Яркость источника

Однако для такой высокотемпературной плазмы характерны очень развитые спектры, с большим числом линий, принадлежащих атомам, а также одно- и двузарядным ионам. В связи с этим применение ИСП-разряда осложнено эффектами спектральных помех, что обусловливает более высокие требования к разрешающей силе спектральных приборов. Из-за меньщей яркости источника возрастает роль рассеянного света в приборе. [c.65]

Измерение интенсивности спектральных линий. Наиболее просто измерить интенсивность спектральных линий, если она достаточно велика и мало меняется во времени. Например, при работе с пламенем благодаря большой яркости источника и простоте его спектра можно работать со светофильтрами или широко открывать щель монохроматора. К тому же хорошо отрегулированное пламя горит очень стабильно. [c.197]

Обычно количество анализируемого вещества велико. Тогда достаточную интенсивность сигнала можно получить увеличением продолжительности анализа, суммируя действие света за все время экспозиции. Чувствительность ограничивается уже не абсолютной величиной сигнала, а его отношением к фону если сигнал (спектральная линия) менее интенсивен, чем случайные изменения фона, то его невозможно (или очень трудно) обнаружить. Увеличение яркости источника света или увеличение чувствительности приемника не дадут в этом случае никакого выигрыша в чувствительности качественного анализа, так как отношение сигнала к фону осталось неизменным. [c.218]

Прежде всего, необходимо обеспечить очень высокую степень стабилизации питания источника света, постоянство чувствительности приемника и стабильный коэффициент усиления прибора. Иначе величина сигнала на выходе будет самопроизвольно изменяться и работа с прибором станет невозможной. Кроме того, яркость источника сплошного света не одинакова для разных участков спектра. Меняются также коэффициенты пропускания и отражения света оптическими деталями прибора и чувствительность большинства приемников света. Полосы поглощения атмосферных паров воды и СОг в инфракрасной области еще более осложняют картину. Поэтому при переходе от одного участка спектра к другому необходимо изменением ширины щелей монохроматора или регулировкой усиления установить достаточно большой отброс по шкале регистрирующего прибора для сигнала от самого источника света. Затем нужно зарегистрировать [c.304]

Яркость (В). Яркостью источника в данном направлении называется поток, посылаемый единицей видимой поверхности в пределах единичного телесного угла [c.333]

Отмечается существенная зависимость контрастной чувствительности глаза от яркости источника света разной длины волны (рис. 9.9). [c.693]

С увеличением (до определенных пределов) интегральной яркости источника излучения доля поглощенного излучения не изменится. В этом заключается принципиальное отличие эмиссионных и люминесцентных спектроскопических методов от абсорбционных. [c.207]

Использование этого эффекта для приемных головок дает некоторые преимущества. Конструкция выполняется по принципу, показанному на рис. 8.18. Звук вводится в отклоняющий элемент. Этот элемент заполнен соответствующей средой, например ксилолом. Освещенность фотоэлемента увеличивается в зависимости от звукового давления и яркости источника света. При использовании интенсивного источника света на фотоэлементе получают электрический сигнал большой амплитуды. При современном уровне техники идеальным источником света для таких целей являются лазеры, благодаря высокой интенсивности их света и фокусировке. При этом достигаются гораздо большие амплитуды, чем при пьезоэлектрических искателях. [c.182]

Включают установку, регулируя яркость источника света, устанавливают ио микроамперметру 6 допустимый для данного типа фотодетектора 5 начальный фототок /ц. Устанавливают заданную величину тока I в соленоиде и отключают ток соленоида. [c.126]

Такая схема исключает влияние на результаты измерения изменения яркости источника света из-за колебаний напряжения в сети и блуждания столба в лампе. [c.105]

Для спектрографов с хорошим качеством изображения предел разрешения определяется величиной зерна фотоэмульсии. При достаточной яркости источников света величина М определяется только ошибками измерения интенсивности спектральных линий, поэтому у всех таких приборов количество информации на одну экспозицию Нх зависит только от длины экспонируемого спектра на фотопластинке. Иначе обстоит дело при измерении слабых спектральных линий, когда необходимость повышения светосилы прибора заставляет жертвовать его разрешающей силой. [c.43]

Отношение сигнала к шуму М зависит от яркости источника света и чувствительности приемника оно пропорционально световому потоку, поступающему на фотоприемник. Время регистрации t тем меньше, чем больше величина светового потока. [c.45]

Применяя формулы (27.26) и 27.27) к спектрам излучения, под Бг мы должны понимать интегральную яркость спектральной полосы, а под — среднюю плотность яркости участка полосы, пропускаемого щелью монохроматора. В случае спектра поглощения при щироких щелях следует пользоваться формулой (27.27), а не (27.26), понимая под 5 , — среднюю (по ширине щели) плотность яркости источника света. При узких щелях — плотность яркости источника, ослабленная участком полосы поглощения, который вырезается щелью монохроматора. [c.227]

В основу работы прибора ФЭС-1 положен принятый в спектральном анализе метод внутреннего стандарта, заключающийся в измерении отношения интенсивностей линии анализируемого элемента и линии сравнения, излучаемой тем же источником света. Это автоматически исключает зависимость результатов измерений от колебаний яркости источника света и изменений других факторов, общих для всех спектральных линий. В приборе ФЭС-1 роль линии сравнения играет неразложенный свет, отраженный от поверхности первой призмы. Фототок, возбуждаемый светом выделенной монохроматором анализируемой линии, заряжает накопительный конденсатор (рис. 37.2). Неразложенный свет, попадая на второй фотоэлемент, заряжает второй накопительный конденсатор С., напряжение на фотоэлементы подается от стабилизатора СН. [c.291]

Теория фурье-спектрометра. Рассмотрим интерферометр Майкельсона с входной диафрагмой бесконечно малого диаметра. Монохроматический световой пучок, вошедший в него, разделится на два интерферирующих пучка с разностью хода А. Величина светового потока на выходе интерферометра пропорциональна яркости источника света введя коэффициент пропорциональности q, можем написать [в соответствие с формулой (44.4) ] [c.347]

Электронный зонд характеризуется ускоряющим напряжением (энергией), силой тока и ее стабильностью, диаметром пучка. Сила тока связана с диаметром зонда и с яркостью. Диаметр зонда может быть неограниченно мал, если мала сила тока, однако сила тока менее 10 А находится на уровне статистических флуктуаций счета сигналов. Таким образом, уменьшение диаметра зонда и улучшение разрешающей способности электронно-зондового прибора связаны с повышением яркости источника электронов. Наиболее значительное увеличение яркости (на несколько порядков по сравнению с достигаемой термоэмиссионными пушками) получают в электронных пушках с полевой эмиссией. [c.225]

Разрешение изображения в растровом микроскопе зависит от характеристики сигналов и от природы взаимодействия зонда с веществом. Улучшение разрешения идет по пути увеличения яркости источника, что позволяет уменьшить диаметр зонда, оставаясь в разумных пределах интенсивности, а также по пути фильтрации отраженных сигналов. Разрешение на отражение, полученное в современных растровых системах в режиме вторичных электронов, достигает 1,5 нм по точкам. [c.229]

Поток излучения, прошедший через монохроматор и регистрируемый приемником, определяется яркостью источника и параметрами прибора и равен [c.110]

Яркость источника при определении добротности предполагается такой, что отношение сигнал/шум на выходе прибора равно единице. Величина а в приведенном уравнении равна единице, если погрешность определяется флуктуациями светового потока (квантовые приемники), и а = 2, если погрешность зависит от собственных шумов приемника (тепловые приемники), и — геометрический фактор прибора, — его разрешающая сила. [c.93]

К числу приборов, в которых используется длительное накопление заряда, относится прибор ФЭС-1. Его оптическая схема практически не отличается от оптической схемы ФЭП-1 (рис. 4.41). Выходящий из щели световой поток измеряется фотоэлементом, ток которого заряжает измерительный конденсатор. Одновременно неразложенный свет, отраженный от грани первой призмы, падает на другой фотоэлемент и соответствующий заряд накапливается на другом конденсаторе. Измеряемой величиной является отношение напряжений на конденсаторах. Таким образом, показания измерительного прибора учитывают и исключают колебания яркости источника, а также изменения условий освещения щели. [c.124]

Другим недостатком системы сканирования является то, что за время, необходимое для прохождения некоторого участка спектра, может неучитываемым образом измениться яркость источника. Фотографическая пластинка, регистрирующая весь спектр одновременно, имеет с этой точки зрения несомненные преимущества. В то же время высокая чувствительность фотоэлектрических приемников и возможность практически мгновенного получения данных, почти не требующих дополнительной обработки, являются огромным достоинством фотоэлектрической регистрации. Чтобы использовать преимущества обоих способов регистрации, на фокальной поверхности прибора располагают ряд выходных щелей, каждая из которых соответствует одному из исследуемых участков спектра. Все выходные щели могут юстироваться на нужную длину волны. Каждая снабжена своим измерительным каналом. Обычно для удобства расположения большого числа фотоумножителей непосредственно за щелью стоит зеркальце, которое отбрасывает вышедший из нее свет на соответствующий фотоумножитель. Такое устройство с большим числом щелей называется полихроматор ом. В зависимости от электрической схемы измеряется либо непосредственно энергия излучения, прошедшего через каждую щель, либо отношение этих энергий к энергии, прошедшей через один выделенный канал, называемый каналом сравнения. [c.125]

В действительности только в редких случаях удается расположить источник света в непосредственной близости к входной щели прибора. Обычно он располагается на некотором расстоянии и щель освещается с помощью той или иной оптической системы. При этом, как будет показано ниже, яркость щели, с точностью до потерь в осветительной системе, равна яркости источника. Однако щель излучает свет лишь в пределах некоторого телесного угла, определяемого параметрами осветительной системы. [c.131]

Рис. 5.2. Увеличение яркости источника с помощью зеркала.

Интенсивность. Под интенсивностью спектральной линии в спектре ислускапня обычно понимают энергию, переносимую излучением в е ии1Н1у времени. Наиболее часто понятие интенсивности спектральной линии, наблюдаемой н спектре испускания, отождествляют с понятием яркости источника излучения. Яркость — это мощность излучения, испускаемая источником света в единицу телесного угла с единичной площадки, расположенной перпендикулярно направлению наблюдения (рис. 1.3). При фотографической регистрации излучения под интенсивностью понимают меру почернения фотоэмульсии, при фотоэлектрической — величину электрического сигнала. [c.12]

Яркость флуоресценции зависит от яркости источника возбуждения, т. е. можно также сказать от мощности поглощаемой энергии. Количество поглощеииой энергии определяется формулой д/ = / —/ где /—количество прошедшей энергии и, если справедлив закон Бугера—Ламберта —Бера, то [c.131]

Выбор отдельных операций, составляющих методику, и приборов должен быть согласован между собой наиример, яркость источника света н параметры спектрального аииарата выбирают взавиенмости от применяемого метода регистрации. Важно также согласование операции ио точности, чувствительности н скорости выполнения. Повышение точности, чувствительности или скорости на какой-нибуд > одной операции не рационально, если псе другие операции остаются менее точными и чувствительными или более длительными. [c.234]

Отметим, что большая длина оптического пути может быть реализована при малых геометрических размерах реакционного сосуда. В то же время яркость источника света остается большой, и можно применять спектрографы с высоким спектральным разрешением. Чувствительность метода ВРЛС к селективному поглощению ограничена наличием спонтанных шумов. Теория и эксперимент показывают, что коэффициент поглощения а[и] может достигать 10 11см [c.119]

Еще один тип классификащш спектроскопических методов основан на зависимости измеряемого сигнала 8 от яркости источника излучения В. Измеряемый сигнал эмиссии (ет) или люминесценщш (1шп) определяется выражением [c.206]

Диапазон энергий квантов С. и.— от долей эВ до сотен кэВ. Излучение характеризуется непрерывным спектром, высокой степенью поляризации, большой интенсивностью (напр., по яркости превосходит на неск. порядков рентгеновское излучение, получаемое в трубках с вращающимся анодом), чрезвычайно малой расходимостью, модулирован-востью (длительность импульсов до 100 пс). Эти св-ва позволяют использовать С. и. в спектроскопии, рентгеновском структурном анализе, для изучения оптич. активности молекул, возбуждения люминесценции, инициирования фотохим. р-ций и др. Так, благодаря большой яркости источников С. и. удалось зарегистрировать молекулярные спектры поглощения с разрешением 0,003 нм. Разрабатываются новые направления молекулярной спектроскопии, использующие времени структуру С. и. для исследования ме-тастабнльных пртдуктов фотолиза, механизма сверхбыстрых р-ций и т. п. Рентгеновский структурный анализ биол. объектов, в частности монокристаллов белков, позволяет значительно сократить время регистрации рентгенограмм, уменьшить радиац. нагрузки на образец. С. и. имеет и практич. применение, напр, для фотолитографии в произ-ве элементов интегральных схем. [c.528]

Выражение (28.4) показывает, в какой степени на количество информации, передаваемой спектрофотометром, влияет выбор чувствительности ( )отоприемников, яркости источников сплошного спектра, высота выходных щелей и снижение уровня шума. [c.233]

Один из участков спектра приведен на рис. 2, иллюстрирующем работу прибора. Как видно из рисунка, спектрометр вполне разрешает линии поглощения, отстоящие друг от друга на 0,5 см . В этом спектре у полосы 38,79 сж" отчетливо видно плечо, расстояние между этими компонентами спектра составляет 0,32 сж [13]. Таким образом, можно заключить, что предельное разрешение прибора составляет 0,3 см . Мы произвели расчет разрешения спектрометра по формуле (6). При этом удельная чувствительность приемника была умножена на величину =40, ибо при записи сигнал превосходил среднеквадратичный шум ие в 2, а в 80 раз. Яркость источника оценена по данным работы [14], пропускание прибора принято равным 10%. Вычисленная величина составляет 0,2 и довольно близка к реальной — расчет спектральной ширины щели дает 0,29 см К Такое разрешение сохраняется-почти по всей рабочей области, и прибор в этом отношении при не худшем отношении сигнал/шум не хтупает приборам сравнимого класса (например, спектрометр Р15-21 фирмы Хитачи ). Поскольку разрешение нашего прибора определялось энергетическими соображениями, использование охлаждаемого приемника с более высокой пороговой чувствительностью позволит еще повысить разрешающую способность прибора, доведя ее до теоретического предела решетки. [c.117]