Лазерный луч

В газовой фазе могут быть осуществлены разнообразные атомно-молекулярные процессы в результате резонансного взаимодействия индивидуальных молекул с фотонами. Этот круг вопросов рассматривается в фото- и лазерохимии. Однако необходимо отметить ограниченность объема обрабатываемого вещества лазерным лучом. Под действием лазерных излучений могут протекать разнообразнейшие процессы от бимолекулярных реакций замещения и присоединения до диссоциации молекул на свободные радикалы или нейтральные фрагменты. [c.173]

Первая из них легко преодолевается путем использования вращения ( 2000 об/мин) образца или быстрого сканирования лазерным лучом по поверхности образца. Вторую трудность преодолеть нелегко, если не уменьшить путь рассеивающего пучка в среде до минимума. Другая более тонкая процедура состоит в использовании дифференциальной спектроскопии КР с вращающейся кюветой, разделенной на две половины, вместе с совершенной электронной системой сравнения. Наличие отсеков для исследуемого образца и образца сравнения исключает необходимость внутреннего стандарта. Вероятность фотолиза при вращении образца также уменьшается. Влияние флуоресценции эффективно исключается лишь дискриминацией сигнала во времени. Методика основана на возбуждении комбинационного рассеяния импульсным лазером с длительностью импульсов порядка нано- [c.776]

Резка лазерным лучом (рис. 3.24) [c.120]

Рис, 3.24. Получение лазерного луча [c.120]

Резка лазерным лучом Обработка кромок [c.294]

Атомно-флуоресцентный анализ близок к атомноабсорбционному анализу. С помощью этого метода решают не только задачи, выполняемые атомно-абсорбционным анализом, он позволяет определить отдельные атомы в газовой среде. Например, возбуждая атомную флуоресценцию лазерным лучом, можно определять натрий в верхних слоях атмосферы на расстоянии 100 км от Земли. [c.648]

В центре диска имеется отверстие 0 34 мм, предназначенное для прохождения лазерного луча. Марка крепится на струнах специальными зажимами. [c.214]

Получение лазерного луча. За счет накачки внешней энергии (электрической, световой, тепловой, химической) атомы активного вещества - излуча1еля переходят в возбужденное состояние. Возбужденный атом излучает энергию в виде фотона. В отрасли используются твердотелые лазеры. В качестве активного вещества служит оптическое стекло с примесью неодима и редкоземельных элементов. [c.120]

С целью уточнения положения точек четырех главных осей лазерным лучом отмечаются точки и III на внутренней поверхности заднего торца. При этом луч лазера фокусируется в данную [c.215]

Измельчение твердых тел может происходить в результате воздействия на них ударных волн в жидкости (электрогидравлический эффект) и ультразвуковой кавитации, а также при использовании твердых магнитных тел, возбуждаемых переменными магнитными полями. Принципиально можно дробить твердые тела, создавая термические напряжения пучками электромагнитного излучения СВЧ диапазона или лазерным лучом. [c.111]

В процессах разделения могут быть также использованы инициируемые лазером химические реакции, фотоизомеризация, селективное возбуждение стоксовых комбинационных уровней и отклонение атомного пучка лазерным лучом. [c.180]

Излучение на выходе лазера поляризовано линейно. Пластина л/4, одна из осей которой расположена под угло.м 45 по отношению к плоскости поляризации лазерного луча, превращает линейно поляризованный луч света в луч, поляризованный циркулярно. Поляризатор П вырезает из луча света, поляризованного по кругу, линейную составляющую с заданным по отношению к плоскости падения азимутом ап плоскости поляризации, после чего линейно поляризованный луч попадает на компенсатор К, медленная ось Ь которого расположена под углом 45° к плоскости падения Р (рис. 9.12). В результате вышедший из компенсатора луч света приобретает перед падением на поверхность исследуемого образца некоторую эллиптичность уг = а/7—45° и соответственно некоторый сдвиг по фазе [c.185]

Метод светового или лазерного луча (рис. 4.5) применяют при центровке отверстий, находящихся на значительном расстоянии друг от друга. В центруемые отверстия вставляют диски из жести или алюминия, которые имеют передвижные мишени с отверстием диаметром 1 мм в центре. Чтобы обеспечить светонепроницаемость, диски по периферии обмазывают замазкой. За экраном крайнего диска устанавливают сильный источник света. Перемещая мишени у каждого из [c.109]

Их содержание составляет примерно 0,1% от общего количества углеродных паров. При испарении лазерным лучом в пульсирующем, особенно сверхзвуковом, гелиевом газовом потоке их количество увеличивается примерно до 30%. [c.18]

Цементит термодинамически устойчив не при всех условиях, отвечающих диаграмме состояния системы Ре—С. При нагревании цементит распадается, поэтому температуру его плавления определить трудно, а в литературе встречаются ее разные значения. Значение 1260 С найдено при нагреве цементита лазерным лучом. [c.618]

При термических способах дробления производится местный нагрев анизотропной среды куска твердого материала. Возникающие при этом внутренние напряжения приводят к разрушению. Зона прогрева, таким образом, выполняет роль своеобразного теплового клина. Источниками тепла для местного нагрева могут быть электрическая дуга, сильно экзотермические реакции сгорания (железа в кислороде, алюминогерми-ческие), высокотемпературные газовые струи из реактивной горелки, высокотемпературная плазменная струя, лазерный луч. [c.702]

Лазерный микрозонд. Источником лазерного луча являются ксеноновая лампа и стекло с добавкой неодима. Диаметр зонда 10 нм, а диаметр кратера на объекте 35—100 нм. Поэтому объектами исследования лазерным пучком должны быть крупные кристаллы. Метод дает плохо воспроизводимые результаты из-за большого диаметра кратера. [c.153]

ЗО°, при этом необходимо убедиться, что отраженный от поверхности образца лазерный луч попадает в отверстие диафрагмы ФЭУ. [c.193]

Устанавливают угол падения луча света на образец 01 = 60° (отраженный от поверхности образца лазерный луч должен попадать в отверстие диафрагмы ФЭУ). [c.194]

Преимущество этой кинематической схемы, предложенной Л. А. Аслановым и соавторами, заключается в том, что коаксиально оси вращения кристалла в дифрактометре можно укрепить любой источник Б физического воздействия на кристалл—источник электрического или магнитного поля, лазерного луча и т. п. Для того чтобы воздействие сохраняло постоянную ориентацию относительно кристалла, этот источник может (в зависимости от природы физического воздействия) либо оставаться неподвижным, либо иметь максимально одну степень свободы — вращение вокруг горизонтальной оси (углы ф), синхронное повороту кристалла. Эта возможность позволяет решать актуальные задачи анализа структурных изменений в кристалле, подвергаемом тому или иному физическому воздействию. [c.76]

Новейший способ записи объемного изображения на фотопластинке с помощью лазерного луча — голография — еще находится в начале своего развития. [c.27]

Исследуемый образец 2 (изображен в разрезе) (рис. 9.2) покоится на кварцевой опоре /, верхняя поверхность которой оптически плоская. На образце сверху располагается клиновидная кварцевая пластина 3. Нижняя поверхность клиновидной пластинки и верхняя поверхность опоры I расположены строго параллельно и образуют интерференционный зазор 6. Источником света является монохроматор 7, 8 или лазерный луч. Интерферометрическая картина, возникшая в зазоре б, а затем отраженная призмой 5 и полупрозрачным зеркалом 6, наблюдается в микроскопе 9. При изменении длины образца 2 (изменение зазора б) в поле зрения микроскопа наблюдается смещение интерферометрических полос. Смещение картины на одну полосу соответствует изменению длины образца на V2, где %—длина волны монохроматического излучения. [c.434]

Для физ.-хим. исследований при высоких Д. применяют установки с прозрачными наковальнями из алмазов, обеспечивающие Д. до 200 ГПа и т-ры до 3000 К. Такие установки компактны (располагаются иа столике микроскопа). Нагрев образца осуществляют лазерным лучом. Для измерения Д. внутрь аппарата помещают кристалл рубина и следят за его спектром люминесценции, линия к-рого смещается с увеличением Д. линейно до 30 ГПа. Помимо визуального наблюдения, эти аппараты позволяют проводить исследования ме- [c.622]

Лазерные лучи исключительно интенсивны. Вся энергия лазера концентрируется в очень узком параллельном пучке, имеющем относительно постоянную площадь сечения на больших расстояниях. [c.168]

Лазерные лучи, будучи сильно сфокусированными, позволяют исследовать или облучать образцы очень малых размеров. [c.168]

Установка состоит из активного вещества 1, лампы накачки 2, обеспечивающей свеговую энергию для возбуждения атомов активног о вещества - излучателя. Полученное излучение направляется и фокусируется с помош,ью оптической системы 3 на разрезаемый металл 4, Преимуществом лазерного луча является возможность передачи [c.120]

Показана [9] возможность получения мелкодисперсных материалов высокой чистоты разложением металлоорганических соединений в паровой фазе. Но такая методика ограничена получением однокомпонентных систем. Примером парофазных реакций с участием галогенидов и углеводородов является производство Т10г и сажи. Для инициирования газофазных реакций начинают применять мощные лазеры. Так, порошок кремния с удельной поверхностью 55 м /г был получен разложением газообразного 51Н4 с помощью лазерного луча высокой интенсивности [10]. [c.18]

Такую проверку выполняют при сборке компрессоров, ири центровке валов двигателей, насосов, при установке подшипников многооиорного вала, при выверке опор каркаса трубчатых печей и т. д. Соосность отверстий проверяют по струне, методом светового или лазерного луча и др. [c.108]

В современном технике спектроскопии комб[1национного рассеяния света ь качестве возбуждающего луча используют также лазерный луч. [c.34]

Контроль критических значени прогиба КСП осуществляется по нижней образующей КСП (рис. 4.15). Для этого лазерный визир устанавливается с загрузочной стороны КСП. а мншень с другого. Лазерный луч настраивается таким образом, чтобы расстояние образующей луча, в контролируемом сечении, бьшо 12 мм (это величина зафиксированного в НТД максимально-допустимого прогиба КСП). [c.205]

Контроль осуществляется следующим образом. Пока луч лазера будет просматриваться па мишенн, прогиб КСП будет находиться в пределах допустимых величин. Пропадание лазерного луча на мишени будет свидетельствовать о достижении прогиба КСП критической величины. [c.208]

Существуют различные способы ионизации анализируемых образцов но1ноация электронным ударом, в сильном электрическо.м поле, лазерным лучом, фото- и термоионнзация и др. При бомбардировке электронами е ) или фотонами (hv) атомов или молекул разреженного газа образуются молекулярные и осколочные ионы, заряженные как положительно, так и отрицательно. Например [c.55]

Равенства (9.15) и (9.16) позволяют вычислить первый эл-липсометрический параметр исследуемой поверхности — изменение разности фаз р- и 5-составляю1цих вектора Е лазерного луча при отражении его от поверхности образца [c.187]

Необходимые для расчета силовых констант исходные данные могут быть найдены также из спектров комбинационного рассеяния (иначе называемых рамановскими спектрами). Если какое-либо вещество осветить лучами определенной длины волны (обычно используется лазерный луч или ртутная кварцевая лампа, из спектра которой с помощью светофильтра выделяют интенсивную синюю линию с Х = 4358 А), то в рассеянном этим веществом свете обнаруживаются не только лучи с исходным волновым числом (шо), но также близлежащие сравнительно слабые линии, отвечающие волновым числам uq ui, (uq Wj и т. д. Величины отклонений от исходного (Во (т. е. Wi, u2 и т. д.) хорошо согласуются с волновыми числами, определяемыми из колебательного спектра (совпадая с ними или дополняя их). Обусловлено это соответствие самим происхождением линий спектра комбинационного рассеяния в результате изредка наступающего комбинированля (вычитания или сложе- [c.100]

Представляют интерес возможности определения с помощью спектров КР загрязнений атмосферы на расстояниях (100 мкг N0 и 80г обычно обнаруживаются на расстоянии 300 м). Имеются сообщения о возможности понижения предела обнаружения примесей до <1 мкг/мл. Многообещающим для решения практических задач является использование КР-мик-розондов с сечение-м луча ж 1 мкм1 Возможны два режима его работы. При точечном исследовании интересующую область поверхности выбирают с помощью микроскопа, лазерный луч направляется [c.777]

Используют в осн полупроводниковые Л На высокой когерентности лазерного излучения основано применение Л для получения объемных изображений (голография) Большие мощности излучения в непрерывном и импульсно-периодич режимах и возможность фокусировки лазерного луча в пятно требуемого размера обусловливают использование Л для резки и сварки материалов, обработки и закалки пов-сти Используют в осн твердотельные Л на лю шнe циpyющиx средах, газовые Л высокого давления (Nj- Oj и Nj- O), газодинамич Л с тетовой накачкой [c.564]

Лазерная десорбция применяется для ионизации и испарения конденсир. в-в и осуществляется с помошью лазеров с модулированной добротностью, работающих в импульсном (длительностью до 30 не) или непрерывном режимах. Характер масс-спектра обычно мало зависит от длины волны (265 нм-10,6 мкм), уд. мощности (10 -10 ° Вт/см ) и длительности импульса лазерного излучения. Исследуемое в-во наносят на металлич. подложку и облучают фотонами с любой стороны в зависимости от конструкции прибора. Использование лазерных лучей разной степени сфокусированности позволяет проводить локальный анализ пробы в пятне диаметром 0,5 мкм-4 мм. [c.660]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология