Применение электронного проектора

Так как начальные скорости электронов, вырванных из металла, близки к нулевой, увеличенная проекция острия иглы на флуоресцирующем экране изображает области различных работ выхода. Измеряя силу тока при различных напряжениях на различных участках, удалось провести раздельное опреде.тение работ выхода для этих участков [25, 55]. (Применение электронного проектора к топографическим аспектам адсорбции и катализа рассматривается ниже в настоящей главе.) [c.120]

ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОГО ПРОЕКТОРА [c.184]

V. АДСОРБЦИЯ КИСЛОРОДА НА ВОЛЬФРАМЕ, ИССЛЕДОВАННАЯ С ПРИМЕНЕНИЕМ ЭЛЕКТРОННОГО ПРОЕКТОРА [c.197]

В электронном проекторе на люминесцентном экране наблюдается картина, состоящая из светлых и темных пятен, создаваемых электронами, которые испускаются иглообразным металлическим острием. Эти электроны вырываются из металла под действием очень сильных электрических полей, окружающих острие. Интенсивность электронных пучков, испускаемых острием, быстро возрастает при увеличении напряженности поля и резко уменьшается при увеличении работы выхода с маленьких участков на острие. Таким образом, изображение, получающееся на экране, представляет собой сильно увеличенную картину распределения работ выхода на поверхности острия. Поскольку острие очень мало, оно состоит из единичного металлического кристалла, на поверхности которого присутствуют все кристаллографические плоскости. Адсорбированные газы и пары изменяют работу выхода, и эти изменения могут быть прослежены на всех гранях кристалла путем наблюдения за изменениями изображения на люминесцентном экране. Таким образом, исследования с применением электронного проектора могут дать много сведений [c.197]

Из предыдущего изложения ясно, что сведения о системе С—О—W являются неполными в первую очередь потому, что адсорбция и десорбция окиси углерода на вольфраме до сих пор не изучалась с применением электронного проектора. Следует также в дополнение к исследованиям Клайна провести опыты с использованием различных количеств углерода и кислорода. [c.227]

Применение ионного проектора для адсорбционных исследований еще только начинается. Поэтому пока трудно проводить подробное сравнение достижений, полученных с применением этого метода и методов флэш-десорбции и обычного электронного проектора. В настоящее время число систем, которые можно успешно исследовать в ионном проекторе, ограничено вследствие того, что для получения изображения требуются мощные поля, а также из-за десорбции адсорбированного слоя под влиянием поля и электронной бомбардировки. Однако огромная важность ионного проектора как метода исследования адсорбции совершенно очевидна из уже выполненных работ, а дальнейшие технические усовершенствования должны сильно расширить область его применения. [c.248]

Если вблизи образца, имеющего форму острия, создается сильное электрическое поле с напряженностью порядка (100—600) X 10 б-сж" , то с поверхности этого образца могут удалиться все адсорбированные слои [26, 75, 76]. При дальнейшем увеличении напряженности поля будут испаряться поверхностные слои самого вещества образца. Этот весьма специализированный метод, позволяющий получать чистые поверхности, используется в электронном проекторе для очистки положительного электрода-острия (см. разд. 3.3.5.1). Этот же метод был успешно применен для очистки кремния и германия [77] и вольфрама [78]. С помощью такой методики оказалось возможным удалять атомы вольфрама из его собственной кристаллической решетки даже нри температуре жидкого гелия, когда напряженность электрического поля достигала 5,7 X 10 в-см" . Таким путем преимущественно удалялись слабо связанные атомы решетки, расположенные на гранях и выступах, что приводило к образованию более регулярной структуры поверхности. Многие из полученных таким образом атомных плоскостей имели высокие миллеровские индексы. Площадь чистой поверхности, образующейся при десорбции под действием ноля, редко превышает 1,5 X X 10-1 см . [c.73]

Несмотря на широкое применение и бесспорную ценность, этот метод имеет значительные недостатки [347]. Прежде всего измерения поверхностных потенциалов этим методом фактически ограничиваются областью давлений ниже 10 мм рт. ст. Во-вторых, при использовании некоторых адсорбатов, в частности кислорода, имеется вероятность химического воздействия на горячую нить катода, который почти всегда делается из вольфрама. Такое воздействие приводит к искажению результатов. И, наконец, некоторые из изучаемых реакций на поверхности (скажем, нри исследовании адсорбции смешанных адсорбатов) неопределенным образом зависят от концентрации неизбежно присутствующих электронов. Все эти затруднения полностью отпадают нри использовании методов измерения работы выхода, основанных на принципе конденсатора, и устраняются в большей или меньшей степени при использовании методов электронных проекторов. [c.127]

Данная статья посвящена краткому изложению теоретических вопросов в ней описаны также некоторые применения электронного и ионного проекторов в каталитических исследованиях, проводимых в настоящее время главным образом в Чикагском университете. Здесь не делается попытки дать полный обзор всех работ в этой области и поэтому работы, не связанные непосредственно с каталитическими проблемами, не рассматриваются. Дано краткое описание экспериментальных методов. [c.104]

Электрическая часть. Определения работы выхода требуют проведения измерений токов от 10 до 10" а с точностью до 0,1 % и напряжений в несколько тысяч вольт с точностью до 0,01%. Применение очень малых токов при исследовании покрытого примесями острия объясняется желанием работать при возможно более низких полях, чтобы свести к минимуму изменения в потенциале изображения и ошибки при определении контактных потенциалов. Токи можно измерять с помощью электрометрических усилителей постоянного тока, однако лучше применять вибрационные электрометры. Для питания высоким напряжением можно пользоваться стандартными схемами, обеспечивающими хорошую стабильность и отсутствие пульсаций напряжения. Последнее условие очень важно, так как электронный проектор обладает резко выраженной нелинейностью импеданса. Точное определение напряжений проще всего осуществить, включив большое нагрузочное сопротивление (20—50 мгом) и измеряя с помощью потенциометра падения напряжения на небольшой части этого сопротивления. Поскольку воспроизводимость измерений зависит от постоянства большого и малого сопротивлений, последнее лучше всего изготовлять из стандартных проволочных сопротивлений. При расчете большого сопротивления необходимо учесть, что падение напряжения на отдельных секциях не должно превышать максимально допустимое. [c.150]

Подробное описание электронного проектора и его применений см. в превосходной обзорной статье Мюллера [11] см. также [7]. [c.197]

С помощью электронного проектора были проведены предварительные опыты по изучению каталитических реакций на металлических поверхностях. Хотя эти исследования еще далеко не завершены, результаты их ясно показывают, что метод с применением этого нового прибора способен выявить отдельные детали механизма подобных реакций более полно, чем это возможно с помощью любого другого известного метода. Мы рассмотрим только две системы Нг, Ог и НгО на Ш и С и Ог на У. [c.223]

Распределение хемосорбированных молекул на монокристалле изучали электроннооптическим методом главным образом Мюллер [33, 34], Джонсон и Шокли[35], Мартин[36], Бенджамин и Дженкинс [30] и Беккер [37]. Особенно пригодным оказался электронный проектор, впервые примененный Мюллером. На рис. 6 показан прибор, применявшийся автором этой [c.342]

Применение трех методов термоэлектронной эмиссии, метода прокаливаемой ленты и электронного проектора. [c.181]

Вывод о том, что автоэмиссионная микроскопия может с успехом применяться для изучения роста кристаллов, по нашему мнению, является недостаточным. Дело в том, что она уже используется в этой области, и применение новой методики, как и должно быть в таком случае, не только решает какие-либо давно поставленные задачи, но и ставит новые. Ионный проектор во всех случаях дает возможность исследовать элементарные структуры и элементарные механизмы. Электронный проектор, особенно при импульсном питании, предоставляет широкий спектр возможных наблюдений кинетики процессов. [c.170]

Существует два основных подхода к конструированию трубки для каталитических исследований полное погружение запаянного проектора в жидкий гелий или водород, описанное Гомером [19 . и непрерывная откачка трубки, примененной впервые Мюллером для исследования ионной эмиссии и приспособленной позднее Эрлихом [9] для изучения хемосорбции методом эмиссии электронов. [c.184]

Электронный и ионный проекторы а их применения 105 [c.105]

Электронный и ионный проекторы и их применения [c.107]

Излагаемые в этом разделе за1кономерности, наблюдаемые при адсорбции, и довольно детализированные представления о силах, возникающих при взаимодействии частиц адсорбата со структурной группировкой атомов адсорбента, едва ли могли быть получены в результате обычных каталитических опытов. Тем не менее те же самые силы, которые наблюдаются при адсорбции, должны иметь место в более сложных случаях каталитических реакций. В своих исследованиях мы пользовались методом термоэлектронной эмиссии, а также методами с применением электронного проектора и нового ионизационного манометра. В трех последующих разделах эти методы будут описаны более подробно. [c.158]

В 1954 г. методом электронной микроскопии можно было опре-де.тять частицы размером до 50 А, а при применении УФ-излуче-ния — частицы размером до 0.01 мкм. С развитием электронной микроскопии преде.л разрешения снизился до 10 А [152], а в последнее время появилась возможность добиться разрешения в 2 А [30]. Специализированные электронные проекторы имеют разрешение 3 А. [c.89]

Перед тем как переходить к описанию действия ионного проектора и дать сведения о его применении, следует выяснить, какое разрешение имеет электронный проектор. На первый взгляд кажется, что разрешение связано с дебройлевской длиной волны электронов, создающих изображение. Однако при внимательном рассмотрении этого вопроса становится ясно, что нужно учитывать длину волны электронов, ударяющихся об экран, которая соответствует конечному напряжению и потому очень мала. В большинстве случаев (за исключением, вероятно, получения изображений молекул) фактором, ограничивающим разрешение, является статистическое распределение скоростей электронов перпендикулярно направлению эмиссии [1, 10]. Можно показать, что при величине В кинетической энергии электронов, движущихся в поперечном направлении, разрешение с1 равно [c.114]

Ниже приводятся краткие сведения о технике экспериментов, проводимых с применением электронного и ионного проекторов.. Изготовление колб для проекторов. Колбы для проекторов могут быть изготовлены из пирексовых круглодонных колб произвольного размера, но некоторые исследователи предпочитают иметь плоские экраны. Нижнюю часть колбы покрывают суспензией виллемита в растворе коллодия, к которому добавлено несколько капель бутилфталата, являющегося пластификатором. После тщательной сушки (испарения амилацетата, служащего в качестве растворителя) колбу медленно нагревают в печи до 400—500° С. При этом коллодий разрушается, оставляя довольно стойкий налет люминофора. Последний еще более стабилизируется и приобретает электропроводность при напылении на него алюминия или платины. Более простое в изготовлении, но менее совершенное покрытие получается смачиванием слоя люминофора платиновым раствором марки Хановия с последующей сушкой и нагреванием до 200—400° С. Покрытие, получаемое этим методом, имеет удовлетворительную электропроводность, но отличается меньшей отражательной способностью, вследствие чего изображения обладают пониженной яркостью. Электрические вводы для анода и петли, несущей острие, осуществляются с помощью впаев вольфрама в стекло нонекс (рис. 3). Анодный ввод соединяется внутри колбы с экраном при помощи тонкого слоя платины, наносимого из раствора, или для этого используется [c.146]

Исключительной заслугой С. 3. Рогинского явилось внедрение в практику каталитических исследований новейших физических и физико-химических методов. Ему принадлежит честь первого применения радиоактивных изотопов для изучения механизма химических реакций. В лаборатории С. 3. Рогинского впервые в СССР проводились работы по глубокому механизму катализа с применением электронной микроскопии, электронного проектора, сверхвысоковакуумных методов, измерений работы выхода электрона с поверхности катализатора. Недавно им было открыто новое явление — адсорболюминесценция — весьма нерспективное для выяснения детального механизма хемосорбции. [c.4]

В данном сборнике не все современные методы исследования достаточно представлены. В частности, полностью отсутствуют работы с ионными проекторадш, нет работ с применением диффракции медленных электронов. Одной-единственной работой представлены термохимия хемосорбции и изучение хемосорбции в электронных проекторах. [c.9]

В зависимости от способа исследования объектов имеются электронные микроскопы различных типов просвечивающие, отражательные, растровые, эмиссионные (в том числе элект- роннйб проекторы) и теневые. Однако наибольшее распростра- нение получили приборы просвечивающего типа, обладающие (высоким разрешением и наибольшей универсальностью применения. В данной книге рассматривается почти исключительно применение просвечивающей электронной микроскопии. [c.4]

Основными методами изучения Д. в кристаллах служат электронно-микросконич. наблюдение расположения атомных плоскостей в кристаллах декорирование Д. примесями с наблюдением в видимом или ИК-свете металлографич. травление точек выхода Д. на поверхность кристалла изучение фигур спирального роста с применением фазовоконтрастной микроскопии, многолучевой интерферометрии и ионного проектора поляризационно-оптич. определение внутренних напряжений, рентгеновские исследования, а также измерения электропроводности, плотности и комбинации этих методов. [c.573]

Автоэлектронная микроскопия и метод ионного проектора. Количественные сведения об элементарных процессах и энергиях активации диффузии примесных атомов или молекул, адсорбированных на поверхностях металлов, а также данные о подвижности собственных атомов кристалла, можно получить с помощью автоэлект-ронного микроскопа К В этом случае благодаря применению сильных электрических полей (величины порядка 10 ej M) происходит эмиссия электронов с острия исследуемого материала, нагреваемого в высоком вакууме и служащего катодом. Для этого используют нити из тугоплавких металлов (например, Pt, W, Fe, Мо), имеющие полусферическое острие с малым радиусом кривиз- [c.364]

Большие успехи в изучении X. достигнуты в последнее время благодаря применению новейших физико-химич. методов исследования. Напр., изучение X. на металлич пленках (N1, Р1), полученных в ультравакууме (10 —10 мм), показало, что такие пленки обладают большой ненасыщенностью. Молекулы На, Оа II других газов хемосорбируются на них без энергии активации. Малые значения динольного момента этпх хемосорбированных слоев, обнаруживаемые измерениями работы выхода электронов, указывают на образование ковалентной связи. Вероятно, в ней участвуют -электроны металлов. В присутствии загрязнений может наблюдаться энергия активации за счет хпмич. реакции адсорбата (На, Оа) с этими загрязнениями. Энергия активации при X. на металлах может указывать также на растворение газа в поверхностном слое. Изучение хемосорбированных слоев на металлах методами дифракции медленных электронов эмиссионного электронного и ионного проекторов показало в ряде случаев кристаллохимич. соответствие структуры хемосорбированного слоя и объема металла и резкую зависимость структуры хемосорбированного слоя и величины X. от кристаллографич. индекса грани. Напротив, при адсорбции Оа и J. на Ое-было обнаружено отличие структуры хемосорбированного слоя от объема адсорбента. [c.313]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология