катализатором в регенератор непрерывно проникает и часть водяного пара. Таким образом, создается гидравлический загвор. [c.244]

Отечественная промышленность выпускает квантометры ДФС-10, в основу которых положен по-лихроматор с вогнутой решеткой, имеющей 1200 штр/мм и фокусное расстояние 2,5 м. [c.149]

Рис. 5.12. Установка Игля для спектрографа с вогнутой решеткой

Выпуклые решетки отличаются от плоских болыыей прочностью [317] и обеспечивают хорошее распределение парового потока по сечению аппарата. В современных аппаратах устанавливают вогнутые решетки, что приводит к увеличению глубины слоя по направлению к центру. Сопротивление решетки, через которую взвесь катализатора подается в реактор, должно быть около 600 мм вод. ст. [738] при уменьшении перепада давлений возможен провал частиц под решетку с последующим их возвратом в слой. Такая циркуляция частиц через решетку приводит к усилению эрозии отверстий решетки и еш,е большему снижению перепада давлений. Решетки изготовляются из жароупорной стали диаметр отверстий от 35 до 50 мм, доля живого сечения ф составляет около 3% [738]. Описаны [c.413]

Наиболее детально спектр J0 был проанализирован Дьюри, Леги и Рамзи [1427]. В этой работе спектр J0 возбуждался в диффузном пламени водорода, насыщенного парами йодметана, и регистрировался во втором порядке 21-футовой вогнутой решетки. В спектре J0 удалось разрешить вращательную структуру 8 полос (О—2, О—3, О—4, О—6, 2—О, 2—2, 2—9, 3—0) и измерить канты еще 10 полос, не имеющих четкой дискретной структуры Анализ вращательной структуры восьми указанных выше полос показал, что полосы принадлежат системе, связанной с переходом Л П—X U, причем в связи с большим спиновым расщеплением возбужденного Л П-состояния в каждой полосе наблюдалась только одна подполоса Пзд — Рекомендованные в работе [1427] значения молекулярных постоянных J0 в состояниях Х И иЛ П принимаются в настоящем Справочнике и приводятся в табл. 69. Следует отметить, что вычисленные Дьюри, Леги и Рамзи колебательные постоянные J0 с высокой точностью описывают канты всех полос, измеренных как в работе [1427], так и в ранее опубликованных работах [1154, 1428]. [c.282]

Сд. С молекулой Сз связана группа полос, известная в литературе как группа полос 4050 . Полосы Х 4050 А впервые наблюдались в спектре излучения комет [2309] и в спектре поглощения звезд [2716, 3910]. Эти полосы были затем получены в лабораторных условиях при исследовании спектров излучения электрических разрядов [2017, 1834, 1133, 2004], углеводородных пламен [2393, 1425, 1673, 2395, 2396, 2780, 1038, 2781], угольных печей [1655, 3236] и в спектрах поглощения при импульсном фотолизе различных углеводородных соединений [3104, 1048, 2449]. Наиболее полный обзор результатов исследования условий появления и структуры полос дан в работах Розена и Свингса [3485] и Герцберга [2025]. Впервые предположение о том, что излучателем полос является молекула Сд, было высказано Дугласом [1368]. Полосы Я 4050 А были получены им в спектре разряда в смеси ксенона и водорода между угольными электродами. Спектр фотографировался в третьем порядке шестиметровой вогнутой решетки с разрешением примерно 200 ООО. Анализ полос, выполненный в предположении, что они связаны с переходом Ш — 2 линейной трехатомной мо- [c.451]

Анализ вращательной структуры полосы 1—-1 SiH и полос О—О SiH и SiD проводился также Рочестером [34621. Полосы были получены в спектре дуги и сфотографированы во втором порядке 21-футовой вогнутой решетки. Результаты анализа, выполненного Рочестером [3462], несколько отличаются от данных, полученных Малликеном [2979] и Джексоном [2196], поскольку в работе последнего вследствие недостаточного разрешения ряд линий с низкими значениями J был отнесен неверно. В монографии Герцберга [2020] и в справочнике [649] рекомендуются значения постоянных SiH, найденные Рочестером [3462]. Поскольку в работах [2196] и [3462] наблюдались только полосы О—О и 1—1, значения частот колебаний SiH в состояниях Ши А, приведенные в справочниках [2020] и [649], оценивались по формуле Кратцера и имеют невысокую точность. [c.666]

Молекулярные постоянные SiF в основном электронном состоянии Х П , определялись рядом авторов на основании исследования колебательной и вращательной структуры полос систем — ХЩ, — ХЩ и — ХШ. Впервые Асунди и Самюэл [582] на основании анализа колебательной структуры этих систем показали, что они имеют общее нижнее состояние Ш, являющееся основным электронным состоянием молекулы SiF. Основные результаты исследования Асунди и Самуэля были подтверждены Истером [1518], получившим а-, Р- и у-полосы SiF на приборе с дисперсией в 0,78 и 0,58 A/мм. Помимо анализа колебательной структуры а-, P i и у-нолос (по кантам). Истер исследовал вращательную структуру О— 0 полос а- и Р-систем и показал, что в состоянии ХШ спин-орбитальная связь в молекуле SiF имеет характер, промежуточный между случаями Гунда а и й. В дальнейшем это было подтверждено Джонсом и Барроу [2257], которые выполнили тщательный анализ вращательной структуры полосы О—О -системы, снятой в четвертом порядке 21-футовой вогнутой решетки. Рекомендованные в работе [2257] значения молекулярных постоянных SiF в состоянии ХЩ приняты в настоящем Справочнике и приводятся в табл. 198. В книге Герцберга [2020] и справочнике [649] были рекомендованы весьма близкие значения, полученные Истером [1518]. [c.666]

Впервые полосы этой системы были получены Датта [1266] в спектре угольной дуги, содержащей BeF . Спектр регистрировался в первом порядке на спектрографе с вогнутой решеткой(дисперсия 5,5 А/жж).На основании анализа результатов измерений спектрограмм, полученных Датта [1266], Малликен [2974] показал, что полосы связаны с переходом АШ —X I , и нашел уравнение, описывающее положения кантов пяти групп полос, составляющих секвенции Ау = О, + 1 и + 2. Шестая группа полос, расположенная в области 3347—3392 А, в схему Малликена не укладывалась. Поэтому Джевонс [2251] вновь получил и проанализировал систему полос BeF. В спектре, возбуждаемом в дуге и сфотографированном на кварцевом спектрографе (дисперсия 6—4 к/мм в области 3500—3000 А), были измерены волновые числа кантов Qj-ветвей полос с у и v" 8 и волновые числа кантов Ri- и полос с v, 13. В результате обработки полученных данных Джевонс [c.789]

Вращательные постоянные молекулы Mg l экспериментально не определялись, так как даже в четвертом порядке 10-футовой вогнутой решетки разрешить вращательную структуру наблюдаемых полос не удалось. Поэтому приведенное в табл. 240 значение вращательной постоянной Mg l в состоянии Х 2 вычислено по гм с1 = 2,16 + 0,02 A, полученному на основании сопоставления межатомных расстояний в молекулах MgF (1,75 A) [2233], MgF., (1,77 A) [69] и Mg la (2,18 A) [69]. [c.814]

В начале XIX в. Фраунгофер (1821 г.) вместо призмы применил первые, еще грубые, несовершенные дифракционные решетки с 60 и 300 шт1мм и произвел измерения длины волны ряда спектральных линий. Этим было положено начало развитию дифракционных спектральных приборов однако существенный прогресс в этом направлении был сделан Роуландом, построившим делительную машину для нарезания точных дифракционных решеток (1882 г.) с большим числом штрихов на 1 мм. Все основные схемы приборов с плоскими и вогнутыми решетками, а также теория вогнутых решеток были созданы уже к концу XIX в. Существенное развитие эти приборы получили в 30-х гг. настоящего столетия, когда была разработана техника нанесения алюминиевых слоев и нарезания на них решеток с профилированным штрихом появились решетки с концентрацией света в определенных спектральных областях и определенных порядках спектра. Стало возможным создавать дифракционные приборы большой светосилы. Если раньше считалось, что светосильные спектральные приборы могут быть созданы на базе призменных систем, то сейчас дифракционные приборы не уступают призменным по светосиле. [c.48]

Другие основные характеристики вогнутой решетки получатся, если в выражениях (132) и (132а) учесть величины второго и четвертого порядков малости. [c.116]

Учет величины четвертого порядка малости в (132) и (132а) приводит к ограничению размеров вогнутой решетки. [c.118]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология