Методы интерференции

Одним из основных свойств граничного слоя является его толщина. Б. В. Дерягиным реализовано несколько вариантов метода интерференции поляризованных лучей для измерения толщин тонких слоев полярных жидкостей на поверхности стекла и металлов. Было установлено, что толщина граничного слоя для исследованных веществ около 0,1 мкм [39, 54]. [c.69]

Рис. 30. Блок-схема установки для измерения толщин тонких жидких пленок методом интерференции световых лучей.

Исследование строения., при помощи определения междуядерных расстояний методом интерференции рентгеновских лучей и электронов [c.31]

Поскольку наименьшая измеримая толщина слоя методом интерференции лежит около 500 Л, прихо- [c.418]

Метод интерференции весьма неточен возможно, что он является наименее точным из всех методов, которые обсуждались в этой главе. Это вытекает из табл. 49, в которой сравниваются метод интерференции, [c.419]

Вещество Метод интерференции Электроли- тический метод Адсорб- ционный метод [c.419]

Рис. 3-52. Схема, объясняющая метод интерференции.

Рис. 3-53. Изотермы вокруг трубы и нижнего края вертикальной трубы, сделанные видимыми по методу интерференции.

Измеренные величины (длины, углы, веса, объемы, температуры и др.) не служат непосредственно для установления строения они подвергаются теоретической обработке, которая, разумеется, отличается в каждом отдельном случае. Некоторые физические методы приводят к познанию геометрии молекул (например, определяются межатомные расстояния и валентные углы методом интерференции рентгеновских лучей или дифракции электронов) иные дают указания на энергетические состояния молекул (спектроскопические и термодинамические методы) наконец, другие ведут к установлению молекулярных функций, объединяющих в математическом выражении две или несколько физических величин, характерных для данного вещества. Такие молекулярные функции (например, электрическая поляризация, магнитная восприимчивость, молекулярная рефракция, свободная энергия образования и т.д.) находятся в количественных соотношениях со строением вещества. Непосредственно измеренные характерные физические константы вещества являются так называемыми интенсивными свойствами, т.е. величинами, не зависящими от количества вещества (как, например, плотность, показатель преломления, диэлектрическая постоянная, поверхностное натяжение, температура фазовых превращений и т.д.) молекулярные функции, выведенные из этих величин, являются экстенсивными свойствами вещества, т.е. величинами, пропорциональными количеству вещества (точно так же, как объем, вес или теплоемкость). В качестве единицы количества вещества применяется обычно моль. При этом становится возможным сопоставлять физические свойства веществ и, обобщая, установить зависимости между свойствами и строением. [c.83]

См. [45, 46]. Исследование методом интерференции электронов см. [47, 48]. Конечно, если заместители у атомов углерода попарно одинаковы и не считая плоскости симметрии чертежа. — Прим. ред. [c.219]

Виттман с сотр. [39] применили для измерения молекулярных сил оригинальную методику, состоящую в наблюдении прогиба тонкой кварцевой пластины, опирающейся одним концом на массивный кварцевый блок, а другим — на тонкую подкладку высотой 0,16 мкм. Прогиб пластинки происходит под действием ее молекулярного притяжения к кварцевому основанию. Профиль зазора Я (х) между пластинкой и основанием зависит от распределенной силы молекулярного притяжения Р (х). Уравнения теории упругости позволяют связать профиль Я (х) с модулем упругости кварца Ео и распределенной силой Р (х), т. е. найти зависимость Р (Я). Форму профиля Я (х) определяют методом интерференции света. [c.103]

Впервые подобные измерения проведены на микроскопических горизонтальных пенных пленках Дерягиным и Титиевской [118—120]. Применяемая в этих работах аппаратура схематически изображена на рис. 25. Два воздушных пузырька / и 2 посредством стеклянных рамок 3 4 приводили в соприкосновение друг с другом в исследуемом растворе 5. Равновесные толщины измеряли методом интерференции света. Расклинивающее давление пленки компенсировали внешним давлением, которое отсчитывали по манометру 6. [c.63]

Толщины пленок можно определять, когда они создают интерференцию в видимой части спектра. Точность этого способа ограничивается разными факторами. Например, существует сдвиг по фазе в ре льтате отражения света от поверхности металла, ц может изменяться в зависи1мости от толщины пленки и др. Для уточнения оценок используются цветовые компараторы, производится измерения в проходящем свете через отделенную от металла пленку и др. С помощью метода интерференции было успешно проведено много работ по определению толщины пленок. В табл. 5 пред- [c.55]

Кристаллическое состояние силикатов представляет наибольший интерес для минералогов и петрографов, так как именно в этом состоянии они наиболее часто встречаются в природе и находят наиболее важное применение в промышленности. Исследования в области минералогии силикатов всегда развивались параллельно исследованиям по кристаллографии. При этом наметился путь, по которому можно установить соотношения между свойствами кристаллического вещества и его химическим составом. Особенно за последние десятилетия мы были свидетелями быстрых успехов, достигнутых в представлениях атомистического, т. е. прерывного, строения кристаллической структуры, выявившего ее преимущества перед теорией физической сплошности вещества. Представление о пространственных решетчатых структурах позволило вывести общие принципы, управляющие соотношениями между морфологическими, физическими и химическими результатами кристаллографических исследований. Отсюда вытекает необходимость рассмотрения кристаллического состояния силикатов и вывода их свойств на основании теории пространственной решетки. Основанием для рассматривания свойств силикатов как результата их атомистическо-кристаллографического строения служат данные точных исследований, проведенных новейшими методами интерференции рентгеновых лучей, отраженных материальными точками пространственной решетки. Этот метод дал прекрасные результаты, полученные, в частности, для силикатов Брэггом и его сотрудниками [c.13]

Величину No дает также ряд оптических методов изучение дисперсии света в газах (синий цвет неба), толщины наиболее тонких жидких пленок методом интерференции и т. д. Эти способы приводят к величине диаметра молекул, а отсюда и к числу молекул в данном объме. [c.142]

При экспериментальном использовании метода центрифугирования необходимо учитывать следующие особенности для этого метода также существует зависимость определяемых констант седиментации и диффузии от концентрации. В связи с этим (так же как и при измерении осмотического давления) необходимо проводить измерения в наиболее удобном интервале концентраций и экстраполировать полученные результаты к нулевой концентрации. Чем лучше растворитель, тем более вытянуты молекулы и тем круче ход концентрационной зависимости поэтому не следует применять слишком хорошие растворители. Изменение концентрации, состоящее при седиментации в снижении концентрации полимера в растворе в верхней части камеры, а при диффузии — в повышении концентрации полимера в растворителе, часто может быть определено оптически (в корпусе центрифуги имеется окно). Для этого применяются методы абсорбции, рефракции или интерференции. Для определения изменения концентрации может быть использовано поглощение света, если по крайней мере в одной определенной волновой области растворенные или суспендированные частицы поглощают значительно больше света, чем растворитель. Это имеет место для растворов красителей или суспензий пигментов. Различные типы белков также имеют в ультрафиолетовой области спектра сильные полосы поглощения. Полистирол имеет одну полосу поглощения при длине волны менее 290 лщ. Таким образом, по фотометрическим кривым можно сделать вывод об изменении концентрации полимера. Метод рефракции основан на изменении показателя преломления при изменении концентрации в местах изменений концентрации образуются оптические неоднородности, почти количественно определяемые по методу шкалы Ламма. Филпот и Свенсон предложили целесообразное расположение линз, которое так фиксирует изменение показателя преломления, что на экране или фотографической пластинке возникает кривая, которая непосредственно характеризует изменение концентрации. Для полимолекулярных веществ при седиментации концентрационное распределение соответствует молекулярному распределению получающиеся кривые имеют форму, приведенную на рис. 10. Метод интерференции применим только к диффузионным измерениям. [c.156]

Еще более любопытные результаты получаются при применении метода интерференции, предложенного Кен-наром [100] (1931 г.) и независимо от него Ганзеном [101] (1931 г.), который дает на изображении распределение изотерм и даже позволяет сделать количественные выводы. [c.225]

Рис. 3-54. Перлги лалхинарного потока в турбулентный у стенки вертикальной плиты, снятый по методу интерференции (расстояния от нижнего края плиты даны в см).

Главным правилом получения компенсационных ИК-спектров является точный подбор слоев в кюветах измерения и сравнения. ОРИ оптической плотности вещества более I обычный двухлучевой спектрометр дает значения измеряемой величины (пропускания) с большой погрешностью. В связи с этим количественные измерения поглощения вещества целесообразно проводить по таким спектрам, в которых минимальное пропускание не менее 1056. Оптическая плотность ввце-ства С ) пропорциональна толщине слоя (( ). Чтобы соблюсти правило ( < i ) необходимо выбрать подходящую толщину слоя ( критическое). Величину устанавливают экспериментально. Для систем "масло", "масло с присадкой" и пр. = 400 мк . Толщина слоя в кюветах определяется методом интерференции с точностью до I мкм. Ошибка определения +2 мкм. [c.272]

Алмаз — одно из первых веществ, структура которого была определена методом интерференции рентгеновских лучей. Он образует, как установили в 1913 г. Брэгги (Bragg W. Н., Bragg W. L.) и подтвердили более поздние повторные исследования, решетку, показанную на рис. 83. Это — гранецентрированная кубическая решетка, в которую за- [c.412]

Установленное в последнее время различие к кристалличности, опрелеленной методом ядериого резонанса и инфракрасной абсорбции, с одной стороны, и методом интерференции рентгеновских лучей, с другой, натолкнуло Вонка [396] на мысль о существовании второй кристаллической фазы, расхеяпие от которой добавляется к рассеянию от аморфной фазы. [c.404]

Интерферометр (выпускается фирмой Оптилаб , Швеция). Коэффициент преломления измеряется методом интерференции света. Интерферометр имеет две проточные кюветы вместимостью 5 мкл. Чувствительность и линейный диапазон в несколько раз больше, чем у других моделей. Предел обнаружения 3 мкг/мл. Схема действия интерферометра приведена на рис.Ш.Ю. [c.192]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология