Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Амплитудный анализ

    Для непрерывной АЭ число превышений заданного уровня и описывается гауссовским законом при широкополосной регистрации и релеевским - при узкополосной, как этого и следует ожидать в соответствии с ранее изложенным. Отклонения от этих закономерностей, как правило, свидетельствуют о существовании нескольких механизмов деформации. Например, амплитудный анализ убеждает, что при скольжении преобладают компоненты эмиссии с малой амплитудой. Если деформация осуществляется как скольжением, так и двойникованием, то амплитудное распределение характеризуется наличием двух пиков, каждый из которых соответствует своему механизму деформации. Таким образом, анализ амплитудного распределения позволяет оценить соотношение между энергиями, необходимыми для скольжения и двойникования. [c.171]


    Третий вариант ответа. Дискриминация сигнала - это потеря какого-то количества информации, содержащейся в исходном сигнале. При многоканальном амплитудном анализе, согласованном по числу каналов с чувствительностью аппаратуры (уровнем аппаратурных шумов), потери информации не произойдет. Отсутствие амплитудного анализа стирает информацию об амп- [c.292]

    Измерения интенсивности -у-источников известной энергии пр Именяют для определения радиоактивных изотопов и элементов, которые могут возникнуть при изготовлении изотопов. Методы измерения в этом случае соответствуют методам рентгеновской спектроскопии. Некоторые принципиальные различия связаны с тем, что в этом случае не электронные оболочки, а ядра являются источниками излучения. Широко используется амплитудный анализ (гл. 2) со сцинтилляционными счетчиками. Анализатор часто имеет много каналов. Сцинтилляционные счетчики являются отличными детекторам , так как применение массивного кристалла практически приводит к наиболее полному поглощению гамма-лучей высокой энергии. Идентификация и исследование свойств радиоактивных изотопов такими методами является существенной частью программы исследований по атомной энергии. Сцинтилляционная регистрация может быть использована и для воздушной разведки радиоактивных минералов [282]. Она позволяет также упростить д улучшить надежность активационного анализа с иопользованием нейтронных источников [283]. [c.308]

    Схема прибора, примененного для решения аналитических задач методами рентгеновской эмиссионной спектроскопии, приведена на том же рисунке. Может быть использован только пропорциональный счетчик (с амплитудным анализом импульсов, см. 2.13), а если необходимо получить лучшую разрешающую способность, то можно воспользоваться спектрометром с изогну- [c.309]

    Наличие диспергированной фазы в электропроводной жидкости существенным образом изменяет ее проводимость. Сущность кон-дуктометрического метода заключается в следующем через короткий капилляр из одного объема в другой прокачивается гетерогенная система. В объемы погружены электроды, к которым подведено напряжение. В момент прохождения между электродами частиц (капель) сопротивление межэлектродной области меняется. В соответствии с этим в цепи прибора формируется импульс электрического напряжения, амплитуда которого в основном определяется размером прошедшей частицы, а длительность — временем прохождения частицей межэлектродной области. Таким образом, прохождению некоторого количества частиц соответствует серия электрических импульсов. Для нахождения распределения частиц по размерам проводится амплитудный анализ последовательности импульсов с помощью дискриминаторов. [c.212]


    Анализы Ат и I проводили путем подсчета сцинтилляций от жидких образцов в кристалле NaJ(TI). Другие трансурановые элементы распадаются таким образом, что излучается очень мало фотонов, поэтому необходим подсчет а-частиц и использование амплитудного анализа импульсов. Эти [c.40]

    Измеряют содержание для определения химического выхода и проводят амплитудный анализ импульсов альфа-излучения (примечания 4 и 5). [c.101]

    Основная часть радиоактивности в этом специфическом процессе принадлежит и в значительно меньшей степени Ри , и Очистка от этих альфа-излучателей хорошая. По описанной методике был выполнен анализ раствора, содержащего 2-105 альфа-отсчетов Ыр в 1 мин на 1 мл и 5,6-10 альфа-отсчетов иония в 1 мин на 1 мл. Амплитудным анализом импульсов альфа-частиц показано, что в конечной фракции содержится чистый ионий и не содержится нептуния, В то.м случае, если определяется очень малая активность иония при высокой концентрации других альфа-излучателен, ЭТО ] анализ необходимо периодически повторять. [c.128]

    С лантаном, используемым в качестве носителя при экстракции иония этим реактивом. Методика пригодна также для выделения изотопов тория без носителя. Хотя методика предназначалась для определения иония в остатках от процесса фторирования урана, ее можно использовать для определения иония в различных водах и горных породах. Ионий может быть выделен из сложной смеси элементов осаждением гидроокиси или фторида лантана с последующей экстракцией раствором теноилтрифторацетона в ксилоле. Если анализируемый материал содержит природный торий, то в заключение должен быть выполнен амплитудный анализ импульсов альфа-частиц, для того чтобы отличить ионий от других изотопов тория. [c.130]

    Экспериментальное определение коэффициента дисперсии, проделанное в работе [19] этими двумя способами, привело к разным результатам, а именно коэффициент дисперсии, найденный из анализа фазового сдвига, оказался примерно на 30% больше соответствующей величины, найденной с помощью амплитудного анализа. Там же было высказано предположение, что это может быть следствием некоторой задержки метки в среде, т. е. наличия в среде застойных зон. [c.198]

    Амплитудный анализ [23]. Если величина, выходного импульса со счетчика или ионизационной камеры пропорциональна рассеянной в детекторе энергии, то измерение амплитуд импульсов может оказаться эффективным способом определения энергии. В некоторой степени селекция импульсов осуществляется уже в простейших пересчетных схемах посредством дискриминатора , который позволяет регистрировать лишь импульсы, ббльшие некоторой минимальной величины. При использовании калиброванного регулируемого дискриминатора скорости счета можно измерять в функции уровня дискриминации получаемая при этом кривая называется интегральным амплитудным спектром. Производная от этой кривой (дифференциальный амплитудный спектр) дает распределение импульсов по амплитудам. [c.161]

    Амплитудный анализ делается гораздо более мощным и быстрым методом, если вместо одноканального анализатора пользоваться многоканальным, в котором импульсы одновременно и в соответствии с амплитудой сортируются по большому числу следующих друг за другом каналов. Был создан целый ряд такого рода приборов в наиболее часто встречающихся из них используется конверсия амплитуды во время, так что при этом с помощью генератора и пересчетной схемы сортируются различные временные интервалы. Хранение данных можно обеспечить различными способами, причем наиболее общей является система памяти, основанная на [c.161]

    С помощью схемы совпадений можно установить, например, оказывается ли в результате -распада конечное ядро в основном состоянии или же р-излучение сопровождается испусканием у-кванта в таком эксперименте исследуемый образец помещается между р- и у-счетчиками и регистрируются совпадающие во времени импульсы. Подобным же методом при использовании надлежащим образом выбранных детекторов, а также, возможно, с помощью поглотителей или амплитудной дискриминации, обеспечивающих более избирательную регистрацию, можно изучить совпадения у — у, а — у, X — у, р — е , — у и т. д. Измерение совпадений наряду с амплитудным анализом по одному или обоим каналам дает особенно мощный метод для детального изучения схем распада. Некоторые из существующих многоканальных анализаторов являются так называемыми двумерными анализаторами это означает, что их можно использовать для одновременной регистрации совпадений между каждой из п амплитудных групп от одного детектора и каждой из т групп от другого. Таким образом, из 4096-канального анализатора можно сделать двумерную систему — 64-64 или 32-128. Система для вывода информации из таких двумерных анализаторов может принимать различные формы, и анализ полученных на этих установках данных часто требует применения электронных вычислителей. [c.163]


    Образец элементного мышьяка (100 мг) помещают в кварцевый бюкс и одновременно со стандартами определяемых элементов облучают в канале ядерного реактора потоком тепловых нейтронов 1,2-101 нейтрон см -сек в течение 20 час. Облз ченный образец растворяют в 10 мл смеси (1 1) брома и бензола и приливают мл2Ъ N Н2804, в которую предварительно внесены носители определяемых элементов по 10 г каждого. Фазы переме-пшвают 3 мин. Экстракт отделяют, к водной фазе приливают 10 мл раствора брома в бензоле, содержащего 10 мг стабильного изотопа мышьяка, и снова экстрагируют. Водный слой выпаривают. Анализ заканчивают идентификацией спектров у-излучения и амплитудным анализом импульсов, для чего используют полупроводниковый у-спектрометр с Ое—Ы-детектором и 4000-канальным анализатором импульсов. Со стандартами определяемых элементов проводят те же операции, что и с анализируемым образцом. [c.189]

    Итак, первый вариант ответа. Может ли сильная корреляция данных при двух уровнях дискриминации являться следствием неправильного их выбора Безусловно. Для этого достаточно выбрать уровни 7д1 и имало отличающимися, например 7д1 = 1 В, V 2 = 1,05 В. Но говорить о неправильности такого выбора можно только в том случае, если Ваш прибор осуществляет двухканальный амплитудный анализ. Тогда действительно, применение второго канала практически бесполезно при малых различиях уровней дискриминации. Но если, к примеру, указанные выше уровни соответствуют соседним каналам многоканального амплитудного анализатора, то выбор их вполне логичен. [c.292]

    Амплитудный анализ импульсов. Как видно из табл. 14.2, и- и (3-частицы, возникающие при радиоактивном распаде, сопровождаемом излучением у-лучей, имеют различную энергию. Часто можно идентифици-30000 [c.219]

    Большая путанлца возникает вследствие того, что термины амплитудный анализ, амплитудная дискриминация и амплитудная селекция иногда употребляются слишком произвольно или равнозначно. Мы будем придерживаться Международного словаря по физике и электронике [54, сгр. 715, 716], где для аппаратуры, выполняющей соответствующие функции, даны следующие определения  [c.60]

    Термин амплитудный анализ может с успехом заменить менее строгий термин недисперсионный спектральный анализ и другие подобные термины, применяемые в работах по рентгеноспектральному анализу. [c.60]

    Метод, который описан для определения иония (Th230) в образцах кораллов, непригоден для растворов продуктов деления, так как плутоний, присутствующий в этих растворах, концентрируется в конечных фракциях и существенно мешает выполнению амплитудного анализа импульсов. Для того чтобы устранить это затруднение, плутоний отделяется из концентрированной солянокислой среды непосредственно перед адсорбцией тория на катионообменной колонке. [c.88]

    Наилучшим индикатором для использования в анализе на Th23> является возможно более чистый от Th 2 . Так как ТЬ зо и Th s являются альфа-излучателями, то на основании результатов амплитудного анализа импульсов альфа-частиц на платиновом диске определяют содерлоние второго. Энергия альфа-частиц T.V (по сравнению с энергией альфа-частиц Th ) значительно ближе к таковой Th ", поэтому поправки на хвосты значительно больше и имеется больше причин ошибок, если в индикаторе Th s присутствует Th , Этот индикатор получается по реакции (d, 2п) из Th  [c.96]

    Счетно-регистрирующие устройства (СРУ) предназначены для регистрации рентгеновского излучения и конструктивно выполняются, как правило, в виде отдельных приборов. В СРУ происходит отбор поступающих с детектора импульсов, их регистрация и представление в форме, удобной для наблюдения, расчетов или ввода в управляющие или вычислительные устройства, в которых вычисляются концентрации элементов согласно формулам, связывающим интенсивность их флуоресценции с содержанием. В основном измерительная функция СРУ осуществляется в такой последовательности. После усиления в предусилителе детектора импульсы поступают на линейный широкополосный усилитель. Затем дифференциальным дискриминатором осуществляется амплитудный анализ импульсов. Использование дифференциальных амплитудных дискриминаторов как в кристалл-дифракционном, так и в бескристальном анализе в значительной степени повышает разрешающую способность обоих методов, позволяет резко снизить фон от наложения спектров разных порядков отражения [см. уравнение (I)], от рассеяния рентгеновского излучения на деталях прибора, от космического и прочих фоновых излучений, обеспечивает надежность результатов анализа. Дифференциальный амплитудный дискриминатор представляет собой электронную схему из двух интегральных дискриминаторов, один из которых определяет [c.57]

    В настоящем разделе будет показано [25], что от наличия застойных зон и от их свойств д ействительно зависит соотношение между О/ и Величины D и означают коэффициенты дисперсии, найденные соответственно из фазового и амплитудного анализа. [c.198]

    Выбор схемы зависит от применяемого счетчика. Для счетчиков Гейгера — Мюллера не требуется усилитель, большие коэффициенты пересчета (>100) также, как правило, не нужны (из-за ограничений, накладываемых на скорость счета мертвым временем), а хорошая стабилизация напряжения не очень существенна. Для сцинтилляционных счетчиков желательно иметь совершенную регулировку напряжения как сцинтилляционные, так и пропорциональные счетчики нужно оснащать стабилизированными ненерегружающимися усилителями с коэффициентами усиления примерно от 10 до 10 . Усилители могут быть и нелинейными, если только счетчики не используются для амплитудного анализа. [c.160]

    Методы анализа, пригодные для характеристики акустической эмиссии, многочисленны. Из-за одновременного существования многих источников шума, а также из-за изменения вида волн, как при прохождении через образец, так и в детекторе, по акустической эмиссии образцов покрытий очень трудно проанализировать сложные сигналы, чтобы получить информацию об исходном источнике сигнала. Существует слишком мало теоретических или экспериментальных работ с модельными системами. Сложная техника частотного или амплитудного анализа обычно мало приемлема, хотя последняя может дать информацию о резком изменении механизма разрушения покрытия, например, если наблюдается переход от микро- к макрорастрескиванию при обычных величинах напряжения. Для характеристики покрытий предлагается также использовать простые методики анализа, такие как построение графиков зависимости числа колебаний от общего значения напряжения. На основе этих графиков можно проводить анализ изменения свойств покрытия при натурных испытаниях, изучение влияния изменений рецептуры лакокрасочного материала на механические свойства и т. п. Пример такого использования приведен на рис. 13.6. Видно, что иа алкидные пленки сильное влияние оказывает влага и в большинстве случаев происходит ухудшение адгезии. [c.416]


Смотреть страницы где упоминается термин Амплитудный анализ: [c.264]    [c.293]    [c.565]    [c.61]    [c.39]    [c.41]    [c.87]    [c.96]    [c.97]   
Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей (1964) -- [ c.78 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте