Анализ фазовый электронографический

Точность определения периодов кристаллической решетки по электронной дифракции по сравнению с рентгеновской дифракцией невелика. Однако преимуществом электронографии является то, что при помощи ее можно получить информацию для кристаллов вещества размером 2—20 нм и их субмикроколичеств. Это же предъявляет высокие требования к чистоте проведения анализа, так как мельчайшие загрязнения на поверхности объекта дают собственную дифракционную картину. Электронографическим анализом решаются те же задачи, что и рентгенографическим анализом определение фазового состава и кристаллической структуры вещества, его текстуры, ориентировок и т. п. Метод электронографии применяют для анализа тонких [c.102]

Если продукты коррозии представляют собой компактные, плотно прилегающие к металлу пленки, то фазовый (рентгенографический, электронографический микроскопический, спектральный и др.) анализ производят непосредственно на образце. [c.130]

Данные электронографического анализа подтверждают, что закономерность изменения фазового состава по толщине окалины при циклическом окислении такая же, как и при непрерывном (табл. 16). Необходимо отметить, что при каждом охлаждении плоских образцов отслаивание охватывает не всю поверхность, а только часть ее. При этом-микродобавки заметно снижают интенсивность отслаивания, что согласуется с результатами многих исследований [ 36 - 38]. [c.55]

Построение реальных диаграмм состояния сводится к определению опытным путем температур фазовых превращений, характера и состава фаз, находящихся в данной системе в равновесии при различных температурах. Эти исследования производятся различными методами химического и физико-химического анализа — термическим, микроскопическим, электронно-микроскопическим, рентгенографическим, электронографическим, локальным рентгеноспектральным и другими методами анализа. Иногда используют также дилатометрические исследования, изучение электросопротивления, твердости и других свойств материалов. [c.281]

Контроль полученного продукта можно производить с помощью химического анализа, а также путем измерения удельной поверхности, пористости, с помощью фазового рентгеновского или электронографического анализа и т. п. [c.37]

Миркин А. И., Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов, Москва, 1961. Описаны общие методы рентгеноструктурного анализа и применение его для фазового анализа, определения периодов кристаллической решетки, напряжений первого рода, размеров кристаллитов и блоков, определения микронапряжений и искажений кристаллической решетки, определения преимущественной ориентировки, электронографический и нейтронографический анализы. [c.104]

Следовательно, такая кристаллизация не может быть обнаружена не только невооруженным глазом, но и при рассматривании образцов в оптическом или в электронном микроскопе. Более того, даже обычными методами рентгеноструктурного и электронографического анализа образцов полимерных веществ, если они в результате вытяжки подвергнуты предварительно ориентации, не всегда можно установить возникновение кристаллической фазы в полимерах. Вот почему методы обнаружения фазового превращения в высокомолекулярных соединениях заслуживают специального рассмотрения. [c.169]

РЕАЛЬНЫЕ КРИСТАЛЛЫ. РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЕ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЧЕСКИЕ, НЕЙТРОНОГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ФАЗОВОГО АНАЛИЗА [c.2]

В книге рассматриваются физико-химические и кристаллохимические элементы теории полупроводников элементы теории симметрии и теории кристаллической решетки вопросы физико-химического, рентгенографического, электронографического и нейтронографического фазового анализа, химической термодинамики и кинетики, включая диффузионную кинетику. Особое внимание уделено влиянию термодинамических условий синтеза на свойства полупроводников и проблеме зависимости между энергетическими, механическими и электрохимическими их свойствами. Второе издание существенно переработано и дополнено. [c.2]

Чаще всего задачами электронографического анализа являются те же задачи, которые решаются и в рентгеноструктурном анализе определение кристаллической структуры, проведение фазового анализа, определение текстуры и ориентировок. [c.228]

Из всех перечисленных методов однозначное заключение о наличии или отсутствии кристаллической фазы можно сделать только на основании структурных методов исследования — рентгеновского и электронографического структурного анализа. Осторожнее всего следует относиться к результатам, полученным на основании исследования двойного лучепреломления, наличие которого свидетельствует лишь об ориентации цепей полимера, но не о его фазовом состоянии. [c.89]

Применение рентгенографического, электронографического анализа и метода ЭПР к изучению структуры окислительных контактов совместно с химическим анализом твердого тела позволило установить фазовый состав полупроводниковых и металлических катализаторов. [c.27]

С помощью электронографического анализа можно в принципе решать те же задачи, что и рентгенографическим анализом исследование кристаллической структуры, проведение фазового анализа, определение межплоскостных расстояний и периодов решетки, определение текстуры и ориентировки кристаллов и т. д. Однако особенности волновых свойств пучка электронов обусловливают и определенную специфику их использования, а также преимущества и недостатки по сравнению с рентгенографическим методом исследования кристаллов. Преимущество электронограмм заключается прежде всего в том, что в связи с малой длиной волны и сильным взаимодействием электронов с веществом этим методом можно получить резкие и интенсивные рефлексы при меньших размерах кристаллов и-меньшем количестве вещества, чем при рентгенографическом анализе, В рентгенографии, например, расширение линий начинается при р.эзмере частиц 500—900 А, а в электронографии оно становится заметным лишь при размерах 20—30 А. Интенсивность электронного луча гораздо больше, а необходимая экспозиция гораздо меньше, чем рентгеновских лучей, что дает существенные методические преимущества. Интенсивность отражений при дифракции электронов обычно настолько велика, что позволяет визуально на флюоресцирующем экране наблюдать дифракционную картину. Указанные особенности электронографии делают ее особенно ценной, например, при исследовании зародышей новых фаз. Электронография может использоваться также при изучении положений легких атомов в кристаллической решетке, хотя для этого более пригодна нейтронография, [c.105]

В области глубоко переохлажденного состояния ниже 420 Ч11 иодат лития кристаллизуется в форме плаётинок, ограненных с одного ребра пирамидальными гранями. Эти кристаллы 7-модификации размерами до 5x5x1 мм удается закалкой в жидком азоте охладить ниже точки фазового перехода 200°С) без разрушения. Однако при рентгенографическом и электронографическом анализе они быстро переходят в р фаау, и определить их структуру невозможно [231]. На рис.44 показана схема фазовых превращений различных модификаций иодата лития. [c.101]

По внешнему виду большинство высокополимерных веществ представляет собою твердые порошки или вещества, подобные каучуку. Созданная в начале 30-х годов нашего столетия Марком и Мейером мицеллярная теория, по которой все полимеры построены из мицелл-кристаллитов, как уже отмечалось, совершенно отвергнута. В настоящее время методами рентгенографического и электронографического структурного анализа установлено, что при комнатной температуре лишь очень немногие, с сравнительно небольшим молекулярным весом, полимеры (такие, как полиэтены и полиамиды) действительно обладают кристаллической решеткой подавляюшая же масса высокополимеров при комнатной температуре обладает не кристаллической, а жидкостной (аморфной) структурой. Это положение экспериментально и теоретически обосновано в работах В. А. Каргина с сотрудниками, которые также показали, что аморфно-жидкие линейные полимеры могут находиться в трех физических состояниях—стеклообразном, высокоэластическом и вязкотекучем—и ввели понятие о температурах фазовых переходов для этих состояний. [c.169]

Здесь мы касаемся лишь некоторых очень узких вопросов теории, и.меющих отношение главным образом к обоснованию важных методик фазового анализа — термографии, микроскопического анализа, построению диаграмм состояния, чтобы в дальнейшем остановиться на рентгенографических, электронографических и нейтронографиче- [c.119]

Ингибиторы донорного действия достаточно полярны (ОПИ = 20—80%) и защищают как черные, так и цветные металлы, так как образуемые ими хемосорбционные соединения не растворяются в масле и хемосорбционная фаза имеет значительную энергию связи с металлом. Об образовании хемосорбционных защитных пленок в этом случае свидетельствуют показатели ОПС—ООС, ярко выраженный эффект последействия на черных и цветных (металлах, сохранение защитной эффективности пленок при температурах до180°С. Электронографические исследования и обработка электронограмм методом фазового анализа позволили установить, что ингибиторы донорного действия резко меняют фазовый состав поверхностного слоя металла. В этом случае начинают преобладать продукты взаимодействия металла, например меди, с (Кислородом активных групп (NO2 или ЗОзМе) [15]. Особенно полярны ингибиторы пассивирующего действия, содержащие нитрогруппы, с олеофильно-гидрофильным балансом, близким к таковому для водомаслорастворимых ПАВ, например нитрованный окисленный петролатум, ОПИ которого достигает 90—957о- В случае если на металле присутствуют положительно и отрицательно заряженные участки, такие соединения будут адсорбироваться и образовывать хемосорбционные соединения прежде всего на положительно заряженных, электроноакцепторных участках, т. е. применительно к процессам электрохимической коррозии — на анодных участках корродирующего металла. [c.155]

При оценке результатов ренге-ноструктурного анализа не следует забывать, что эти данные характеризуют фазовый состав поверхностного слоя глубиной в несколько микрон. Тончайшие слои, толщина которых не превышает 1—2 мк, не всегда могут быть исследованы при помощи рентгеновских лучей, хотя их строение представляет большой интерес, так как даже самые тонкие слои могут иметь значение для антифрикционных свойств металла. Поэтому в проводившемся исследовании рентгеноструктурный анализ в ряде случаев был дополнен электронографическим анализом, характеризующим фазовый состав поверхностных слоев глубиной менее микрона. [c.170]

Рентгеноструктурный и электронографический анализы могут оказывать ценную помощь при исследовании сульфидирования, гак как дают возможность быстро и точно определить наличие сульфидов и других фазовых составляющих, характер и глубину слоя. При этом сопоставление данных рентгеноструктурного и электронографического анализов и испытаний на трение подтверждает, что повышение противозадирных свойств при сульфидировании связано, в первую очередь, с образованием слоя сульфидов железа, однако значение имеет не только качественный, но и количественный характер покрытия чем больше концентрация сульфидов и глубина сульфидированиого слоя, тем сильнее эффект. Хороший результат получается также и в тех случаях, когда структура поверхностного слоя включает одновременно сульфиды и нитриды- [c.175]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология